Файл: Утевский, Л. М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении.pdf

рые особенности. Форма мартенситных кристаллов и ос­ новные детали тонкой структуры мартенсита сплава Н30Ф2 те же, что и у мартенсита, образованного из недеформированного аустенита. Пластинчатые кристаллы мартенсита с неровными краями, как правило, частично двойникованы. Средняя зона имеет высокую плотность двойников превращения системы {112} < Ш > , а пери­ ферия — высокую плотность дислокаций разных систем. Между средней зоной и периферией преобладают винто­ вые дислокации с вектором Бюргерса -У < 1 1 1 > , па­ раллельным направлению двойникования [274].

Помимо отмеченных особенностей, мартенситные кри­ сталлы, образованные в предварительно полигонизованном аустените, оказываются также полигонизованными (рис. 233). Это сразу же обнаруживается визуально по наличию субграниц и по дифракционному контрасту на субзернах в мартенсите, а также может быть доказано специальными измерениями (например, по расщеплению рефлексов на микродифракционной картине или изме­ рением разориентировки темнопольным методом). Весь­ ма часто наблюдалось закономерное чередование конт­ раста на ряде соседних субзерен в мартенсите, анало­ гичное наблюдавшемуся для субзерен в аустените.

Из-за высокой плотности дефектов в мартенситном кристалле очень трудно разрешить дислокационную структуру субграницы, унаследованной мартенситом. Это удается только поблизости от средней зоны частично двойникованного крупного кристалла мартенсита, где

514

тер наследуемых субграниц, которые и в мартенсите оказываются преимущественно смешанного типа.

Таким образом, в аустените субграницы сложного ти­ па с углом разориентировки, по крайней мере, ^ 3 ° не являются непреодолимыми препятствиями для роста мартенситных кристаллов и наследуются последними. Гру­ бая оценка плотности дислокаций, образующих насле­ дуемые субграницы, дает ~ 1010 см~2.

На рис. 236, а заметно, что, переходя в мартенсит, субграницы отклоняются от своего направления в аус­

известному вектору sr сдвига при превращении1 и плос­ костям субграниц в аустените и в мартенсите найдены

нормальная s2 и тангенциальная S\ составляющие этого

ДУ с м -

2. ЦЕМЕНТИТ В Б Е И Н И Т Е И В ОТПУЩЕННОМ МАРТЕНСИТЕ

Структура стали, в которой произошло промежуточ­ ное (бейнитное) превращение аустенита, может, вообще говоря, быть образованной несколькими фазами: пере­ сыщенной углеродом а-фазой, возникшей мартенситным путем, остаточным аустенитом с концентрацией углеро­ да, отличной от средней, и карбидами различного проис­ хождения (выделившимися непосредственно из аустени­ та или в результате отпуска а-фазы). В зависимости от того, в какой области температур происходит превраще-

519

рис. 242, б внутренних двойников нет, цементитные выде­

в кристаллах нижнего бейнита и отпущенного мартенсита

Важнейшую информацию о природе морфологиче­ ских различий верхнего бейнита, нижнего бейнита и от­ пущенного мартенсита, т. е. и об основных механизмах и последовательности превращений, дают кристаллогра­ фические данные — ориентационные и габитусные соот­ ношения фаз.

Реальность существования ориентационного соотно­ шения Багаряцкого [283] между кристаллическими ре­ шетками a-Fe и цементита при выделении последнего из мартенсита во время отпуска в настоящее время под­ тверждена многими электроннодифракционными иссле­ дованиями на самых различных по составу сталях [279; 282; 284].

Согласно соотношению Багаряцкого, в самом общем случае осевые векторы цементитной решетки должны

лентных1 конкретных вариантов этого соотношения. Один

525

связывающее параллельные направления в феррите и це­

ем, будет сказываться тем заметнее, чем больше числен­ но индексы [ с / К № ] ц .

Совпадающие направления в обратных решетках a-Fe и цементита связаны равенством, в котором матрица со­

Следует, однако, отметить, что для анализа электронограмм от кристаллов a-фазы и цементита, связанных между собой соотношением Багаряцкого, и особенно для построения совместных сечений обратных решеток a-Fe- и цементита значительно удобнее пользоваться матри­ цами, обратными по отношению к матрицам в выраже­ ниях (157) и (158), поскольку при расчетах по обратным

526