Файл: Курносов, А. И. Технология производства полупроводниковых приборов учеб. пособие.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 14.10.2024
Просмотров: 139
Скачиваний: 0
Другим важным фактором при гидролизе и поликонденсации является кислотность среды. От нее и от чистоты исходного про дукта зависят молекулярный вес полимера и однородность его хи мического состава. Существует несколько способов нанесения поли мерных пленок (при условии предварительного увлажнения поверх ности переходов):
1 ) погружение в жидкие метилхлорсиланы; 2 ) погружение в растворы метилхлорсиланов или их смесей;
3) выдержка в парах силанов или их смесей.
Первый способ дает лучшие результаты, но при его использова нии создается высокая концентрация хлористого водорода, кото рый интенсивно разрушает алюминий. Этот же недостаток неизбе жен и при силанировании из газовой фазы, что отрицательно влия ет на сплавные кремниевые приборы, имеющие алюминиевые электроды. Используя способ силанирования р-я-переходов из
растворов, можно |
предотвратить |
некоторые |
недостатки, потому |
|
что: |
|
|
|
|
а) имеется возможность регулировки концентрации метилхлор- |
||||
силанов; |
|
|
|
|
б) подбирая соответствующий растворитель, можно удалить |
||||
продукты реакции из сферы реакции; |
поскольку |
есть |
||
в) возрастает |
технологичность |
процесса, |
||
возможность вводить нейтрализующие соляную кислоту |
до |
|||
бавки; |
|
для поликонденсации пленки, |
||
г) создается гомогенная среда |
так как в растворитель переходят продукты гидролиза. Практически для получения полисилоксанов в качестве раство
рителей обычно применяют ксилол, толуол и бензол. Повышение молекулярного веса полимеров происходит в процессе испарения растворителя. В это же время наблюдается перегруппировка си- локсановых связей и химическое взаимодействие их с поверхност ными соединениями, защищаемыми р-я-переходы. Большое значе ние при создании полимерной пленки имеет толщина водного по крытия и стабильность давления паров воды над увлажняемой поверхностью. Кроме того, не меньшее влияние на толщину поли мерной пленки, удерживаемой на поверхности р-я-перехода, имеет структура поверхности, ее химический состав, степень гидрофильности. Например, экспериментально установлено, что при взаимо действии газообразного (CH3)2 -SiC]2 с водой, адсорбированной при относительной влажности 1 0 0 % стеатитом, толщина образовав шегося слоя полисилоксана составляет примерно 0 , 2 мкм, что соот ветствует 300 звеньям (CH3)2 -Si02. Наличие значительного количе ства групп в мономерах и образующихся макромолекулах сущест венно улучшает адгезию пленки, так как эти группы способны к хи мическому взаимодействию с поверхностными соединениями крем ния. Силанирование не только закрепляет существующую структу ру поверхности, но и в некоторых случаях улучшает электрические параметры р-я-переходов, поскольку при нанесении пленки устра няются структурные дефекты поверхности.
260
Технологический процесс нанесения защитной силановой плен» ки состоит в следующем.
После травления в кислотном травителе и промывки в деиони зованной воде кристаллы с р-я-переходами погружают в жидкость органо-замещенного силана на время, в течение которого происхо дит полное смачивание поверхности. Обычно используют смесь органо-замещенного хлорсилана, которая состоит из одной части метилтрихлорсилана и двух частей триметилхлорсилана. Реакция этой смеси с влагой, которая имеет место на поверхности кремние вого кристалла, вызывает расщепление соляной кислоты и образо вание цепи полимеризации, которая дает тонкую защитную пленку кремниевых полимеров. В результате такой реакции возникает сильная химическая связь между атомами кремния и кислородом. Это приводит к образованию термостабильной защитной пленки. Толщина пленки составляет около 0 , 6 мкм.
Другой процесс силанирования заключается в том, что кристал лы с р-я-переходами покрывают изоляционным слоем пиролитически осажденного органо-кремниевого соединения. Кристаллы поме щают в молибденовую лодочку, расположенную на нагревателе в кварцевой реакционной трубе. Через эту трубу пропускают гелий, который предварительно насыщается тетраэтоксимоносиланом. Температура нагревателя поддерживается равной 800°С. Скорость пропускания газовой смеси над пластинами с р-н-переходами вы бирается от 50 до 60 м31ч. Толщина изолирующей пленки близка к 2,5 мкм. Скорость выращивания пленки 800 А/мин.
После этого наносят второй слой изоляционной пленки при пропускании гелия через сосуд, содержащий жидкий этил триэтоксисилан. Смесь пропускается через реакционную трубу в тече ние 5 мин при температуре 800°С. Толщина второго защитного по крытия составляет 0,2 мкм. Скорость выращивания второго слоя выбирается равной 400 А/мин.
Одним из основных преимуществ метода силанирования по сравнению с методом защиты переходов лаками и эмалями явля ется возможность химического связывания защитной пленки с по верхностью полупроводника. Это обеспечивает не только надеж ную адгезию, но и позволяет устранить некоторые структурные нарушения поверхности, что способствует заметному улучшению электрических параметров переходов.
§ 9.6. Защита пленками окислов металлов
Для защиты поверхности р-я-переходов иногда применяют пленки на основе окислов металлов: алюминия, титана, бериллия, Циркония и др. Исходный материал берут в виде порошка. В ка честве несущего агента можно использовать галоген или гало идное соединение водорода. При добавлении в рабочую камеру инертных газов скорость реакции снижается. В рабочей камере устанавливается градиент температуры между источником и полупроводниковым кристаллом. Температуру источника
261
выбирают выше, чем температуру кристаллов. С увеличением гра диента температуры скорость реакции увеличивается. Для осажде ния защитных пленок А120з, ВеО, ТЮ2, Zr02, A1N температуру источника необходимо выбирать в диапазоне 700—1200°С, а темпе ратуру кристаллов — в диапазоне 350—500°С. Расстояние между источником и кристаллами определяют в зависимости от требуе
мой величины |
температурного градиента |
(10—15 см). |
|
|
В табл. 9.2 |
приведены материалы источника, несущие агенты |
|||
и оптимальные режимы осаждения защитных пленок. |
|
|||
|
|
Т а б л и ц а 9.2 |
||
Материалы источника |
Несущие агенты |
Температура |
Температура |
|
источника, °С |
кристаллов, -С |
|||
|
|
|||
AI2O3 |
HCl(HBr) |
800—1000 |
400—500 |
|
ВеО |
HCl(HBr) |
900-1200 |
500 |
|
ТЮ2 |
НСЦНВг; Cls) |
800—1000 |
500 |
|
Zr02 |
HCl(HBr) |
1 0 0 0 — 1 2 0 0 |
500 |
Для защиты поверхности и стабилизации электрических пара метров /?-я-переходов используют процесс титанирования. Этот процесс состоит в том, что на поверхности кристалла с р-я-пере- ходом осаждается один из сложных эфиров: негидролизированный титановый эфир, тетраизопропилтитанат, тетрабутилтитанат или тетраэтилгексинтитанат. Затем покрытие стабилизируют путем тер мического прогрева или с помощью катализаторов. В результате получают прочные, химически связанные с поверхностью полупро водникового кристалла пленки двуокиси титана.
Процесс титанирования используют для защиты германиевых и кремниевых транзисторов.
Другой способ титанирования заключается в замещении слоя окиси германия на поверхности кристалла германия покрытием из окиси титана. Это покрытие наносят с помощью потока фтора и источника титана. Фтор проходит по трубопроводу и, насыщаясь титаном, образует газообразный фторид титана. Фторид титана реагирует с поверхностью кристаллов, покрытых слоем окиси гер мания. При этом на поверхности кристаллов образуется окись титана и парообразный фторид германия:
2F2 + |
Ti = T1F4 |
TiF4 -f- GeOo |
T102 + GeF4 |
Способ получения защитных покрытий на основе РЬзО>, ZnCr04, SrCr04 и их смесей заключается в смешивании порошка Pb30 4, ZnCr04 или SrCr04 с летучим растворителем до получе
262
ния суспензии. Эту суспензию наносят на поверхность кристалла с р-п-переходом распылением. После испарения летучего раство рителя кристаллы нагревают до температуры 200°С в течение
30 мин.
Другой способ защиты поверхности кристаллов с р-я-перехо- дами включает в себя нагрев этих кристаллов в окисляющей ат мосфере в присутствии ванадия или его соединений. Ванадий при сутствует в рабочей камере в виде порошкообразной пятиокиси ванадия V2O5. Температура процесса нанесения защитной пленки 1200°С. Через рабочую камеру пропускают водяные пары, содер жащие кислород с парциальным давлением 25 мм рт. ст. После получения толщины пленки около 1 мкм лодочка с порошком V2O5 медленно выдвигается из печи.
Для защиты поверхности р-п-перехода используют пленки окиси вольфрама. Пленки наносят методом плазменного распы ления в атмосфере кислорода. Толщина пленок 0,01—1 мкм. Дав ление газа в рабочей камере может быть выбрано близким к 5-10- 2 мм рт. ст. Катодом служит чашеобразный диск из воль фрама, а анодом — полупроводниковые пластины с р-п-перехода- МиТемпература процесса не должна превышать 300° С. Напряже ние на электродах зависит от выбранного давления газа внутри рабочей камеры и не должно превышать 500 в. Внутри камеры образуется плазма, содержащая положительные ионы газа.
§ 9.7. Защита гидрофобными пленками
Для защиты поверхности кристаллов с р-я-переходами гидро фобными (влагоотталкивающими) пленками используют различ ные способы. Например, галоидирование поверхности пластины с последующей обработкой ее реактивным алкилирующим аген том, таким, как соединение щелочного металла с алкилом- и магнийгаллоидами.
Полупроводниковые пластины германия или кремния с р-п-пе
реходами травят и промывают. Затем поверхность |
кристаллов |
|||
галоидируется. Процесс проводят сначала |
в |
потоке |
очищенного |
|
и нагретого |
инертного газа (азот, аргон) |
в |
течение |
15 мин при |
температуре |
130°С. Потом температуру в печи понижают до 85°С |
и через пластины пропускают смесь хлористого водорода с хло ром в равных соотношениях в течение 10 мин. После этого про цесс повторяют.
В результате такой обработки возникают связи между атома ми поверхности полупроводника и атомами хлора. Обработанную пластину погружают в реактивный органический алкилирующий
агент. Этот |
агент характеризуется произведением MR, где М — |
||
Щелочной металл (литий, |
натрий, калий и др.); R — органический |
||
радикал. |
|
|
|
Другим |
реактивным |
органическим алкилирующим |
агентом |
могут служить вещества, |
характеризуемые формулой RMg-x. где |
||
* — элемент из группы хлора, брома, йода; R — алкилная |
группа. |
263