Файл: Пенкаля, Т. Очерки кристаллохимии.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 188

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

элементов (CuFeS2, СиІпЗг, CuInSe2, CuSbS2, CuAsSe2, AgInSe2,

AgSbSe2, Ag3AsS3).

Электрическое сопротивление полупроводников находится в пре­

делах 1 — 109 Ом-см и занимает промежуточное положение меж­

ду сопротивлением хороших проводников (10_6

Ом-см) и изолято­

ров (ІО14—ІО22

Ом-см). В отличие от металлов,

сопротивление по­

лупроводников

возрастает с ростом температуры.

При температуре абсолютного нуля высокочистые бездефектные кристаллические полупроводники должны вести себя как изоля­ торы.

Электрическая проводимость полупроводников обычно вызвана тепловым движением, примесями или дефектами кристаллической структуры (см. гл. 6).

Различают собственную проводимость чистых кристаллов и при­ месную проводимость кристаллов, содержащих примеси.

В кристаллических изоляторах ниже температуры плавления тепловая энергия настолько мала, что ее не хватает для освобож­ дения электронов, так как силы, связывающие внешние электроны с атомами, велики. В полупроводниках тепловая энергия при ком­ натной температуре достаточно велика, чтобы некоторые элек­ троны высвободились. В связи с относительно малым числом свободных электронов сопротивление полупроводников электриче­ скому току по сравнению с металлами значительно. Между изоля­ торами и полупроводниками не существует резкой границы, так как полупроводники при достаточно низкой температуре становятся изоляторами.

Под воздействием света электроны в полупроводниках полу­ чают необходимую энергию, что приводит к уменьшению сопротив­ ления (фотоэлектрическая проводимость).

Наличие определенных примесей и дефекты кристаллической структуры полупроводников значительно влияют на их электриче­ ские свойства. Например, небольшая добавка бора к кремнию (один атом бора на ІО5 атомов кремния) приводит к многократ­ ному увеличению проводимости.

Наиболее часто используемым полупроводникам (германию или кремнию), которые кристаллизуются по типу алмаза, сопутствуют в качестве примесей элементы третьей или пятой групп периодиче­ ской системы. Наличие в кристаллической структуре четырехва­ лентного элемента (Ge, Si) трехвалентных атомов (Al, In, Ga или В) приводит к вырыванию части электронов и нарушению кова­ лентных связей, соединяющих атомы четырехвалентного элемента (рис. 5.10,а). Эти электроны дополняют недостающий четвертый электрон трехвалентной примеси, так как координационное число всех атомов в кристаллических структурах кремния или германия равно 4. Трехвалентные примеси называются акцепторами — они принимают электроны, образуя «дырки проводимости». Кроме ды­ рок проводимости существует небольшое скопление свободных электронов, образованных тепловыми колебаниями атомов струк­ туры. Дырки и свободные электроны движутся под действием

192


электрического поля

и являются носителями электрического

тока.

примесями акцептора относятся к типу р,

Полупроводники с

а их проводимость называется дырочной проводимостью или про­ водимостью типа р.

Наличие в кристаллических структурах. Ge или Si примесей ато­ мов пятивалентных элементов (Р, As или Sb) приводит к образо­ ванию свободных электронов. Четыре валентных электрона при­ месного атома образуют двухэлектронные мостики с четырьмя

Рис. 5.10. Влияние примесей на электропроводность четырех­ валентного полупроводникового элемента:

а —образование «дырок» в структуре полупроводника с примесью бора; б—образование свободных электронов в структуре полупроводника с добавкой мышьяка.

электронами германия или кремния; пятый электрон атома при­ меси не входит в ковалентные связи; вследствие тепловых колеба­ ний атомов структуры он отрывается от своего атома и становится обобществленным (рис. 5.10,б).

Примесные атомы пятивалентных элементов называются доно­ рами, так как они отдают электроны. Полупроводники с донорными добавками получили название полупроводников типа п, а их про­ водимость называется электронной или проводимостью типа п.

Аналогичное влияние на повышение проводимости оказывают дефекты кристаллической структуры. В основе этого явления лежит стехиометрическое несоответствие состава реального кристалла и его «идеальной» формулы. Дефицит атомов одного из элементов компенсируется избытком атомов другого, которые в данном слу­ чае играют роль добавки. Например, в кристаллической структуре галенита PbS избыточные атомы РЬ'служат донорами, а недостаю­ щие атомы S — акцепторами. Полупроводниками такого типа яв­ ляются Си20 и ZnO.

Втехнике полупроводники приобретают все большее значение.

Вполупроводниковых диодах и транзисторах используются различ­ ные электрические явления, в фотоумножителях и фотосопротивле­ ниях нашло применение действие световых волн на полупроводник, в термисторах — явление быстрого спада сопротивления при7

7 Т. Пенкаля

193


повышении температуры (термостатические регуляторы), в галотронах_действие магнитного поля на полупроводниковые материалы.

Оптические свойства. Кристаллы с ковалентной связью обычно имеют большие величины коэффициентов преломления света, чем ионные кристаллы (табл. 5.45).

Таблица 5.45

Величины коэффициентов преломления света кристаллов с ковалентной и ионной связью

Кристаллы

Коэффициент

Кристаллы

Коэффициент

с ковалентной

преломления

с ионной

преломления

связью

света

связью

света

CuCl

1,973

КС1

1,490

CuBr

2,116

КВг

1,559

Cul

2,345

КІ

1,677

Поглощение видимого света ионными кристаллами незначитель­ но, вследствие чего они бесцветны. Поглощение света кристаллами с ковалентной связью зависит от устойчивости связи. Большей прочности связи в алмазе соответствует поглощение электромагнит­ ных волн с большей энергией (поглощение в ультрафиолетовой области спектра). Поэтому алмазы, как правило, бесцветны и про­ зрачны. Наличие шестичленных углеродных колец в графите при­ водит к сильному поглощению видимого света — графит черного цвета, его блеск объясняется присутствием свободных электронов (см. стр. 217). Уменьшение прочности связи вызывает поглощение в более длинноволновой области. Кристаллы таких веществ часто окрашены и непрозрачны (например, сфалерит имеет цвет меда).

Фотоэлектрическая проводимость кристаллов с ковалентной связью наблюдается в том случае, когда они освещаются светом с набором длин волн, отвечающим их полосам поглощения. Для алмаза фотоэлектрическая проводимость находится в ультрафио­ летовой области, для кремния — в видимой.

ПОЛЯРНОСТЬ МОЛЕКУЛ СОЕДИНЕНИЯ С ПРОМЕЖУТОЧНЫМ типом связи

ПОЛЯРНАЯ КОВАЛЕНТНАЯ СВЯЗЬ

Чисто ковалентная связь осуществляется в молекулах неметал­ лов, образованных из атомов одного и того же элемента. В моле­ кулах сложных соединений ковалентная связь приобретает некото­ рые черты ионной и наоборот — в ионной связи почти всегда имеется большая или меньшая доля ковалентности.

Разность величин электроотрицательности атомов (см. табл. 5.18), образующих молекулу, определяет ионный или кова­ лентный характер связи. Электроотрицательности элементов в шкале Полинга (исключая благородные газы) находятся в преде­

194


лах от 0,7 для цезия, наименее электроотрицательного элемента,

до 4,0 для фтора, обладающего максимальной способностью притя­ гивать электроны.

Если эта разность колеблется около величины 1,9 единиц По­ линга, то связь приблизительно на 50% ионная, при меньшей раз­ ности— ковалентная, при большей — ионная. Например, NaCl имеет почти 100%-ную ионную связь, так как разность электроот­ рицательностей равна 2,1 (Na — 0,9, Cl — 3). Атом натрия теряет электрон, переходя в катион Na+, а атом хлора, характеризую­ щийся высоким сродством к электрону, присоединяя этот электрон, становится анионом С1_.

В молекуле хлора осуществляется в чистом виде ковалентная связь, так как оба атома имеют одну и ту же величину электро­

отрицательности.

Связывающая пара электронов

в молекуле

••

••

мере принадлежит двум атомам.

*'

: C l: C l: в равной

То же самое

••

••

 

к кристаллам

относится к двухатомным молекулам (І2, Вг2, 0 2, N2),

алмаза

(см. рис. 4.9 и стр. 187). В молекуле хлористого водорода

Н : С1:

разность электроотрицательностей составляет 0,9 (Н — 2, 1;

••

'

С1 — 3,0). Она недостаточна для образования ионной связи и слиш­ ком велика для чисто ковалент­

ной. В результате образуется час­

 

тично

поляризованная

ковалент­

 

ная связь (ионная связь состав­

 

ляет примерно 20%). Ввиду того,

 

что хлор более электроотрицате­

 

лен, электронная пара

будет сме­

 

щена в сторону атома хлора. Не­

 

смотря на равенство положитель­

 

ных и отрицательных зарядов,

 

молекула НС1 представляет со­

 

бой распределение зарядов с по­

Рис. 5.11. Зависимость между ион­

ложительным

(водород) и отри­

цательным (хлор) полюсами.

ным характером связи и разностью

электроотрицательности (ХА — Х в ),

Для соединений типа AB связь

Точки отвечают экспериментальным дан­

между значением разности ве­

ным.

личин

электроотрицательности

 

(ХА — Хв) и

вкладом

ионной составляющей может быть опреде­

лена по формуле Ханнэя и Смита:

 

Вклад ионной составляющей = 16 (ЙГА — ЙГВ) = 3,5 ( J A — Хв)2

Кривая, отвечающая этой формуле, представлена на рис. 5.11. Даже наиболее полярная молекула CsF, дающая максимальную разность электроотрицательностей, является ионной только на 91%. Любая связь не является чисто ионной. Не существует также рез­ кого перехода от ионной связи к ковалентной. Возможны все про­ межуточные стадии. Фактически существуют следующие типы свя­ зей: ковалентная неполярная, ковалентная полярная и почти чисто

ионная сильно поляризованная связь.

7*

195


д и п о л и

Диполем называется система двух разноименных электрических зарядов, равных по величине и находящихся друг от друга на опре­

деленном расстоянии.

Дипольным моментом (ц = еі) называется произведение без­ размерной величины е, т. е. заряда одного из полюсов, на расстоя­ ние между полюсами. Дипольный момент выражается в единицах,

называемых дебаями *.

 

 

 

Один дебай

(1D = ІО-18 г,/5-см%-с-1) равен примерно 1/5 ди­

польного момента заряда электрона

(порядка

ІО-10 электростатиче­

ских единиц электричества), перемещенного

на расстояние

в 1А

(1 А = ІО"8 см).

молекула является

диполем

в тех случаях,

когда

Химическая

центр тяжести положительных зарядов ядер не совпадает с цент­ ром тяжести электронных оболочек. Причина возникновения ди­ польного момента — асимметрия в строении молекулы.

Двухатомные молекулы (Нг, СЬ, Ог), состоящие из атомов од­ ного и того же элемента, независимо от агрегатного состояния, не имеют дипольного момента.

Центр тяжести отрицательных электрических зарядов в этом случае совпадает с центром молекулы, а вероятность нахождения электронов около одного из двух ядер абсолютно тождественна. Любая двухатомная молекула, состоящая из двух разных атомов, независимо от характера связи, является диполем.

В случае ионной связи (например KF) при большой разности электроотрицательностей молекула (в растворе) состоит из двух ионов, находящихся на определенном расстоянии, и имеет боль­ шую величину дипольного момента.

При ковалентной связи (например, в кристаллах HF при очень низких температурах) возникновение дипольного момента связано с различием в величинах электроотрицательности атомов. Пара электронов фактически принадлежит более электроотрицательному атому фтора.

Не только в двухатомных, но и в многоатомных молекулах каждой связи между двумя различными атомами отвечает диполь­ ный момент или момент связи.

Ниже приведены величины дипольных моментов ц для некото-

рых связей:

 

Ч. D

 

 

Ч, о

 

 

Ч , D

Н—S ..................... .

0,68

С—0 . . . .

0,9

С—S . . . . . . .

2,6

Н—N ................. .

1,31

С—S . . . . . . .

N—0 . . . . . . .

2,0

Н—О ................. .

1,51

с = с . . . . . . .

0

С=

С . . . . . . .

0

с —с ..................... .

0

C = N

, . . . . .

0,9

C=

N . . . . . . .

3,5

С—N ................. .

0,22

с = о .

, . . . . .

2,3

 

 

 

Величины дипольных моментов связей можно представить в

векторном виде. Вектор направлен

(рис. 5.12) от отрицательного

*

В системе СИ

дипольный момент

выражается в кулонах на метры.

1D =

3,3-ІО"30 Кл-м.

(Прим, перев.)

 

196