Файл: Яковлев, В. В. Стохастические вычислительные машины.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 128

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Г л а в а VI

ГЕНЕРАТОРЫ СЛУЧАЙНЫХ ДВОИЧНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ

31. Первичные источники шума

Физическая природа случайных отклонений электрического тока или напряжения, создающих первичный шумовой сигнал, может быть весьма разнообразной. Причина этих флуктуаций, как уже упоминалось, может заключаться в дискретном характере зарядов, создающих электрический ток (дробовой эффект), в те­ пловом движении носителей этих зарядов (тепловой шум), в из­ менениях проводимости под воздействием некоторых случайных факторов (модуляционный шум) и т. д.

Первые два вида шумов являются основными. Поэтому рас­ смотрим их более подробно.

Природу дробового шума проще всего выяснить на примере шумового диода, представляющего собой электровакуумный двух­ электродный прибор с горячим катодом и весьма малым расстоя­ нием между электродами.

С поверхности накаленного катода могут выйти в вакуум только те электроны, которые обладают энергией, превышающей работу выхода, и скорости которых направлены к поверхности катода. Среднее количество электронов, покидающих катод в единицу времени, при заданной температуре постоянно. Однако, поскольку энергия и скорость каждого электрона являются слу­ чайными величинами, то процесс электронной эмиссии также ока­ зывается случайным и, следовательно, количество эмиттированных электронов в каждый отдельный момент времени различно.

Таким образом, ток, образованный эмиттируемыми электро­ нами, не является постоянным во времени, а флуктуирует относи­ тельно некоторого среднего значения. Следовательно, полный ток через диод i (t) можно рассматривать как сумму постоянного и шумового токов im(t).

i(t) = I a+ *in(t)‘

Предположим, что катод покидает один электрон. В малом про­ межутке между электродами он попадает в сильное электрическое поле, создаваемое анодным напряжением U, и на него действует в направлении к аноду постоянная сила eUjd, где е — заряд элек­ трона, a d — расстояние между анодом и катодом. Под действием этой силы электрон получает ускорение eUJdm, где т — масса

200

электрона. Поскольку начальная скорость, с которой электрон покидает катод, много меньше конечной, с которой он достигает анода, ею можно пренебречь и считать равной нулю. Тогда в про­ извольный момент времени скорость электрона в вакууме будет равна

(6. 1)

При движении электрон наводит на аноде заряд Q, совершая работу W = QU, равную собственной кинетической энергии в мо­ мент t. Тогда

W = QU = j-mv*(t) = eW* t2. 2т№

Мгновенное значение анодного тока равно первой производной от величины наведенного заряда. Следовательно,

еЮ

(6.2)

md%

 

При достижении электроном анода происходит компенсация наведенного заряда его собственным зарядом и вызванный этим электроном анодный ток скачком уменьшается до нуля. Таким образом, каждый электрон создает в анодной цепи треугольный импульс тока (рис. 95) с амплитудой

г _ e2U

1<!~ т№ Тп’

где тп — время пролета электрона от катода к аноду, которое является параметром диода.

Интегрируя формулу (6.1) в пределах от 0 до тп, находим

1 [ 2тй Тл~ у ~ёи~

и

Подставляя последнее выражение в (6.2), получаем

2 1 f

п р и 0 ^ t «£ X

 

(6.3)

0

п р и t > Т П.

Одновременно в промежутке между анодом и катодом нахо­ дится большое множество электронов, причем общее их количество и положение каждого в пространстве являются случайными ве­ личинами. Поэтому общий ток состоит из большого числа треуголь­ ных импульсов, порожденных каждым электроном и случайно распределенных во времени.

201


Приблизительная картина сложения таких импульсов показана на рис. 96. На самом деле число импульсов в сумме гораздо больше

ирезультирующая кривая имеет более сложную форму. Поскольку каждый отдельный импульс составляет очень ма­

лую долю суммарного тока и не зависит от других импульсов, оказываются выполненными условия предельной теоремы Ляпу­ нова [20]. Поэтому, несмотря на строго определенную форму одиночного импульса, мгновенные значения анодного тока рас­ пределены по нормаль­ ному закону с математи­ ческим ожиданием, рав­ ным величине постоян­ ной составляющей 1а.

Применяя преобразо­ вание Фурье к форму­ ле (6.3) и производя усреднение по множе­ ству электронов в прост-

Рис. 95. Импульс тока, вызываемый в анодной цепи отдельным электро­ ном

ранстве анод — катод, можно получить выражение для спектраль­ ной плотности дробового шума в следующем виде [42];

Si

[(сотп)2 + 2(1 —coscotn—®Tnsino)Tn)[. (6.4)

График

функции Si (сотп) представлен на рис. 97. Заметим,

что в интервале |сотп |<( 0,5 спектральная плотность шума прак­ тически постоянна и равна 2 e l a. Для существующих конструкций шумовых диодов граница этого интервала примерно соответствует частоте 100 МГц.

Необходимо заметить, что полученные формулы не учитывают взаимодействия электронов между собой при их движении от катода к аноду, что вполне оправдано, когда диод работает в ре­ жиме насыщения. В этом режиме электрическое поле вполне до­ статочно для притяжения к аноду всех эмиттируемых электронов и анодный ток мало зависит от приложенного напряжения. В то же время он сильно зависит от температуры катода. Поэтому в слу­

202

чае необходимости стабилизации мощности шума питание на­ кала должно осуществляться от высокостабильного источ­ ника.

При низком анодном напряжении не все эмиттируемые элек­ троны достигают анода. Некоторые из них остаются в межэлектрод­ ном пространстве, образуя так называемый пространственный заряд, который, создавая тормозящее поле на пути электронов,

оказывает стабилизирующее действие

на

анодный

ток и сглажи­

вает его флуктуации.

Поэтому величина

шумовой

составляющей

анодного тока уменьшается.

 

 

 

 

Можно

показать

[1,

11], что

 

 

 

средний

квадрат

шумового

тока

 

 

 

в полосе

частот А/ при

наличии

 

 

 

пространственного

 

заряда

опреде­

 

 

 

ляется формулой

 

 

 

 

 

 

 

 

== 2е1аа2А/ =■

 

J

St (со) dco,

- 4 - 3 - 2 -1 0

1 2 3 & ш?п

 

Рис.

97. Спектральная плотность

 

 

 

 

(Лю)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

дробового шума

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 Г

kTSh

— коэффициент

ослабления дробового шума;

где а = I

 

 

 

к — постоянная Больцмана;

Т — абсолютная температура катода;

Sd — средняя крутизна диода.

Тепловой шум возникает вследствие хаотичности теплового движения электронов (или других носителей зарядов) в любой проводящей среде, например в резисторе. Путь каждого электрона является случайным и зигзагообразным из-за многочисленных столкновений с узлами кристаллической решетки. Суммарный эффект движения множества электронов приводит к появлению тока в резисторе даже при отсутствии приложенного напряжения. Направление и величина этого тока случайны, а среднее значение равно нулю.

Спектральная плотность тока свободных электронов опреде­

ляется формулой

[42]

 

 

2кТ

1

 

5,(©) = R

[1 + (С0Тп)2] ’

где тп — среднее

время дижения

электронов между столкновени­

ями; R — сопротивление резистора.

Обращаясь к графику функции Sc (со), нормированной отно­

сительно максимума

(рис. 98), можно видеть, что в пределах

I ютп |<( 0,1 спектр

теплового шума практически равномерен.

Поскольку величина тп имеет порядок 10'14, то спектр можно

считать равномерным до частот

порядка 1013 Гц с плотностью

с / .

2кТ

Si (ю) = —

203


Учитывая, что спектры плотности мощности тока и напряже­ ния связаны соотношением

о л.\ (<п)

Sl Н ——Д2--- >

средний квадрат шумового напряжения вызванного тепловым движением электронов в интервале частот от 0 до 1013 Гц, можно определить по формуле Найквиста

u2m = ikT R A f,

где Д/ — полоса частот измерителя шума.

В полупроводниковых приборах, которые наиболее перспек­ тивны для применения в СтВМ, шумовой сигнал включает четыре

 

основные

составляющие.

 

Это тепловой шум, дробо­

 

вой шум, шум в области

 

пробоя р-п перехода на

 

обратной

ветви вольтам-

 

перной характеристики и

 

1//-шум. Последний назы­

 

вают еще избыточным, низ­

Рис. 98. Спектральная плотность тепло­

кочастотным

или флик­

вого шума

кер-шумом.

 

 

Тепловой шум в полу­

 

проводниках

характери­

зуется теми же зависимостями, что и

в резисторах,

а его мощ­

ность может быть определена по формуле Найквиста.

В отличие от электровакуумных приборов, где движение элек­ тронов происходит в одном направлении, в полупроводниках ток через р-п переход определяется диффузией носителей в прямом и обратном направлениях, образующей соответственно прямой /пр и обратный 10бр токи. Полный диффузионный ток через р-п переход, как известно [54], описывается выражением

I = h

9

 

где U — приложенное напряжение; /0 — константа, определяемая физическими свойствами материала.

Таким образом,

InP = h exp

^обр — /о-

I ~ -^пр -^обр•

Поскольку указанные токи в первом приближении некоррелированы, их совместный шум можно определить на основе сложения мощностей.

2 04


В соответствии с (6.4) для полосы частот, примыкающей к нулю, имеем

4

=

2 е ( / п р +

/ о б р ) А / .

В другом виде

Ц = (2e l + 4е/0) А/ = 2e l А/ cth ( ^ ) .

Эти формулы хорошо согласуются с результатами измерений дро­ бового шума туннельных и плоскостных диодов на низких ча­ стотах.

На высоких частотах простая модель р-п перехода дает следу­ ющую теоретическую зависимость спектральной плотности шумо­ вого тока от частоты [1]:

s i H с 0 1+(тТп)2,

где С0 — постоянная, зависящая от свойств материала и размеров перехода; тп — время пролета свободного от электрических за­ рядов участка (перехода).

При этом спектр оказывается равномерным до частот порядка 1010 — 1012 Гц. Однако принятая модель удовлетворительно опи­ сывает процессы лишь в диодах, работающих на основных носи­ телях (диодах Шоттки).

С учетом явления инжекции неосновных носителей для германиевых диодов при не очень больших токах (до 1 мА) спект­

ральная плотность

дробового шума

определяется

выражением

[6]

 

 

 

 

 

 

 

 

St (с о ) = ticTg„ (с о )

 

el,2

 

 

где gп ( с о ) — проводимость р-п перехода на частоте

с о .

Для кремниевых диодов необходимо

учитывать

также ток ге­

нерации в слое объемного заряда [54],

что

приводит к следу­

ющей зависимости:

 

 

 

 

 

 

 

S{ (с о )

- kTg„4

(с о ) — 2 е

 

,

1

^ п г

^ 2 .

Высокий уровень шумов наблюдается у начала области лавин­ ного пробоя на обратной ветви вольт-амперной характеристики диода. Их появление объясняется возникновением так называемых микроплазм — локальных участков с резко возросшей проводи­ мостью, вызванной повышением концентрации носителей на этих участках. В свою очередь, неравномерность распределения носи­ телей является следствием микронеоднородностей р-п перехода, связанных с неравномерностью распределения примесей, мест­ ными дефектами кристаллической решетки и т. д.

2 0 5


Микроплазмы хаотически возникают и рассасываются, слу­ чайным образом изменяя сопротивление перехода и падение напряжения на нем. Процесс имеет вид релаксационных колеба­ ний со случайными амплитудами и фазами. При малом сопроти­ влении нагрузки форма импульсов близка к прямоугольной, а в цепи с высоким сопротивлением — к треугольной. Несмотря на это, спектр на низких частотах практически равномерен. У средней частоты повторения импульсов наблюдается подъем спектральной плотности и далее резкий спад. Для диодов с пробивным напряже­ нием Unр около 10 В эта частота составляет 1—2 МГц, а для Unp ^

100 В — примерно 100 кГц [65]. Амплитуда импульсов в пер­ вом случае равна примерно 10 мВ, а во втором увеличивается до 1—4 В. На остальном участке лавинного пробоя интенсивность шумов меньше, но по-прежнему зна­ чительно превышает дробовой шум.

При подаче смещения у полупро­ водниковых и вакуумных диодов на­ блюдается шум со своеобразным спектром

 

s ‘ { l = - £ ) = y r <

“ = о ,е ^ 1 ,з ,

Рис. 99. Эквивалентные схемы

из-за

которого

он

получил

назва­

генераторов шума

 

ние

1//-шума.

Верхняя

граница

1//-шума, где его интенсивность становится меньше, чем у дробо­ вого и теплового шумов, зависит от конструкции диода, величины тока через диод и ряда других факторов. Эта граница находится вблизи частоты 10я Гц [76, 81, 881.

Итак, шумы, генерируемые различными источниками, могут иметь различную природу и спектр, по-разному зависеть от при­ ложенного напряжения или тока. На их интенсивность могут оказывать влияние паразитные реактивные параметры источника, температура и другие факторы. Одним источником могут генерироваться шумы различной природы, которые в общем

случае могут быть независимы или

коррелированы между

собой.

 

Однако в любом случае на выходе

источника присутствует

сложный шумовой сигнал, величина и спектр которого должны быть измерены, а результаты измерений использованы в дальней­ ших расчетах. С этой целью первичный источник шума в соответ­ ствии с теоремой об эквивалентном генераторе [6] может быть пред­ ставлен либо эквивалентным генератором э. д. с., включенным последовательно с сопротивлением источника относительно вы­

ходных ПОЛЮСОВ, С шумовой Э. Д . С. ХОЛОСТОГО ходаУ иш, либо эквивалентным генератором тока, включенным параллельно со­ противлению источника, с шумовым током короткого замыкания

V i i (рис. 99).

206