Файл: Кузнецов, Р. А. Активационный анализ.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 126

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а 21

 

 

 

 

 

 

Чувствительность у-актнвационного анализа

 

 

 

 

 

 

Элемент

 

 

 

Предел обнаруже­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ния, М К С *

С,

Р,

Си,

Zn,

Ga,

Br, Rb, Ag, Sb, Pr

Те,

Ba,

Менее 1

N,

O,

F,

Mg,

Cl,

K, Sc, Fe, Se, Sr, Zr, Cd,

1—10

Sm,

Ho,

Hf

Cr,

Ni, Ge, Mo, Ru, Pd, In, Sn,

1,

Cs,

10—100

Al,

Si, S,

 

Ti,

Ce, Nd, Gd, Tb, Er, Ta, Au, Hg

Pt,

Tl, Pb

100—1000

Na,

As, Y,

Nb, Rh, Eu, Tm, W, Re, Os, Ir,

Ca,

V,

Mn,

Yb

La,

Lu, Bi

 

 

 

Более 1000

H,

Li,

Be,

B,

 

 

 

Не активируются

* Рассчитан по интенсивности пиков полного поглощения, измеренных с помощью гамма-спектрометра с кристаллом Nal(TI) 70X40 мм. Время облучения не более 30 мину время измерения не более 10 мин.

тальных условиях составляет 2 г, то предельная концентрацион­ ная чувствительность достигает около 10"5%. Применение мощ­ ных ускорителей с более высокой максимальной энергией, уве­

личение

длительности

облучения и измерения

могут

повысить

 

 

 

 

 

 

чувствительность

на 2—3 поряд­

 

 

 

 

 

 

ка. Это

 

приведет

к

 

снижению

 

 

 

 

 

 

предела

 

обнаружения

примерно

 

 

 

 

 

 

до 10-7—10-8 % [125, 154].

 

 

 

 

 

 

 

Чувствительность

 

активаци­

 

 

 

 

 

 

онного

анализа

на

заряженных

 

 

 

 

 

 

частицах. При активации заря­

 

 

 

 

 

 

женными

частицами

появляется

 

 

 

 

 

 

новый фактор, влияющий на кон­

 

 

 

 

 

 

центрационную чувствительность.

 

 

 

 

 

 

Пропорционально

 

увеличению

 

 

 

 

 

 

пробега

частиц в веществе

про­

 

 

 

 

 

 

бы с ростом

энергии и порядко­

 

 

 

 

 

 

вого номера макрокомпонента по­

 

 

 

 

 

 

вышается

 

и

чувствительность

2 0

w

в о

80

iOO

 

анализа по методу толстого слоя

Заряд ядер атомод матрицы

(рис. 71). Поскольку активацион­

Рис. 71. Чувствительность опреде­

ный анализ

на

заряженных

ча­

стицах находит

основное приме­

ления кислорода в различных ма­

нение для определения малых ко­

трицах при облучении ионами 3Не

(10 М э е )

по

реакциям:

личеств

легких

элементов,

то и

/ — " 0 (3Не,

p),8F:

2 — 160 (3Не,

аге)'Ю:

оценки возможностей метода вы­

3 — |60 (3Не,

а)15О; 4 — "Ю(3Не,

2а)"С.

них. Показано, что для Be,

полнены

 

преимущественно

для

В, С, N, О,

F

облучение

разными

типами заряженных

частиц

дает предельные

значения около

10~7—10~8 %

[175].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

280


§ 2. Точность активационного анализа

Источники погрешности

Как количественный метод активационный анализ обладает следующими особенностями. Прежде всего — это косвенный ме­ тод, так как в эксперименте измеряется не сама определяемая величина (масса, концентрация), а активность (скорость счета),

которая связана с ней соответствующим уравнением

(см. гл. 3,

§ 2). Измеряемая величина — активность — имеет

дискретный

характер и следует специфичной форме распределения, которая

только в определенных условиях

переходит в нормальное (см.

гл. 3, § 1). Наконец, активационный анализ

в целом

относится

к многостадийным методам (см.

гл. 3, § 3).

Обычно

в обяза­

тельные стадии входят отбор пробы, облучение, измерение и количественный расчет. В радиохимическом варианте добавля­ ется стадия радиохимического разделения и очистки.

Причем все основные стадии анализа состоят из нескольких операций, каждая из которых — потенциальный источник по­ грешности. Часть этих операций — общая с другими аналити­ ческими методами, другая — специфична для активационного анализа. К первым, например, относятся такие операции, как взвешивание, измерение объема раствора и т. д. Как пра­ вило, не эти стадии вносят основную погрешность в конечный результат, так как относительное среднее квадратическое от­ клонение для них обычно не превышает 2%. Их влияние стано­ вится заметным только в случае очень малых навесок или объемов.

Для активационного анализа специфичны следующие источ­ ники погрешности:

1)градиент потока нейтронов;

2)возмущение потока нейтронов;

3)интерферирующие ядерные реакции и процессы;

4)неконтролируемые потери активности в радиохимических

операциях за счет неполного обмена, адсорбции, улетучивания

ит. д.;

5)процесс измерения активности (самопоглощение излуче­

ния, воспроизводимость геометрических условий, стабильность измерительной аппаратуры и т. д.);

6) статистическая погрешность определения активности (статистический характер измеряемой величины, влияние фона прибора и мешающих активностей).

Отмеченные возможные источники погрешности в той или иной степени оказывают влияние на точность получаемых ре­ зультатов. Некоторые из них могут привести к односторонним и значительным смещениям результатов от истинного значе­ ния. Путь к получению надежных результатов состоит в пра­ вильном планировании хода анализа, тщательном учете и огра-

281


ничении всех возможных источников погрешностей и аккурат­ ном выполнении аналитического определения.

Многие затруднения при получении точных результатов воз­ никают вследствие того, что активационный анализ в целом не относится к методам, свободным от мешающего влияния со­ става пробы. Это влияние может осуществляться через возму­ щение потока активирующего излучения, интерферирующие ре­ акции, неоднородность состава, самопоглощение регистрируемо­ го излучения, сильную активацию основы и т. д. В каждом кон­ кретном случае нужны тщательный анализ возможных путей влияния основы на конечные результаты и разработка соот­ ветствующей методики анализа или определение необходимых поправок.

Сравнительно легко это можно сделать при анализе проб с постоянным и простым составом (по основным компонентам),. как, например, при анализе некоторых материалов высокой чи­ стоты. Однако в случае проб переменного состава учет влияния матрицы может оказаться более трудным делом.

Для анализа источников погрешности и представления ко­ нечных результатов активационных определений применимы общепринятые методы математической статистики [48, 49]. Ди­ сперсия случайной погрешности косвенных измерений определя­ ется по уравнению

где s2 — генеральная дисперсия используемой методики; s\

генеральная дисперсия отдельной аналитической операции. Ког­ да генеральные дисперсии не известны, их можно заменить выборочными с соответствующим переходом к распределению Стьюдента. Выборочную дисперсию данной методики можно оценить, используя результаты многократных определений. Вклад отдельных факторов в общую дисперсию исследуют с помощью дисперсионного анализа.

Точность метода эталонов

В методе эталонов концентрацию определяемого компонента сх обычно рассчитывают по уравнению

=

(11.5)

пэ

W

где пх и По — скорости счета аналитического радиоизотопа в пробе и эталоне; т3— количество элемента в эталоне; w — мас­ са пробы. Расчет по уравнению (11.5) предполагает, что облу­ чение пробы и эталона, а затем измерение активности прово­ дятся совершенно в идентичных условиях. Однако из-за разли­

282


чий в форме нахождения и в количественном отношении воз­

никают неизбежные различия в условиях

облучения,

обработки

и измерения.

 

 

Как правило, облучение и измерение эталона проводятся в

условиях, исключающих интерференцию

со стороны

матрицы

и посторонних радиоизотопов. Количество элемента в эталоне подбирается оптимальным для того, чтобы получить наимень­ шую относительную погрешность при измерении активности. Различные промежуточные операции сведены к минимуму. Од­ нако для пробы ситуация может быть гораздо более сложной и для приведения условий анализа пробы к эталонным прихо­ дится вводить целый ряд поправок, определяемых эксперимен­ тально или путем расчета.

В полной форме уравнение для определяемой концентрации (после сокращения постоянных величин) выглядит следующим образом:

т э

е,

а э

Фэ ^

 

w

ех

ах

ф х

 

^ о б л . э )

—^ р а с п .э

(11.6)

--------- ■—--------------.

е ?А)бл,лг)

е Мрасп,*

 

Отношения идентичных параметров в уравнении (11.6) можно заменить поправочными коэффициентами, тогда, введя еще по­ правку на химический выход и мертвое время, получим

 

с* =

• — *8*5 %^„аЛасп^хим/гтм,

( 1 1 -7)

 

 

 

tl3

W

v

 

 

м

 

где

к е — поправка,

учитывающая

различия

в

эффективности

регистрации;

feo— отношение

эффективных

сечений; k& — от­

ношение средних плотностей потоков;

kHac — отношение факто­

ров

насыщения; kvacu— поправка

на

распад;

кхям— поправка

на

химический

выход;

k%w— поправка

на мертвое время.

Поскольку в методе эталонов облучение эталона и пробы проводится одновременно, то kIiac равно 1 и может быть исклю­ чено из дальнейшего рассмотрения. Без затруднений и с незна­ чительной погрешностью можно рассчитать kvacu. В случае у- Измерений сравнительно просто можно обеспечить условия, ког­ да ke равно 1. Коэффициенты кхпм и k%u определяются в ходе

эксперимента; нередки случаи, когда они оказывают значитель­ ное влияние на конечный результат.

Наибольшие трудности вызывает определение коэффициен­ тов ks и к®. Способы оценки этих поправок и их характер специфичны для каждого метода активационного анализа, по­ этому они подробно были рассмотрены ранее.

283