Файл: Дорофеев, А. Л. Индукционная структуроскопия.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 59

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

 

 

 

ны

на рис. І-б. Исследова­

 

 

 

лась

катушка

диаметром

 

 

 

140 мм, высотой 6 мм, с ин­

 

 

 

дуктивностью 80 мгн,

распо­

 

 

 

ложенная

над

листом

тол­

 

 

 

щиной 4 мм. Если край де­

 

 

 

тали

пересекает

катушку

 

 

 

точно по середине, то ее ин­

 

 

 

дуктивность

равна

62

мгн.

 

 

 

На

массивной

детали

это

 

 

 

значение

уменьшается

до

 

 

/00

59 мгн.

 

изменений

кри­

 

 

 

Влияние

Рис. 1-6. Влияние края не­

визны поверхности

 

изуча­

магнитного

металлического ли­

лось

автором

совместно с

ста на коэффициент

рассеяния

А. И. Никитиным и H. Н. Ва-

 

катушки.

 

X — экспериментальные

данные:

сютинским

 

путем

анализа

• — •

• расчетные

данные.

ур а вн ей пй,

 

 

описы в а ющих

 

 

 

взаимодействие витка,

 

пло­

ской спиральной

и тонкостенной

цилиндрической

кату­

шек с выгнутым шаровым сегментом и шаром *. Коэффи­ циент рассеяния для витка, взаимодействующего с вог­

нутым и выпуклым шаровым

 

сегментом, описывается

формулой:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

г

 

 

 

Y

 

*>я —

 

X

 

_8г

Го

 

 

I с -

 

 

 

 

~~d

1,75

 

 

 

 

 

 

Л

 

 

 

 

 

 

' п

 

 

 

 

 

 

y\r/rty +

(hirB+

2п+2

(1-34)

„=і ( 2 л + 1 )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где /*0 — радиус проводящего шара или радиус кривизны вогнутой поверхности; Рп — присоединенные функции Лежандра.

1 Более подробно результаты исследовании изменении коэффи­

циента

рассеяния при взаимодействии

витка,

плоской спиральной

катушки

и тонкостенной цилиндрической катушки, расположенных

над сферой, доложены на Первой Всесоюзной

межвузовской конфе­

ренции

по электромагнитным

методам

контроля качества материа-

•лов и изделий (МЭИ, октябрь

1972 г.).

 

 

28


0,3 1 1

0

0,2

0,2

.'°> S

0,1

8

\ A o

1 / 9 \ s- t. 4

v=P П

0,3 A au >L»a,

 

 

 

\

 

L o

 

 

 

\\ i

 

 

 

\\

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

И

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

1

\

 

 

 

 

1

l

 

 

 

0,2

I

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

\ V = 0

 

 

1

 

 

 

1

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

l

 

\\

 

\\

 

 

1I

 

 

 

1

\

\

 

 

 

\

 

 

 

 

\

 

 

fo.è> 0.8-S

/Ѣ<1

V

 

0,4

0,8

/,2

/,6

2,0

 

0.4

0,8

/,2

/,S

2,0

 

 

 

a)

 

 

 

 

 

 

à)

 

 

 

Pue. 1-7. Семейства кривых максимальных

индуктивных

сопротивлении-миманс при изменении зазора

r\ = h/r0

для

разных

 

отношений

радиуса шара

к

радиусу

витка

-л=

=г/г0

(а)

и при изменении радиуса

витка

для

разных

зазо­

ров

т)

(б). Пунктирная

кривая

соединяет

максимальные

 

 

 

 

значения каждой кривой.

 

 

 

 

На рис. 1-7,а и 6 показаны семейства кривых макси­

мальных

вносимых

индуктивных

сопротивлений

а<і м а к с

при изменении

зазора,

отнесенного

к

радиусу

шара іі =

= h/rQ и изменении отношения х =

г/га.

 

 

и

контроль

Измерение

электрической

проводимости

структуры

 

деталей,

толщина

которых меньше

глубины

29



проникновения поля, сильно осложняется влиянием их"

толщины, что подробно

исследовано в [Л. 24, 27]. Удовле­

творительных приемов

по уменьшению этого влияния

пока не найдено. Как

правило, оценка структуры в та­

ких случаях осуществляется относительным способом, но показаниям иірнбора на деталях одноіі и топ же кривиз­ ны и толщины. Невыполнение этого условия делает зада­ чу однозначной оценки состояния материала весьма сложной. Дополнительные возможности здесь открывает многопараметровый (многочастотиын) метод, хотя ре­ альное его выполнение еще потребует серьезных усилии.

Сказанное относится и к

оценке структуры

гальваниче­

ских и полупроводниковых

слоев. Некоторые

результаты

по их контролю описаны Ю. К. Григулпсом в [Л. 18].

Г л а в а

в т о р а я

 

Э Л Е К Т Р И Ч Е С К А Я П Р О В О Д И М О С Т Ь

М Е Т А Л Л О В И С П Л А В О В

 

2-1. КРИСТАЛЛИЧЕСКОЕ СТРОЕНИЕ МЕТАЛЛОВ

Металлы имеют сравнительно ' простое кристалличе­ ское строение. Одинаковая электрическая проводимость в разных направлениях указывает на симметричное по­ ложение кристаллов.

Валентные электроны образуют размытое облако электрического заряда вокруг ионов и могут легко пере­ мещаться в идеальной решетке металлического кристал­ ла. Отсутствие взаимодействия с идеальной решеткой ионов подтверждается тем фактом, что электрическая проводимость чистого металла неограниченно возрастает при температуре, приближающейся к абсолютному нулю. Решетка состоит из воображаемых линий, соединяющих

ионы. Расстояние

 

между

их центрами

измеряется

анг-

стремами

о

 

см).

Гипотеза о

закономерном

рас­

( А = 1 0

- 7

пределении

ионов

была

выдвинута

Е.

С. Федоровым

в 1860 г. и подтверждена с помощью рентгеновских лу­ чей М. Лауе в 1912 г.

В

реальных кристаллах из-за нарушений кристаллической ре­

шетки

средняя скорость пробега электронов снижается. В жидкости

атомы и молекулы сохраняют лишь так называемый ближний по­ рядок, т. е. небольшое число частиц, а не все атомы всего крнстал-

30


ла, как в твердом теле, закономерно расположены в пространстве. Ближний порядок неустойчив: он то возникает, то пропадает под действием тепловых колебаний. В кристалле каждый атом имеет одно и то же количество ближайших атомов, расположенных на одинаковом расстоянии. Имеется 14 возможных вариантов распо­ ложения их в пространстве.

Простейшим типом кристаллической решетки является кубиче­ ская решетка. Встречаются также решетки в виде объемно-центри­ рованного куба, граиецеитрпрованного куба, гексагональная плотно-

упакованная решетка и другие. Кристаллические решетки

для

боль­

шинства элементов приведены на

рис. 2-1 по

данным

[Л. 34].

Металлические элементы находятся

левее

черной

жирной

линии.

Теория идеальных кристаллов позволяет объяснить многие

струк­

турно-нечувствительные объемные свойства

кристаллической

решет­

ки: плотность, диэлектрическую проницаемость, удельную теплоем­ кость, упругие свойства. Большинство кристаллов металлов (кроме марганца и ртути) имеют «кубическую объемно-центрированную. и гексагональную плотноупакованную решетки. Важным параметром

решетки

является длина

ребра куба. Так, у

хрома

она равна

О

а у алюминия

О

методы

позволяют

2,878 А,

4,041 А. Современные

измерять параметры решетки с точностью до четвертого пли даже пятого знака. Многие свойства металлов связаны с координацион­ ным числом. В простой кубической решетке координационное число

равно 6. В кубической гранецентрпрованной

решетке атомы распо­

лагаются по вершинам элементарной ячейки

и в центрах

ее

граней.

Каждый атом в этой решетке окружен 12

ближайшими

соседями.

Координационное число в этой решетке равно 12. Почти

все метал­

л ы — цинк, кадмий, ртуть

п далее левее в

периодической

таблице,

имеют простые решетки с

координационными числами 8

и

12. Для

неметаллов, наоборот, характерно малое значение координационного числа.

Кристаллические тела не идеальны: в них всегда в огромном количестве существуют нарушения структуры, называемые несовер­ шенствами (или дефектами). В силу ряда причин отдельные кри­ сталлы в реальном металле не имеют возможности принять пра­ вильную форму. Кристаллы неправильной формы называются зер­ нами или кристаллитами. Их размер от 0,1 до 10 мкм. Напомним,

что разрешающая

способность

микроскопа

равна

длине волны све-

о

 

 

 

 

 

 

 

та — 600 А, или 0,6 л и ,

т. е. увидеть

кристаллиты, размер

которых

меньше 0,4—0,6 мкм,' нельзя. Фактическая

неправильность

строения

кристаллического

тела

вызывается

отсутствием

атомов

(ионов)

в отдельных узлах

решетки (вакансии), наличием

атомов ие в узлах,

а в междоузлиях, дефектами на поверхности зерен.

 

Отклонения от идеальной

структуры,

вызванные тепловьшн ко­

лебаниями, приводят к образованию точечных кристаллических де­ фектов (вакансий и включений). Эти дефекты имеются во всех кристаллах, как бы тщательно они ни выращивались. Под действи­

ем тепловых

флуктуации

вакансии

постоянно

зарождаются и

исчезают.

 

 

 

 

 

 

Наличие вакансии объясняется тем, что вследствие

каких-то

причин внутренний

атом срывается со

своего узлового

положения.

В двумерной

модели атома

при отсутствии релаксаций энергия обра­

зования вакансий

примерно

равна 1 эв.

Вероятность

существования

вакансий или определенного

количества

вакантных мест в

кристалле,

31