Файл: Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 21.10.2024

Просмотров: 71

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

чить большую точность в определении Рэ, чем регистрация только суммы (или разности) сигналов.

В реальном эксперименте возможны не любые спектры (как мы до сих пор считали), а, например, только непрерывные. В этом случае погрешность в определении Р0 может быть суще­ ственно меньше максимальной (определяемой с помощью по­ строения, аналогичного показанному на рис. 1.1). Для опреде­ ления погрешности следует провести градуировку детекторов.

Пусть

отношение показаний двух

детекторов, помещенных

е

пучок

исследуемого излучения,

равно

(02/01) 1- При этом отно­

шение

РэІсіі= {Рз/сіі) і. Теперь

изменим

спектральный состав

излучения, максимально варьируя

условия эксперимента,

но

вместе с тем оставляя отношение 02/01 постоянным. При этом отношение Рэ/аі будет изменяться от минимального значения (Р;>/оі)мші до максимального (/У^ОмаксПроведя аналогичные измерения для различных йі, получим две градуировочные кривые, которые всегда лежат внутри области, соответствую­ щей однопараметрическим спектрам (пунктирные линии на рис. 1.2, б). Поэтому погрешность в определении Рэ в реальном эксперименте всегда меньше максимальной [284, 286].

§ 7.3. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОГЛОЩЕННЫХ ДОЗ ПО ЧИСЛУ ЗАРЕГИСТРИРОВАННЫХ ЧАСТИЦ И СРЕДНЕЙ ЭНЕРГИИ ДЕЙСТВУЮЩЕГО СПЕКТРА

Рассматриваемый метод определения поглощенной дозы ос­ нован на одновременном измерении числа заряженных частиц N (первичных или вторичных) и средней энергии действующего спектра Е.

Дозиметрия а - и ß-излучений

Если через

единицу

поверхности

входного окна проходит

N частиц различной энергии, то поглощенная доза может быть

определена по

формуле

(1-17). Для

этого необходимо знать

N и dEn/dx.

 

 

 

Для определения dEn/dx обычно измеряют [287] или рас­ считывают [288] действующий спектр электронов в веществе, а затем определяют усредненные по спектру линейные потери энергии по формуле, аналогичной (1.32).

Вместо измерения или расчета действующего спектра можно

определить

только один параметр — среднюю энергию спектра

Е и затем

по ней dE^jdx. Величину Е можно определить по /

и А^р [289].

Если спектр _зависит от одного параметра, то метод

определения dEn/dx по Е дает такие же результаты, как спек­

трометрический метод. Экспериментально

обнаружено

[290],

что форма

ß-спектра мало меняется при

ослаблении

потока

ß-частиц с

простым спектром в поглотителе. Оказалось

также,

141


что для данного источника величина dEn/dx не зависит от глу­ бины, определяется максимальной энергией ß-спектра и с точ­

ностью ±10% не зависит от атомного номера ядра

излучателя

г, типа ß-перехода, размеров источника и глубины.

для опре­

Приведенные данные позволяют заключить, что

деления dEn/dx на различной глубине рассеивающей среды нет необходимости измерять спектры ß-излучения. Для этого доста­ точно определить один параметр спектра с помощью двухка­ нальной системы.

Если через единицу площади входного окна детектора про­ ходит N частиц, то поглощенная доза в любом сечении, парал­ лельном поверхности, может быть определена по формуле П.17). Если частицы более или менее равномерно распределены по объему детектора, то поглощенную дозу _можно определить по средней энергии действующего спектра Е. массе детектора т и полному числу зарегистрированных частиц Мѵ = ФЗі, где 5 — площадь входного окна детектора:

ENp

(7.7)

D =

т

 

Сопоставляя (1.12) и (7.7), получаем

 

dE/dx = (Elm) S.

(7.8')

Формула (7.12) позволяет определить усредненные по спек­ тру линейные потери по средней энергии действующего спектра.

§ 7.4. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОГЛОЩЕННЫХ ДОЗ С ПОМОЩЬЮ ДЕТЕКТОРА ПОЛНОГО ПОГЛОЩЕНИЯ ’

Рабочий объем комбинированного детектора можно сделать достаточно большим [291J.

Детектор представляет собой кристалл' CsI(Tl), находящийся в оптическом контакте с кремниевым фотоэлементом с р—/г-пе­ реходом. Толщину кристалла Я выбирают из условия Я>10Д, где А — слой половинного ослабления в CsI(Tl). При этом можно считать, что длинноволновое рентгеновское излучение практически полностью (приблизительно 99,9%) поглощается в объеме кристалла *. Доля рентгеновского излучения, рассеян­ ного назад, учитывается при градуировке детектора.

Пучок исследуемого излучения проходит через диафрагму и попадает на поверхность кристалла. Возникающее свечение регистрируется кремниевым фотоэлементом. Таким образом, по­ глощенная энергия равна:

£ п = AIJ,

(7.9)

* Для дозиметрии длинноволнового излучения могут быть применены системы, состоящие из нескольких детекторов с р—я-переходами [292].

142


где t — время облучения; А — размерный коэффициент, опреде­ ляемый при градуировке детектора; /0 —ток на выходе фото­ элемента.

Если перед диафрагмой поместить слой из тканеэквивалент­ ного вещества толщиной /г, то ток на выходе детектора умень­ шится на величину /о—h- Если пренебречь рассеянным излуче­ нием, то поглощенная в слое h (усредненная по облучаемому объему) доза равна:

D

А (Ір l\)t

(7.10)

Ітг2

где г — усредненный радиус пучка.

Помещая перед диафрагмой слои различной толщины, опре­ деляем распределение поглощенных доз в любом веществе.

Разностный метод дает правильное значение средней погло­

щенной

дозы в слое

при

соблюдении

следующих

условий:

1) детектор полного по-

 

 

 

 

 

 

глощения

должен

быть

 

 

 

 

 

 

 

пропорциональным

 

во

 

 

 

 

 

 

 

всем’

диапазоне

измеряе­

да

 

 

 

 

 

 

мых

энергий; 2)

суммар­

 

 

 

 

 

 

 

ный

поток

энергии

через

 

 

 

 

 

 

 

боковую

поверхность

об­

60

 

 

 

 

 

 

лучаемого

объема

 

дол­

 

 

 

 

 

 

 

жен

равняться

 

нулю;

40

 

 

 

 

 

 

3) необходимо учесть до­

 

 

 

 

 

 

лю

рассеянного

 

от

по­

20 гг

\

 

 

 

 

 

верхности

излучения. Чем

 

 

 

 

 

меньше доля рассеянного

 

 

 

 

 

 

 

излучения,

тем

меньше

 

 

 

 

 

 

 

отклонение истинного зна­

О

1

2

3

4

5

ä,MH

чения

поглощенной в

 

 

 

 

 

 

 

слое /г дозы от рассчи­

Рис. 7.4. Ослабление интенсивности рент­

танной

 

по

формуле

геновского

излучения

с £ 3ф = 4,8 кэв

при

(7.10).

 

 

 

 

 

различном

положении

рассеивающих

пла­

Для

определения

до­

стин

(1,

2)

распределение

поглощенной

 

 

 

дозы

(3).

 

 

ли

рассеянного

пласти­

 

 

 

 

 

 

 

нами излучения провели серию экспериментов. В первом ва­ рианте пластины помещали между тубусом и диафрагмой так, чтобы рассеянное излучение не могло попасть на поверхность кристалла. Во втором пластины помещали непосредственно на поверхность кристалла так, чтобы рассеянное в пластинах из­ лучение регистрирбвалось кристаллом.

Для излучения с эффективными энергиями от 4,8 до 10 кэв кривые ослабления интенсивности, для первого и второго ва­ риантов геометрии облучения, практически совпадают (кривые 1 и 2 рис. 7.4). Следовательно, для данного диапазона длин

143


волн рассеянным в пластинах излучением можно пренебречь. Это означает, что поток энергии через боковую поверхность облучаемого объема пренебрежимо мал.

Для определения коэффициента обратного рассеяния от по­ верхности кристалла кремниевый детектор с р—«-переходом помещали в прямом пучке в воздухе и на поверхности кристал­ ла. Коэффициент обратного рассеяния для рентгеновского излучения в диапазоне от 4,8 до 15,4 кэв не превышает 1,02, т. е. выполняется и третье условие. При уменьшении атомного номера коэффициент обратного рассеяния увеличивается. Од­ нако для энергии не более 13,4 кэв коэффициент обратного рассеяния для ткани не превышает 1,03. Эти данные находятся в хорошем согласии с данными по определению кривых ослаб­ ления интенсивности в условиях узкого и широкого пучка [293].

В заключение рассмотрим методы градуировки детектора полного поглощения.

Один из методов заключается в применении для градуировки а- или ß-источника известной активности.

Второй метод градуировки детектора основан на том, что распределение мощности поглощенной дозы Р(х) в воздухо­ эквивалентном веществе (если пренебречь рассеянным излуче­ нием) совпадает с кривой ослабления мощности экспозиционной

дозы, измеренной с помощью

нормальной

ионизационной

камеры. Площадь под кривой Р(х)

н

н

равна [P(x)dx = J P^(x)dx.

 

b

о

Константу детектора полного поглощения А определяли из со­ отношения

 

AI = \ P a(x)dx,

(7.11)

где I — ток на

 

b

 

 

 

выходе детектора

в отсутствие

поглотителя, а

J Pa{x)dx — площадь под

кривой

ослабления

экспозиционной

о

помощью

нормальной ионизационной

камеры.

дозы, снятой с

В заключение отметим, что площадь, ограниченная кривой распределения поглощенных доз в слоях исследуемого вещества и полученная описанным методом, равна поглощенной энергии, которая измеряется детектором непосредственно с погрешностью менее 5%. Это позволяет исключить грубые погрешности при построении распределения поглощенных доз.

§ 7.5. ПРИМЕНЕНИЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ И КОМБИНИРОВАННЫХ ДЕТЕКТОРОВ ДЛЯ ФАНТОМНЫХ ИЗМЕРЕНИИ

Высокочувствительные полупроводниковые и комбинирован­ ные детекторы по своей природе нетканеэквивалентны, поэтому их применение требует разработки специальной методики [283].

144


В качестве примера рассмотрим методику измерения мощности экспозиционной дозы Р3 рентгеновского и у-излучений в диапа­ зоне от 35 до 126 кэв в свободном воздухе и в рассеивающей среде. Измерения проводят с помощью системы, состоящей из комбинированного детектора с кристаллом CsI(Tl) в сочетании с кремниевым фотоэлементом и кремниевого детектора с рп- переходом для фантомных измерений.

Для градуировки оба детектора помещают в исследуемое

поле

излучения. По

измеренным

сигналам А

и А

на выходах

детекторов определяют отношение A / А

и по его величине с по­

мощью градуировочных кривых (или таблиц)

находят величину

/у /і

и затем экспозиционную дозу Р3.

 

 

 

На рис. 7.5 приведены относительные спектральные характе­

ристики

детекторов: A / A ^ ß i ^ 1'

и А /Л ^ & г ^ У

где. (А)« —

ток на

выходе детектора

Рэ

 

 

* э

 

с кристаллом

CsI(Tl); (/2)и — ток на

выходе

кремниевого

детек­

 

 

 

 

тора; Ра — мощность экспо­

 

 

 

 

зиционной дозы; k\ и k2—

 

 

 

 

постоянные

коэффициенты.

 

 

 

 

Эффективная

энергия спек­

 

 

 

 

тра ДЯф

определялась

по

 

 

 

 

слою

половинного ослабле­

 

 

 

 

ния

экспозиционной

дозы

в

 

 

 

 

условиях хорошей геометрии

 

 

 

 

(см. рис. 7.1, а).

Поскольку

 

 

 

 

кривые

ослабления

близки

 

 

 

 

к экспоненциальным

(опре­

 

 

 

 

деляются одним

коэффици­

 

 

 

 

ентом

линейного

ослабле­

 

 

 

 

ния р), можно считать, что

исследуемые

спектры

одно­

Рис. 7.5. Зависимость дозовой чувстви­

параметрические

 

тельности

от £пф

для

детектора с

 

кристаллом

Csl (ТІ)

(У) и

кремниевого

На рис. 7.6

приведен гра­

 

детектора (2).

 

дуировочный

график

для

 

 

 

 

системы, состоящей из детектора на основе Csl (Т1) и кремние­ вого детектора для фантомных измерений. С помощью графика

легко найти, по значению А / А .

максимальное

и минимальное

значение Рэ (кривая 1). Таким образом, для

определения Рэ,

по измеренным

значениям

( А ) и и ( А ) и ,

находят А / А =

= &2 ( А ) і Д і ( А ) и .

Затем определяют максимальное и минималь­

ное значение Рэ/А и Рэ, соответствующее полученному значению

А / А .

Одно из преимуществ рассматриваемого метода дозиметрии заключается в том, что он позволяет определять не только экс­ позиционную дозу, но и любую другую величину, в частности, поглощенную дозу. Для этого необходимо знать коэффициент перехода от экспозиционной дозы к поглощенной, выраженной

145