Файл: Пакулов, Н. И. Мажоритарный принцип построения надежных узлов и устройств ЦВМ.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 24.10.2024

Просмотров: 102

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Высказанные соображения позволяют ограничиться анализом переходных процессов при подаче только на два входа МЭ высоких уровней и считать, что один из уров­ ней установился раньше другого. При этом схему, пред­ ставленную на рис. 1.30, можно упростить (рис. 1.32), исключив цепи, связанные с диодами элемента ИЛИ (например, Д8 и Д9), так как эти диоды закроются при поступлении на два входа МЭ высоких уровней напря­ жения. (На рис. 1.32 сохранены обозначения, используе­ мые на рис. 1.30). Кроме того, здесь показаны паразит-

Рис. 1.32. Упрощенная схема МЭ, изображенная с учетом паразит­ ных емкостей.

ные емкости Су, Св и Сп между соответствующими точ­ ками схемы и подложкой. В состав емкости Сi Входит

емкость резистора iR1; в состав

емкости Со— емкости

резистора R4,

коллекторного

(CIt)

и эмиттерного (Со)

переходов и емкости диодов

Д8

и

Д9 (Сб = Сл4+ Ск+

+ Сэ+2Сд).

Емкость Сп состоит

из емкости резистора

Ra и емкостей диодов, подключенных к выходу МЭ. Так как к каждому входу подключено два диода, то общая емкость диодов составляет 2т Сд, где т — число под­

ключенных входов.

Примем в качестве исходного то же состояние, что и при анализе статического режима. Анализ переходных процессов поясняется эпюрами, приведенными на рис. 1.33. На эпюрах показано исходное состояние в со­ ответствии с выражениями (1.174) —(1.177). При скачко­ образном переходе одного из входных напряжений (на эпюрах показано для аВхг) от нижнего уровня к верхне­ му напряжения иу и ту возрастают на очень малую ве­ личину вследствие конечного значения внутреннего со­ противления насыщенных транзисторов, управляющих элементом. При нВХ2= « в х д и о д Д2 закрывается, и

79


иа переходные процессы в дальнейшем влияет только его емкость (Сд). Учитывая, что база транзистора свя­

зана с точкой 1 схемы через открытые диоды Д7 и Д10, сопротивление которых значительно меньше сопротивле­ ния R1, схему, представленную на рис. 1.32, можно еще более упростить (рис.

1.34), считая, что пара­ зитная емкость подключе­ на непосредственно к точ­ ке 1.

Дальнейший анализ переходных процессов проведем при следующих допущениях: в схеме применены диоды без на­ копления заряда, вольтамперные характерис­ тики диодов и вход-

|.'У|

Рис. 1.33. Эпюры переходных про­ цессов в МЭ типа ДТЛ.

Рис. 1.34. Эквивалентная схема МЭ типа ДТЛ, используемая для анализа переходных про­ цессов.

ная характеристика транзистора соответствуют характеристикам, изображенным на рис. 1.27 и 1.31, форма входных сигналов ступенчатая, выходное со­ противление источников сигнала равно нулю. Эти допу­ щения позволяют разделить анализ переходных процес­ сов в диодной (заряд Си) и в транзисторной (инерцион­ ность процессов в транзисторе и заряд Сн) частях МЭ. Допущение, позволяющее пренебречь влиянием конечно­ го времени восстановления обратного сопротивления дио­ дов (накопление зарядов), аналогично пренебрежению явлениями форсирования процессов включения, рассасы­ вания неосновных носителей в базе транзистора и вы­ ключения транзистора за счет зарядов, накопленных в диодах смещения. Это уменьшает базовый ток включе-

80

ний и выключения. Поэтому фронты включения, выклю­ чения и время рассасывания получаются несколько боль­ шими, чем при учете накопления зарядов в диодах. При расчетах иа наихудший случай такое допущение прием­ лемо. В реальной схеме длительность переходных про­ цессов будет несколько меньше рассчитанной.

Процесс включения транзистора. Процесс включения транзистора 77 разделяют на два этапа. Первый этап — от момента запирания диода Д1 до момента открывания

транзистора — будем

называть

этапом отсечки. Второй

этап — от момента открывания

до момента насыщения

транзистора — будем

называть

этапом включения тран­

зистора. На первом этапе происходит только заряд емко­ сти Си. Выходное напряжение не изменяется. Напряже­ ние «1 нарастает от уровня, соответствующего выраже­ нию (1.175), и стремится к значению «кои, где

Икоя= Я , - [(Et + Ei - 2 u A),!(Ri +*«)]/?,. (1.204)

Постоянную времени Ть соответствующую этапу отсечки, находим в соответствии с рис. 1.34:

Ti= C„/?1i?*/(/?i+/?4).

(1.205)

Когда напряжение щ достигнет значения и \

(1.188),

дальнейшее его нарастание прекратится.

Учитывая формулы (1.175), (1.204), (1.205) и (1.188),

получаем выражение для длительности этапа отсечки, со­ ответствующее времени задержки тЗПкл включения тран­ зистора:

вкл == Ti In {[^ko:i (^кэ ц ~ф И „)] Ф«коа (^бэ н "Ф 2 « „))} .

(1.206)

Длительность процесса включения транзистора опреде­ ляется значениями включающего тока базы h n (1.190), коллекторного тока насыщения /ки (1.197) транзистора и постоянной времени тв (1]:

+ BCKR f R tC„

(1.207)

где Тр — постоянная времени, характеризующая инерци­ онность носителей в базе и связанная с временем жизни неосновных носителей в базе. Время включения транзи­ стора (тщкл) находим из соотношения

Т1вкл—"Гв In[B Iб н/(5 /б r— I k н)]>

(1.208)

6-703

81


О б щ а я д л и т ел ь н о сть п р о ц есса вклю чения (тВКл) о п р е д е ­ л я ет ся к ак с у м м а д в у х со ст а в л я ю щ и х :

(1.209)

Процесс выключения транзистора. При спаде напря­ жения Ui от значения ивх в до значения «ВХН происходит открывание диода Д1 и быстрый разряд емкости С%. Длительность спада напряжения щ мала по сравнению с длительностью других переходных процессов. Напря­ жение «61 уменьшается незначительно, так как транзи­ стор Т1 насыщен. Происходит выключение транзистора.

Процесс выключения при сделанных допущениях можно,-, разделить на два этапа. Первый этап — от момента от­ крывания диода Д1 до момента выхода транзистора Т1

из режима насыщения — этап рассасывания неосновных носителей в базе.

Второй этап — от момента выхода из насыщения до полного запирания транзистора — этап выключения.

Длительность процесса рассасывания (тр) неосновных носителей определяется величиной включающего тока /бн (1.190), величиной выключающего тока /д2 и посто­ янной времени тш соответствующей режиму насыщения

транзистора. Выключающий ток приближенно

можно

определить из соотношения

 

1 6 2 = ( Е з + и в о n ) / R l>

( 1.210)

полагая, что в процессе рассасывания напряжение иоэн сохраняет прежнее (для включенного состояния) значе­ ние. При этом

( 1.211)

где / к-н определяется формулой (1.197).

После окончания процесса рассасывания напряжение «61 спадает, в результате чего транзистор закрывается. При принятой аппроксимации входной вольт-амперной характеристики транзистора выключающий ток необхо­ димо вычислять по формуле (1.210).

Значения выключающего тока /дг, коллекторного то­ ка насыщения /кн и постоянной времени тв (1.207), со­ ответствующей активной области транзистора, опреде­ ляют время выключения Тгвыкл транзистора:

Т2выкл — Тв 1 п [ ( / Кн + В /дг) / В 1 дг].

( 1.212)

82


П о л н а я д л и т ел ь н о ст ь п р о ц е с с а в ы к л ю ч ен и я

тВыкл р а в н а

с у м м е д в у х со ст а в л я ю щ и х :

 

Твыкл= Тр+ Т2ВЫКЛ-

(1.213)

Таким образом, получены приближенные выражения, позволяющие оценить статические величины токов и на­ пряжений и параметры переходных процессов в МЭ ти­ па'ДТЛ. При необходимости получить более .детальные расчетные соотношения для МЭ типа ДТЛ можно вос­ пользоваться хорошо разработанной теорией анализа элементов типа ДТЛ, опубликованной в известной лите­ ратуре [1, 2, 5, 11].

Требования к диодам, транзисторам и резисторам, входящим в состав МЭ типа ДТЛ, полностью совпадают с требованиями к аналогичным составным частям инте­ гральных микросхем диодно-транзисторной логики. Эти требования детально изложены в работе [2].

Г л а в а 2

СИНТЕЗ НАДЕЖНЫХ УЗЛОВ И УСТРОЙСТВ ЦВМ НА БАЗЕ МАЖОРИТАРНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

2.1.МАЖОРИТАРНЫЙ БАЗИС ЭЛЕМЕНТОВ

Мажоритарный способ резервирования может быть применен на уровнях элементов, узлов или устройств. Мажорирование на уровне элементов заключается в по­ строении узлов и устройств на базе мажоритарных эле­ ментов и в использовании избыточной информации на входах МЭ. Применение МЭ наиболее эффективно для коррекции ошибок, возникающих в результате само­ устраняющихся сбоев.

В табл. 2.1 приведена мажоритарная функция трех переменных. Переменные, отмеченные звездочкой, могут принимать противоположные значения в результате сбо-

 

 

 

Т абли ца

2.1

Номер набора

*1

х 2

*3

V

0

0 *

0

0

0

1

0

0

1*

0

2

0

1*

0

0

3

0 *

1

1

1

4

1*

0

0

0

5

1

0 *

1

1

6

1

1

0 *

1

7

1*

1

1

1

ев, при этом значение функции у не изменится. На 0-м и 7-й наборах одиночные сбои на любом из входов МЭ не приводят к искажению выходного сигнала. Исчезнове­ ние или появление отмеченных единиц и нулей на набо-

84


д в у х

pax 1—6 может без последствий сопровождаться появле­ нием ложного сигнала на любом из других входов

МЭ.

Указанные свойства МЭ в значительной степени по­ вышают помехоустойчивость узлов ЦВМ, построенных на базе МЭ. Кроме того, мажоритарный базис по сравнению с булевым базисом в некоторых случаях позволяет по­ строить узлы ЦВМ с меньшим количеством оборудова­ ния, что будет показано в дальнейшем.

Установим функционально полную систему логиче­ ских элементов мажоритарного базиса. Известно, что лю­ бая булева функция может быть представлена с помо­ щью следующих основных формул:

/ с*,.

......х п) = у

(х? л * ?

л - Л

х л

(2-1)

f ( хп х 2, ..., х п) =

Л (х]1 v

V •••

V х ’п),

(2-2)

где щ— конкретное значение двухзначной

переменной Х{,

при этом

 

если

аг- = 1,

 

 

 

 

 

 

 

 

если <jj — 0.

 

 

Символы V-

Д означают, что дизъюнкция или конъюнк-

1

о

 

 

 

 

ция берется только на тех наборах, где выполняются равенства

ЦсГь 02, ■, O n ) = 1 — для дизъюнкций, f(aи 02, ..., оп)= 0 — для конъюнкций.

Из формул (2.1), (2.2) следует функциональная пол­ нота системы, состоящей из функций конъюнкции, дизъ­ юнкции и отрицания. В техническом плане это означает, что любой сколь угодно сложный логический узел может быть построен на базе трех основных логических эле­ ментов: И, ИЛИ, НЕ. Кроме указанной полной системы функций существует целый ряд других полных систем.

В общем виде задача определения функциональной полноты системы решается с помощью теоремы Поста — Яблонского (79, 80], суть которой состоит в следующем. Для того чтобы система булевых функций была функ­ ционально полной, необходимо и достаточно, чтобы эта система содержала функции: не сохраняющую констан­ ту «нуль»; не сохраняющую константу «единица»; не

85