Файл: Моряков, О. С. Вакуумно-термические и термические процессы в полупроводниковом производстве учеб. пособие.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 24.10.2024

Просмотров: 64

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Графитовая кассета (рис. 22, б), предназначенная для пайки германиевого кристалла 11 к кристаллодержателю 9, состоит из ос­ нования 6, верхней 2 и нижней 8 пробок. При сборке соосность крис­ талла и кристаллодержателя обеспечивается проточкой на верхней пробке. Также центрируется и кольцо припоя 10. После пайки кас­ сету разбирают и извлекают из нее кристаллы с припаянными кристаЛлодержателями. В кассетах такой конструкции не бывает брака из-за короткого замыкания эмиттерных и базовых электро­ дов.

Рис. 22. Кассеты для изготовления сплавных транзисторов:

а — кремниевых, б — германиевых; 1 — грузик, 2 и 8 —верхняя

и нижняя пробки, 3

коллекторная

заготовка,

4 — кристалл,

5 — кольцевой электрод,

6 —основание

кассеты.

7 — эмиттерная

заготовка,

9 — кристаллодержатель, /0 —припой,

Л —кристалл

с элек­

 

 

тронно-дырочными переходами

 

 

Ме т о д

б е с к а с с е т н о й

з а г р у з к и э л е к т р о д о в

приме­

няют в основном при изготовлении сплавно-диффузионных прибо­ ров. В качестве кассеты в этом случае, используют графитовую под­ ложку или лодочку, на которую укладывают пластины с загружен­ ными электродами. Так как размеры электродных навесок малы, их укладка, выполняемая к тому же под микроскопом, очень трудо­ емкая операция. Механизировать операцию укладки довольно трудно.

Рассмотрим сборку электронно-дырочных переходов при изго­ товлении сплавных германиевых транзисторов МП13 —МП16 и ГТ108. Для получения эмиттера и коллектора в транзисторах МП13—МП16 применяют навески индия в виде шариков диамет­ ром 400 и 700 мкм, а в транзисторах ГТ108 — электродные заготов­ ки в виде дисков диаметром 300 и 400 мкм.

При работе с шариками используют групповой инструмент (рис. 23), состоящий из нескольких приспособлений и позволяющий выполнять одновременную сборку деталей для 30 переходов Все приспособления выполнены в единой координатной сетке с шагом

6,4 мм.

42


1

2

3

1

2

3

Рис. 23. Последовательность работы с комплектом при­

 

способлений для сборки

деталей,

предназначенных для

 

изготовления р — «-переходов:

 

 

 

а -- загрузка кристаллов, б — перегрузка кристаллов в

графи­

 

товую кассету, в —наложение приспособления с коллекторными

 

шариками (навесками) на графитовую

кассету,

г — загрузка

 

коллекторных

шариков на

кристаллы,

<3 — наложение

приспо­

 

собления с эмиттерными шариками на графитовую кассету, е ~

 

загрузка эмиттерных

шариков на кристаллы, ж —кассета, соб­

 

ранная для пайки; /

и 4 — нижний

и верхний корпусы

графи­

 

товой кассеты,

2 — приспособление

для

загрузки

кристаллов,

 

3 — кристалл, 5

и 8 —приспособления для загрузки

коллектор­

 

ных и эмиттерных шариков, 6 и 9 —коллекторный

и эмиттер-

 

ный шарики, 7 — заслонка, 10 и 13 — верхний и нижний корпусы

 

металлической

кассеты, И — грузик,

12 — уголковый

кристалло-

 

держатель, 14 — кристалл с

электронно-дырочными

переходами,

 

 

 

15 — кольцо припоя

 

 

 

Процесс сплавления ведут раздельно: вначале

получают кол­

лекторные переходы,

после этого — эмиттерные, а

затем кристал­

лы к кристаллодержателю.

 

 

 

 

 

 

кого

При помощи первого приспособления кристаллы загружают

 

гнезда графитовой кассеты, для чего, насыпав на приспособление кристаллы 3, слегка покачивают его так, чтобы они запали в гнезда. Лишние кристаллы усыпают, а на приспособление накладывают

43


нижний корпус 1 графитовой кассеты, фиксируя его по штифтам и, перевернув сборку, переводят кристаллы в кассету (рис. 23, й и б ) . Затем кассету накрывают верхним корпусом 4 (рис. 23, в), кото­ рый не позволяет выпасть кристаллам из гнезд и служит для загруз­ ки коллекторных шариков через конусные отверстия. Кассету с кри­ сталлами совмещают со вторым приспособлением 5 (рис. 23, виг ) , в каждом отверстии которого находится по одному шарику 6. При смещении заслонки 7, шарики проваливаются на кристаллы. Затем загрузочное приспособление снимают, а кассету помещают в печь и выполняют сплавление (загрузка шариков в отверстия приспособ­ ления 5 основана на том же принципе, что и загрузка кристаллов).

После этого при помощи аналогичного приспособления 8 загру­

жают

эмиттерные шарики 9 несколько меньшего размера (рис. 23,

д и е)

и проводят вторую стадию сплавления. Далее графитовую

кассету раскрывают и переносят кристаллы с р—«-переходами в. металлическую, совмещая и переворачивая кассеты.

Перед пайкой к кристаллодержателям, которая ведется под гру­ зиками 11 (рис. 2 1 , ж), на кристаллы укладывают оловянные кольца припоя, а на них — кристаллодержатели. Собранную из двух частей Ю и 13 металлическую кассету с р—«-переходами 14, кольцами припоя 15 и кристаллодержателями 12 помещают в конвейерную' печь. Загрузку кристаллодержателей ведут на специальном приспо­ соблении с помощью вибробункера.

Для бескассетной загрузки электродов диаметром 0,3 и 0,4 мм была разработана автоматическая установка (рис. 24). Ленту элект­ родного сплава закрепляют в устройстве, обеспечивающем ее пере­ мещение по мере выгрузки заготовок, которая производится обыч­ ным способом при помощи пуансонов и матриц. Заготовки остаются в матрицах и вместе с ними перемещаются на позицию загрузки.. Сюда же вибробункером и специальным устройством подаются кристаллы 5. К кристаллу на позиции загрузки подходят две кару­ сели 3 и 8 с заготовками 4 и 10, расположенными в матрицах, и фторопластовыми выталкивателями 2 и 9, которые одновременно прижимают заготовки к кристаллу. Вследствие поверхностной адге­ зии сплав прилипает к германию, загруженные кристаллы сни­ маются с фиксирующего устройства и укладываются на графито­ вые подложки, а затем поступают в печь, где производится сплавление.

Кристаллы и электродные сплавы, а также металлические дета­ ли установки должны быть совершенно чистыми, что является ос­ новным условием надежного сцепления, эмиттерных и коллекторных; заготовок с кристаллами.

§ 17. Технологический процесс сплавления

Рассмотрим процесс изготовления электронно-дырочных перехо­ дов на примере транзистора П2 1 2 . Сплавление электродов выполня­ ют в три стадии (рис. 25).

44


На первой стадии коллектор (индий — золото — галлий) сплав­ ляют в прямонакальной водородной печи ЖК 40.04. Электродные за­ готовки укладывают по центру кристаллов германия (рис. 25, а) и на графитовой подложке помещают в рабочую зону печи. После продувки рабочего канала печи азотом подают водород, поджигая его на выходе из запальника. В течение 5 мин температуру в рабо­ чей зоне печи доводят до 300° С и выдерживают кристаллы при этой температуре в течение 5 мин. Затем в течение 5 мин доводят темпе-

Рис. 24. Установка для

Рис. 25. Схема изготовления

герма­

бескассетной

загрузки

ниевого транзистора П212:

 

электродов:

кол­

а — загрузка коллекторной заготовки,

6

/ и 7 —штоки

вырубки

сплавление

коллектора

(первая

стадия),

лектора и эмиттера,

2 и 9 —

в —■загрузка

змиттерной

заготовки,

г

вцталкиватели,

3 и

3 - верх­

сплавление эмиттера (вторая стадия), д

няя и нижняя карусели,

4

пайка

базового

вывода,

е — пайка эмит-

коллекторная заготовка,

5 —

терного

вывода

(третья

стадия);

1 — кол­

кристалл, 6 —кристаллодер-

лекторная

заготовка,

2 —кристалл,

3

жатель, — эмиттерная

за­

коллекторный

электрод,

4 — эмиттерная

готовка

 

 

заготовка,

5 — эмиттерный электрод,

6

 

 

 

 

кристаллодержатель (вывод базы),

7 —

 

 

 

 

припой,

8 —вывод эмиттера, 9 — вывод

 

 

 

 

 

коллектора

(ножка)

 

 

ратуру в зависимости от толщины кристаллов до 530—550° С и вы­ держивают ее 2 мин. Выключив нагрев, снижают температуру до окружающей, обдувая печь сжатым воздухом.

Прежде чем извлечь подложки с кристаллами печь в соответст­ вии с правилами техники безопасности продувают азотом.

Технологический процесс сплавления можно проводить также в конвейерной водородной установке ЖК 40.07 по режиму, приведен­ ному в табл. 8 .

После разбраковки кристаллов с коллекторными электродами (рис. 25, б) выполняют вторую стадию—-сплавление эмиттера (рис. 25, в иг ) , для чего используют сплав индий — золото и одно­ временно припаивают кристалл к кристаллодержателю, служаще­ му базовым выводом (рис. 25, д). Для пайки базового вывода при­ меняют кольцо из чистого олова.

45


 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а 8

Р еж и м п р о ц есса

сп лав лени я

при

и зготовлени и

эл ек трон н о -ды роч н ы х п ер ех о д о в

 

т р а н зи ст о р а

П 212

в конвей ерной

печи Ж К

40 .07

Электрод

Толщина кристал­

Температура сплав­

Скорость движения кон­

 

ла, мкм

 

ления, СС

вейерной ленты, см/мин

 

110-115

530 ±3

5

Коллектор

115—120

540 + 3

 

120—125

550+3

 

 

110-115

 

 

5

Эмиттер

115— 120

520 + 3

 

120—125

 

 

 

Вывод эмиттера

 

 

430 + 3

10

На третьей стадии эмиттерные электроды и базовые выводы сплавляют в графитовых кассетах, которые также используют для сплавления эмиттерного вывода (рис. 25, е). Для этого, не разби­ рая кассет, вставляют вывод, изготовленный из никеля и предвари­ тельно покрытый индием, через отверстие в верхней пробке. Сплавление ведут в конвейерной печи ЖК 40.07 при температуре 430° С в атмосфере водорода. После этого кассеты разгружают и выполняют визуальную разработку переходов.

Сплавление коллектора и эмиттера можно выполнять также в вакуумных термических установках, однако они не производитель­ ны и мало пригодны для серийного производства.

На качество сплавления существенно влияет максимальная тем­ пература нагрева, скорость ее подъема, время выдержки и скорость охлаждения. Для выбора режима необходимо знать температурную зависимость растворимости полупроводника в электродном ма­

териале (см. рис. 14).

Максимальную температуру выбирают так,

чтобы ее колебания

не влияли на изменение равновесной концен­

трации элементов в

жидкой фазе. Для различных германиевых

р —«-переходов она

лежит в пределах 500—700° С, а для крем­

ниевых—900—1200° С.

Результаты процесса зависят также от

разброса кристаллов по толщине. Ровный и плоский фронт сплав­ ления, обеспечивающий максимальный выход годных электронно­ дырочных переходов, получают при ступенчатом подъеме темпера­ туры и быстром охлаждении кристаллов. Обычно режимы сплавле­ ния подбирают опытным путем.

§ 18. Контроль качества сплавления

Оценка качества р — «-переходов сводится к визуальному контролю кристаллов, проверке формы их вольтамперной характе­ ристики и величины статического коэффициента передачи тока Й21Е. Качество сплавления характеризуется также для транзис-

46