ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 19.03.2024

Просмотров: 247

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

У результаті дифракційна картина буде мати вигляд правильно розміщених плям, кожній з яких відповідають два цілих індекси m1 й m2 (рис. 61.1).

Таку ж дифракційну картину отримаємо, коли замість двох різних решіток взяти одну прозору пластинку з нанесеними на неї двома системами взаємно перпендикулярних штрихів. Подібна пластинка являє собою двовимірну періодичну структуру (звичайна решітка – одновимірну структуру). Вимірявши кути ϕ1 й ϕ2 , які визначають положення

максимумів, і знаючи довжину хвилі λ , можна знайти за формулами (61.1) і (61.2) періоди структури d1 й d2 . Якщо напрями, у яких структура періодична (наприклад, напрями, які

перпендикулярні до штрихів решіток), утворять кут α , відмінний від нуля, дифракційні максимуми розмістяться не у вершинах прямокутників (як на рис. 61.1), а у вершинах паралелограмів. У цьому випадку за дифракційною картиною можна визначити не тільки періоди d1 і d2 , але й кут α .

− 2;2

−1;2

0;2

1;2

2;2

 

− 2;1

−1;1

0;1

1;1

2;1

 

− 2;0

−1;0

0;0

1;0

2;0

 

− 2;−1

−1;−1

0;−1

1;−1

2;−1

 

− 2;−2

−1;−2

0;−2

1;−2

2;−2

 

Рисунок 61.1 – Дифракційна картина від Рисунок 61.2 – Тривимірна

періо-

двовимірної періодичної структури

дична структура (кристал)

 

Дифракційну картину, аналогічну до зображеної на рис. 61.1, дають будь-які двовимірні періодичні структури, наприклад, система невеликих отворів або система непрозорих маленьких кульок.

Для виникнення дифракційних максимумів необхідно, щоб період структури d був більше λ . У іншому випадку умови (61.1) і (61.2) можуть бути задоволені тільки при значеннях m1 і m2 , які дорівнюють нулю (модуль sin ϕ не може перевищувати одиниці).

Дифракція спостерігається також на тривимірних структурах, тобто просторових системах, які мають періодичність у трьох напрямках, що не лежать в одній площині (рис. 61.2). Подібними структурами є всі кристалічні тіла. Однак їх період (порядку 0,1 нм) занадто малий для того, щоб можна було спостерігати дифракцію у видимому світлі. У випадку кристалів умова d > λ виконується тільки для рентгенівських променів. Уперше дифракція рентгенівських променів на кристалах спостерігалася в 1913 р. у досліді Лауе, Фрідріха й Кніппінга (Лауе належить ідея, іншим авторам – реалізація досліду).

2 Російський учений Вульф і англійські вчені У.Г. і У.Л. Брегги показали незалежно один від одного, що розрахунок дифракційної картини від кристалічної решітки можна здійснити у такий спосіб. Проведемо через вузли кристалічної решітки паралельні рівновіддалені площини (рис. 61.3), які ми будемо називати атомними шарами. Якщо хвиля, яка падає на кристал, є плоскою, то огинаюча вторинних хвиль, що створюються атомами, які лежать у такому шарі, також буде плоскою. Таким чином, сумарну дію атомів, що лежать в одному і тому самому шарі, можна подати у вигляді плоскої хвилі, яка відбилася від атомного шару за звичайним законом відбиття.

Плоскі вторинні хвилі, що відбилися від різних атомних шарів, когерентні й будуть інтерферувати одна з одною подібно до хвиль, які посилаються в цьому напрямку різними щілинами дифракційної решітки. При цьому, як і у випадку решітки, вторинні хвилі будуть

127


практично гасити один одну у всіх напрямках, крім тих, для яких різниця ходу між сусідніми хвилями є кратною λ . На рис. 61.3 бачимо, що різниця ходу двох хвиль, які відбилися від сусідніх атомних шарів, дорівнює 2d sin θ , де d – період кристала в напрямку, перпендикулярному до розглянутих шарів; θ – кут, додатковий до кута падіння, який називають кутом ковзання падаючих променів. Отже, напрями, у яких отримуємо дифракційні максимуми, визначаються умовою

2d sin θ = ±mλ (m = 1,2,...)

.

(61.3)

Це співвідношення називається формулою Вульфа-Брегга (закон Вульфа-Брегга).

θθ

d

d sin θ

d sin θ

 

Рисунок 61.3 – Різниця

ходу

відбитих від двох сусідніх шарів, дорівнює 2d sin θ

II

II

II

II III III

III

 

 

 

 

I

θ

 

 

 

I

 

 

 

I

 

 

 

 

 

 

 

 

I

 

 

 

 

I

хвиль,

Рисунок 61.4 – Три системи атомних

атомних

шарів, які відрізняються густиною

 

атомів

Атомні шари в кристалі можна провести великою кількістю способів (рис. 61.4). Кожна система шарів може дати дифракційний максимум, якщо для неї виявиться виконаною умова (61.3). Однак помітну інтенсивність будуть мати тільки ті максимуми, які отримуємо за рахунок відбиття від шарів, які досить густо «засіяні» атомами (наприклад, від шарів I і II на рис. 61.4).

3 Дифракція рентгенівського випромінювання на кристалах застосовується у двох основних випадках. Вона використовується для дослідження спектрального складу рентгенівського випромінювання (рентгенівська спектроскопія) і для вивчення структури кристалів (рентгеноструктурний аналіз).

Визначаючи напрями максимумів, які утворюються при дифракції досліджуваного рентгенівського випромінювання на кристалах з відомою структурою, можна обчислити довжини хвиль. Спочатку для визначення довжин хвиль були використані кристали кубічної системи, причому міжплощинні відстані визначалися з густини й відносної молекулярної маси кристала.

Уметоді структурного аналізу, запропонованому Лауе, пучок «білого» (тобто з різними довжинами хвиль) рентгенівського випромінювання спрямовувався на монокристал. Для кожної системи шарів, досить густо «засіяних» атомами, знаходимо довжину хвилі, для якої виконується умова (61.3). Тому на поміщеній за кристалом фотопластинці утворюється (після проявлення) сукупність темних плям. Взаємне розміщення плям відображає симетрію кристала. За відстанями між плямами й за їх інтенсивностями вдається знайти розміщення атомів у кристалі й відстані між ними. На рис. 61.5 наведена лауеграма берилу (мінералу із групи силікатів).

Уметоді структурного аналізу, розробленому Дебаєм і Шерером, використовуються монохроматичне рентгенівське випромінювання й полікристалічні зразки. Досліджувана речовина подрібнюється в порошок, з якого пресується зразок у вигляді дротинки. Зразок установлюється вздовж осі циліндричної камери, на бічну поверхню якої укладається фотоплівка (рис. 61.6). У величезній кількості хаотично орієнтованих кристаликів знайдеться багато таких, для яких виявиться виконаною умова (61.3). Причому дифрагований промінь

128


для різних кристаликів буде лежати у різних площинах. У результаті для кожної системи атомних шарів і кожного значення m вийде не один напрям максимуму, а конус напрямків, вісь якого збігається з напрямом пучка (див. рис. 61.6). Картина, яку отримаємо на плівці (дебаєграма), має вигляд, як на рис. 61.7. Кожна пара симетрично розміщених ліній відповідає одному з дифракційних максимумів, які задовольняють умову (61.3) при деякому значенні m . Розшифрування рентгенограми дозволяє визначити структуру кристала.

Рисунок 61.5 – Лауеграма берилу

Рисунок 61.6. – Одержання рентгенограми за методом Дебая й Шерера

Рисунок 61.7 – Дебаєграма

ТЕМА 9 ПОЛЯРИЗАЦІЯ СВІТЛА

§ 62 Поляризоване й природне світло. Поляризатор. Ступінь поляризації [5]

1 При вивченні інтерференції й дифракції ми не звертали уваги на поперечність світлових коливань, припускаючи, що коливання мають один і той самий напрямок. Перейдемо тепер до вивчення явищ поляризації світла, тобто таких явищ, які пов’язані з поперечністю електромагнітних хвиль.

129

Рисунок 62.2 – В еліптично поляризованому світлі кінець вектора
E рухається по еліпсу в площині XY , перпендикулярній до напрямку поширення світла (вздовж осі Z )

Світло, у якого напрями коливань упорядковані будь-яким чином, називається

поляризованим.

Якщо коливання світлового вектора відбуваються тільки в одній площині, яка проходить через напрямок поширення променя, то таке світло називається плоско- (або лінійно) поляризованим. Площина, в якій відбуваються коливання світлового вектора,

називається площиною коливань, або площиною поляризації (див. рис. 62.1).

Упорядкованість коливань може полягати й у

Z

тому, що

вектор

E може обертатися відносно

 

променя, одночасно змінюючись за величиною. У

X

результаті

кінець

вектора E описує еліпс (див.

 

рис. 62.2).

Таке

світло називається еліптично

r

поляризованим. Якщо кінець вектора E описує коло,

E

то таке світло називається поляризованим по колу.

r

 

Зрозуміло, що еліптично поляризоване світло можна

H

Y

подати

як

сукупність

двох

взаємно

 

Рисунок 62.1 – «Моментальна фото-

перпендикулярних

лінійнополяризованих

променів

світла.

 

 

 

 

 

графія» плоскої лінійно поляри-

2 У

природному світлі

коливання різних

зованої світлової хвилі, що по-

перпендикулярних

до

променя

напрямків

ширюється вздовж осі Z . Вектор E

невпорядковано змінюють один одного. Всі напрями

коливається в площині XZ , вектор

коливань природного світла мають однакову

H – уздовж осі YZ . Площина XZ

ймовірність. Таким чином, природне світло можна

площина поляризації

подати

як сукупність

двох

некогерентних

 

 

електромагнітних хвиль, які поляризовані у взаємно перпендикулярних площинах і мають однакові інтенсивності. Таке уявлення про природне світло суттєво спрощує розгляд

проходження природного світла через поляризаційні пристрої.

 

 

3 Плоскополяризоване світло можна отримати із

Y

 

природного за допомогою приладів, які називаються

 

 

 

поляризатори. Поляризатори вільно пропускають

 

 

коливання,

паралельні

площині,

яку називають

 

E

площиною поляризатора, і повністю або частково

 

E y

 

затримують

коливання,

які перпендикулярні до цієї

 

площини. Поляризатор, що затримує перпендикулярні

 

X

до його площини коливання тільки частково, будемо

Ex

називати неідеальним.

Просто

поляризатором ми

 

 

будемо називати ідеальний поляризатор, який повністю затримує коливання, перпендикулярні до його площини, і не послабляє коливань, паралельних площині.

На виході з неідеального поляризатора отримуємо світло, у якому коливання одного напрямку переважають над коливаннями інших напрямків. Таке світло називається частково поляризованим. Його можна розглядати як суміш природного й плоскополяризованого. Частково поляризоване світло,

як і природне, можна подати у вигляді накладення двох некогерентних плоскополяризованих хвиль із взаємно перпендикулярними площинами коливань. Відмінність полягає в тому, що у випадку природного світла інтенсивність цих хвиль однакова, а у випадку частково поляризованого – різна.

Зазначимо, що поляризатор, який використовуваний для дослідження характеру поляризації світла, називають аналізатором.

4 Якщо пропустити частково поляризоване світло через поляризатор, то при його обертанні навколо напрямку поширення світлового променя інтенсивність світла на виході

130



буде змінюватися в межах від

Imax

до

Imin , причому перехід від одного із цих значень до

іншого буде відбуватися при повороті на кут, що дорівнює π / 2. Вираз

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P =

Imax Imin

 

 

 

(62.1)

 

 

 

 

Imax + Imin

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

визначає ступінь поляризації. Для плоскополяризованого світла

Imin = 0 й P = 1;

для

природного світла Imax = Imin й

P = 0 . До еліптично поляризованого світла поняття ступеня

поляризації не застосовується.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

§ 63 Закон Малюса. Проходження природного світла через поляризатор [5]

 

1 Розглянемо,

як змінюється

інтенсивність

лінійно

 

Площина

 

 

 

поляризованого світла при проходженні через поляризатор.

 

поляризатора

 

Нехай на поляризатор падає світло, в якому коливання амплітуди

A

 

A0

A відбувається

в

площині, що

утворює із площиною

 

||

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

поляризатора кут ϕ (див. рис. 63.1). Розкладемо амплітуду

 

 

 

коливання A0 на два коливання з амплітудами

 

 

ϕ

 

 

A||

= A0 cosϕ й A = A0 sin ϕ .

(63.1)

 

A

 

Зрозуміло, що

коливання,

яке

є

паралельним

площині

 

Рисунок 63.1

 

поляризатора, повністю пройде через поляризатор, а коливання,

 

 

 

 

 

яке є перпендикулярним до площини поляризатора, буде затримано (див. рис. 63.2). Інтенсивність пропорційна квадрату амплітуди. Тому якщо на поляризатор падає

плоскополяризоване світло інтенсивності

I

0

~ A2

, то інтенсивність світла на

виході

поляризатора буде визначатися виразом

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I ~ (A )2

 

 

 

 

 

= A2 cos2

ϕ, або

I = I0 cos2 ϕ

,

(63.2)

||

0

 

 

 

 

 

 

де I0 – інтенсивність плоскополяризованого світла,

що падає на поляризатор. Співвідношення (63.2)

називають законом Малюса.

2 Розглянемо, як змінюється інтенсивність природного світла при проходженні через поляризатор. У цьому випадку також подамо

амплітуду світлового вектора A0 , що падає на

поляризатор, у вигляді (63.1). Зрозуміло, що і у випадку природного світла через поляризатор пройде тільки складова A|| = A0 cosϕ , яка паралельна

площині поляризатора. Тому інтенсивність на виході з поляризатора буде пропорційною середньому значенню квадрата паралельної складової світлового вектора

Площина

поляризатора I

A||

A0ϕ

I0

Рисунок 63.2 – Поляризатор пропускає тільки складову світлового коливання, яка паралельна площині пропускання поляризатора і дорів-

нює A|| = A0 cosϕ

I ~ A2

= A2

cos2 ϕ .

(63.3)

||

0

 

 

У природному світлі кут ϕ з часом змінюється, усі значення ϕ мають однакову ймовірність. Тому частина світла, що пройшла через поляризатор, буде пропорційною середньому значенню cos2 ϕ , тобто 1/2. Таким чином, інтенсивність природного світла після проходження поляризатора дорівнює

131