|
|
|
|
|
То обстоятельство, |
что расчет |
|
ная длина волны де Бройля для |
|
электронов |
лежит в |
диапазоне |
|
рентгеновых лучей, навело Девис |
|
сона и Джермера на мысль ис |
|
пользовать для обнаружения вол |
|
новых свойств электронов методи |
|
ку, применяемую для |
измерения |
|
длины волны рентгеновых |
лучей. |
|
Она состоит в следующем. |
Опыт |
Рис. 68. |
показывает, |
что отражение |
рент |
|
геновых лучей от кристалла про исходит не при любом угле падения, как это имеет место в случае
отражения видимого света от металлического или диэлектриче ского зеркала, а только при определенных углах падения. Извест ные английские физики, отец и сын У. X. и У. Л. Брэгг и неза висимо от них профессор Московского университета Ю. В. Вульф в 1913 г. дали теорию этого явления. Они объяснили отражение рентгеновых лучей от кристалла как интерференцию при отра жении от параллельных атомных плоскостей в кристалле. Приме нив к этому случаю теорию интерференции при отражении от тонкой пластинки, они получили следующее условие отражения рентгеновых лучей от кристалла, называемое условием или фор мулой Вульфа—Брэггов:
2d sin $ = п к |
1, 2, 3, ..., |
(8.3) |
где d — расстояние между атомными плоскостями, к — длина волны, б — так называемый угол скольжения, т. е. угол между лучом и поверхностью кристалла. В кристаллографии принято вместо обычного угла падения применять дополняющий его до 90° угол скольжения.
Если расстояние между атомными плоскостями известно, то формула Вульфа—Брэггов может быть использована для измере ния длины волны рентгеновых лучей, т. е. для устройства рентге новского спектроскопа или спектрометра. Его схема приведена на рисунке 68.
Узкий пучок рентгеновых лучей направляется на поверхность монокристалла, для которого известно расстояние между отражаю щими атомными плоскостями. Отраженный луч улавливается устройством, служащим для обнаружения рентгеновых лучей, на пример рентгеновской фотопленкой. Кристалл поворачивается для изменения угла скольжейия. Разные длины волн падающего луча будут отражаться при различных углах скольжения и на пленке дадут почернения в разных местах. По положению максимума мож но определить угол скольжения, а зная d u n (порядок максимума), можно по формуле Вульфа—Брэггов рассчитать длину волны.
Идею рентгеновского спектрометра Дэвиссон и Джермер ис пользовали для измерения дебройлевской длины волны электро
нов. Схема опыта приведена на рисунке 69. Вместо рентгенов ской трубки был взят источ ник пучка электронов — элект ронная пушка. Нить накала, нагреваемая током от источни ка напряжения накала ІІи, в свою очередь нагревает катод К, который испускает электро ны. Последние разгоняются ус коряющим напряжением и выходят из отверстия в ано
де, приобретая определенную скорость. Ускоряющее напря жение можно изменять с по мощью делителя напряжения (потенциометра); тем самым можно сообщать различные скорости выходящим из пушкн электронам. Они падают на по верхность кристалла и, вообще говоря, отражаются ог него. Отраженные электроны улав ливаются цилиндром Фарадея (металлической полостью). Об интенсивности отраженного электронного' луча можно су дить по величине тока /, со зданного отраженными элект
ронами и измеряемого гальванометром G. Электронная пушка, кри сталл и цилиндр Фарадея находятся, конечно, в вакууме.
Сам опыт состоял в следующем. При неизменном, фиксирован ном угле падения электронного луча на кристалл непрерывно из менялось ускоряющее напряжение и при этом регистрировались показания гальванометра.
Если по оси абсцисс отложить не напряжение, а квадратный
корень из него yt/yCK, а по оси ординат — силу тока /, измеряемую гальванометром, то будет получен график, представленный на ри сунке 70. Кривая имеет несколько максимумов, равноотстоящих ' друг от друга.
Установка Дэвиссона и Джермера (если не считать отражения электронов от кристалла), представляет собой -электрическую схему для снятия вольт-амперной характеристики электронного диода. Зависимость тока от напряжения в этой схеме должна быть монотонной.
Отражение электронов от кристалла не может существенно на рушить общего хода этой характеристики, поскольку электроны должны отражаться при любых скоростях и при любых углах падения,
Результаты опытов Дэвиссона и Джермера оказалось возмож ным объяснить, если привлечь идею де Бройля о волновых свой ствах электронов и его формулу (8.2) для длины волны, связанной с электроном.
Будем считать скорости электронов нерелятивистскими (о -С с). Тогда скорость электрона можно выразить через ускоряющее на
пряжение по известной формуле, которая была приведена в главе 3:
Импульс можно найти тоже по нерелятивистской формуле. Учтя это, вычислим дебройлевскую длину волны:
h |
h |
h |
к = |
|
f2emÜyCK |
тѵ |
|
Но если пучок электронов обладает волновыми свойствами, то |
он должен отражаться от |
кристалла так же, как и рентгеновы ~ |
лучи, т. е. в соответствии с условием Вульфа—Брэггов: |
2d-sin &—пХ, |
п = 1, 2, ... . |
Подставив сюда выражение для длины волны де Бройля, получим:
yU ycii---tl |
h |
■nD, |
n — 1, 2, |
|
~\/2em-2d sin -О-
где через D обозначена величина, стоящая множителем при целом числе п и являющаяся постоянной в условиях опыта. Входящее в это соотношение ускоряющее напряжение соответствует макси муму отражения, так как именно ц этому случаю относится усло
вие Вульффа—Брэггов. Как видим, значения Ѵ^уск, соответствую щие соседним максимумам отражения, отстоят друг от друга на одинаковую величину D в соответствии с опытом. Больше того, подстановка реальных числовых данных, соответствующих ус ловиям опыта (значения d и тЭ-),' в полученную формулу для D дало прекрасное согласие с результатами опыта Дэвиссона и Джермера.
Таким образом, идея де Бройля о волновых свойствах частиц и количественное выражение этой идеи — формула де Бройля (8.2) — получили блестящее опытное подтверждение.
Опыты, подобные опыту Дэвиссона и Джермера, впоследствии повторялись, уточнялись и неизменно подтверждали формулу де Бройля.
Волновые свойства электронов используются на практике для оценки разрешающей способности электронных микроскопов. Дей ствие электронного микроскопа основано на использовании движе-
ния заряженных частиц в электрическом и магнитном полях. Как известно, минимальной расстояние между двумя точками, разре шаемое всяким микроскопом, пропорционально длине волны излу чения, «освещающего» рассматриваемый предмет. Длина же дебройлевской волны электрона может быть легко сделана во много раз меньше оптической. Поэтому электронные микроскопы позво ляют наблюдать крупные молекулы и исследовать непосредственно строение кристаллических решеток. Увеличение электронных мик роскопов в настоящее время составляет сотни тысяч раз, и это не является пределом.
Универсальный характер корпускулярно-волнового дуализма является прекрасной иллюстрацией диалектического закона о единстве противоположностей. Волна н частица во многих отноше ниях существенно различны, можно сказать, противоположны друг другу. Например, монохроматическая волна безгранична в прост ранстве, частица же, наоборот, локализована в определенной об ласти пространства. И эти противоположности всегда сосуще ствуют.
Идеи де Бройля о волновых свойствах частиц лежат в основе всей квантовой механики. Поэтому рассмотрим подробнее физиче ские величины, являющиеся количественными характеристиками Еолны де Бройля.
Простейшая из волн любой природы — так называемая бегу щая плоская монохроматическая волна — определяется так назы ваемым уравнением бегущей волны:
£(г, t) — А sin (а( — k r ) ,
где |(r, 0 — мгновенное значение колеблющейся величины \ в любой момент t в любой точке пространства, определяемой ее
радиус-вектором г , k — так называемый волновой вектор, со — угловая, или циклическая, частота колебаний, А — амплитуда ко лебаний.
Волновой вектор определяется следующим образом: его модуль
равен |
. 2л |
, т. е. числу длин волн, укладывающихся на отрезке |
k = — |
|
А |
|
длиной 2л, а направление его — это направление распространения волны, т. е. направление луча, или внешней нормали к волновому фронту. В общем случае, когда направление распространения вол ны не совпадает ни с одной из координатных осей, скалярное про-
изведение k r может быть представлено так:
k r — k xX - \ - k vy - \ - k zZ.
Однако обычно одну из осей координат, как правило, ось Z, выби рают так, чтобы она совпадала с направлением распространения