Файл: Бессонов А.Ф. Установки для высокотемпературных комплексных исследований.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 24.06.2024

Просмотров: 173

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

По данным петрографического анализа, этот дунит состоит из 78% серпентина, 17—20% оливина и около2% хромшпинелида,

брусита и гидроокислов железа.

Литературные данные об изменениях, происходящих при нагре­ вании дунита, и особенно о процессах и температурах превраще­ ний основной составляющей дунита — серпентина очень противо­ речивы [251:

1)по одним данным схема превращений серпентина следующая:

серпентин (3 Mg0-2Si02-2H20), форстерит (2 MgO • S Ю2) + крем-

1100° с

незем (Si02) ------ форстерит + клиноэнстатит (MgO-Si02);

Рис. 92. Термическая, рентгеновская характеристики и кривая изменения электроскопротивления образца из сырого дунита Нижне-Тагильского месторожде­ ния:

1 — логарифм электросопротивления образца (Ом* см); 2 — дифференциальная кривая термограммы. Остальные кривые — интенсивность линии той или иной фазы при тем­ пературе С (интенсивность приведена в условных единицах). На верхнем угловом гра­ фике рисунка приведена кривая нагревания образца во времени

2)

 

400° С

по другим данным: 3MgO • 2SiO2 • 2Н 20 ------ > сложные про-

 

767° С

2M g0-Si02 + S i0 2;

межуточные продукты -------->

3)

имеются данные, что

серпентин распадается вначале на

свободные окислы магния и кремния, образующие затем при тем­ пературах 800° С форстерит и клиноэстатит.

Полученные нами данные приведены на рис. 92.

По графикам рис. 92 можно проследить за следующими про­ цессами, происходящими при нагревании образца.

Примерно с температуры 400° С интенсивность рентгеновской линии серпентина (400) начинает уменьшаться, а затем эта линия исчезает (при 625° С). На дифференциальной кривой термограммы этот процесс сопровождается глубоким эндотермическим эффек­ том (с максимумом при 630° С). Это процесс дегидратации серпен-

11 А. Ф. Бессонов

161


тина. После полного удаления

кристаллизационной

воды

существует

дигидратированный

рентгеноаморфный серпентин

3M g0-2Si02

(что

подтверждено

дополнительно проведенными

петрографическими

исследованиями).

пере­

При температуре 650° С рентгеноаморфный серпентин

ходит в форстерит, а затем и в клиноэнстатит. Заметное количе­ ство клиноэнстатита обнаруживается при 1000—1300° С. Экзотер­ мический эффект (с максимумом при 740° С) вызван перестройкой кристаллической решетки серпентина в решетку форстерита.

На графиках также хорошо виден процесс разложения брусита. Этот процесс дегидратации на термограмме сопровождается эндотермическим эффектом (с максимумом при 400° С).

Более слабыми (в количественном выражении) являются про­ цессы дегидратации гидрогематита с последующим образованием магнезиоферрита.

Отклонения от прямолинейного хода кривой электросопроти­ вления с температурой являются результатом наложения раз­ личных факторов в том числе и фазовых превращений. Можно по ходу кривой последовательно выделить участки, где соответ­ ственно доминирующими являются процессы дегидратации брусита, серпентина, образования форстерита, магнезиоферрита и клиноэнстатита.

Нужно оговориться (а в начале на это обращалось внимание), что наиболее эффективны с точки зрения возможности использо­ вания полученных данных кривые электросопротивления в образ­ цах из какой-то преобладающей составляющей с небольшим коли­ чеством добавок, которых не-«чувствуют» другие методы.

Таким образом, в данной работе установлены следующие осно­ вные процессы превращений при нагревании дунита:

1)

 

400-630° с

, „

.

 

серпентин-------------- >

рентгеноаморфныи

серпентин +

+ вода

620-650° С

,

,

 

--------------■-> форстерит -f- клиноэнстатит;

 

2)

^

400° С

окись магния + вода;

 

брусит-------->•

 

3)

 

600° с

 

 

гидрогематит-----—■>гематит + вода;

 

,600-900° С

4)окись магния + гематит ------------ магнезиоферрит.

Исходя из рассмотренных примеров, можно отметить, что даю ная установка позволяет получать ценную информацию как в слу­ чае простых окислов, так и в случае более сложных композиций.

4. УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫХ, МЕХАНИЧЕСКИХ

И ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ОБРАЗЦОВ

Деформационная приставка к дифрактометру УРС-50-ИМ, разработанная Т. А. Мингазиным [122] для изучения физико­ химических параметров металлических образцов малых сечений (проволок, тонких пленок, фольг), позволяет в едином цикле про­

162


водить измерение структурных, механических и электрических характеристик образцов в широком температурном интервале и различных газовых средах.

Исследование образцов с малой площадью поперечного сече­ ния (0,001 см2) сделало возможным разработку малогабаритного деформирующего устройства, создающего достаточное растяги­ вающее усилие (вплоть до пределов прочности испытываемых образцов). Измерения можно производить в процессе как непре­ рывной, так и периодической деформации образцов.

На рис. 93 показана схема приставки к дифрактометру УРС-50ИМ. Она состоит из трех основных частей: де­ формационного устройства, оптического измерителя и ва­ куумной камеры. В верх-У*

Рис. 93. Схема деформационной приставки к дифрактометру УPC-50ИМ-.

/ — электровводы; 2 — основание ка­ меры; 3 — термопара; 4 — шток; 5 — стопорный винт; 6 — индентер; 7 — ста­

нина

деформационного

устройства;

8 — вакуумный колпак;

9 — винтовое

устройство;

10 — электромагнит, растя­

гивающий

образец; 11 — фиксатор;

12 — рычаг;

13 — окно;

14 — индика­

тор;

15, 19

— неподвижный и подвиж­

ный захваты; 16 — образец; 17 — опти­ ческое приспособление; 18 — вырез для рентгеновских лучей

ней части основания вакуумной камеры имеются три пары вакуумно-герметизированных электрических вводов: для под­ ключения питания электромагнита, термопары и нагревателя образца (или мостовой схемы при измерении электросопротивле­ ния). Образец нагревают пропусканием через него тока.

Приставка работает следующим образом. Без колпака ва­ куумной камеры ее устанавливают на столе гониометра перед рентгеновской трубкой дифрактометра и юстируют по отношению к рентгеновскому лучу. При помощи винтового приспособления и фиксатора устанавливают определенный зазор между якоремрычагом и сердечником электромагнита. Затем освобождают стопор индентора, и образец в виде прямоугольной плоскости или проволочки длиной 30—35 мм закрепляют вертикально в захва­ тах. Индентор опускают до касания со штоком и закрепляют стопором. Деформационное устройство закрывают вакуумным колпаком и из вакуумной камеры откачивают воздух. Включают регистратор рентгеновского излучения и записывают дифрак­ ционную кривую от недеформированного образца. Затем вклю-

11*

163


чают электромагнит, якорь-рычаг подтягивается к сердечнику и коротким концом рычага через индентор и шток подвижного зах­ вата растягивает образец. В процессе растяжения производят периодическую запись дифракционных кривых. Электромагнит питается от стабилизированого источника питания с автоматиче­ ской регулировкой напряжения от нуля до максимального зна­ чения, соответствующего разрыву образца.

Для осуществления сканирования образца при записи отдель­ ного дифракционного максимума и для периодического увели­ чения растягивающего усилия на образце в электрическую цепь реверсивного двигателя, вращающего образец, и электродвига­ теля регулятора напряжения включены электромагнитные реле и две пары микропереключателей, одна из которых служит для включения реверсивного двигателя гониометра, другая — для включения и выключения регулятора напряжения. Микропере­ ключатели установлены на корпусе гониометра в непосредствен­ ной близости от приставки, основание которой имеет рычаг, вклю­ чающий (или выключающий) микропереключатели при ее враще­ нии. Изменяя расстояние между переключателями, можно регу­ лировать интервал сканирования и величину нагрузки на образце.

Электромагнит градуируют при помощи алмазного индентора от прибора ПМТ-3, который при градуировке закрепляют на под­ вижном захвате, и величину нагрузки определяют по величине отпечатка пирамиды индентора на сколе монокристалла поварен­ ной соли.

При помощи описанной приставки были проведены опыты на пленочных образцах различных металлов.

Автор работы [122] указывает, что в рассматриваемой усновке исключаются ошибки, которые вносятся в результаты ис­ следований при сопоставлении экспериментальных данных, полу­ ченных на разных образцах в различных условиях раздельных опытов (это одно из важнейших преимуществ установки).

Основным недостатком же является то, что она приспособлена

для исследований

только металлических

образцов.

5.

КОМПЛЕКСНАЯ

УСТАНОВКА

ДЛЯ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОЙ СЪЕМКИ РЕНТГЕНОГРАММ, ТЕРМОГРАММ,

ЭЛЕКТРОСОПРОТИВЛЕНИЯ И ИЗМЕНЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ

На рис. 94 приведена блок-схема комплексной установки, разработанной автором с сотрудниками [14]. Основными бло­ ками ее являются: I — мостовая схема высокочастотного пере­ менного тока для измерения электросопротивления образца (к од­ ному из плеч этого моста подсоединяют выводы электродов от платиновых кольцевых контактов, охватывающих образец); II — дифрактометр УРС-50И; III — устройство для измерения

164


изменений линейных размеров образца; IV — потенциометр с из­ мерительной шкалой в милливольтах для записи дифференциаль­ ной кривой термограммы (в данной установке применяли потен­ циометр типа EZ-2); V — блок подъема и регулировки темпера­ туры образца.

Регулирование электрического режима нагревателя произ­ водят с помощью автотрансформатора с редуктором и электро­ двигателем, обеспечивающими равномерный подъем температуры.

Рис. 94. Блок-схема высокотемпературной комплексной установки:

1 — звуковой генератор (ЗГ-1, 1000 — 5000 Гц); 2 — магазин емкостей; 3 — осциллограф; 4 —“мегомметр (типа Е6-4А); R t и R 2 постоянные сопротивления; R 8 — регулируемое сопротивление для определения R x образца; R 4 — эталонное сопротивление для периоди­

ческого контроля работы схемы моста

( R lt

R 2, Ra, R 4 — плечи

моста Уитстона); 5

щит управления

со стороны анодного

тока;

6 — рентгеновская

трубка (типа БСВ-3);

7 — гониометрическое устройство;

8 — счетчик квантов МСТР-4;

9 — преобразователь­

ное устройство;

10 — электронный

самопишущий потенциометр

типа ЭПП-09 (запись

рентгенограмм);

11 — индикатор часового типа (точность i0,01

мм); 12 — упорный стер­

жень индикатора; 13 — образец; 14 — платиновые электроды;

15 — дифференциальная

термопара; 16 — корундовый блок; 17 — платинородиевый нагреватель; 18 — измери­ тельный потенциометр с регистрирующим устройством; 19 — автоматический потенцио­ метр (типа ПСР-03); 20 — потенциометр ПП; 21 — реле времени; 22 — автотрансформа­ тор (тип РНШ 55); 23 — стабилизатор напряжения (тип СНЭ-220-075)

Автоматический потенциометр служит для записи и регулиро­ вания температуры образца, а потенциометр ПП — для точных замеров температуры. Колебания напряжения сети устраняются стабилизатором напряжения.

Основным приспособлением в этой установке является высоко­ температурная приставка к дифрактометру (рис. 95). В печь приставки выставляют образец вместе с описанной выше ячейкой для измерения электросопротивления. Устройство для центриро­ вания трубки является одновременно и прижимным устройством.

В образце-таблетке просверливают отверстие для помещения спая платина-платинородиевой термопары. Другой термопарой замеряют температуру печного пространства около исследуемой таблетки вблизи от места падения пучка рентгеновских лучей. Обе термопары подключены к потенциометрам.

165