Файл: Дорфман В.Ф. Газофазная микрометаллургия полупроводников [Текст] 1974. - 190 с.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 07.07.2024

Просмотров: 152

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Т а б л и ц а 12

Максимальная скорость кристаллизации германия, кремния и некоторых металлов в иодидных системах на раскаленных нитях

(вычислено по данным [3])

Элемент

Температура кристалли­

Скорость кристалли­

зации, °C

зации, мкм/с

 

Ge

1325

0,03*

 

Si

1800

10*

 

Si

1000

0 ,2

 

Ti

1400—1500

0,15

 

Ti

1100**

15

 

Zr

1400— 1500

0,13

 

Th

1700

0 ,1

 

Nb

1000— 1100

0,1

*

Ta

1000— 1100

0,15

**Скорость роста

приведена условно (полупроводник

получается в жид-

ком состоянии).

 

 

© -кипящем слое нодкдов.

исходит, равна 1 ат-слой/с, или ~ 1 .мкм/ч. В качестве характеристической величины принята скорость кристал­ лизации, фавна я '2-ІІ03 ат-слой/с (~/1 ,мінм/с). В табл. 14

Рис. 33. Схема последо­ вательности стадий кри­ сталлизации из газовой фазы с помощью транс­ портных реакций:

1

и 5 — гетерогенные

реак­

 

ции на источнике и подлож­

ке;

2

н 6 — десорбция

про­

дуктов

реакция;

3

н 7 —

массоперенос;

4

и S — хемо­

сорбция

приведены значения температуры, соответствующие этим скоростям роста для случая, когда процесс лимитиру­ ется гетерогенными реакциями или десорбцией.

Данные табл. 13 и 14 следует рассматривать лишь как грубо ориентировочные, однако из них видно, что хе­ мосорбция может лимитировать скорость процесса лишь в весьма специфических условиях. Собственно реакция пер­ вого порядка может быть лимитирующей, если ее энергия

активации

> 1—2 эВ, а реакции с энергией активации

> 3 —4 эВ

применимы в ГМ П лишь для весьма туго-

132


Т а б л и ц а 13

Предельные скорости poctâ, & тЛ х , прй различных лимитирующих стадиях

Лимитирующая стадия

Массообмен в «условиях вынужденного потока

Численная оценка "шах- мкм/4

О

 

Уравнение v x

 

 

 

Обозначения

1

1

 

ft

1

%— стехиометрический коэффици­

 

 

ент;

 

 

 

 

 

 

 

«шах

X L

107p,mS ^

w

— скорость потока;

 

6

 

]

 

5 — сечение реактора;

+

 

 

p°) J

 

5 — активная площадь подложек;

104D ( p /

 

D

— коэффициент диффузии;

 

 

 

6 — толщина пограничного слоя;

 

 

 

 

 

 

yS

o , i ;

ID

 

 

 

 

 

-4— =

— г - = о ,з ч - іо

 

 

 

 

 

 

f

 

о

Массообмен

при

диф­

 

 

 

 

 

 

 

фузии в замкнутом

объ­

 

 

 

 

D

[р і - рЦ

 

еме:

метод

-

10— 103

1

Hmax

 

X /

p

10

закрытый

=

 

сэндвич-,метод .

. .

3-10—3 -106/

 

 

 

 

1— расстояние между зонами;

— общее давление

Неактивированная

хе­

ІО2— 10s

 

7.m

N

 

'Р — стерический множитель;

мосорбция .............................

 

« m a x - (1-^5)

 

N7

108

Nx

— число адсорбированных моле­

 

 

 

 

 

 

N

 

 

 

 

 

 

1

 

кул при насыщении, ом-2;

 

 

 

 

 

 

 

— полное число центров сорбции


Т а б л и ц а 14

Температуры, соответствующие критической (ц1!р)

и характеристической (ох) скорости роста (лимитирующая стадия— гетерогенные реакции или десорбция)*

Энергия активации лими­

 

V

Температура, °С

 

VX

тирующей стадии, эВ

ДЛ Я

 

кр

Д Л Я

•* *

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

160

 

330

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

600

 

930

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

1020

 

1530

 

 

 

 

 

4

 

 

 

 

 

 

1470

 

2130

 

 

о

 

= 1

ат-слой/с

(~ 1

мкм/ч),

 

 

 

 

 

 

* V

 

 

 

 

 

 

 

 

кр

= 2 - ІО3 ат-слой/с

{ —'1 мкм/с).

Принимается,

что в типичных

усло­

 

 

N

виях

 

 

=0,1 JV, где

N

— число

адсорбированных

молекул (см—s) при

насыщении,

N —

полное

число

центров

сорбции.

при типичных энер­

плавких материалов.

Вместе с тем,

гиях

активации порядка

—2

эВ

и температурах кри­

1

 

сталлизации ~

1000°С принципиально достижимы

ско­

рости роста до 0,1— 1

см/ч и выше

(для десорбции

ре­

зультаты аналогичны). Следует, однако,

отметить,

что

сложные реакции, требующие для своего протекания вторичных столкновений, могут протекать со значитель­ но более низкой скоростью.

При реакциях в потоке определенные ограничения накладывает уже скорость ввода вещества в реакцион­ ный объем. Чаще лимитирует диффузия через погранич­ ный слой. Теоретическим пределом скорости роста в потоке является скорость порядка 0,1— 1 см/с (если толь­ ко не применяются околозвуковые скорости потока). Близкие оценки получаются для обычных статических методов (в формуле не учитываются Стефановский поток и конвекция, при участии которых пределы скорости не­ сколько повышаются). Сэндвич-метод позволяет увели­ чить предельную скорость роста до 10 см/ч и даже более (при градиентах температуры ~ 1000 град/см). Если, однако, создать градиенты температуры порядка ІО4— ІО5 град/см, то при подходящих транспортных реакциях можно осуществить кристаллизацию из газовой фазы со скоростью, превышающей скорость вытягивания ден­ дритной ленты из расплава.

134


Рассмотрим теперь экспериментальные данные по скоростям выращивания полупроводниковых кристаллов различными методами (табл. 11 и 12). Как видно, ско­ рости роста элементарных полупроводников пз расплава и из газовой фазы отличаются на 2—3 порядка, в то время как для сложных полупроводников эти величины примерно одинаковы. Вероятно, это связано с тем, что даже при вытягивании из расплава рост кристаллов сложных полупроводников включает, как и в процессах газофазной микрометаллургни, химические реакции син­ теза. Поэтому уже в настоящее время применительно к полупроводниковым соединениям 'Методы газофазной микрометаллургни являются эффективным средством получения не только тонких эпитаксиальных слоев, но и массивных кристаллов. Это относится п к выращиванию твердых растворов полупроводниковых веществ.

Для интенсификации процессов газофазной металлур­ гии весьма важен выбор подходящих реакций —•в част­ ности, желательна низкая энергия активации десорбции продуктов (< 1 эВ) и средняя энергия активации разло­ жения (~ 1—2 эВ; при более низких значениях энергии активации разложения трудно получить однородный и

совершенный імонокристалл — см. стр. 100).

 

Разработка технологических

методов и аппаратуры,

обеспечивающих

давления

1 ат, высокие градиенты

температуры (в

ряде случаев — высокие

абсолютные

значения температуры) позволит осуществить эффектив­ ные процессы выращивания из газовой фазы монокрис­ таллов широкого круга полупроводниковых материалов, включая германий, кремний и тугоплавкие соединения.

'АНОМАЛЬНЫЕ РЕЖИМЫ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ

ИЗ ГАЗОВОЙ ФАЗЫ

Высокие значения основных .параметров — темпера­ туры, ее градиента, давления, скорости потока, обеспе­ чивающие интенсификацию процессов газофазной метал­ лургии, необычны с точки зрения принятой технологии. Также необычны режимы с высокими концентрациями легирующей примеси в газовой фазе, сверхмалым зазо­ ром между источником и подложкой, или с предельно низкими значениями основных параметров. Поэтому та­ кие режимы могут быть названы аномальными [45].

Практическое значение аномальных режимов не ис­ черпывается интенсификацией процессов, поскольку они

135


позволяют во многих случаях достигать качественно но'- вых результатов и служат, кроме того, полезным средст­ вом физико-химического исследования. Но применение таких режимов в промышленной технологии встречает определенные трудности, связанные с различного рода нестабильностями металлургических процессов в ано­ мальных условиях.

Такие эффекты, как концентрационное расслоение компонентов и квазнгомо,генная кристаллизация, автокаталитические процессы развития неровностей микрорельефа за счет микромассопотока также опреде­ ляются в первую очередь давлением. Неровности микро­ рельефа, первоначально возникающие за счет действия: гетерогенных механизмов, могут вызывать перераспреде­

 

Р =

 

ление массообмена в пограничном слое, если их высота

существенно больше длины 'Свободного пробега молекул

в газовой фазе. Таким образом, при

 

10 мм рт. ст.

микромасео,потоки возникают лишь при высоте неровно­

стей > 10 мкм, в то время как при P «

10 ат «центрами

зарождения» микромассопотоков могут

служить уже

 

О

элементы микрорельефа, имеющие высоту — <10.0 А.

■ К числу других явлений, определяемых давлением,

относятся полимеризация молекул газовой фазы и мно­ гослойная адсорбция. Первое из них характерно, в ча­

стности,

для многих хлоридных и подидных систем

(где

■ может

приводить к образованию труднолетучих про­

межуточных соединений) и в существенной степени

оп­

ределяет кинетику и выход процесса. Второе принципи­ ально изменяет механизм гетерогенных реакций на поверхности растущего кристалла и таким образом мо­ жет сказываться на его структуре и микрорельефе.

Другая группа нестабильностей возникает при ано­ мально высоких температурах кристаллизации (для про­ цессов ГМ П температуру можно считать аномально вы­ сокой, если она превышает 0,9 Гпл кристаллизуемого ве­ щества). Существуют два типа явлений, локально пони­ жающих точку плавления в приповерхностных областях растущего кристалла или слоя: влияние легирующих и других примесей (особенно, если вследствие сегрегации их концентрация в отдельных микрообластях повыша­ ется) и зависимость точки плавления малых зерен от их размера [212], что особенно существенно при гетероаиитакеии. Оба явления могут локально понижать линию ликвидуса на несколько десятков градусов. С другой

136