Файл: Дорфман В.Ф. Газофазная микрометаллургия полупроводников [Текст] 1974. - 190 с.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 07.07.2024
Просмотров: 152
Скачиваний: 0
Т а б л и ц а 12
Максимальная скорость кристаллизации германия, кремния и некоторых металлов в иодидных системах на раскаленных нитях
(вычислено по данным [3])
Элемент |
Температура кристалли |
Скорость кристалли |
зации, °C |
зации, мкм/с |
|
Ge |
1325 |
0,03* |
|
Si |
1800 |
10* |
|
Si |
1000 |
0 ,2 |
|
Ti |
1400—1500 |
0,15 |
|
Ti |
1100** |
15 |
|
Zr |
1400— 1500 |
0,13 |
|
Th |
1700 |
0 ,1 |
|
Nb |
1000— 1100 |
0,1 |
* |
Ta |
1000— 1100 |
0,15 |
**Скорость роста |
приведена условно (полупроводник |
получается в жид- |
|
ком состоянии). |
|
|
© -кипящем слое нодкдов.
исходит, равна 1 ат-слой/с, или ~ 1 .мкм/ч. В качестве характеристической величины принята скорость кристал лизации, фавна я '2-ІІ03 ат-слой/с (~/1 ,мінм/с). В табл. 14
Рис. 33. Схема последо вательности стадий кри сталлизации из газовой фазы с помощью транс портных реакций:
1 |
и 5 — гетерогенные |
реак |
|
ции на источнике и подлож
ке; |
2 |
н 6 — десорбция |
про |
|||
дуктов |
реакция; |
3 |
н 7 — |
|||
массоперенос; |
4 |
и S — хемо |
сорбция
приведены значения температуры, соответствующие этим скоростям роста для случая, когда процесс лимитиру ется гетерогенными реакциями или десорбцией.
Данные табл. 13 и 14 следует рассматривать лишь как грубо ориентировочные, однако из них видно, что хе мосорбция может лимитировать скорость процесса лишь в весьма специфических условиях. Собственно реакция пер вого порядка может быть лимитирующей, если ее энергия
активации |
> 1—2 эВ, а реакции с энергией активации |
> 3 —4 эВ |
применимы в ГМ П лишь для весьма туго- |
132
Т а б л и ц а 13
Предельные скорости poctâ, & тЛ х , прй различных лимитирующих стадиях
Лимитирующая стадия
Массообмен в «условиях вынужденного потока
Численная оценка "шах- мкм/4
7о |
О |
|
Уравнение v x |
|
|
|
Обозначения |
|||
1 |
1 |
|
ft |
1 |
%— стехиометрический коэффици |
|||
|
|
ент; |
|
|
||||
|
|
|
|
|
||||
«шах |
X L |
107p,mS ^ |
w |
— скорость потока; |
||||
|
6 |
|
] |
|
5 — сечение реактора; |
|||
+ |
|
|
p°) J |
|
5 — активная площадь подложек; |
|||
104D ( p / — |
|
D |
— коэффициент диффузии; |
|||||
|
|
|
6 — толщина пограничного слоя; |
|||||
|
|
|
|
|
|
yS |
o , i ; |
ID |
|
|
|
|
|
-4— = |
— г - = о ,з ч - іо |
||
|
|
|
|
|
|
f |
|
о |
Массообмен |
при |
диф |
|
|
|
|
|
|
|
фузии в замкнутом |
объ |
|
|
|
|
D |
[р і - рЦ |
|
|
еме: |
метод |
- |
10— 103 |
1 |
Hmax |
|
X / |
p |
10 |
закрытый |
= |
|
|||||||
сэндвич-,метод . |
. . |
3-10—3 -106/ |
|
|
|
|
1— расстояние между зонами;
— общее давление
Неактивированная |
хе |
ІО2— 10s |
|
7.m |
N |
|
'Р — стерический множитель; |
|
мосорбция ............................. |
|
« m a x - (1-^5) |
|
N7 |
108 |
Nx |
— число адсорбированных моле |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
N |
|||||
|
|
|
|
|
|
1 |
|
кул при насыщении, ом-2; |
|
|
|
|
|
|
|
— полное число центров сорбции |
Т а б л и ц а 14
Температуры, соответствующие критической (ц1!р)
и характеристической (ох) скорости роста (лимитирующая стадия— гетерогенные реакции или десорбция)*
Энергия активации лими |
|
V |
Температура, °С |
|
VX |
тирующей стадии, эВ |
ДЛ Я |
|
кр |
Д Л Я |
•* * |
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
160 |
|
330 |
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
|
600 |
|
930 |
|
|
|
|
|
3 |
|
|
|
|
|
|
1020 |
|
1530 |
|
|
|
|
|
4 |
|
|
|
|
|
|
1470 |
|
2130 |
|
|
о |
|
= 1 |
ат-слой/с |
(~ 1 |
мкм/ч), |
|
|
|
|
|
|
||
* V |
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
кр |
= 2 - ІО3 ат-слой/с |
{ —'1 мкм/с). |
Принимается, |
что в типичных |
усло |
|||||||
|
|
N |
||||||||||||
виях |
|
|
=0,1 JV, где |
N |
— число |
адсорбированных |
молекул (см—s) при |
|||||||
насыщении, |
N — |
полное |
число |
центров |
сорбции. |
при типичных энер |
||||||||
плавких материалов. |
Вместе с тем, |
|||||||||||||
гиях |
активации порядка |
—2 |
эВ |
и температурах кри |
||||||||||
1 |
|
|||||||||||||
сталлизации ~ |
1000°С принципиально достижимы |
ско |
||||||||||||
рости роста до 0,1— 1 |
см/ч и выше |
(для десорбции |
ре |
|||||||||||
зультаты аналогичны). Следует, однако, |
отметить, |
что |
сложные реакции, требующие для своего протекания вторичных столкновений, могут протекать со значитель но более низкой скоростью.
При реакциях в потоке определенные ограничения накладывает уже скорость ввода вещества в реакцион ный объем. Чаще лимитирует диффузия через погранич ный слой. Теоретическим пределом скорости роста в потоке является скорость порядка 0,1— 1 см/с (если толь ко не применяются околозвуковые скорости потока). Близкие оценки получаются для обычных статических методов (в формуле не учитываются Стефановский поток и конвекция, при участии которых пределы скорости не сколько повышаются). Сэндвич-метод позволяет увели чить предельную скорость роста до 10 см/ч и даже более (при градиентах температуры ~ 1000 град/см). Если, однако, создать градиенты температуры порядка ІО4— ІО5 град/см, то при подходящих транспортных реакциях можно осуществить кристаллизацию из газовой фазы со скоростью, превышающей скорость вытягивания ден дритной ленты из расплава.
134
Рассмотрим теперь экспериментальные данные по скоростям выращивания полупроводниковых кристаллов различными методами (табл. 11 и 12). Как видно, ско рости роста элементарных полупроводников пз расплава и из газовой фазы отличаются на 2—3 порядка, в то время как для сложных полупроводников эти величины примерно одинаковы. Вероятно, это связано с тем, что даже при вытягивании из расплава рост кристаллов сложных полупроводников включает, как и в процессах газофазной микрометаллургни, химические реакции син теза. Поэтому уже в настоящее время применительно к полупроводниковым соединениям 'Методы газофазной микрометаллургни являются эффективным средством получения не только тонких эпитаксиальных слоев, но и массивных кристаллов. Это относится п к выращиванию твердых растворов полупроводниковых веществ.
Для интенсификации процессов газофазной металлур гии весьма важен выбор подходящих реакций —•в част ности, желательна низкая энергия активации десорбции продуктов (< 1 эВ) и средняя энергия активации разло жения (~ 1—2 эВ; при более низких значениях энергии активации разложения трудно получить однородный и
совершенный імонокристалл — см. стр. 100). |
|
||
Разработка технологических |
методов и аппаратуры, |
||
обеспечивающих |
давления |
1 ат, высокие градиенты |
|
температуры (в |
ряде случаев — высокие |
абсолютные |
значения температуры) позволит осуществить эффектив ные процессы выращивания из газовой фазы монокрис таллов широкого круга полупроводниковых материалов, включая германий, кремний и тугоплавкие соединения.
'АНОМАЛЬНЫЕ РЕЖИМЫ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ
ИЗ ГАЗОВОЙ ФАЗЫ
Высокие значения основных .параметров — темпера туры, ее градиента, давления, скорости потока, обеспе чивающие интенсификацию процессов газофазной метал лургии, необычны с точки зрения принятой технологии. Также необычны режимы с высокими концентрациями легирующей примеси в газовой фазе, сверхмалым зазо ром между источником и подложкой, или с предельно низкими значениями основных параметров. Поэтому та кие режимы могут быть названы аномальными [45].
Практическое значение аномальных режимов не ис черпывается интенсификацией процессов, поскольку они
135
позволяют во многих случаях достигать качественно но'- вых результатов и служат, кроме того, полезным средст вом физико-химического исследования. Но применение таких режимов в промышленной технологии встречает определенные трудности, связанные с различного рода нестабильностями металлургических процессов в ано мальных условиях.
Такие эффекты, как концентрационное расслоение компонентов и квазнгомо,генная кристаллизация, автокаталитические процессы развития неровностей микрорельефа за счет микромассопотока также опреде ляются в первую очередь давлением. Неровности микро рельефа, первоначально возникающие за счет действия: гетерогенных механизмов, могут вызывать перераспреде
|
Р = |
|
ление массообмена в пограничном слое, если их высота |
||
существенно больше длины 'Свободного пробега молекул |
||
в газовой фазе. Таким образом, при |
|
10 мм рт. ст. |
микромасео,потоки возникают лишь при высоте неровно
стей > 10 мкм, в то время как при P « |
10 ат «центрами |
зарождения» микромассопотоков могут |
служить уже |
|
О |
элементы микрорельефа, имеющие высоту — <10.0 А. |
|
■ К числу других явлений, определяемых давлением, |
относятся полимеризация молекул газовой фазы и мно гослойная адсорбция. Первое из них характерно, в ча
стности, |
для многих хлоридных и подидных систем |
(где |
■ может |
приводить к образованию труднолетучих про |
|
межуточных соединений) и в существенной степени |
оп |
ределяет кинетику и выход процесса. Второе принципи ально изменяет механизм гетерогенных реакций на поверхности растущего кристалла и таким образом мо жет сказываться на его структуре и микрорельефе.
Другая группа нестабильностей возникает при ано мально высоких температурах кристаллизации (для про цессов ГМ П температуру можно считать аномально вы сокой, если она превышает 0,9 Гпл кристаллизуемого ве щества). Существуют два типа явлений, локально пони жающих точку плавления в приповерхностных областях растущего кристалла или слоя: влияние легирующих и других примесей (особенно, если вследствие сегрегации их концентрация в отдельных микрообластях повыша ется) и зависимость точки плавления малых зерен от их размера [212], что особенно существенно при гетероаиитакеии. Оба явления могут локально понижать линию ликвидуса на несколько десятков градусов. С другой
136