Файл: Курносов, А. И. Технология производства полупроводниковых приборов учеб. пособие.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 14.10.2024

Просмотров: 103

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Т а б л и ц а 2.1

Составы растворов для травления германия

Состав травителя

Скорость трав­

леная, мкм’сен

HF

— 4 см3

 

HN03

~ 2 см3

0 ,1 5 — 0,3

Н20

-

4

см3

 

AgNOs

— 200 мг

 

Н 2 0 2

1

с.и3 (30% )

 

H F

1 см3

0 ,0 1 0 , 0 2

Н 20

— 4

см3

 

С Н зС О О Н -

15 см3

 

H N O 3

-

25

см3

0,15 — 0,5

H F

-

15

см3

 

В г

0,3

см3

 

H F

4

см3

 

H N O 3

-

2

см3

0,05 — 0,15

Н 20

4

см3

 

C u ( N 0 3) 2

-

200 мг

 

Примечания

Предпочтителен для поверх­ ностей с ориентацией (111)

*

Предпочтителен для плоско­ сти (100 ), где получается зер­ кальная поверхность. Использу­ ется для травления пластин и кристаллов

Предпочтителен для травле­ ния р-п-переходов, полирующее травление

Используется для выявления р-я-переходов на поперечных и косых шлифах

HN03

~ 25

HF

15

С Н зС О О Н - 1 5

см3

 

Используется для травления

см3

0,1 — 0,15

пластин и структур

 

 

см3

 

 

 

1

 

HF

— 4 см3

H N 03

— 2 см3

PdCl2

— 5 мг

H N 03

40 см3

HF

20 см3

СН3СООН — 3 0 см3

Na2Cr20 7 — 10 см3

О сл 1

О to

-

 

0 , 5 - 0 , 6

Блестящая зеркальная поверх­ ность

Хорошо контролируется про­ цесс травления. Образуется по­ лированная поверхность. С уве­ личением бихромата увеличива­ ется скорость травления

отношениях Н2О2 и HF. Суммарную реакцию растворения

можно

представить в виде

 

Ge + 2H20 2 + 6 H F ^ H 2GeF6 + 4H20 .

(2.4)

48


Расчет показывает, что равные объемные отношения пергидро­ ля и плавиковой кислоты соответствуют стехиометрическому соста­ ву реакции (2.4). В табл. 2.1 приведены составы для травления германия.

Травление кремния. В качестве кислотных травителей для крем­ ния применяют смеси азотной и плавиковой кислот разного соста­ ва. На рис. 2.2 показана зависимость скорости растворения крем­ ния от состава травителя. Максимальная скорость травления соот­ ветствует соотношению HNO3 : HF=1 : 4,5 в молярных долях.

Механизм травления кремния включает инжекцию избыточных дырок и электронов. На микроанодах идет растворение кремния:

S1 + 2НаО + пе+ -* Sl02 -f 4Н+ + (4 — п) е~ .

6 HF

(2.5)

-------^ H2SiF6 +

2H20

В растворах с избытком HN03 п = 4, однако

при избытке HF

п —2 .

Правая часть (2.5) показывает, что вначале образуется дву­

окись кремния, которая взаимодействует с плавиковой

кислотой,

образуя

кремниевофтористый

^

 

 

 

комплекс. Главная роль окисля­

мкм/сек

/IY 4,5

ющего

реагента

 

заключается

в обеспечении легко восстанавли­

20

i

\

 

ваемого

вещества

для

катодной

 

|

\

 

реакции.

При

отсутствии

такого

10

1

'

 

1

 

 

окислителя на

катоде

возможно

1

 

 

 

 

 

лишь

одно

взаимодействие —

 

1

 

 

разрядка протонов, происходя­

20

_1 _

100%Hf

W 60

ВО

щая

с очень

малой

 

скоростью,

100% HNOg

 

 

что существенно уменьшает ско­

 

 

 

 

рость

 

травления.

Окисляющие

Рис. 2.2. Зависимость

скорости

реагенты изменяют

распределе­

растворения

кремния от

состава

ние подвижных носителей заряда

травителя

 

 

в поверхностном

районе

так, что

 

 

 

 

уровень Ферми на поверхности полупроводника смещается к ва­ лентной зоне. Процесс электронных переходов при восстановлении окислителя включает переход электрона из валентной зоны к вос­ станавливаемому иону, что эквивалентно инжекции дырки с иона на поверхность кремния:

HNO3 + ЗН+ - N0 + 2Н20 + Зе+

( 2.6)

Образовавшиеся дополнительные дырки значительно ускоряют анодную реакцию растворения. Суммарную реакцию травления можно представить:

3S1 -{- 4 HNO3 -f- 18HF -*■3H2SiFв -Ь 4N0 -f- 8Н20

-(-

+ 3(4 — п) е+ + 3 (4 — н) е~ .

(2.7)

4

3897

49



Молярное отношение НЫОз и HF в (2.7) равно 1 : 4,5.

Согласно закону действующих масс скорость взаимодействия реагирующих веществ прямо пропорциональна произведению их концентраций. Коэффициентом пропорциональности является кон­ станта скорости реакции, экспоненциально зависящая от темпера­ туры. Поэтому при нагреве скорость травления резко возрастает, и становится трудно контролировать глубину травления.

Скорости растворения германия и кремния не зависят от типа электропроводности и величины проводимости полупроводника.

Анизотропия химических связей в кристалле обусловливает раз­ личие скоростей растворения кристаллографических плоскостей. На

Таблица 2.2

Составы растворов для травления кремния

Состав травигеля

H N 03

— 2 ч.

HF

— 1ч.

H N 03

— 1 ч.

HF

— 1ч.

H N03

4 ч.

HF

— 1ч.

H N03

10 ч.

HF

— 1

ч.

NaOH

(30

%)

КОН

(30

%)

H N03 —100 см3 HF — 50 см3

СН3СООН —100 см3

Вг — 0,3 см3

HN03

-125 см3

HF

— 25 см3

СН3СООН —100 см3

Вг

— 0.3 см3

Скорость травления,

мкм1сек

1,3

2-ьЗ

0,7

0 ,2

0,01

1,5

0 ,8

Примечание

Применяется в основном для травления пластин

Применяется для травления кри­ сталлов с /ьл-переходами

Применяется при повторном травлении

Применяется для освежения

Шероховатая поверхность после травления

Полирующий травитель

50


этом явлении основано применение так называемых селективных травителей. Селективные (избирательные) травители—это травители, вызывающие образование на поверхности кристалла хорошо очерченных ямок травления, грани которых являются кристалло­ графическими плоскостями с низкими индексами. Скорости трав­

ления основных кристаллографических

плоскостей германия

и кремния находятся в следующих соотношениях:

для кислотных травителей

( 1 1 0 ) >

(1 0 0 ) > ( 1 1 1 );

для щелочных травителей

( 1 0 0 ) >

( 1 1 0 ) >

( 1 1 1 ).

Адсорбция ионов фтора или гидроксила происходит по-разному на каждой плоскости, что и обусловливает различие в скоростях.

Некоторые составы растворов для травления кремния приведе­ ны в табл. 2 .2 .

Травители с бихроматом натрия. Для получения более стабиль­ ной поверхности, что особенно важно при обработке р-п-переходов, используют травители, содержащие бихромат натрия (Na2Cr20 7 ). Эти растворы позволяют получить хорошую химически полирован­ ную поверхность, на которой отсутствуют ямки травления, а при­ боры (германиевые и кремниевые), обработанные в них, имеют улучшенные значения обратного тока, пробивного напряжения и коэффициента усиления. Кроме того, процесс травления в таких растворах более управляем. Скорость травления возрастает с уве­ личением концентрации бихромата натрия.

§ 2.2. Способы травления и промывки

Предварительная отмывка. Прежде чем подвергнуть пластины химическому травлению, их отмывают от следов шлифовального микропорошка и загрязнений органического происхождения. От­ мывку производят в ультразвуковой ванне в толуоле или четырех­ хлористом углероде. Возникающие кавитационные пузырьки созда­ ют в отдельных точках у поверхности пластины большое локаль­ ное давление, что способствует эффективному удалению всех мак­ розагрязнений. Окончательную отмывку ведут в деионизованной воде. Наряду с этим применяют кипячение в толуоле или в четы­ реххлористом углероде, а также — отмывку в парах толуола.

Травление. Травление пластин и кристаллов полупроводников производят в сосудах из фторопласта. Реакции травления происхо­ дят экзотермически, поэтому для достижения равномерного и конт­ ролируемого травления травильный раствор охлаждают.

В первый момент реакция идет более стремительно, а затем становится равномерной. Это объясняется наличием поверхностно­ го механически нарушенного слоя с сильно развитым рельефом, увеличивающим эффективную площадь взаимодействия. Травитель проникает в микротрещины, существующие на поверхности, расши­ ряет их и сглаживает остроугольный рельеф. В результате образу­ ется ячеистая структура из различных по величине ямок травле­ ния. При более длительном травлении ямки исчезают и поверх­

51