Файл: Слободенюк, Г. И. Квадрупольные масс-спектрометры.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 135

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

достижения требующейся в КМ разрешающей способно­ сти отклонения радиуса поля от номинальной величины. Указанные соотношения можно найти, рассчитывая ве­ личину da/a и приравнивая ее нулю — коэффициент в уравнении Матье (1.15)]:

da/a = dU/U dm/m — 2drjr0— 2d(o/« = 0. (5.12)

Переходя от дифференциалов к абсолютным конечным приращениям, заменяя т на М и приравнивая dU и day к 0, из выражения (5.12) находим:

г0 = 2MArjAM.

(5.13)

Подставляя в (5.11) значения f и го из (2.69) и (5.13) соответственно и разрешая найденное выражение отно­ сительно М, получаем:

Л4макс < 0 ,0 3 5 4 -^ -

(

.

__L_V/2

(5.14)

Л'/3

\

^уск

/

 

Максимальное значение отношения L/Дго зависит от прецезионности оборудования, на котором изготавливают полеобразующие электроды анализатора, и от точности сборки анализатора. Точность изготовления электродов и арматуры, удерживающей их в пространстве, по 1 классу позволяет достичь отношения L/Ar0 не более 105. Отсюда, зная Дг0, можно определить максимально допустимую длину анализатора. Так, при Дг0^ 2 мкм = = 2-10-4 см L ^ 2 0 см. Для обеспечения эффективной экстракции ионов из ионного источника значение UycK должно быть по крайней мере на 1,5—2 порядка выше тепловой энергии молекул и ионов, находящихся в ионном источнике. Если температура среды в ионном

источнике составляет примерно 500° К,

то

в

пересчете

на энергию

это составит (3/2) kT ^ 0,065

эв. Значит не­

обходимо,

чтобы Дуск.М1га> 0,065 • 40 ss 3

в.

Значения

Л 2н и ДМ определяются специальными

требованиями в

каждом конкретном случае. Для обычных газоаналитиче- ' ских целей АМ —1 а. е. м. и Л2Н= 20.

Значение Емако (согласно теории явления электриче­ ского разряда в вакууме и газах) зависит от давления Р

врабочей камере следующим образом [38]:

Е= С3/[Я In (CiP/oc)],

101


где

Ci и С2— постоянные, определяемые опытным

пу­

тем;

а — коэффициент объемной ионизации [39].

При­

чем при Р-»-0 £->-оо. На основе многочисленных опыт­ ных данных доказано, что при высоком и сверхвысоком вакууме пробой начинается с явления автоэлектронной

эмиссии, которая наблюдается

уже

при £ ^ 1 0 б

в/см

[38,

39].

 

 

 

 

 

Подставляя

в формулу

(5.14)

найденные значения

^ 0=2 • 10 4 см;

L = 20 см;

£/уск= 3 в;

£'макс=106

в/см;

ДЛ4= 1 и Л2п= 20, получаем Ммакс^11 000 а. е. м.

При

АМ= 5 а. е. м. Л4макс^5 5 000 а. е. м.

 

 

Эти результаты совпадают по порядку величин с вы­ числениями в § 18. Поэтому при определении значения

Ммакс необходимо

учесть факторы,

описанные в § 17

и 18.

 

 

 

U и

V

 

 

Отметим, что

напряжения

при

заданных

•смаке= 1 06 в/см

и г0 = 0,3 см

можно

найти по

формуле

(5.10):

 

 

 

 

 

 

 

 

^макс =

(-^максго)/(3,14 • 1,168) — 80

Кв

И UШкс — 1,3 Кв.

Обычно

в приборах

значения

V,

U и Е

в 20—30 раз

меньше и, следовательно, Ммак0 в 4,5—5,5 раз меньше

по сравнению с теми,

что

получились выше при расче­

тах, т. е. Ммакс равно

2200 а.

е. м. при ДМ=1 а. е. м.,

и ■Ммакс равно 11 000 а. е.

м.

при AM= 5 а. е. м.

Необходимо отметить, что основная расчетная фор­ мула (5.14) выведена исходя из того, что максимальная напряженность электрического поля в анализаторе воз­ никает между соседними цилиндрическими полеобра­ зующими электродами. Это возможно в тех случаях, когда вспомогательные токопроводящие элементы конст­ рукции анализатора, находящиеся под разными потен­ циалами относительно друг друга или относительно по­ леобразующих электродов, удалены от них на расстоя­ ние, превышающее кратчайшее между полеобразующими электродами. Так обычно и стремятся выполнить конст­ рукцию анализатора, если одна из главных задач — до­ стижение максимально возможного диапазона масс. Ина­ че наиболее уязвимым местом в анализаторе с точки зрения электрической прочности будет кратчайший про­ межуток между одним из полеобразующих электродов и каким-либо вспомогательным элементом конструкции.

ри этом формула, характеризующая величину Млпкг будет отлична от выражения (5.14).

102


Г л а в а 6. МАКСИМАЛЬНОЕ РАБОЧЕЕ ДАВЛЕНИЕ И

ДИНАМИЧЕСКИЙ ДИАПАЗОН КМ

§ 19. Зависимость выходного сигнала КМ от давления

вдатчике

Воснове любых измерений на масс-спектрометре, ра­ ботающем в динамическом режиме, т. е. в режиме ре­ гистрации изменяющихся во времени сигналов, лежит линейное преобразование парциальных давлений газов или удельных интенсивностей молекулярных потоков в электрические сигналы; линейное усиление и отображе­ ние этих сигналов в регистрирующей аппаратуре. Только

вэтом случае упомянутые выходные сигналы будут прямо пропорциональны парциальным давлениям газов или интенсивностям молекулярных потоков. Поэтому не­ обходим анализ причин, приводящих к нелинейности ра­ бочих характеристик датчика или регистрирующей ап­ паратуры. Одна из причин — рассеяние образовавшихся ионов на молекулах анализируемой среды в ионном источнике и анализаторе КМ, которое наблюдается с ро­ стом давления в датчике, когда длина свободного про­ бега иона становится соизмеримой с длиной пути иона от места образования его до места соударения с коллек­ тором или первым динодом ВЭУ в приемнике ионов. Аналитическая зависимость токового сигнала на выходе датчика КМ для г'-го компонента, например анализируе­

мой газовой среды, согласно [27], будет иметь вид:

=

(6.1)

где КДг — коэффициент, определяемый

выражением

(4.65) или (4.69); 1{ — длина пути иона с массой Мг-, см; ii/P — длина свободного пробега иона, см; Р — давление в датчике, мм рт. ст.; Яг- — некоторый постоянный коэф­ фициент, мм рт. ст. • см. Если li<^ki/P, то экспоненци­ альный сомножитель в формуле (6.1) близок к единице и / Вых i= Kp,iPi. Иначе / ЕЫх <становится функцией давле­ ния в датчике.

В датчике открытого типа, в котором анализируемая КМ среда заполняет весь его объем, давление Р можно

представить в виде:

 

 

р = 2 pi = р ‘ + 2 Pi = p i + Рф’

(6-2)

f=i

/=1

 

103


где п — число компонентов анализируемой среды; —■ давление выделенного /-го компонента; Рф — суммарное давление всех прочих компонентов, называемое фоновым по отношению к парциальному давлению /-го компонен­ та. В этом случае выражение (6.1) с учетом (6.2) примет вид:

где сомножитель, взятый в квадратные скобки, не зави­ сит от парциального давления /-го компонента. Зависи­

мость IВыхг от Pi

немонотонная. При Pi = ki/li

она имеет

максимум, равный [i(Hiexp(—U/Xi/Pi)],

и

с

ростом Р{

при

Pi>Xi/li IВыхг убывает.

 

 

 

 

 

Восходящая

ветвь

зависимости

(6.3)

имеет место

при

Pi^hki/li,

где

h< 1.

Максимальное

отклонение

от

линейности

зависимости

/ пЬ1Хг

от

Pi

 

составляет

[1—ехр(—/г)] -100%. Если необходимо, чтобы отклоне­

ние от линейного не превышало

10%,

нужно, чтобы

/ г ^ 0,1. Максимальное парциальное давление

Лмакс < щ и .

 

(6.4)

Найдем входящие в выражение

(6.4)

величины /, и

М- Длина траектории иона k равна сумме длин траекто­ рий иона в ионном источнике /*„; в анализаторе /,а и в промежутке от анализатора до приемника ионов /<п. Но, так как почти всегда /ы </ш + /ш, расчет U для датчика открытого типа сводится к расчету длины траектории

иона в анализаторе, которая равна следующему инте­ гралу [21]:

 

1 / .

-----------------------------------------------------

 

h — hi = f dS =

j V

x2 -f у2 +

г2 dl,

(6.5)

(h

6

 

 

 

вычисленному в приложении 9.

 

 

 

В результате было получено, что

 

 

/га.макс =* V A2^ r l (МШкс/АМ) +

L2 .

(6.6)

Из работы [27] заимствуем выражение для Х{:

X = 2,33 • 10-4Г/62,

(6.7)

104


где б — средний диаметр молекул анализируемой сре­ ды, А. Приближенно б можно найти следующим обра­ зом:

6= ] / ( 1 1б?Л)/Р'

(6'8)

Подставляя (6.6) и (67) в выражение

(6.4) и полагая,

что Мг- = ММакс, находим максимальное парциальное дав­

ление t'-ro

компонента:

 

 

 

 

< 2,33 • 10

 

Т h

(6.9)

 

б2(

rlA^MUMJAM + L^ \l/2'

 

 

 

При h = 0,1

7 = 300° К; б= 3,7

А; го = 0,3 см\ АМ=1 а.е.м.\

П2н = Ю2,

AfMai;c=100 ct. в. м и L= 20 см, Р{ макс==2,1 X

X 10~5 мм рт. ст.

видно, что верхняя граница диа­

Из выражения (6.9)

пазона рабочих парциальных давлений зависит от пол­ ного давления довольно слабо (через б) (6.8). Это озна­ чает, что даже при большом давлении фона Рф>Р,- макс (если оно неизменно во времени, а меняется лишь Р 4) зависимость / ВЫх г от Pi в найденных пределах для Р, линейна. В данном случае наблюдается лишь общее, иногда весьма значительное ослабление сигнала всего спектра масс в [ехр(/г-Рф/А)] раз, способствующее умень­ шению эффективности датчика и, следовательно, сниже­ нию потенциальных возможностей прибора в целом. Та­

ким образом, при Рф = const

величина

Рф может значи­

тельно превышать (в 10—100 раз)

P iMaKC. Максимально

допустимое общее давление в датчике

 

(РМако>Ргмак<т)

определяется уже не из

соображений

линейности

сиг­

нальной характеристики

датчика, т. е. зависимости / вых{

от Pi, а, например, работоспособностью

ВЭУ при Р Макс

(в этом случае Рмакс не должно

превышать давления,

равного 10~4 мм рт. ст.),

а также стойкостью к сгоранию

или отравлению прямоканального

(или оксидного),

при­

мененного в ионном источнике катода,

нарушаемой уже

при давлениях (Ю-3—КН) мм рт. ст.

 

 

 

Если давление фона Рф

подвержено

значительным

изменениям, то при Рф<

)^/Ц

выходной сигнал /BbIxi про-

модулируется этими изменениями, т. е. будет наблюдать­ ся существенное взаимное влияние между отдельными сильно изменяющимися во времени компонентами ана­ лизируемой среды. Количественный анализ с помощью

105