Файл: Фролов, С. А. Кибернетика и инженерная графика.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 21.10.2024

Просмотров: 166

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Затем определяют коэффициент нелинейных искаже ний от третьей гармоники:

 

 

 

( г а , - ' а . ) - 2 ( ' а . - Ч Г

 

 

(66)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

( f a i - ' a . )

+

( i a , - ' a . )

 

 

 

При

получении

неудовлетворительных

результатов

я, >

заданной нормы

~0,07-г-0,1)

нужно

провести но­

вые нагрузочные прямые

(выбрать другие рабочие точки)

 

 

 

 

через каждую из них прове­

 

 

 

 

сти

прямые

под

разными

 

 

 

 

углами наклона и для каж­

 

 

 

 

дой

из

них

произвести

ана­

 

 

 

 

логичный

расчет.

 

 

 

 

 

 

Приведенная

выше

схема

 

 

 

 

расчета

показывает

громозд­

 

 

 

 

кость процесса

определения

 

 

 

 

оптимального режима работы

 

 

 

 

лампы

в

схеме

усилителя.

 

 

 

 

Наиболее

трудоемка

графи­

 

wan mm

uao

 

ческая

часть

расчета,

в ко­

 

Рис.

76

 

торой

определяется

нужное

 

 

 

 

положение

нагрузочной

пря­

мой. Решение производится по существу

«вслепую» мно­

гократным подбором

положения

«нагрузочной»

прямой.

Прежде чем говорить об алгоритме машинного решения задачи, отметим некоторые геометрические интерпретации электрических величин, определяемых расчетом.

1. Мощность переменного тока, выделяемая в анодной цепи, может быть подсчитана как площадь прямоуголь­ ного треугольника 12М (рис. 76). В этом случае фор­ мула (65) может быть записана в виде

P~

= ~Y (*2 — * l )

(У1 02).

( 6 7 )

2. Величина коэффициента нелинейных искажений за­

висит от значений

ta ,, t'a2, i&a, iat,

которые являются

орди­

натами точек пересечения «нагрузочной» прямой с кри­ выми анодных характеристик лампы; поэтому формула (66) примет вид

(У1 — Уд 2 2

Уд

(68)

2 (У\ — Уд + {У2. — Уд

'

 

* При AT = ТВ коэффициент нелинейных искажений от второй гармоники и всех четных гармоник равен нулю. Гармоники выше третьей обычно бывают выражены слабо и их можно не учитывать.

114


Определив правильное положение «нагрузочной» пря­ мой, можно найти все необходимые данные для вычисле­ ния Р„ и Кп. Задача машинного решения сводится к на­ хождению таких прямых, для которых отношение отрез­

ков 2 _ з ' =

U и выбору из этого семейства прямой, обес­

печивающей

получение максимального значения Р„ при

минимальной величине /(„ при соблюдении условия (64),

которое

может быть

запи­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

сано

 

как:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

х2у2

 

 

максимально

допу­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

стимой

 

мощности

рассея­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ния

на

 

аноде

(приводит­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ся

в

 

числе

параметров

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

лампы)

 

(69).

 

 

Р„тах

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Для определения

 

 

j

 

 

 

 

 

 

 

 

при

Кн

m

l n может

быть

ре-

 

Щ

%

 

 

 

 

 

 

 

комендован

 

следующий

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

план

машинного

решения

 

 

 

 

 

 

Рис. 77

 

 

 

задачи:

 

 

 

 

 

 

1,

2,

3

 

 

 

 

 

 

 

2

Ре

1) определить

точки

пересечения

прямой

с кривыми

2

Pi,

2

Рз,

£

Р% (рис. 77);

 

 

 

 

 

2)

проверить, выполняется ли условие (69); если да, то

переходить к п. 3, если нет,

то

к

п.

8;

 

/—2 и 23;

3)

определить

расстояние между точками

4)

сравнить результаты, полученные при выполнении

п. 3;

если

расстояния

равны

или

отличаются на

вели­

чину

^

 

0,4

мм, то переходить

к выполнению п. 5;

 

 

 

5)

из

множества

2

р х

выбрать

точку

Г,

ближайшую

к точке 1, так чтобы разность хх

— х{ была

отрицательным

числом;

 

 

 

Г

и

2 провести

 

 

 

 

 

 

 

6)

через

точки

прямую;

 

 

 

 

7)

найти

точку

3'

пересечения

этой

прямой

с

кри­

вой

2

 

 

р \ ;

 

 

 

2

Рз

 

 

 

 

 

 

2',

 

 

 

 

8)

из

множества

выбрать

точку

ближайшую

к точке 2, так чтобы разность

л;2 xi

была

положитель­

ным

числом;

 

 

 

4

и 5 пересечения

 

 

 

 

 

9)

определить

точки

прямой

с

кри­

выми

2

Рг

и

2 Р4;

 

 

 

Р„\

 

 

 

 

 

 

 

 

10)

вычислить

значение

 

 

 

 

 

 

 

 

11)

 

вычислить

величину

Кн-

 

 

 

 

 

 

 

 

Цикл из операций 1—8 выполняется до тех пор, пока

расстояния

между точками

/—2

и 23

не

будут

отли­

чаться

на величину

 

0,4

мм.

Определив

значение

Р„

8

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

115


Выборка 1 - й (очередной) точки из Г а массива

1Проба на конец точек la массива

Д а

Проведение прямой через точку ZOtK параллельно Е]3б (оператор П)

Определение точек пересечения 1Р< с 10,; Iflj и Ц3 (оператору) «Ух-) <ч» «г» «з» 5

Проба:Х2 У г ^ А

Нет X Да

Проведение прямых, параллельных Х/36 через точки образа Х03 расположенные слева от точки 2 (оператор Я)

4 I

Определение расстояний Г Ь 2 , Г 2 . 3

и отношения П - г / г г - з (операторыШиДЦ Проба: •,9<'(-г/Гг_5<1,1

Нет Да

Выбор нэЩточки 1' ближайшей к точке 1

справа, определение коэффициента прямой Г-2 и нахождение точки 3 - точки пересечения прямой Г-2 и Ej3s (операторы I и У )

„ с

Нахождение точек пересечения 106 с 1Дз и EJ}4 -точки 4 и 5 (операторУ)

Вычисление данной пары значений R,H Кн

Выбор оптимальной пары з н а ч е н и й BL и Кн

Рис. 78

и

Лн для

прямой, проходящей через точку 2,

выбираем

из множества

£ |33

новую точку (предыдущую из записан­

ных в массе б3 ) и для нее находим «нагрузочную»

прямую,

удовлетворяющую

условию

п. 4.

 

 

 

 

 

Затем вычисляем значения Р „ и К„ и т. д. Полученные

в результате выполнения п. 10 и 11 величины

Р „ и

Д'н

сравниваем

между

собой.

Та

прямая, при кото­

рой Р„

имеет

макси­

 

 

лучевой тетрод 6П14П

 

мальное,

 

а К„ — мини­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мальное значение, будет

м Л

 

 

Пасл. ш. Р„,

<12& т

искомой.

 

На

рис.

78

100-

 

 

 

 

 

 

 

 

приведена

 

блок-схема

 

 

 

 

 

 

программы.

 

 

 

 

50 Н

 

 

 

-6В

 

 

Ниже приводится ре­

 

 

 

 

зультат

 

машинного

и

 

 

 

 

-8 в

графо -

аналитического

 

 

 

 

 

 

расчета

усилителя мощ­

 

100

200

300

400

8

ности с лучевым

тетро­

 

 

Рис.

79

 

 

дом 6П14П (рис.

 

79):

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р_

= 2,81 Вт

машинное

решение;

 

 

 

 

 

Y(*„) =

 

6,6%

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р„ =

2,735т

графо-аналитическое

решение.

 

 

7(^„)

=

6,9о/

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Приведенные результаты показывают, что значения Р „

и

Т (^н).

 

полученные

при машинном и ручном

решении,

достаточно близки. Предпочтение следует отдать машин­ ному решению, так как в процессе решения было испро­ бовано большее число рабочих точек и проходящих через них «нагрузочных» прямых, чем при решении вручную.

§13. СОСТАВЛЕНИЕ И ИССЛЕДОВАНИЕ ДИАГРАММ

СОСТОЯНИЯ МНОГОКОМПОНЕНТНЫХ СИСТЕМ

Наиболее распространенный способ выявления свойств системы основан на исследовании химической диаграммы состав — свойство, в которой свойства системы рассматри­ ваются как функция ее состава г . Характерная особен-

1 Необходимость прибегать к графическим изображениям зависи­ мости состав — свойство объясняется тем, что вывести аналитические выражения, отражающие функциональную зависимость свойств, изу­ чаемых в физико-химическом анализе, как правило, не представляется возможным.

117


ность химической диаграммы состоит в том, что принад­ лежащие ей фигуративные точки, характеризующие опре­ деленные физико-химические свойства системы, находятся во взаимно однозначном соответствии с равновесным со­ стоянием системы. Поэтому по геометрической структуре диаграммы можно судить о соответствующих взаимодей­ ствиях, протекающих в данной системе. Отмеченная осо­ бенность лежит в основе известного в химии принципа — каждому комплексу фаз, находящихся в данной системе в равновесии, соответствует определенный геометрический образ диаграммы.

В геометрическом отношении диаграмма представляет собой некоторую фигуру, составленную из различных (ли­ нейных и нелинейных) образов пространства соответствую­ щего числа измерений. Если система состоит из двух компонентов, диаграмма состав —- свойство представляет собой плоскую (двумерную) фигуру; из трех компонен­ тов — диаграмма состав — свойство представляет уже не плоский, а пространственный (трехмерный) образ. Ана­ логично этому, для отображения соотношений между свой­ ством и составом диаграмма четырехкомпонентных систем представляет четырехмерную фигуру. В этом случае, ис­ пользуя проекции с числовыми отметками, можно перейти к трехмерной фигуре. Диаграммы составов для систем с числом компонентов больше четырех не могут быть пред­ ставлены трехмерными фигурами. Следовательно, диа­ граммы состав — свойство таких систем будут представ­ лять многомерные фигуры.

Для изображения диаграмм на плоскости применимы законы начертательной геометрии, которыми пользуются для построения плоскости изображений любых геометри­ ческих фигур. При этом трехмерные диаграммы строятся по законам обычной (трехмерной) начертательной гео­ метрии, а многомерные — по законам многомерной на­ чертательной геометрии. Необходимость перехода к многомерному пространству, если число компонентов более четырех, намного усложняет задачу по составле­ нию и исследованию диаграмм.

Особое значение для изучения физических свойств сплавов имеют диаграммы состояния (плавкости) системы, позволяющие графически определить равновесие между всеми жидкими и твердыми фазами, которые образуются компонентами системы при различных концентрациях и

118

температурах. Исходные данные для построения диаграмм состояния получают экспериментальным путем в виде координат характерных точек, принадлежащих поверх­ ности ликвидуса, соответствующих определенной темпера­ туре и составу.

Исследование химических диаграмм многокомпонент­ ных систем ведется обычно с помощью последовательного изучения отдельных сечений диаграммы.

До настоящего времени графическое определение путей кристаллизации применялось только для диаграмм систем, содержащих не более четырех компонентов, т. е. когда можно использовать хорошо известные приемы и методы начертательной геометрии трехмерного пространства. Между тем имеются подробные исследования, в которых указываются конкретные методы и способы, позволяющие решать позиционные задачи с многомерными образами в многомерном пространстве [1, 2, 3] . Имеющиеся теоре­ тические исследования не нашли должного распростране­ ния из-за сложности получающихся чертежей.

При составлении и исследовании диаграмм пятикомпонентных систем приходится пользоваться четырехмер­ ным пространством, в котором необходимо решать раз­ личные позиционные задачи. Основной и наиболее трудо­ емкой является задача по определению точки, общей для четырех гиперплоскостей четырехмерного пространства. Ниже приведено графическое решение такой задачи г .

Для облегчения чтения чертежа на рис. 80 показаны только две из четырех гиперплоскостей, каждая из ко­ торых задана тремя пересекающимися и некомпланар­ ными прямыми: а, Ь, с, определяющими гиперплоскость к»3, и d, с, /, определяющими гиперплоскость р3 . Отмеченную задачу решаем в два этапа: на первом этапе (рис. 80) ре­ шается задача по нахождению плоскости общей для двух гиперплоскостей; на втором (рис. 81) определяем точку пересечения двух плоскостей, расположенных в четырех­ мерном пространстве.

Для нахождения плоскости а2, по которой пересе­ каются гиперплоскости со3 и р 3 , рассекаем их двумя вспо-

1 Решение задачи, с некоторыми изменениями, взято нами из ра­ боты В. Н. Первиковой — Аксонометрические изображения и приме­ нение их для исследования многокомпонентных систем.

119