Файл: Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 21.10.2024

Просмотров: 78

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

объем материала с меньшей концентрацией носителей за­ ряда *.

После установления равновесия уровни Ферми Ео обеих об­ ластей совпадают, схема энергетических зон имеет вид, пока­ занный на рис. 4.1,6. Величина образовавшейся разности по­

тенциалов

(потенциальный

барьер cpK= eUK)

равна

сумме

расстояний

от середины каждой

из зон до уровня Ферми [49]:

 

 

= (ІгТ/е) ln l/e2n2iknkppnPp,

(4.1)

где k„, 'р„

и

kp, Pp — подвижности равновесных

носителей и

удельные сопротивления в каждой из я- и /^-областей соот­ ветственно.

В переходной области расстояние от уровня Ферми до края основных зон больше, чем в исходных я- и ^-полупроводниках, и, следовательно, концентрация носителей меньше. Поэтому этот слой называется обедненным.

Если к р—я-переходу приложено напряжение U в обратном направлении (диодная схема включения), то оно практически все падает на обедненном слое, имеющем повышенное сопро­ тивление. Высота потенциального барьера возрастает, толщина обедненного слоя d0 увеличивается до d\ (см. рис. 4.1, а). Не­ основные носители тока, возникающие на расстоянии длины диффузии от области объемного заряда, попадая в нее, увлека­ ются внешним полем к противоположной стороне р—я-перехода и рекомбинируют. Эти носители образуют диффузионную со­ ставляющую (/диф) темнового тока / т во внешней цепи.

Аналогичная ситуация имеет место для электронов и дырок, генерируемых в слое объемного заряда: электроны дрейфуют во внешнем поле к положительному электроду (я-слою), дыр­

ки — к отрицательному.

Они образуют генерационную

состав­

ляющую

(/г)

тока / т.

Процессы,

происходящие

на

границе

(см. рис.

4.1)

боковой

поверхности

р — я-перехода

с

внешней

средой (обычно воздух), обусловливают поверхностную состав­ ляющую /п тока / т. Таким образом, темновой ток равен

Л- = Лиф + А- + А-

(4-2)

Увеличение концентрации носителей в каждой области р—я- перехода при возбуждении ионизирующим излучением приводит к возникновению фототока /ф. Так же как и в однородных детек­ торах фототок /ф в определенных условиях пропорционален энергии, поглощенной в чувствительном объеме, который в дан­ ном случае определяется толщиной обедненной области и диф­ фузионными длинами неосновных носителей в каждой из обла­

* Соответственно различают симметричный и асимметричный р—/г-пере- ходы. При скачкообразном изменении концентрации примесей (см. рис. 4.1) р—«-переход называется ступенчатым (резким) и плавным, если область изменения концентрации сравнима с толщиной обедненной области.

3* 67


стей. Важно также отметить, что ток /ф появляется сразу после образования неравновесных носителей.

При облучении детектора ток во внешней цепи появляется также и в отсутствие напряжения U в результате фотовольтаи­ ческого эффекта, состоящего в следующем. Неравновесные электроны, образованные в p-области (например под воздейст­ вием излучения) на расстоянии от обедненной области, меньшем длины диффузии, существующим в р — /г-переходе электриче­ ским полем могут выноситься в «-область; в результате .«-слой получает дополнительный отрицательный заряд. Аналогично неравновесные дырки, попадая в р-слой, образуют в нем поло­

жительный заряд.

Также разделяются собственным

полем

р — «-перехода и

неравновесные носители, образуемые

излу­

чением в обедненной области. Первоначальная контактная разность потенциалов снижается, во внешней цепи протекает ток от положительного электрода (p-область) к отрицательному. Соответствующая, схема включения детектора (см. рис. 4.1, а, штриховые линии вверху) в дальнейшем называется вентильной (фотовольтаической).

Характеристики ППД

Приведем основные соотношения для расчета характеристик ППД [17, 30, 49—51].

Большинство ППД, рассмотренных далее, имеют р—«-пере­ ход, основная часть чувствительного объема которого располо­ жена в полупроводнике с исходной проводимостью. Поэтому толщину обедненного слоя d0 приближенно рассчитывают по формулам ступенчатого асимметричного р-—«-перехода, и для детектора иа основе кремния она равна [17]:

^0л ~s 5 .1

0 -5]/(C + CK)p„

см;

(4.3)

^0р ÄзЗ -К

Г 5 / (U + Uк) р р

см.

(4.4)

Индексами « и р отмечены значения d0 у базы с «- или р-про- водимостью соответственно; U и UK— напряжения, в; р — удель­ ное сопротивление, ом-см. Величину UK принимают равной 0,5—0,7 в.

Емкость р—«-перехода (Сд) рассчитывают по формуле пло­ ского конденсатора, пластины которого расположены друг от друга на расстоянии d0:

Сд = s.S/4nd0,

(4.5)

где S — площадь р—«-перехода; е — диэлектрическая постоян­

ная, равная 12 для кремния.

напряжен­

В ступенчатом асимметричном р—«-переходе

ность электрического поля линейно увеличивается в сторону

низкоомного слоя, и ее максимальное значение

(£Макс) равно

E*M = 2(U + U M -

(4-6)

68


В линейном переходе напряженность поля достигает макси­ мального значения в середине толщины обедненного слоя. Тол­ щина р—«-перехода пропорциональна U°’33 при LD$>UU.

Диффузионная составляющая тока / т при геометрии детекто­ ра, показанной на рис. 4.1, а, и напряжении смещения U>kT/e равна

 

npLn

^диф -- ^

(4.7)

 

где Пр и р п — концентрации электронов и дырок в р- и «-обла­ стях соответственно; Ьр и Ьп — коэффициенты, учитывающие влияние контактов и геометрии детектора для п- и /7-областей;

Хр и хп — времена жизни.

При скорости поверхностной рекомбинации на переднем кон­ такте sp и на заднем s„ коэффициенты Ьр и Ьп определяют по

формулам:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

sh (dn/Lp) -!- Sp ch (dn/Lp)

 

(4.8)

 

 

° P ~ ch (dpILp) + Sp sh (dn/Lp)

 

 

 

 

 

 

 

 

sh (dp/Ln) + S„ch (dp/Ln)

 

(4.9)

 

 

n

ch (dp/Ln) + Sn sh (dp/Ln)

 

 

 

 

 

Здесь

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

S p = spLp/Dpt

S n

snLnjDn,

 

 

Dn и Dp — коэффициенты диффузии дырок и электронов.

 

У детекторов с толстой базой dp^>Ln, а следовательно, Ьп =

= 1. Для поверхностного

слоя при dn^ L p, т. е.

sh(dn/L p) t t

t t d n/Lp\

ch dn/L p ^ \,

значение bv равно

 

 

 

 

 

 

Sp + dn/Lp

 

 

(4.10)

 

 

 

p

1+ Sp (dn/Lp)

 

 

 

 

 

 

Для

кремниевого

асимметричного

p—«-перехода с

базой

p-типа без

учета рекомбинации

на

контактах

(&„ = 1),

под­

ставляя

в

(4.7) вместо «р и Ьп их значения, выраженные через

«,; kn; kv и рр, а также значения подвижностей и собственной концентрации носителей, получаем [50]

^днФ —

гі~іЬрРі

kTkn

16-10—0-Sp

яка,

(4.11)

 

__—

 

 

 

У

 

 

где X„ — время жизни электронов,

мксек\ рр — удельное сопро­

тивление, ом-см-,

S — площадь, см2. В используемом для ППД

кремнии т„= 10-!Ч -ІО-3 сек;

рр=1-М 04 ом-см.

При

5=1 см2

/дш|)= 3-10-2^3 -10 -4 мка.

 

 

 

 

Величина генерационного тока зависит от параметров цент­ ров рекомбинации в обедненной области. Если U>U1;, то для асимметричного кремниевого р—«-перехода при размерности

69



единиц, указанной для

(4.1 і),

ток /г определяется по

форму-

ле [50]

 

 

 

 

 

4 =

Se/ц f^2e kn

\'ГрРи

.-8 О V W

мка.

(4.12)

2^

 

4- ІО-8 S

 

 

 

 

 

Генерационная компонента тока ППД с толстой обедненной об­ ластью *, работающих по диодной схеме, существенно превы­ шает диффузионную.

Поверхностная составляющая /п сильно зависит от техноло­ гии изготовления, свойств материала, окружающей среды и мо­ жет быть различна даже в однотипных образцах. Сложность поверхностных явлений [50] и их недостаточная изученность за­ трудняют расчет этой компоненты тока.

Формулы, описывающие фототок при возбуждении р—«-пе­ рехода светом [52; 53], могут быть применены и при возбуж­ дении ионизирующим излучением, несмотря на существующие различия в коэффициентах ослабления (рис. 4.2) (если прене­ бречь различием в параметрах неравновесных носителей, обра­ зованных в результате взаимодействия этих видов излучения с полупроводником).

В ППД с обедненной областью толщиной d0 (см. рис. 4.1),

занимающей весь объем

l/= d 0S (т. е.

d0^>dn,;

d ^ d p ) , при

G — числе пар носителей,

возникающих

в объеме

полупровод­

ника в единицу времени под действием излучения, фототок ра­ вен

/ф = еЗт)с = eg0Sd0r=1,6-10 ugaSd0T}c мка,

(4.13)

Pc — эффективность собирания носителей; g0— число пар носи­ телей, образующихся в поверхностном слое толщиной dx в

1 см3 в 1 сек; 5 — площадь, см2; d0

— толщина

обедненной об­

ласти,

см.

 

ППД

эффективность собирания

При

диодном включении

•Цс приближенно определяется по формуле

 

 

Лс

1 — ехр ^

 

(4.14)

где хі — время жизни

носителей заряда в обедненной области;

Тщ, — среднее время дрейфа

носителей заряда

в электрическом

поле обедненного слоя d0 (4.53). Уточненный расчет эффектив­ ности т|с приведен в работах [54—56].

Если толщина обедненного слоя сравнима с диффузионной длиной в каждой из областей, рекомбинация неравновесных но­

сителей

в нем

отсутствует,

геометрия

детектора

соответствует

* В

толстом

р—п-переходе

cl0jLn> I и

d0/L„ > 1, в

тонком da/Ln< 1

• и da/Lp<l.

70