Файл: Рогов И.А. Физические методы обработки пищевых продуктов.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 09.04.2024
Просмотров: 298
Скачиваний: 3
Рис. 65. Оптическая схема инфракрасного спектрофотометра ИКС-14А:
1 — сферические |
зеркала; |
2 — источник |
света; 3 |
— гиперболические зеркала; 4 — компенсирующий клин; |
5, |
18 |
и 19 — торическне зер |
||
кала; |
6 8, |
9 и |
20— плоские зеркала; |
7 — прерыватель; 10 — монохроматор; // — выходная щель; 12, |
15 |
и |
17 — зеркала; 13 — боло |
||
метр; |
14— |
эллиптическое |
зеркало; 16 — призма; |
21 — фотометрический клин. |
|
|
|
рый перемещает фотометрический клин, уменьшая до нуля воз никшую разность интенсивностей пучков.
Фотометрический клин механически связан с пером записы вающего устройства; величина перемещения пера, пропорцио нальная величине перемещения клина, показывает величину по глощения исследуемого образца.
Оптическая схема инфракрасного спектрофотометра ИК.С-14А показана на рис. 65. Пучок от источника света (глобара) 2 ги перболическими зеркалами 3 и сферическими зеркалами 1 на правляется в каналы / и //; в плоскости фотометрического клина 21 и компенсирующего клина 4 получается увеличенное
в2 раза изображение источника.
Вканале / пучок плоскими зеркалами 6 направляется на торическое зеркало 5, которое дает второе изображение источни ка в плоскости отражающей поверхности прерывателя 7.
Вканале II плоское зеркало 20 направляет пучок на ториче ское зеркало 19, которое создает изображение источника в том же месте отражающей поверхности прерывателя, что и зеркало 5 канала /.
При вращении прерывателя пучки из обоих каналов попере менно направляются торическим зеркалом 18 и плоским зерка лом 9 на входную щель монохроматора 10 и фокусируются в плоскости этой щели.
Пройдя входную щель, пучок попадает на параболическое зеркало 15 и, отразившись от него, разлагается в спектр приз мой 16. Отразившись от зеркала 17, пучок вторично проходит призму, фокусируется зеркалом 15 и направляется зеркалом 12 на выходную щель 11. Поворачивая зеркало 17, можно напра вить на выходную щель лучи различных длин волн, которые затем попадают на плоское 8 и эллиптическое зеркало 14, проектирую щее изображение выходной щели на приемную площадку боло метра 13 с общим увеличением 1/12*.
Прибор имеет четыре сменные призмы, применяемые для раз личных участков спектра. Диапазоны работы призм спектрофо тометра ИКС-14А приведены ниже.
Материал призмы |
Диапазон, мкм |
Стекло Ф1 |
0,75—2,6 |
Фтористый литий |
2—5,5 |
Хлористый натрий |
5—15,4 |
Бромистый калий |
15—25 |
Развертку спектра по волновым числам волн осуществляют, поворачивая зеркало 17.
Преимущество линейной записи спектра по волновым числам (см-1) по сравнению с записью по длинам волн в том, что опре деленная разность волновых чисел независимо от своего положе-
221
•ния в спектре всегда соответствует постоянной разности энергии. Развертка по волновым числам дает возможность непосред ственной обработки записанных спектров -способом интеграль ного поглощения.
Для получения точных значений величины пропускательной способности необходимо сфокусировать все рассеянное образцом излучение на приемной площадке чувствительного элемента.
Для исследования пропускательной способности светорассеи-
:вающнх материалов к спектрометру |
присоединяют |
приставки |
||||
|
|
(рис. 66) [42]. На пути |
||||
|
|
монохроматического пуч |
||||
|
|
ка излучения помещают |
||||
|
|
исследуемый |
материал, |
|||
|
|
с другой стороны кото |
||||
|
|
рого через |
диафрагму |
|||
|
|
толщиной 0,3 мм уста |
||||
|
|
навливают селективный |
||||
|
|
приемник |
|
излучения. |
||
|
|
Особенностью приставки |
||||
|
|
является то, что попе |
||||
|
|
речное сечение приемни |
||||
|
|
ка гораздо больше по |
||||
|
|
перечного сечения пучка |
||||
Рис. 66. Приставка к спектрофотометру |
монохроматического |
из |
||||
лучения, |
падающего |
на |
||||
ИКС-14А для измерения пропускатель |
||||||
ной способности светорассеивающих ма |
образец. |
Это |
позволяет |
|||
териалов: |
|
зафиксировать все про |
||||
I —диафрагма; |
2 — приемник; 3 — исследуе |
пущенное |
образцом |
из |
||
мый материал; |
4 — измерительный прибор. |
лучение, |
в том числе и |
рассеянное. Определение спектральной отражательной способности про
дукта основано на сравнении ее с отражательной способностью эталона. Для определения отражательной способности диффузно отражающих или рассеивающих излучения материалов необхо димо сфокусировать отраженное излучение на площадке прием ника или на входной щели монохроматора. Для этих целей в измерительной аппаратуре обычно применяют сферическое зер кало, полусферу, интегрирующий шар или зеркальный эллипсоид
[37, 45].
В настоящее время наибольшее распространение получили методы зеркальной полусферы и зеркального эллипсоида [37]. Спектральную отражательную способность при наличии необхо димых приставок можно измерять по одно- и двухлучевой схеме. Метод определения спектральных коэффициентов отражения при использовании однолучевых спектрометров связан с определен ными трудностями: необходимость записи двух спектров — из
222
лучения источника и отражения образца; необходимость точного учета потерь отраженного излучения в оптической приставке; значительная чувствительность аппаратуры к внешним воздей ствиям.
На рис. 67 изображена оптическая схема приставки к двух лучевому спектрофотометру ИКС-14А для исследования спект ральной отражательной способности материалов, основанных нз методе полусферы [17].
На основании приставки П-образной формы размером 320 х X 160 мм имеются четыре продольных паза для юстировки зер кал. Оптическая схема при ставки состоит из четырех плоских зеркал размером 50 х 90 мм, закрепленных на основании приставки, и двух полусфер диаметром
116мм с крышками.
Вкрышках полусфер сделаны два прямоуголь
ных |
отверстия |
|
размером |
|
|
|
|
|
|
|||
10 х 28 мм, |
расположен |
|
|
|
|
|
|
|||||
ные |
симметрично |
относи |
|
|
|
|
|
|
||||
тельно центра |
|
круга |
на |
|
|
|
|
|
|
|||
расстоянии |
3 мм |
от него. |
|
|
|
|
|
|
||||
Полусферы |
фиксируются |
|
|
|
|
|
|
|||||
направляющими |
|
выступа |
Рис. |
67. |
Оптическая |
приставка |
к |
|||||
ми |
крышек |
в |
|
пазах |
для |
ИКС-14А для |
снятия |
спектров отра |
||||
заслонок входных окон |
жения: |
|
|
|
|
|||||||
1 — осветитель; |
2 — монохроматор. |
|
||||||||||
хроматора. |
В каждой |
по |
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|||||||
лусфере имеется отверстие |
|
|
|
|
|
|
||||||
размером 25 |
х |
|
10 мм для излучения, поступающего из освети |
|||||||||
теля ИКС-14А. |
Размеры щелей в |
крышках выбирают с таким? |
||||||||||
расчетом, чтобы изображение глобара по ширине |
укладывалось |
|||||||||||
в щели, а высота их соответствовала |
высоте щели монохрома |
|||||||||||
тора. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Полная освещенность полусферы с отверстиями при диффуз |
||||||||||||
ном характере отражения образца |
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
£псф — 3 -^2 |
’ |
|
(11 |
54)- |
||
|
|
|
|
|
|
* ' - * ( * — & " ) • ' |
i '1- |
54' |
||||
где |
г — радиус |
полусферы. |
|
|
|
|
|
|
При произвольной индикатрисе отражения формула освещен ности усложняется.
223
При двухлучевом методе и идентичных полусферах величина потерь по обоим каналам одинакова. Угол падения луча относи тельно нормали к плоскости большого диаметра полусферы со ставляет 20°. Благодаря этому зеркальная составляющая отра жения не теряется во входном отверстии полусферы.
Методика измерения спектральной отражательной способно сти материалов сводится к следующему. Перед началом измере ний в отверстие крышек полусфер вкладываются эталоны. После установки эталонов интенсивность излучения по обоим каналам выравнивается с помощью компенсирующего клина 12 (см. рис. 65) и записывается на спектр 100% отражения. Затем на место эталона по каналу 1 помещают исследуемый образец и произвольную запись спектра отражения.
С введением приставки чувствительность регистрирующей си стемы несколько уменьшается в результате уменьшения интен
сивности излучения приставкой. |
отражения пере |
Полученные относительные коэффициенты |
|
считывают на абсолютные по формуле |
|
Яха = Ях„Яхэ. |
(И -55) |
где R\и— измеренный коэффициент отражения; Rxэ — коэффициент отражения эталона.
ИНТЕГРАЛЬНЫЙ МЕТОД
Существует ряд способов определения величины интегральной пропускательной способности (и проницаемости) пищевых продуктов для инфракрасного излучения, отличающих ся один от другого чувствительными элементами (датчиками).
Приемник ИК-излучения — важнейший элемент любого ИКприбора. Приемники и преобразователи ИК-излучения делятся на три группы: тепловые, фотоэлектрические (фотоэлектронные) и фотохимические (фотопленки). К тепловым приемникам отно сят радиационные термоэлементы — РТЭ, болометры, 'оптико акустические (пневматические) и пироэлектрические приемники; к 'фотоэлектрическим — вентильные фотоэлементы, фотосопро тивления, фотогальванические (фотодиоды), фотогальваномагнитные приемники. Тепловые приемники — неселективные, а фо тоэлектрические и фотохимические — селективные.
При измерениях проницаемости материалов в качестве при емников интегральных лучистых потоков наиболее целесообраз ным является использование радиометров, которые имеют доста точно ровную чувствительность в широком диапазоне спектра ИК-излучения. Один из них показан на рис. 68. Излучение па дает на термоэлемент через цилиндрическое окно, внутренняя поверхность которого отполирована. Холодные спаи термопар
224