Файл: Рогов И.А. Физические методы обработки пищевых продуктов.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 298

Скачиваний: 3

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Рис. 65. Оптическая схема инфракрасного спектрофотометра ИКС-14А:

1 — сферические

зеркала;

2 — источник

света; 3

гиперболические зеркала; 4 — компенсирующий клин;

5,

18

и 19 — торическне зер

кала;

6 8,

9 и

20— плоские зеркала;

7 — прерыватель; 10 — монохроматор; // — выходная щель; 12,

15

и

17 — зеркала; 13 — боло

метр;

14

эллиптическое

зеркало; 16 — призма;

21 — фотометрический клин.

 

 

 

рый перемещает фотометрический клин, уменьшая до нуля воз­ никшую разность интенсивностей пучков.

Фотометрический клин механически связан с пером записы­ вающего устройства; величина перемещения пера, пропорцио­ нальная величине перемещения клина, показывает величину по­ глощения исследуемого образца.

Оптическая схема инфракрасного спектрофотометра ИК.С-14А показана на рис. 65. Пучок от источника света (глобара) 2 ги­ перболическими зеркалами 3 и сферическими зеркалами 1 на­ правляется в каналы / и //; в плоскости фотометрического клина 21 и компенсирующего клина 4 получается увеличенное

в2 раза изображение источника.

Вканале / пучок плоскими зеркалами 6 направляется на торическое зеркало 5, которое дает второе изображение источни­ ка в плоскости отражающей поверхности прерывателя 7.

Вканале II плоское зеркало 20 направляет пучок на ториче­ ское зеркало 19, которое создает изображение источника в том же месте отражающей поверхности прерывателя, что и зеркало 5 канала /.

При вращении прерывателя пучки из обоих каналов попере­ менно направляются торическим зеркалом 18 и плоским зерка­ лом 9 на входную щель монохроматора 10 и фокусируются в плоскости этой щели.

Пройдя входную щель, пучок попадает на параболическое зеркало 15 и, отразившись от него, разлагается в спектр приз­ мой 16. Отразившись от зеркала 17, пучок вторично проходит призму, фокусируется зеркалом 15 и направляется зеркалом 12 на выходную щель 11. Поворачивая зеркало 17, можно напра­ вить на выходную щель лучи различных длин волн, которые затем попадают на плоское 8 и эллиптическое зеркало 14, проектирую­ щее изображение выходной щели на приемную площадку боло­ метра 13 с общим увеличением 1/12*.

Прибор имеет четыре сменные призмы, применяемые для раз­ личных участков спектра. Диапазоны работы призм спектрофо­ тометра ИКС-14А приведены ниже.

Материал призмы

Диапазон, мкм

Стекло Ф1

0,75—2,6

Фтористый литий

2—5,5

Хлористый натрий

5—15,4

Бромистый калий

15—25

Развертку спектра по волновым числам волн осуществляют, поворачивая зеркало 17.

Преимущество линейной записи спектра по волновым числам (см-1) по сравнению с записью по длинам волн в том, что опре­ деленная разность волновых чисел независимо от своего положе-

221


•ния в спектре всегда соответствует постоянной разности энергии. Развертка по волновым числам дает возможность непосред­ ственной обработки записанных спектров -способом интеграль­ ного поглощения.

Для получения точных значений величины пропускательной способности необходимо сфокусировать все рассеянное образцом излучение на приемной площадке чувствительного элемента.

Для исследования пропускательной способности светорассеи-

:вающнх материалов к спектрометру

присоединяют

приставки

 

 

(рис. 66) [42]. На пути

 

 

монохроматического пуч­

 

 

ка излучения помещают

 

 

исследуемый

материал,

 

 

с другой стороны кото­

 

 

рого через

диафрагму

 

 

толщиной 0,3 мм уста­

 

 

навливают селективный

 

 

приемник

 

излучения.

 

 

Особенностью приставки

 

 

является то, что попе­

 

 

речное сечение приемни­

 

 

ка гораздо больше по­

 

 

перечного сечения пучка

Рис. 66. Приставка к спектрофотометру

монохроматического

из­

лучения,

падающего

на

ИКС-14А для измерения пропускатель­

ной способности светорассеивающих ма­

образец.

Это

позволяет

териалов:

 

зафиксировать все про­

I —диафрагма;

2 — приемник; 3 — исследуе­

пущенное

образцом

из­

мый материал;

4 — измерительный прибор.

лучение,

в том числе и

рассеянное. Определение спектральной отражательной способности про­

дукта основано на сравнении ее с отражательной способностью эталона. Для определения отражательной способности диффузно отражающих или рассеивающих излучения материалов необхо­ димо сфокусировать отраженное излучение на площадке прием­ ника или на входной щели монохроматора. Для этих целей в измерительной аппаратуре обычно применяют сферическое зер­ кало, полусферу, интегрирующий шар или зеркальный эллипсоид

[37, 45].

В настоящее время наибольшее распространение получили методы зеркальной полусферы и зеркального эллипсоида [37]. Спектральную отражательную способность при наличии необхо­ димых приставок можно измерять по одно- и двухлучевой схеме. Метод определения спектральных коэффициентов отражения при использовании однолучевых спектрометров связан с определен­ ными трудностями: необходимость записи двух спектров — из­

222


лучения источника и отражения образца; необходимость точного учета потерь отраженного излучения в оптической приставке; значительная чувствительность аппаратуры к внешним воздей­ ствиям.

На рис. 67 изображена оптическая схема приставки к двух­ лучевому спектрофотометру ИКС-14А для исследования спект­ ральной отражательной способности материалов, основанных нз методе полусферы [17].

На основании приставки П-образной формы размером 320 х X 160 мм имеются четыре продольных паза для юстировки зер­ кал. Оптическая схема при­ ставки состоит из четырех плоских зеркал размером 50 х 90 мм, закрепленных на основании приставки, и двух полусфер диаметром

116мм с крышками.

Вкрышках полусфер сделаны два прямоуголь­

ных

отверстия

 

размером

 

 

 

 

 

 

10 х 28 мм,

расположен­

 

 

 

 

 

 

ные

симметрично

относи­

 

 

 

 

 

 

тельно центра

 

круга

на

 

 

 

 

 

 

расстоянии

3 мм

от него.

 

 

 

 

 

 

Полусферы

фиксируются

 

 

 

 

 

 

направляющими

 

выступа­

Рис.

67.

Оптическая

приставка

к

ми

крышек

в

 

пазах

для

ИКС-14А для

снятия

спектров отра­

заслонок входных окон

жения:

 

 

 

 

1 — осветитель;

2 — монохроматор.

 

хроматора.

В каждой

по­

 

 

 

 

 

 

 

лусфере имеется отверстие

 

 

 

 

 

 

размером 25

х

 

10 мм для излучения, поступающего из освети­

теля ИКС-14А.

Размеры щелей в

крышках выбирают с таким?

расчетом, чтобы изображение глобара по ширине

укладывалось

в щели, а высота их соответствовала

высоте щели монохрома­

тора.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Полная освещенность полусферы с отверстиями при диффуз­

ном характере отражения образца

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

£псф — 3 -^2

 

(11

54)-

 

 

 

 

 

 

* ' - * ( * — & " ) • '

i '1-

54'

где

г — радиус

полусферы.

 

 

 

 

 

 

При произвольной индикатрисе отражения формула освещен­ ности усложняется.

223


При двухлучевом методе и идентичных полусферах величина потерь по обоим каналам одинакова. Угол падения луча относи­ тельно нормали к плоскости большого диаметра полусферы со­ ставляет 20°. Благодаря этому зеркальная составляющая отра­ жения не теряется во входном отверстии полусферы.

Методика измерения спектральной отражательной способно­ сти материалов сводится к следующему. Перед началом измере­ ний в отверстие крышек полусфер вкладываются эталоны. После установки эталонов интенсивность излучения по обоим каналам выравнивается с помощью компенсирующего клина 12 (см. рис. 65) и записывается на спектр 100% отражения. Затем на место эталона по каналу 1 помещают исследуемый образец и произвольную запись спектра отражения.

С введением приставки чувствительность регистрирующей си­ стемы несколько уменьшается в результате уменьшения интен­

сивности излучения приставкой.

отражения пере­

Полученные относительные коэффициенты

считывают на абсолютные по формуле

 

Яха = Ях„Яхэ.

(И -55)

где R\и— измеренный коэффициент отражения; Rxэ — коэффициент отражения эталона.

ИНТЕГРАЛЬНЫЙ МЕТОД

Существует ряд способов определения величины интегральной пропускательной способности (и проницаемости) пищевых продуктов для инфракрасного излучения, отличающих­ ся один от другого чувствительными элементами (датчиками).

Приемник ИК-излучения — важнейший элемент любого ИКприбора. Приемники и преобразователи ИК-излучения делятся на три группы: тепловые, фотоэлектрические (фотоэлектронные) и фотохимические (фотопленки). К тепловым приемникам отно­ сят радиационные термоэлементы — РТЭ, болометры, 'оптико­ акустические (пневматические) и пироэлектрические приемники; к 'фотоэлектрическим — вентильные фотоэлементы, фотосопро­ тивления, фотогальванические (фотодиоды), фотогальваномагнитные приемники. Тепловые приемники — неселективные, а фо­ тоэлектрические и фотохимические — селективные.

При измерениях проницаемости материалов в качестве при­ емников интегральных лучистых потоков наиболее целесообраз­ ным является использование радиометров, которые имеют доста­ точно ровную чувствительность в широком диапазоне спектра ИК-излучения. Один из них показан на рис. 68. Излучение па­ дает на термоэлемент через цилиндрическое окно, внутренняя поверхность которого отполирована. Холодные спаи термопар

224