Файл: Амитей Н. Теория и анализ фазированных антенных решеток.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 292

Скачиваний: 2

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

378

Глава 8

Из сравнения диаграмм направленности элементов при различ­ ном расположении их в решетке из 15 элементов (рис. 8.24) сле­ дует, что диаграмма крайнего элемента сильно отличается от диа­ граммы элемента бесконечной решетки. По мере продвижения

2,0

2,г

2,4

2,6

2,8

3,0

3,2

Х/а

2,0-------

J -------- ---------

1------------------

I_____ _____ I_____ _____ 1 _ _ ± 5 > ___ I________

2,2

2,4

2,6

2,8

3,0

3,2

Х/а

Рис. 8.21. Зависимость коэффициента взаимной связи двух волноводов с диэлектрическими вставками от длины волны.

к центру решетки диаграммы направленности становятся более симметричными по отношению к нормали решетки и, кроме того, более близкими к диаграмме элемента бесконечной решетки. Диа­ пазон углов, в котором диаграмма имеет достаточную симметрию, для пятого элемента превышает ± 60°. На рис. 8.25 приведены коэффициенты отражения элементов решетки из 15 элементов.

Решетки конечных размеров. Краевые эффекты

379

Поскольку диаграммы направленности каждого элемента раз­ личны (так как различны коэффициенты взаимной связи), прин-

Рис. 8.22. Диаграммы направленности Т (0) центрального эле­ мента конечных решеток, состоящих из различного числа эле­ ментов N ( ЫХ = - а / Х = 0,4, е = 1).

цип перемножения диаграмм можно применять лишь как некото­ рое приближение. Диаграмму направленности решетки следует

Рис. 8.23. Коэффициенты отражения R центральных элементов при условии, что все элементы имеют одинаковое по амплитуде

и линейное но фазе ф (град/элемент) возбуждение (ф = k b

sin 0)

и не заполнены диэлектриком (Ь/Х = а / Х = 0,4, 8 =

1).

затем рассчитать непосредственно с учетом диаграмм каждого эле­ мента. Для этого суммируются диаграммы направленности эле­


380

Глава 8

 

ментов Т (0)

[выражение (42)], при этом

учитывается то, что

Т (0) зависит

от положения элемента в

решетке. Полученные

в результате сложения диаграммы Tt (0) для решетки из 9 элемен­ тов с одинаковым возбуждением приведены на рис. 8.26. Хотя, как и ожидалось, эти диаграммы отличаются от диаграмм, которые можно было бы получить, применяя принцип перемножения диа­ грамм (например, диаграммы направленности центрального эле­ мента, рис. 8.22), различия несущественны. Уровень боковых

Рис. 8.24. Диаграммы направленности

элементов в решетке

из 15 элементов прп Ы'К = 0,536, аГк =

0,4 [элемент 1 — самый

крайний слева (см. рис.

8.14)].

лепестков в дпаграмме составляет —14 дБ, ширина главного лепе­ стка равна 13,5°, если направление основного максимума совпадает с нормалью решетки. По мере отклонения луча от нормали начи­ нают играть роль расширение главного лепестка и влияние диа­ граммы направленности элемента, вследствие чего значительно уменьшается коэффициент усиления. Кроме того, при большом отклонении луча от нормали становятся заметными искажения за счет сканирования [36].

Рассмотрим теперь вопрос о влиянии диэлектрических вставок в волноводе вблизи апертуры. Параметры диэлектрических вста­ вок выбирают так, чтобы в плоскости апертуры наблюдался резо­ нанс. Условие возникновения резонанса можно определить, используя приближение на основе теории длинных линий (см. гл. 6 и 7). На рис. 8.27 приведены диаграммы направленности централь­ ных элементов в решетках, состоящих из различного числа элемен­ тов с диэлектрическими вставками при £ = 4, dja = 0,6375 и ЫК = = а/К = 0,4. При таком выборе параметров диаграмма направлен-



Решетки конечных размеров. Краевые эффекты

381

Рис. 8.25. Коэффициенты отражения в решетке из 15 элементов без диэлектрических вставок (Ь/Х = 0,536, а / Х = 0,4).

ности бесконечной решетки имеет минимум, или «резонанс», при 0 = 24°. В диаграмме направленности для решетки из 7 элемен­ тов минимум находится при 0 ~ 30°, однако он не достигает нуля. С увеличением числа элементов решетки минимумы сходятся к ми­ нимуму (нулю) бесконечной решетки. Чтобы диаграмма направ­ ленности центрального элемента решетки была достаточно близкой к диаграмме такого же элемента бесконечной решетки, число эле­ ментов решетки должно быть больше 13. Аналогичный вывод спра­ ведлив и для коэффициентов отражения (рис. 8.28). Минимумы излучения проявляются здесь в виде максимумов, которые ста-

Рис. 8.26. Диаграм­ мы направленности решетки пз 9 элемен­

тов (Ь/Х = а / Х =

= 0,4, е = 1).

Рпс. 8.27. Диаграм­ мы направленности центральных элемен­ тов в решетках, сос­ тоящих пз различного числа элементов с ди­ электрическими вста­ вками (Ь/Х — а / Х =

0,4, е = 4, d s / b — ==0,6375).

Рис. 8.28. Коэффици­

енты

отражения цен­

тральных

элементов

решеток,

состоящих

из различного числа

элементов

с

диэлек­

трическими

вставка­

ми

(Ь/Х =

а / Х =

= 0,4, е =

4,

d s/ b =

О

= 0,6375).


1,4

= 0,6425).

Модуль К

Рис. 8.30. Коэффициенты отражения решетки, состоящей из 10 элементов с диэлектрическими вставками, при сканировании в ^-плоскости (а/ Х = ЫХ = 0,4, е = 4, d j b = 0,6425).

Решетки конечных размеров. Краевые эффекты

385

ловятся больше п острее с увеличением числа элементов N конеч­ ной решетки.

Поскольку для имитации бесконечной решетки необходимы значительно более крупные решетки (когда параметры решетки допускают возникновение резонанса в апертуре), не удивительно, что характеристики излучения и отражения элементов решетки

«из 10 элементов (рис. 8.29 и 8.30) зависят от положения элемента

врешетке. Если диэлектрические вставки выбраны так, что е = 4

Рпс.

8.31. Диаграммы

направленности Т

(0)

решетки,

состоя­

щей

пз

11

элементов

с диэлектрическим

вставками

(Ь/Х =

 

=

а / Х

= 0,4, е =

4, d s/ b = 0,6375,

i|) = k b sin 0).

и dja — 0,6425, то резонанс в соответствующей бесконечной решетке возникает при т|) = 30° (0 = 12°). Очевидно, что от эле­ мента к элементу эти результаты будут меняться в широких пре­ делах. Более того, следует обратить внимание на то, что не у всех элементов обнаруживается острый максимум на кривой коэффи­ циента отражения, как можно было бы ожидать в случае больших решеток.

Из диаграмм направленности (рис. 8.31) решетки, состоящей пз 11 элементов, видно, что, поскольку волноводы имеют диэлек­ трические вставки, которые обусловливают существование резо­ нанса, при сканировании в области резонанса диаграмма имеет расширенный главный лепесток и большие боковые лепестки. В больших решетках коэффициент усиления в этой области скани­ рования, естественно, будет уменьшаться еще сильнее.

Возникновение резонансов в решетке свидетельствует о важ­ ности эффектов взаимной связи. Исследуем теперь коэффициенты взаимной связи в двух решетках, одна из которых образована пустыми волноводами, а волноводы другой содержат диэлектриче­ ские вставки, причем толщина и диэлектрическая проницаемость

2 5 - 0 1 C S