Файл: Мотт, Н. Электронные процессы в некристаллических веществах.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 177

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

300

Глава 8

Мы предположили, что проводимость в аморфном германии, оса­ жденном при комнатной температуре, за исключением области низких температур, носит характер перескоков по локализованным состояниям вблизи края зоны. Можно ожидать, что отжиг сокра­ тит эту область локализованных состояний и сделает более веро­ ятной проводимость за счет носителей, возбужденных выше энер­ гии, соответствующей скачку подвижности (см. 7.4.2). Если такая

70"

-,0,5

ю-'

 

 

 

 

 

 

 

 

0,4

 

 

 

 

 

 

 

Ед

10''

 

 

 

 

 

 

для кристалла

 

 

6

\\XX

 

 

 

 

0,3

 

 

 

.

 

 

 

- о, г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10' <—р для кристалла

 

 

 

 

о, г

 

 

 

о

Е

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

|

1

 

О

100

ZOO

300

400

500 600

700

800

900

1000

Ф и г. 8.8. Зависимость изменения величин р 0

и Е,

определяемых соотноше­

нием р = Ро exp (ElkT),

от температуры осаждения

ТD для Ge, осажденного

 

 

в

тлеющем разряде [89].

 

 

 

модель справедлива, то увеличение энергии активации должно сопровождаться увеличением значения С, т. е. отрезка, отсекае­ мого на оси ординат при экстраполяции зависимости lncr от ИТ. Свидетельством того, что это имеет место, являются данные, полу­ ченные Читтиком и показанные на фиг. 8.8. Здесь представлены зависимости величин р 0 ( = НС) и Е [р = р0 exp (ElkT)] от тем-


Свойства аморфных полупроводников с тетраэдрической структурой 301

пературы осаждения. Для пленок, полученных осаждением прн комнатной температуре, величина С порядка 10 О м - 1 - с м - 1 , что близко к ожидаемому значению для случая перескоковой прово­ димости вблизи края зоны (см. гл. 7). С ростом температуры осаждедения величина С возрастает до значения порядка 103 О м - 1 - с м - 1 , как ожидается для проводимости по нелокализованным состояни­ ям. Возрастание величины С сопровождается увеличением Е

 

а

Отжиг

 

б

Ф и г.

8.9. Модель, предлагаемая для плотности состояний в аморфном

Ge в

случае осаждения

при комнатной температуре (а) и при высокой

температуре (б), показывающая влияние отжига (уменьшение плотности

центров

дефектов прн EF

и области

локальных состояний на краю зоны).

П р е о б л а д а ю щ ий

механизм проводимости

 

изменяется от проводимости

по локализован­

ным

состояниям

вблизи Е ^ к проводимости по нелокглнзованным состояниям при EQ .

Величины

энергии активации

электропроводности

( Е А Ер) д о отжига и

(EQ

Ер)

после отжига

взяты из работы

[ 8 9 ] . Григоровичи

и др . [207] и Ш т у к е

[482]

определили

ее велнчшгу

для отожженных

образцов

как 0,55 эВ - Ширины оптической запрещенной

зоны

взяты

из

статьи Донована, Эшлн

и

Спайсера [134] . Поправки

на энергию

пере­

с к о к а

при ЕА

и

на температурные изменения ширины запрещенной

зоны в о внимание

не принимались.

примерно на 0,17 эВ. Заметим, что при температуре осаждения 750 К уже образуются поликристаллические пленки и значение Е резко падает. Читтик исследовал на своих образцах край опти­ ческого поглощения, но не дошел до достаточно низких значений

коэффициента поглощения а, чтобы можно было

судить, имеет

ли место

нерезкий

край или резкий,

как наблюдали Донован,

Спайсер

и

Беннет

[136] для пленок,

полученных

испарением.

Оптические

свойства аморфного германия будут

обсуждаться

в 8.1.5. Забегая вперед, отметим, что край оптического поглоще­ ния для пленок, осажденных при комнатной температуре, нахо­ дится примерно при 0,6 эВ, а для пленок, осажденных при тем­ пературе вблизи перехода из аморфной фазы в кристаллическую,— приблизительно при 0,75 эВ (т. е. близко к значению для кристал-


302 Глава 8

лического Ge). Поэтому предложенная нами модель, описываю­ щая эффект отжига, выглядит так, как это показано на фиг. 8.9 (в предположении, что имеет место проводимость д-типа).

В оставшейся части этого параграфа, где рассматриваются другие исследования электрических свойств аморфного германия, мы будем полагать, что эффекты, связанные с отжигом, учтены самими авторами и что пленки «стабилизированы» по крайней мере вплоть до наиболее высоких температур, при которых производи­ лись описываемые измерения.

Было бы, конечно, чрезвычайно полезно знать, в какой сте­ пени изменение удельного сопротивления пленок, показанное на фиг. 8.4, 8.6 и 8.7, обусловлено температурными изменениями подвижности носителей заряда (если они вообще связаны с изме­ нением температуры). К сожалению, как и для других аморфных полупроводников, измерения эффекта Холла затруднительны вследствие малой величины э.д.с. Холла и, более того, они не­ легко интерпретируются. Так, Кларк [99] наблюдал отрицатель­ ный эффект Холла (когда знак противоположен знаку термо-э.д.с, обычно определяемому в аморфном германии при комнатной тем­ пературе), который мог быть измерен только с точностью порядка 100% x >. Его температурную зависимость проследить было не­ возможно. Интерпретируя данные Кларка с использованием обыч­ ного одноэлектронного соотношения R = 1/епс, мы получаем концентрацию носителей заряда (электронов) порядка 101 8 с м - 3 , которая при сопоставлении с данными по электропроводности приводит к холловской подвижности при комнатной температуре порядка 10~2 с м 2 - В - 1 - с - 1 . Вследствие неопределенности интерпре­ тации эти цифры являются малоубедительными. Правда, величина холловской подвижности не так уж плохо согласуется с цедавна развитым Фридманом [180] теоретическим подходом к эффекту Холла для случая проводимости по нелокализованным состояниям вблизи скачка подвижности. Этот подход изложен в разд. 2.12.

На основании измерений зависимости напряжения от емкости р — n-перехода, созданного между аморфным германием и моно­

кристаллом германия

гс-типа, Григоровичи и др. [210] пришли

к заключению,

что

концентрация дырок

составляет

примерно'

101 3 с м - 3 , а их

подвижность порядка 10"8

с м 2 - В _ 1 - с - 1 .

Переходы,

полученные между аморфным германием и кристаллами р-тппаг были лишь слабо выпрямляющими. Сама процедура, использовав­ шаяся для определения величины' и. указанным методом, подверг­

лась критике в работе Уолли

и Джоншера [530].

 

Если электропроводность связана с перескоками носителей

заряда по локализованным состояниям, то следует

ожидать паде­

ния

удельного сопротивления

с ростом

частоты

приложенного

)

То есть с ошибкой примерно в 2 раза.—

Прим, перев.


Свойства аморфных полупроводников с тетраэдрической структурой 303

электрического поля (см. гл. 2, б и 7). Уолли и Джоишер не получили такого падеиия при комнатной температуре вплоть до 20 кГц. Чопра и Бол [95] приводят результаты, показанные на фиг. 8.10. При комнатной температуре уменьшение сопротивле­ ния с ростом частоты имеет место при частоте выше 50 кГц. Часто­ та, начиная с которой происходит это уменьшение, становится

 

, Г

I

I

I I

I

I

I

I

I

I

I I

I

I

I Т

 

даг

г

4

ею3

г

«

8

да*

г

4

s tos

г

*

в юе

 

 

 

 

 

 

 

Частота,

 

Гц

 

 

 

 

Ф и г .

8.10.

Частотная зависимость удельного сопротивления пленок аморф­

ного Ge, полученных испарением при различных температурах [95].

ниже

при

более

 

низких

температурах. При

77 К

в интервале от

5 - 10 3 до 105 Гц наблюдается изменение сопротивления с частотой по степенному закону с показателем, близким к 2. В соответствии с теорией, изложенной в гл. 2 и обсуждавшейся в гл. 7, переско­ ковая проводимость начиная с определенной частоты должна сле­ довать степенной зависимости с показателем, меньшим единицы. При температурах выше 300 К такая более слабая температурная зависимость, показанная на фиг. 8Л0, свидетельствует о пере­ скоковой характере проводимости вблизи уровня Ферми. При

тех же предположениях, которые были

сделаны в

разд. 7.4.4,

можно

оценить плотность состояний

N (EF). Она

составляет

около

5-102 1 с м _ 3 - э В - 1 .

 

 

Столь большая величина не является неразумной с точки зре­ ния результатов Бродского и Тайтла [71] по ЭПР. Сравнивая величину g-фактора (2,021 + 0,001) и ширину линии (39 Гс)


SO 4

Глава S

•сигнала ЭПР, полученного на аморфном германии и па разрушен­ ных механическим путем поверхностях кристаллического герма­ ния, Бродский и Тайтл предполагают, что в аморфной фазе при­ сутствуют оборванные валентные связи и их полная концентрация составляет около 3 - Ю 2 0 с м - 3 (см. 7.7.2).

Исследования туннельного тока

из металлического

электрода

в аморфный германий

через окисный барьер в зависимости от

смещения проводились

Осмуиом н

Фрицше [393]. Их

результаты

Напряжение смещения, В

Ф и г . 8.11. Дифференциальная туннельная проводимость туннельных пере­ ходов типа А1 — А 1 2 0 3 — аморфный Ge [393].

показаны на фиг. 8.11. Туннельный ток почти симметричен отно­ сительно точки, соответствующей нулевому смещению и, более того, указанная симметрия остается неизменной при понижении темпе­ ратуры до 78 К. Эти экспериментальные результаты, отличающие­ ся от более ранних измерений Нвачуку и Куна [391], весьма ясно

Свойства аморфных полупроводников с тетраэдрической структурой 305

показывают, что уровень Ферми по крайней мере у поверхности пленки расположен вблизи середины запрещенной зоны. Таким образом, эти результаты противоречат модели, показанной на фиг. 8.5, но подтверждают альтернативную модель, описанную в настоящем параграфе. К сожалению, по виду кривых туннель­ ного тока невозможно оценить величину запрещенной зоны.

Фотопроводимость в аморфном германии измерялась Григоро­ вичи, Кройтору и Девени [209], а также Кларком [99]. Величина фотопроводимости очень мала, а так как результаты, полученные в этих двух лабораториях, не согласуются друг с другом, мы их здесь не будем обсуждать.

8.1.4.ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА АМОРФНОГО КРЕМНИЯ

Для аморфного кремния проведено меньше электрических из­ мерений, чем для германия. Качественно свойства этих двух материалов аналогичны, что видно, например, из фиг. 8.12, где

1 1 1 1 1 1

Ge ^ г ^ ^

0

5

 

•< 10

I

а

10

! 1

|

1

1

1

 

8

10

1Z

16

 

103/Т,

 

К''

 

Ф и г. 8.12. Сравнение температурной зависимости сопротивления отож­ женных пленок аморфных кремния и германия [529].

в соответствии с данными Уолли [529] сопоставляются температур­ ные зависимости сопротивления отожженцых образцов; Уолли утверждает, что если построить кривые удельного сопротивления, то они могут быть совмещены друг с другом. Из исследований ЭПР в аморфном кремнии, осажденном при комнатной температу­ ре, Бродский и Тайтл [71] нашли, что концентрация неспаренных спинов составляет около 2-102 0 с м - 3 , т. е. в пределах эксперимен­ тальной ошибки равна величине, найденной для аморфного германия.

Как и в случае аморфного германия, при температурах, пре­ вышающих температуру осаждения, наблюдаются эффекты, связан-

2 0 - 0 1 1 4 2

1