Файл: Сухвало, С. В. Структура и свойства магнитных пленок железо-никель-кобальтовых сплавов.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 15.10.2024
Просмотров: 121
Скачиваний: 0
ставляют собой наименьшие дискретные области, когерентно рассеивающие монохроматический -пучок рентгеновских лучей или электронов. Указанные области когерентного рассеяния (о. к. р.) отличаются весьма высокой взаимной разориентировкой. Углы разорйентировки соседних о. к. р. составляют не менее нескольких угловых градусов [24]. По своим размерам и степени разориентировки о. к. р. в пленках в ряде случаев сравнимы с мозаичными блоками в сильно деформированных массивных поликристаллах. Таким образом, крупные отдель но отражающие блоки в пленках выполняют функции, анало гичные кристаллитам в массивных поликристаллах, в то вре мя как о. к. р. ,по своим характеристикам больше всего соответствуют субзернам в массивных поликристаллах, подвергнутых деформации.
Необходимо, однако, отметить, что при всей внешней ана логии микроструктуры массивных деформированных поликри сталлов и тонких пленок существует ряд отличительных осо бенностей, причина которых в уникальном характере механиз ма кристаллизации пленок в условиях значительного переохлаждения и пересыщения. Между элементами микро структуры макрообразцов и пленок имеют место различия прежде всего генетического характера, которые исчезают лишь в пленках, полученных при незначительных переохлаж дениях.
По нашему мнению, кристаллиты в тонких пленках, в от личие от кристаллитов в макрообъемах, являются продуктом только вторичных процессов, которые сопутствуют кри сталлизационным процессам. То обстоятельство, что кристал литы экспериментально обнаруживаются лишь в пленках, по лученных при повышенных температурах подложки, причем в первую -очередь в пленках чистых металлов или сплавов с за ведомо небольшим содержанием примесей, свидетельствует об их рекристаллизационном происхождении. В пленках нике ля, например, с помощью методики точечных рефлексов [195, 196] кристаллиты выявляются начиная с температуры под ложки 520 °К, а в условиях, исключающих значительное при внесение примесей, при ГП=400°К. В то же время в -пленках железо-никелевых сплавов типа пермаллоя, а также ряда трой
ных железо-никель-кобальтовых сплавов при |
температуре |
подложки ниже 600 °К кристаллиты наблюдать |
не удается. |
Они возникают в этом случае лишь после достаточно длитель ного отжига.
Как будет показано ниже, температура подложки, при которой возникают кристаллиты в пленках тех или иных спла вов, вполне согласуется с температурой протекания рекристаллизационных процессов при изохронном отжиге пленок. В ус ловиях, когда интенсивность рекристаллизационных процес
101
сов подавляется, кристаллиты в пленках либо не возникают,
либо развиваются замедленно.
В отличие от кристаллитов о.к.р. наблюдаются в пленках всех металлов и сплавов, если температура подложки при кри сталлизации выше температуры аморфизации Га и ниже кри тической температуры Гк, при которой на подложке происхо дит превращение жидкой фазы в кристаллическую, т. е. температуры, при которой происходит смена ПЖК- и ПК-ме- ханизмов кристаллизации. При этом при Т„, близкой к Тл, о.к.р. не наблюдаются вследствие того, что их размеры ока зываются за пределами экспериментального разрешения. Если же пленки получены при температуре подложки, превы шающей Тк, о. к. р. по размерам и характеристикам, по-види мому, можно отождествить с кристаллитами.
Следовательно, существенной особенностью субзерен явля ется то, что температурная область их возникновения в плен ках согласуется с определенным диапазоном термического переохлаждения и пересыщения, при котором на подложке устойчиво может существовать в большинстве случаев лишь кристаллическая фаза.
Несмотря на то что субзерма (о.к.р.) в некоторых услови ях могут значительно изменять свои параметры в результате вторичных релаксационных превращений, они все же в извест ной мере отражают первичную структуру кристаллизации пле нок, связанную с автономным зародышеобразованием, в том числе с кластерным механизмом роста. Возникновение кри сталлитов (они в данном случае эквивалентны рекристаллизованным зернам) на основе сегрегационных скоплений отдель ных субзерен, объединенных взаимной ориентировкой, пол ностью обусловливается процессами в твердой фазе.
Небезынтересно отметить, что собой представляют рекристаллизованные зерна в пленках, полученных при высоких переохлаждениях. Такие зерна при определенных условиях удается, между .прочим, наблюдать в электронном, а при раз мерах, больших 1—2 мкм, в поляризационном .оптическом мик роскопах. Первоначально рекристаллизовалные зерна не име ют какой-либо правильной формы и на кристаллиты в при вычном понимании мало похожи. Однако после длительной термообработки они иногда могут приобретать более или ме нее правильную кристаллографическую огранку, чаще всего подобие шестиугольников. Наиболее важная особенность рекристаллизованных зерен — их мозаичное строение. Это по сути дела агрегат мельчайших отличающихся по размерам субзерен, хорошо различимых в электронном микроскопе.
Некоторые закономерности возникновения и роста кристал литов будут рассмотрены при анализе рекристаллизационных процессов.
102
§ 2. Микроструктура пленок при наличии примесей
Влияние примесей .на микроструктуру пленок исключитель но многогранно. Однако наиболее существенны эффект дис пергирования микроструктуры и образование новых фаз и эвтектических смесей вследствие протекания термохимиче ских реакций с остаточной газовой средой.
В рассматриваемом случае, как было показано, наблюда ется далеко не аддитивное изменение термодинамического пересыщения .в зависимости от вариации технологических ус ловий кристаллизационного процесса. В связи с этим также существенно неоднозначно изменение характеристик микро структуры пленок, в частности размера зерен при однотипном изменении какого-либо из кристаллизационных параметров в различных диапазонах значений остальных технологических условий. Чтобы облегчить анализ микроструктуры тонких пленок в условиях влияния примесей, рассмотрим некоторые особенности ее формирования, свойственные наиболее харак терным, в ряде случаев критическим, сочетаниям кристалли зационных параметров.
Характеристики микроструктуры пленок с эвтектическим фазовым составом. Как было показано в главе II, наличие в пленках эвтектической кристаллизации зависит от определен
ного критического сочетания температуры |
подложки, давле |
ния остаточных газов и плотности потока |
пара. Суммарное |
действие указанных факторов в данном |
случае таково, что |
протекание термохимических реакций обеспечивает возникно вение необходимого количества фаз, соответствующих образо ванию эвтектического или близкого к нему состава. Посколь ку, как следует из диаграмм состояния и из данных, изложен ных в предыдущей главе, кристаллизация сплава эвтектиче ского состава осуществляется при минимальной температуре (критическая температура эвтектики, см., например, рис. 5) или, иными словами, при пониженных значениях переохлаж дения (см. рис. 6), то в подобном случае имеет место значи тельное укрупнение микроструктуры пленок. Исходя из вели чины переохлаждения АТ, можно считать, что размеры эле ментов микроструктуры должны довольно резко снижаться при смещении условий кристаллизации вправо или влево от эвтектических ординат. Это может быть достигнуто совмест ным или раздельным изменением температуры подложки, дав ления остаточных газов и плотности потока пара.
Вместе с тем условиям, приводящим к образованию доэвтектической и заэвтектической структур в пленках, соответ ствуют заведомо неодинаковые значения энтропии процесса их роста. Следовательно, необходимо учитывать, что при уда лении от критической эвтектической точки вправо или влево
юз
изменение термодинамического пересыщения, приводящего к измельчению микроструктуры пленок, будет обусловливаться не только изменением степени переохлаждения, но и AS.
Если состав остаточных газов включает несколько газовых компонентов, могущих привести к образованию эвтектики с железом, никелем, кобальтом или их сплавами, то в разумном для наблюдения диапазоне изменения кристаллизационных условий может, как было показано, возникнуть несколько раз дельных или частично совмещенных эвтектик. В подобном слу чае закономерности изменения размеров зерен в пленках будут еще более сложными.
С учетом сказанного можно сделать вывод, что последова тельное изменение (увеличение или снижение) значений како го-либо из технологических факторов (например, Гп) в усло виях влияния примесей в отличие от беспримесной кристалли зации .может сопровождаться как укрупнением, так и диспергированием микроструктуры пленок в зависимости от конкретного сочетания всех кристаллизационных параметров. Поэтому общая интерпретация экспериментально наблюдаемо го изменения величины зерен в пленках в зависимости от изме нения технологических условий при игнорировании рассмотрен ных выше эффектов (т. е. изменении Ts и AS) может привести к заблуждению, в особенности если зависимость изучается в ограниченном диапазоне изменения варьируемых кристалли зационных параметров. Пример изменений величины зерна, порожденных влиянием газовых примесей, можно видеть на рис. 20 (кривая 2). Отметим, что при незначительном различии энтропии фаз эвтектики вблизи эвтектической точки измене ние величины зерна с увеличением Та должно иметь, вероятно, вид кривой 1 рис. 20. Если энтропия вблизи эвтектической точ ки значительно возрастает, то размеры зерен, несмотря на снижение АТ, будут измельчаться.
Для полного описания микроструктуры пленок эвтектиче ского состава весьма важное значение имеет учет механизма кристаллизации эвтектических сплавов.
Напомним, что, согласно многочисленным сведениям [198, 200], затвердевание эвтектических сплавов происходит путем раздельной кристаллизации составляющих фаз. Иными сло вами, сущность эвтектической кристаллизации заключается в диффузионном разделении поступающих к фронту кристалли зации атомов или молекул различного сорта. Для этого, оче видно, необходимо, чтобы атомы (ионы) или их группы одного вещества диффундировали к одним центрам кристаллизации, а атомы другого вещества — к другим центрам кристалли зации. Подробное описание теоретически и экспериментально установленных закономерностей эвтектической кристаллиза ции в сплавах приводится в [200—202].
104
Если эвтектика не содержит посторонних примесей, то в большинстве случаев она кристаллизуется в виде чередую щихся пластин, приблизительно .перпендикулярных поверхно сти фронта кристаллизации. Каждая пластина представляет собой раздельно закристаллизовавшуюся фазу, составляю щую эвтектику. Установлено [198—200], что при наличии при месей пластинчатая структура «чистых» эвтектик приобрета ет вырожденные формы, основными из которых являются ко- лонийно-ячеистая, стержневая, глобулярная и игольчатая. Для возникновения колонийно-ячеистой структуры необходи мо, чтобы коэффициент распределения примесей в обеих фа зах, составляющих эвтектику, отличался от единицы. Когда разность между коэффициентами распределения примесей в отдельных фазах достаточно велика, образуется стержневая структура [199]. В этом случае в матрице одной фазы регу лярно расположена вторая фаза, имеющая вид стержней, пер пендикулярных поверхности роста. Глобулярная структура зарождается в сплавах, несколько отличающихся по составу от эвтектического, при избытке одной из фаз в условиях гете рогенного зародышеобразования.
Учитывая изложенное, можно предположить, что при эв тектической кристаллизации пленок в связи с совершенно оче видным наличием примесей (некоторое количество нерастворенных примесей, а также соединений неэвтектического состава) и неравновесности условий наиболее реально воз никновение вырожденных эвтектических структур, в особен ности ячеистой, стержневой, глобулярной и игольчатой моди фикаций. Можно ожидать также, что важным фактором, об легчающим эвтектическую кристаллизацию в пленках, является дисперсность отдельных зародышей и их высокая плотность. Последнее предопределяет небольшой путь для перекрестной диффузии разноименных атомов к своим цент рам .кристаллизации.
Действительно, экспериментально найдено, что при низком вакууме и низкой скорости испарения в железо-никелевых пленках (например, 86% Ni — 14% Fe) образуется так назы ваемая столбчатая микроструктура [203—205]. Сопоставле ние условий образования и характеристик обнаруженной столбчатой структуры в железо-никелевых пленках убеждает
вэвтектическом характере ее происхождения. В данном случае
взависимости от кристаллизационных условий компонентами эвтектики могут быть, с одной стороны, сплав, обогащенный никелем, образующий твердый раствор с кислородом (азотом, углеродом), с другой — одно из соединений Fe30 4, Fe20 3 или
NiFe20 4. Из предыдущего также следует, что в некотором диапазоне условий в железо-никелевых пленках может быть создана эвтектика основного сплава или его компонентов с
105