Файл: Золотарь, И. А. Экономико-математические методы в дорожном строительстве.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 19.10.2024

Просмотров: 133

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Я*(200) =

10QQ- (50- + .12) = 0 91;

 

 

 

1000

Я*(3000)

=

1000~ 575 = 0,425.

v

'

 

1плл

Величины a* (t) и %* (t) в соответствии с их смыслом будем вычислять, относя величины A/ij к середине соответствующего про­ межутка времени ДU.

Тогда

 

50

\Jy\S

 

 

 

 

 

1000-100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а*(150)

40

: 0,4

 

 

 

 

 

 

 

1000-100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а*(2950)

40

0,4

 

 

 

 

 

 

1000-100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X* (50)

50

.

г

 

 

 

 

 

 

 

1000 + 950

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

--------------- 100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X* (150)

 

40

. — с

 

 

 

 

 

 

 

950 +

910

_

0,43 -10~3;

 

 

 

 

 

 

 

--------------100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X* (2950)

40

. — Г

 

 

 

 

 

 

465 +

425

=

0 ,9 -10-3.

 

 

 

 

 

 

 

----- z -----• 100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 48 нанесены по полученным

значениям P*(t), а : (/) и

K*(t)

плавные кривые для этих характеристик.

Необходимо отме­

тить,

что характер кривой л* (t)

на рис.

48 является типичным для

интенсивности отказов.

В начальный период до момента tо значение

 

 

 

 

 

 

X* (/) велико вследствие так

 

 

 

 

 

 

называемых

приработочных,

 

 

 

 

 

 

т.

е. ранних,

отказов,

выз­

 

 

 

 

 

 

ванных зачастую дефектами

 

 

 

 

 

 

производственного

изготов­

 

 

 

 

 

 

ления. Затем до момента t\

 

 

 

 

 

 

X*(/)^const. В дальнейшем

 

 

 

 

 

 

вследствие износа элементов

 

 

 

 

 

 

К* (t) нарастает.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Из данных табл. 35

сле­

 

 

 

 

 

 

дует, что вероятность безот­

 

 

 

 

 

 

казной работы устройств в

 

 

 

 

 

 

течение 3000 ч равна 0,425.

Рис.

48.

Зависимость вероятности

без­

Однако

остается

неясным,

какова достоверность

этого

отказной

работы

P*(t);

интенсивности

показателя и насколько ему

отказов

X*(t) и

частоты

отказов a*(t)

 

 

от времени

 

 

можно доверять.

 

 

212


Т а б л и ц а 36

а

а

ь

С

a

а

ь

С

0,50

0

 

0,290

0,99

2,0206

1,40

1,073

0,75

0,5859

0,58

0,355

0,995

2,2373

1,61

1,250

0,90

1,1131

0,77

0,527

0,999

2,6841

2,09

1,672

0,95

1,4287

0,95

0,681

0,9995

2,8580

2,30

1,857

0,975

1,7023

1,14

0,846

 

 

 

 

Следует учитывать, что показатель надежности Р* (3000) =0,425 получен непосредственно по данным статистической выборки без каких-либо предположений о распределении времени возникнове­ ния отказов. Поэтому доверительный интервал для величины Р*(3000) =0,425 не может быть получен на основе правил, изложен­ ных в гл. IV с использованием распределения Стьюдента. В подоб­ ных случаях для суждения о степени достоверности количественной характеристики надежности можно воспользоваться ^-распределе­ нием Фишера и следующей формулой:

Я (0 = ------------ --------------,

(ХП.31)

п + 1

 

 

1 + --------------------

- V

 

7Va — п

a',2'Vl

 

где P ( t ) — надежность по результатам испытаний с наработкой t

часов

и при коэффициенте доверия

1 —а; п — число полученных

при испытании отказов; N0— количество испытываемых невосста-

навливаемых образцов;

— процентная точка ^-распределе­

ния с соответствующими степенями свободы V2 и vi

(понятие о сте­

пенях

свободы см. в гл. IV),

определяемыми из

соотношений

 

vz= 2ra+2;

(XII.32)

 

vi = 2V0 — 2га.

(ХП.ЗЗ)

В случае объема выборки V0> 30 процентили

/ц,;,,;,, могут

быть с достаточной точностью определены из соотношения:

 

v, ^

а b)~1'2 eg,

{XII.34)

где

h

2nV2

;

(XII.35)

 

 

•ц + v2

 

 

 

g =

v2 — V1

 

(XII.36)

 

-------- — •

 

 

vlv2

 

 

Параметры а, b и с в зависимости от а задаются табл. 36. Если а<0,50, то вычисления ведут следующим образом: для величины 1—а из табл. 36 выбирают а, b и с;

213


находят h и g; при вычислении g из формулы

(XII.36)

величины

у 2—Vi в числителе меняют местами;

 

 

из соотношения (XII.34) находят lg F \-a, Vi;

а затем

F

определяют

с-

1

 

 

 

v, = —------------ •

 

 

* 1—ajvjjv*

На основе изложенной методики оценим достоверность показа­ теля Р* (3000), вычисленного по данным табл. 35:

находим v2= 2 « - |-2 = 2-575--j-2-— 1152;

v1=27V0 —2ti = 2 - 1000 — 2-575 = 850;

зададимся коэффициентом доверия 1-—а=0,9, т. е.

 

 

 

 

а = 1 —0,9 = 0,1;

 

 

из табл. 36 для

1—а = 0,9 найдем а = 1,1131; Ь = 0,77 и с = 0,527;

вычислим

h

2у]У2

2-850-1152

 

 

'Ч + У2

 

977;

 

 

 

850 + 1152

 

 

найдем g =

 

=

850 ~

1152-= -0 ,0 0 0 3 0 8 ;

 

6

у , у 2

 

850-1152

 

 

вычислим lg F\

== 1,1131 (977 — 0,77)-1/2- f 0,527-0,000308 =

= 1,1131-------------1-0,000162=0,0358;

Л _ 01.Ч2=

1,086;

 

1 / 9 7 6 , 2 3

 

 

 

 

 

определим Fa^

t= — — ------- = ^ - ^ " = 0 ’92;

 

 

 

 

 

1—a;vA;v2

*

 

 

по формуле (XII.31) найдем Р*(3000):

 

 

 

Р* (3000)

 

1

0,45,

 

 

1+

575 + 1 0,92

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1000-575

 

 

т. е. с коэффициентом доверия

1—а = 0,90

истинная

вероятность

безотказной

работы

элемента

(устройства)

в течение

3000 ч со­

ставляет не менее 0,45.

 

 

 

 

§ 31. Основные статистические модели, используемые в теории надежности

Выше было показано, что, зная частоту отказов a(t), можно оп­ ределить остальные количественные характеристики надежности. Следовательно, основным в априорных методах количественной оценки надежности является установление вида функции a(t).

Частота отказов a(t) используется в оценке надежности гораздо чаще, чем средняя частота со(/). В большинстве практических слу-

214


чаев n(t)<^N0( см. формулы XII.20 и XII.25), и потому можно пре­ небречь незначительной погрешностью из-за уменьшения количе­ ства N0 испытываемых элементов (устройств) после каждого отка­ за. Поддержание постоянного числа элементов заменой отказавших может обусловить значительно большие погрешности вследствие неодинаковой наработки элементов и отличий характеристик эле­ ментов, вводимых взамен отказавших. К тому же вычисление вели­ чины ©(f) значительно сложнее, чем a(t).

а)

В)

6)

0

0,4

0,8

1,2

t_

Рис. 49. Графики зависимостей P(t);

X(t)

и a(t) для

различ­

ных законов распределения:

 

 

а — для нормального закона распределения

Т— Т, + С»а«^<,а

;

б — для

гамма-распределения; в — для распределения Вейбулла

 

В теории надежности часто используются для a(t)

следующие

распределения: экспоненциальное (см.

рис. 48 — на

участке от t0

до 11 ); нормальное (рис. 49,а); гамма-распределение

(рис. 49,6);

бета-распределение (см. рис. 13, 14 и 40);

Вейбулла

(рис. 49, в).

На рис. 48 была представлена характерная кривая для частоты

отказов a(t). Сравнивая рис. 48 и рис. 14,

можно заключить, что

215


для описания a(t) во всем диапазоне времени работы различных устройств (включая период приработки до t0 и период нарастания частоты износовых отказов при t > t \ ) в наибольшей мере пригодно бета-распределение. Однако, как было показано в гл. III, расчеты с использованием бета-распределения достаточно затруднительны. Кроме того, приработка выпускаемых элементов (устройств) часто производится предприятием-изготовителем. К моменту же време­ ни ti (см. рис. 48) устройство часто целесообразно снять с экс­ плуатации и заменить новым или отремонтированным. При таких условиях наибольшую значимость для количественной оценки на­ дежности имеет участок кривой a(t), соответствующий изменению t от t0 до t\. На этом участке в большинстве случаев частота отка­ зов a(t) меняется по экспоненциальной кривой. Вот почему экспо­ ненциальное распределение является в теории надежности основ­

ным. Рассмотрим его более подробно.

Частота отказов описывает­

Экспоненциальное распределение.

ся формулой

a(t) =

'ke

 

(XII.37)

 

 

 

где X— интенсивность отказов.

(XII.21) и (XII.37)

получим:

На основе формул (XII.18),

ч п =

а

 

А

е''>4

Ае- и

:A = const.

 

 

 

 

 

—\t

 

 

1 — | a (t) dt

i

-

j

X 4 te

 

 

о

 

о

 

 

 

Таким образом, интенсивность отказов при этом распределении есть величина постоянная, не меняющаяся со временем. Постоян­ ная интенсивность отказов означает, что вероятность отказа не за­ висит от того, сколько времени устройство проработало до рассмат­ риваемого момента времени. Очевидно, что для износовых отказов такое условие не может иметь места. Поэтому экспоненциальное распределение обычно справедливо для случайных отказов мгно­ венного типа в системах, состоящих из большого числа элементов, отказы которых характеризуются различной интенсивностью.

Учитывая зависимость (XII. 18), получим

 

Э-ХО

(XII.38)

Q W = l

-It

(XII.39)

Математическое ожидание времени безотказной работы Т будет

равно:

 

 

T = ^ P { t ) d t =

e - wrff= — Lie-*<r = - L .

(XII.40)

о

X 1

X

v

 

 

 

 

Очевидно, что tcv = T. В теории вероятностей доказывается, что при экспоненциальном распределении среднеквадратичное откло­ нение случайной величины равно ее математическому ожиданию. В данном случае а(Т) = Т.

216