Файл: Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений..pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 21.10.2024
Просмотров: 88
Скачиваний: 0
Для расширения пределов линейности между /п п Р в вен тильном режиме необходимо уменьшать сопротивление измери тельного прибора, что приводит к снижению его чувствитель ности.
В счетном режиме линейная зависимость между числом им пульсов и мощностью дозы Р нарушается из-за наложения импульсов (см. раздел 1.4).
Зависимость чувствительности от ориентации в пучке
В условиях электронного равновесия чувствительность как в токовом, так и в счетном режимах приблизительно одинаково зависит от ориентации в пучке излучения. Рассмотрим эту зави-
Рис. |
4.8. З ави си м о сть /ф |
от |
угла |
поворота 0: |
|||
/ — расчетное |
значение; |
2 — ФЭП |
на |
основе |
GaAs; £ ^ ” 30 к э е , |
||
3 |
и |
4 — ФЭП на |
основе |
Si; |
Е у |
=30 |
и 100 к э в . |
симость на примере работающего в токовом режиме ППД квад ратной формы со стороной di (рис. 4.8), расположенного в па раллельном пучке излучения, с размерами, превышающими d{.
Если толщина чувствительного слоя Lr<^.d, а угол 0<9О° или 270°<Ѳ<360° (обычно Ѳ=ё80° Ѳ>280°), то получим
/ф* = cosO |
(4.51) |
|
1 — ехр (— М х ) |
9 2
где /ф, —Iф//ф0 — фототок, нормированный к его значению |
(/ф0) |
||
при угле 0= 0°. |
|
|
|
При сильном поглощении излучения в детекторе |
|
||
p2L,0§>l) |
уравнению (4.51) |
соответствует полуокружность / |
|
на рис. |
4.8. При слабом |
поглощении (p,zL,.-<l; рДі-СІ) |
ток |
детектора не зависит от ориентации в пучке излучения, и урав нению (4.51) соответствует полуокружность 5 на рис. 4.8.
Если угол 0= 90° или 0= 270°, ток Iф, |
равен |
|
Л . = Lr f 1~ - хр |
L |
(4.52) |
dx[l - e x p ( - p rL„)] |
|
Очевидно, при углах 90Р>Ѳ >270° для учета ослабления в базо вом слое, толщиной do (см. рис. 4.8) в числитель формулы (4.51) необходимо ввести множитель ехр (—pzdo/cosQ) .
Экспериментальные значения Іф, для ФЭП на основе крем ния (L,.=0,1 мм, G!I = 10 мм) приведены на рис. 4.8 при эффек тивных энергиях рентгеновского излучения Е:|ф=100 кэа (кри вая 4) и ЕОф = 30 кзв (кривая 3). Результаты этих измерений удовлетворительно согласуются с расчетом по (4.51) и (4.52). Отклонения на 10—20% обусловлены токосъемными контактами. С увеличением энергии (Еу >100 кэв) наблюдается различие между расчетом и экспериментом из-за нарушения электронного равновесия. Влияние базы в этом случае во многом подобно рассмотренным ранее изменениям / ф от толщины дополнитель ного фильтра. Например, при Еу =1,25 Мэв и 0=180° в крем ниевых ФЭП величина Іф, =1,3.
Изотропность ППД достигается приданием им цилиндриче ской формы при изготовлении [79] или соответствующей ориен тацией отдельных детекторов в радиационном датчике при мон таже [137J. Например, в работе [137] ФЭП на основе кремния располагались тыльными поверхностями друг к другу. Данные о пространственной чувствительности некоторых типов ППД приведены в работах _[7, 138, 139].
Ход с жесткостью
В токовом режиме работы ППД в пределах линейности рентген-амперной характеристики зависимость дозовой чувстви тельности (/„/Я) от энергии квантов Еу такая же, как и дозо вой чувствительности по фототоку (Іф/Р). Согласно (4.36),. фототок 7ф пропорционален мощности дозы (поглощенной энер гии) только в том случае, когда толщина чувствительного объема ие зависит от энергии Еу. В этом случае ход с жест костью ППД с р—/і-переходом определяется энергетическим изменением отношения коэффициентов ослабления и истинного
поглощения |
воздуха |
и материала детектора и рассчитывается |
по формуле |
(1.47). |
Если толщина L,. зависит от энергии излу |
чения (практически |
при Е у<і30 кэв), то необходимо учпты- |
93
вать зависимость |
/ф от |
|лг |
в соответствии с уравнениями |
(4.36) |
|||||
и |
(4.37). |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
На рис. 4.9 приведены расчетные значения хода с жесткостью |
||||||||
(/ф/Ра), |
полученные |
в |
соответствии с |
уравнениями |
(1-47) |
||||
и |
(4.35), |
такой |
же геометрии |
детектора |
п |
его ориентации |
|||
в |
пучке, |
как показано |
на |
рис. |
4.1. Отношения |
/ф/Рэ иормиро- |
|
Рис. |
4.9. |
Х о д |
с |
ж есткостью |
при |
измерении |
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
тока |
У,|,: |
|
|
|
|
|
|
|
|
1~3 — П П Д |
на основе |
G aAs |
при |
|
=0; |
10 н 100 м к м ; |
|
|
||||||
|
4. 5, |
7 и 5 — П П Д |
на |
основе |
Si при |
Lf > равном 0; |
0,1: |
|
|
||||||
|
1 |
н |
10 м м ; 6 — Lf |
=0,1 |
м м , |
гім =*0,1 |
м м \ 9 — опытные |
зн а |
|
|
|||||
|
чения |
/ф /Я э |
при Lr =0,06 |
м м \ |
10, |
11- |
■изменения ^фП/^э |
|
|
||||||
|
|
|
|
н эффективности ііі при Е Д |
|
|
|
|
|
||||||
ваны к его значению при Еу =1 |
Мэв. Кривые 1 и 4 на рис. 4.9 |
||||||||||||||
рассчитаны |
для |
тонкого |
и кривая 8 — для |
толстого |
детекторов |
||||||||||
соответственно |
(L,—>-0, L,—s-oo). |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
Существенно меньший ход с жесткостью у ППД на основе |
|||||||||||||||
кремния |
по |
сравнению |
с детекторами |
на основе |
GaAs |
(см. |
|||||||||
рис. 4.9) |
обусловлен |
различием |
|
их |
атомных |
номеров |
|||||||||
(ZSi=14; |
ZGaAs= 31). |
Увеличение Lr |
приводит |
к росту |
хода |
•94
с жесткостью в области малых энергий (кривые 1—3 и 4—-7 на-. рис. 4.9). Значение Еу , при котором Іф/Рэ достигает максимума., увеличивается с ростом Lr (Еу —22 кэв при L,-, близкой к нулю,
по сравнению с Еу =50 кэв |
при Lr=10 мм). |
При |
энергии |
||
Еу ~40 |
кэв на ход с жесткостью влияет ослабление |
излучения |
|||
в мертвом слое толщиной dM (см. рис. 4.1 и 4.9). |
|
толщины |
|||
При |
определении тока /ф |
с |
учетом зависимости |
||
Ly эф от |
скорости поверхностной |
рекомбинации, |
форма приве |
денных на рис. 4.9 кривых не претерпевает существенных изме нений при Еу >20 кэв, так как уменьшение фототока (на 20— 40%) из-за поверхностной рекомбинации происходит примерно одинаково при всех энергиях излучения. Характер изменения приведенных кривых при Еу <20 кэв подобен показанному на рис. 4.9 изменению хода с жесткостью при наличии мертвого слоя (фильтра). Он также зависит от геометрии ППД и ско рости поверхностной рекомбинации. С увеличением толщины Lr эти различия уменьшаются. Подробные данные приведены в ра боте [57].
Расчетные данные, приведенные на рис. 4.9, удовлетвори тельно согласуются с опытными данными, полученными следую щими авторами [7, 9, 57, 137, 139]. Для иллюстрации на рис. 4.9' (кривая 9) приведены экспериментальные значения Іф/Р0 для кремниевых солнечных элементов толщиной Lr—60 мкм. Резуль таты получены при рентгеновском излучении с эффективной энергией, равной половине максимального напряжения на трубке [141]. С увеличением однородности рентгеновского излу чения опытные данные лучше согласуются с расчетными.
Экспериментальные.данные по изменению хода с жесткостью- у р—і—п-детекторов и ФЭП с помощью фильтров приведены в работах [7, 9, 137].
Ход с жесткостью р—і—п-детектора при использовании схе мы амплитудно-временного преобразования и пороге дискрими
нации |
£ ^ > 0 |
показан на рис. 4.9 (кривые |
10, 11) [117, |
118]. |
В режиме счета числа импульсов ход с жесткостью крем |
||||
ниевых |
ППД, |
рассчитанный в соответствии |
с формулой |
(1.56),. |
приведен на рис. 4.10. Для сравнения с расчетными данными на этом же рисунке приведены результаты измерений для р—і—/г-детектора толщиной L,-=l мм [9] и поверхностиобарьерного детектора с £,=0,3 мм [142].
Видно, что опытные данные не согласуются с расчетными. Это расхождение обусловлено в основном наличием порога дис криминации и отсутствием электронного равновесия. Кривая 7 на рис. 4:10 соответствует расчетному значению ходу с жест костью для детектора с тонким в отсутствие электронногоравновесия и при условии, что каждый неравновесный носитель тока в чувствительном слое, образованный быстрыми фото- и комптон-электронами с близлежащего . слоя детектора, будетзарегистрирован измерительной схемой. Расчет выполнен соглас-
95-
Рис. 4.10. Ход с жесткостью в счетном режиме:
•?—4 — расчетны е |
значения |
Лсч/ ^ э П П Д |
на |
основе |
Si |
при |
Lr , |
равном 0; |
|||||
0,1; 1 |
и |
10 м м ; 7 — Lf —0 |
при |
регистрации |
каж дого |
электрона; |
опытные |
||||||
данны е; |
5 — П П Д |
с пропорциональны м |
усилением; |
6' — р |
— і — «-детектор |
||||||||
(dj ** 1 м м , |
£ д —50 |
я зе ); 8 и 9 — р |
— і — «-детектор при |
Lr = 1.5 м м |
и |
s=60 |
|||||||
и 200 |
кэв; |
10— 12 — поверхностно-барьерны е при L r = 0 , 1 м м |
и £ д =100"; |
200, |
|||||||||
|
|
|
|
300 |
к э в соответственно. |
|
|
|
|
|
но методике, приведенной в работах [143, 144] для счетчиков Гейгера—Мюллера. Толщину мертвого слоя в расчете не учиты вали. Наличие порога дискриминации приводит к снижению п-сч/Рэ в первую очередь в области низких энергий [см. фор мулу (4.43) и кривые 8— 10 на рис. 4.10]. Форма кривых хода с жесткостью конкретных ППД имеет вид, промежуточный между двумя рассмотренными предельными случаями (см. рис. 4.10, кривая 6). Кроме того, необходимо учитывать и влия ние порога дискриминации (энергия Ел), приводящего к сниже нию дозовой чувствительности в первую очередь в области низ ких энергий.
При равных порогах дискриминации (кривые 9 и 11 на рис. 4.10) снижение пйЧ/Рэ тем больше, чем меньше толщина Ег детектора. Это обусловлено быстрым уменьшением чувстви тельности от слоев детектора, расположенных непосредственно вблизи обедненного слоя. Из рис. 4.10 видно, что выбором по рога дискриминации можно изменять ход с жесткостью.
Детальное рассмотрение хода с жесткостью р—і—п- и поверхностно-барьерных ППД приведено в работах [143, 144].
Временные характеристики
Инерционность детекторов с р—п-переходом определяется
временем |
диффузии носителей заряда |
от места |
образования |
||
к области объемного заряда |
(тдаф), временем дрейфа (пролета) |
||||
носителей в поле этого заряда |
(тдр) [145—147]. |
|
|
||
Время дрейфа носителей каждого знака в области объемного |
|||||
заряда р—л-перехода шириной d(U) равно |
|
|
|||
|
Tap = d(U)/kE, |
|
(4.53) |
||
где k — средняя подвижность носителей |
в_электрическом |
поле |
|||
р—п-перехода со средней напряженностью Е. |
|
|
|||
У рассматриваемых ППД напряженность электрических по |
|||||
лей такая, |
что подвижность не зависит от Е. |
Поэтому |
Гдр |
р—і—л-детекторов определяют по формуле (4.53) при подста новке d(U) =di и.Е—U/di, т. е.
(4.54)
Времена собирания дырок (Тлр, р) и электронов (Гдр. „) не одинаковы, отношение Гдр. та/Г др. v = kv/ k n.
В детекторе с р—л-переходом электрическое поле неодно родно, толщина обедненного слоя зависит от напряжения сме щения [см. уравнения (4.3), (4.4)]. За время собирания носите лей принимается время собирания 90% заряда [147].
Поскольку с ростом U увеличивается не только Е, но и тол
щина обедненного слоя, |
время собирания в асимметричном |
р—л-переходе практически |
не зависит от приложенного напря- |
4 Зак. 211 |
97 |