Файл: Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 21.10.2024

Просмотров: 88

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Для расширения пределов линейности между /п п Р в вен­ тильном режиме необходимо уменьшать сопротивление измери­ тельного прибора, что приводит к снижению его чувствитель­ ности.

В счетном режиме линейная зависимость между числом им­ пульсов и мощностью дозы Р нарушается из-за наложения импульсов (см. раздел 1.4).

Зависимость чувствительности от ориентации в пучке

В условиях электронного равновесия чувствительность как в токовом, так и в счетном режимах приблизительно одинаково зависит от ориентации в пучке излучения. Рассмотрим эту зави-

Рис.

4.8. З ави си м о сть /ф

от

угла

поворота 0:

/ — расчетное

значение;

2 — ФЭП

на

основе

GaAs; £ ^ ” 30 к э е ,

3

и

4 — ФЭП на

основе

Si;

Е у

=30

и 100 к э в .

симость на примере работающего в токовом режиме ППД квад­ ратной формы со стороной di (рис. 4.8), расположенного в па­ раллельном пучке излучения, с размерами, превышающими d{.

Если толщина чувствительного слоя Lr<^.d, а угол 0<9О° или 270°<Ѳ<360° (обычно Ѳ=ё80° Ѳ>280°), то получим

/ф* = cosO

(4.51)

 

1 — ехр (— М х )

9 2

где /ф, —Iф//ф0 — фототок, нормированный к его значению

(/ф0)

при угле 0= 0°.

 

 

При сильном поглощении излучения в детекторе

 

p2L,0§>l)

уравнению (4.51)

соответствует полуокружность /

на рис.

4.8. При слабом

поглощении (p,zL,.-<l; рДі-СІ)

ток

детектора не зависит от ориентации в пучке излучения, и урав­ нению (4.51) соответствует полуокружность 5 на рис. 4.8.

Если угол 0= 90° или 0= 270°, ток Iф,

равен

 

Л . = Lr f 1~ - хр

L

(4.52)

dx[l - e x p ( - p rL„)]

 

Очевидно, при углах 90Р>Ѳ >270° для учета ослабления в базо­ вом слое, толщиной do (см. рис. 4.8) в числитель формулы (4.51) необходимо ввести множитель ехр (—pzdo/cosQ) .

Экспериментальные значения Іф, для ФЭП на основе крем­ ния (L,.=0,1 мм, G!I = 10 мм) приведены на рис. 4.8 при эффек­ тивных энергиях рентгеновского излучения Е:|ф=100 кэа (кри­ вая 4) и ЕОф = 30 кзв (кривая 3). Результаты этих измерений удовлетворительно согласуются с расчетом по (4.51) и (4.52). Отклонения на 10—20% обусловлены токосъемными контактами. С увеличением энергии (Еу >100 кэв) наблюдается различие между расчетом и экспериментом из-за нарушения электронного равновесия. Влияние базы в этом случае во многом подобно рассмотренным ранее изменениям / ф от толщины дополнитель­ ного фильтра. Например, при Еу =1,25 Мэв и 0=180° в крем­ ниевых ФЭП величина Іф, =1,3.

Изотропность ППД достигается приданием им цилиндриче­ ской формы при изготовлении [79] или соответствующей ориен­ тацией отдельных детекторов в радиационном датчике при мон­ таже [137J. Например, в работе [137] ФЭП на основе кремния располагались тыльными поверхностями друг к другу. Данные о пространственной чувствительности некоторых типов ППД приведены в работах _[7, 138, 139].

Ход с жесткостью

В токовом режиме работы ППД в пределах линейности рентген-амперной характеристики зависимость дозовой чувстви­ тельности (/„/Я) от энергии квантов Еу такая же, как и дозо­ вой чувствительности по фототоку (Іф/Р). Согласно (4.36),. фототок 7ф пропорционален мощности дозы (поглощенной энер­ гии) только в том случае, когда толщина чувствительного объема ие зависит от энергии Еу. В этом случае ход с жест­ костью ППД с р—/і-переходом определяется энергетическим изменением отношения коэффициентов ослабления и истинного

поглощения

воздуха

и материала детектора и рассчитывается

по формуле

(1.47).

Если толщина L,. зависит от энергии излу­

чения (практически

при Е у<і30 кэв), то необходимо учпты-

93


вать зависимость

/ф от

|лг

в соответствии с уравнениями

(4.36)

и

(4.37).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 4.9 приведены расчетные значения хода с жесткостью

(/ф/Ра),

полученные

в

соответствии с

уравнениями

(1-47)

и

(4.35),

такой

же геометрии

детектора

п

его ориентации

в

пучке,

как показано

на

рис.

4.1. Отношения

/ф/Рэ иормиро-

 

Рис.

4.9.

Х о д

с

ж есткостью

при

измерении

 

 

 

 

 

 

 

 

 

тока

У,|,:

 

 

 

 

 

 

 

1~3 — П П Д

на основе

G aAs

при

 

=0;

10 н 100 м к м ;

 

 

 

4. 5,

7 и 5 — П П Д

на

основе

Si при

Lf > равном 0;

0,1:

 

 

 

1

н

10 м м ; 6 Lf

=0,1

м м ,

гім =*0,1

м м \ 9 — опытные

зн а ­

 

 

 

чения

/ф /Я э

при Lr =0,06

м м \

10,

11-

■изменения ^фП/^э

 

 

 

 

 

 

н эффективности ііі при Е Д

 

 

 

 

 

ваны к его значению при Еу =1

Мэв. Кривые 1 и 4 на рис. 4.9

рассчитаны

для

тонкого

и кривая 8 — для

толстого

детекторов

соответственно

(L,—>-0, L,—s-oo).

 

 

 

 

 

 

 

 

Существенно меньший ход с жесткостью у ППД на основе

кремния

по

сравнению

с детекторами

на основе

GaAs

(см.

рис. 4.9)

обусловлен

различием

 

их

атомных

номеров

(ZSi=14;

ZGaAs= 31).

Увеличение Lr

приводит

к росту

хода

•94


с жесткостью в области малых энергий (кривые 13 и 4—-7 на-. рис. 4.9). Значение Еу , при котором Іф/Рэ достигает максимума., увеличивается с ростом Lr (Еу —22 кэв при L,-, близкой к нулю,

по сравнению с Еу =50 кэв

при Lr=10 мм).

При

энергии

Еу ~40

кэв на ход с жесткостью влияет ослабление

излучения

в мертвом слое толщиной dM (см. рис. 4.1 и 4.9).

 

толщины

При

определении тока /ф

с

учетом зависимости

Ly эф от

скорости поверхностной

рекомбинации,

форма приве­

денных на рис. 4.9 кривых не претерпевает существенных изме­ нений при Еу >20 кэв, так как уменьшение фототока (на 20— 40%) из-за поверхностной рекомбинации происходит примерно одинаково при всех энергиях излучения. Характер изменения приведенных кривых при Еу <20 кэв подобен показанному на рис. 4.9 изменению хода с жесткостью при наличии мертвого слоя (фильтра). Он также зависит от геометрии ППД и ско­ рости поверхностной рекомбинации. С увеличением толщины Lr эти различия уменьшаются. Подробные данные приведены в ра­ боте [57].

Расчетные данные, приведенные на рис. 4.9, удовлетвори­ тельно согласуются с опытными данными, полученными следую­ щими авторами [7, 9, 57, 137, 139]. Для иллюстрации на рис. 4.9' (кривая 9) приведены экспериментальные значения Іф/Р0 для кремниевых солнечных элементов толщиной Lr—60 мкм. Резуль­ таты получены при рентгеновском излучении с эффективной энергией, равной половине максимального напряжения на трубке [141]. С увеличением однородности рентгеновского излу­ чения опытные данные лучше согласуются с расчетными.

Экспериментальные.данные по изменению хода с жесткостью- у рі—п-детекторов и ФЭП с помощью фильтров приведены в работах [7, 9, 137].

Ход с жесткостью рі—п-детектора при использовании схе­ мы амплитудно-временного преобразования и пороге дискрими­

нации

£ ^ > 0

показан на рис. 4.9 (кривые

10, 11) [117,

118].

В режиме счета числа импульсов ход с жесткостью крем­

ниевых

ППД,

рассчитанный в соответствии

с формулой

(1.56),.

приведен на рис. 4.10. Для сравнения с расчетными данными на этом же рисунке приведены результаты измерений для рі—/г-детектора толщиной L,-=l мм [9] и поверхностиобарьерного детектора с £,=0,3 мм [142].

Видно, что опытные данные не согласуются с расчетными. Это расхождение обусловлено в основном наличием порога дис­ криминации и отсутствием электронного равновесия. Кривая 7 на рис. 4:10 соответствует расчетному значению ходу с жест­ костью для детектора с тонким в отсутствие электронногоравновесия и при условии, что каждый неравновесный носитель тока в чувствительном слое, образованный быстрыми фото- и комптон-электронами с близлежащего . слоя детектора, будетзарегистрирован измерительной схемой. Расчет выполнен соглас-

95-


Рис. 4.10. Ход с жесткостью в счетном режиме:

•?—4 — расчетны е

значения

Лсч/ ^ э П П Д

на

основе

Si

при

Lr ,

равном 0;

0,1; 1

и

10 м м ; 7 — Lf —0

при

регистрации

каж дого

электрона;

опытные

данны е;

5 — П П Д

с пропорциональны м

усилением;

6' — р

— і — «-детектор

(dj ** 1 м м ,

£ д —50

я зе ); 8 и 9 р

— і — «-детектор при

Lr = 1.5 м м

и

s=60

и 200

кэв;

10— 12 — поверхностно-барьерны е при L r = 0 , 1 м м

и £ д =100";

200,

 

 

 

 

300

к э в соответственно.

 

 

 

 

 


но методике, приведенной в работах [143, 144] для счетчиков Гейгера—Мюллера. Толщину мертвого слоя в расчете не учиты­ вали. Наличие порога дискриминации приводит к снижению п-сч/Рэ в первую очередь в области низких энергий [см. фор­ мулу (4.43) и кривые 8— 10 на рис. 4.10]. Форма кривых хода с жесткостью конкретных ППД имеет вид, промежуточный между двумя рассмотренными предельными случаями (см. рис. 4.10, кривая 6). Кроме того, необходимо учитывать и влия­ ние порога дискриминации (энергия Ел), приводящего к сниже­ нию дозовой чувствительности в первую очередь в области низ­ ких энергий.

При равных порогах дискриминации (кривые 9 и 11 на рис. 4.10) снижение пйЧ/Рэ тем больше, чем меньше толщина Ег детектора. Это обусловлено быстрым уменьшением чувстви­ тельности от слоев детектора, расположенных непосредственно вблизи обедненного слоя. Из рис. 4.10 видно, что выбором по­ рога дискриминации можно изменять ход с жесткостью.

Детальное рассмотрение хода с жесткостью ріп- и поверхностно-барьерных ППД приведено в работах [143, 144].

Временные характеристики

Инерционность детекторов с р—п-переходом определяется

временем

диффузии носителей заряда

от места

образования

к области объемного заряда

(тдаф), временем дрейфа (пролета)

носителей в поле этого заряда

(тдр) [145—147].

 

 

Время дрейфа носителей каждого знака в области объемного

заряда р—л-перехода шириной d(U) равно

 

 

 

Tap = d(U)/kE,

 

(4.53)

где k — средняя подвижность носителей

в_электрическом

поле

р—п-перехода со средней напряженностью Е.

 

 

У рассматриваемых ППД напряженность электрических по­

лей такая,

что подвижность не зависит от Е.

Поэтому

Гдр

рі—л-детекторов определяют по формуле (4.53) при подста­ новке d(U) =di и.Е—U/di, т. е.

(4.54)

Времена собирания дырок (Тлр, р) и электронов (Гдр. „) не­ одинаковы, отношение Гдр. та/Г др. v = kv/ k n.

В детекторе с р—л-переходом электрическое поле неодно­ родно, толщина обедненного слоя зависит от напряжения сме­ щения [см. уравнения (4.3), (4.4)]. За время собирания носите­ лей принимается время собирания 90% заряда [147].

Поскольку с ростом U увеличивается не только Е, но и тол­

щина обедненного слоя,

время собирания в асимметричном

р—л-переходе практически

не зависит от приложенного напря-

4 Зак. 211

97