Файл: Крутецкий, И. В. Физика твердого тела учеб. пособие.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 22.10.2024
Просмотров: 102
Скачиваний: 0
вероятность заполнения которого равна половине. Сделанный вы вод легко пояснить, если учесть, что при комнатной температуре,
когда Т ^ 300°, величина кТ ----- 1,38-К Г 16 300~0,03эв. Тогда уже смещение вверх от уровня р на величину (2 — 3) кТ приводит для / из 2.3.1) к значению
< (0 ,1 2 -0 ,0 5 ) « - i -
1+ е
а такое же смещение вниз от уровня р дает
1+ е -(2-3) < ( 0 ,9 —0,95) ~ 1.
Рассмотренные выше изменения функции распределения элек тронов по энергиям при различных температурах можно пояснить кривыми, показанными на рис. 14. График, соответствующий абсо лютному нулю температуры, действительно показывает, что все энергетические уровни ниже р заполнены электронами, в то время как ни один энергетический уровень, лежащий выше р, не занят электронами. При повышении температуры (кривые для 7 \ и Т 2) увеличивается вероятность нахождения энергетического уровня, занятого электронами выше р (нижние ветви кривых), причем од новременно увеличивается вероятность нахождения энергетиче ского уровня, не занятого электронами (или занятого дырками), ниже р,— этому соответствуют верхние ветви кривых.
Из симметрии кривых рис. 14, соответствующих Т г и Т 2, отно сительно ординаты Е р и точки / = — следует, что вероятность
нахождения электрона на энергетическом уровне, расположенном на величину АЕ выше р, равна вероятности нахождения дырки на уровне, расположенном на величину АЕ ниже р. Последнее свой ство функции / позволяет определять в полупроводниках положе ние уровня р, т. е. уровня Ферми. Действительно, если в чистых полупроводниках число свободных электронов и дырок одинаково, причем электроны находятся внизу зоны проводимости, а дырки вверху валентной зоны, то уровень Ферми должен быть располо жен посередине промежутка между ними, т. е. посередине запре щенной зоны (рис. 15, а). По этой же причине в полупроводнике, в котором количество свободных электронов превышает количе ство дырок, уровень Ферми лежит в запрещенной зоне ближе к зоне проводимости. Наоборот, в полупроводнике с преимущест венно дырочной проводимостью уровень Ферми лежит в запрещен ной зоне ближе к заполненной или валентной зоне. Необходимо заметить, что процесс образования запирающего слоя при контакте полупроводника с металлом или при контакте двух полупроводни ков может быть легче понят с учетом рассмотрения уровня Ферми.
60
Из свойств уровня Ферми вытекает также, что у металлов, всегда имеющих большое количество свободных электронов, он ле жит в зоне проводимости выше ее дна (рис. 15, б). При этом в чистых полупроводниках уровень р. лежит примерно посередине запрещен
ной зоны, так как при |
0 и Е |
р, как мы видели, / = - |
Необходимо отметить, что поскольку при Т ^>0 функция распре деления f электронов при любом значении Е отлична от нуля, по стольку в верхней почти свободной зоне всегда будет иметься не которое количество свободных электронов, а в нижней валентной зоне некоторое (в чистом полупроводнике такое же) количество не занятых уровней или дырок в сплошной массе электронов.
Учитывая ранее изложенное и считая, что уровень р лежит точно посередине запрещенной зоны, можно выражение для вероятности заполнения электроном уровня вблизи нижнего края зоны прово димости записать в виде:
иЕ—|Л
1+ е Т Г ” 1+ е (Х + —В
(2.3.3)
g
„2ftГ
Аналогично этому вероятность того, что уровень вблизи верх него края валентной зоны свободен или что на нем находится дырка, будет
/дыр= 1 — /эл = 1------- |
Ц - . |
(2.3.4) |
1+ еШ
Из выражений (2.3.3) и (2.3.4) видно, что эти вероятности резко падают при удалении от краев зон.
Как уже говорилось в п. 2.3.1, у большинства полупроводников запрещенная зона порядка одного или нескольких электронвольт.
Тогда при комнатной температуре энергия kT = : 0,03 эв ~ — эв,
! |
|
40 |
Ч |
- Ч |
а энергия |
— E g ^> kT, так что е2* г > 1 и е 2kT <^\. С учетом это |
||
го вместо |
(2.3.3) и (2.3.4) |
для функций распределения |
электро |
нов и дырок по энергиям можно записать |
|
||
|
|
- Ч |
|
|
/эл = |
/дыр — е 2fer« l - |
(2.3.5) |
На основании (2.3.5) можно сделать вывод, что при нормальных
61
условиях электроны вблизи нижнего края зоны проводимости и дырки вблизи верхнего края валентной зоны подчиняются класси ческому распределению Максвелла—Больцмана.
Если же ширина запрещенной зоны очень велика, как это имеет место в диэлектриках, то вероятности (2.3.5) будут ничтожно малы.
а) |
5) |
Лопупроводник
Рис. 15
В этом случае практически не будет свободных электронов в зоне проводимости и дырок в валентной зоне.
§2.4. ДЕФЕКТЫ В КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКЕ
ИЛОКАЛЬНЫЕ УРОВНИ. СОБСТВЕННАЯ И ПРИМЕСНАЯ ПРОВОДИМОСТЬ ПОЛУПРОВОДНИКОВ
2.4.1.ДЕФЕКТЫ В КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКЕ
Впредыдущих параграфах было рассмотрено твердое кристал лическое тело с идеальной решеткой. Однако в реальных кристал лических телах такой идеальной решетки практически не наблю дается.
Обычно в расположении атомов твердого кристаллического тела различают ближний и дальний порядок. Ближний порядок в кри сталле определяется структурой ячейки решетки или расположе нием вокруг данного атома его ближайших соседей. Необходимо заметить, что ближний порядок определяет структуру энергетиче ских уровней и ширину запрещенной зоны. На расстояниях, боль ших по сравнению с постоянной решетки, отступления от правиль ности кристалла накапливаются и могут приводить к образованию ячеек другой ориентации. Дальний порядок предполагает'сохране
ние периодичности на расстояниях, значительных по сравнению с постоянной решетки. Исследования показывают, что дальний по рядок сохраняется на расстояниях, не больших нескольких сотен атомных расстояний.
Тепловое движение в твердом1теле хотя и смещает атомы, но не нарушает дальнего порядка. Лишь плавление твердого тела и пе реход его в жидкость приводит к нарушению дальнего порядка, причем ближний порядок сохраняется и в образующейся жидкости.
Рассмотрим теперь кристаллические решетки с плавными нару
62
шениями, хотя реальные кристаллы часто имеют резкие наруше ния. Это оправдывается тем, что физические последствия нарушений в кристалле будут более наглядными и понятными, если такие на рушения считать плавными.
Различают три типа нарушений (дефектов) в кристаллической решетке: пустой узел, атом в междоузлии (свой или чужой), атом примеси. Нарушение типа «атом примеси» соответствует тому, что атом другого вещества находится в данном кристаллическом теле, как в твердом растворе. При этом атомы примеси могут распола гаться среди атомов кристалла с сохранением периодичности (на пример, на месте атомов решетки) или статистически. При всех ука занных нарушениях происходит резкое изменение ближнего порядка. Здесь указаны лишь элементарные дефекты в кристалли ческой решетке, но могут быть и агрегаты, которые мы здесь не будем рассматривать.
Исторически раньше всего были изучены атомы примеси в ре шетках. Поэтому укоренилось название «атом примеси» для всех трех типов дефектов.
Исследования показывают, что при наличии примесных атомов в кристаллическом полупроводнике, кроме энергетических зон ос новной решетки, появляются отдельные уровни (примесные уровни), соответствующие атомам примеси. Это объясняется тем, что волно вая функция для электронов примесного атома не размазана по всему кристаллу, как блоховская волновая функция, а экспонен циально убывает при удалении от примесного атома. Такие атомы примеси аналогичны изолированным атомам, для электронов ко торых существуют отдельные энергетические уровни. Поэтому от дельные примесные уровни часто еще называют локальными уров нями.
Наиболее существенное значение примесные уровни имеют в том случае, когда они попадают в запрещенную зону. Примесные уровни в нормальном состоянии кристалла (Т = 0) могут быть заполнены или не заполнены электронами. В связи с этим различают два вида примесных уровней: донорные и акцепторные. Донорными уров нями называют такие примесные уровни, которые в нормальном состоянии заполнены или заняты электронами. Если же примесные уровни в нормальном состоянии не заполнены электронами, то та кие уровни называются акцепторными. Особую роль играют эти уровни в том случае, когда донорный уровень находится в запре щенной зоне вблизи нижнего края зоны проводимости, а акцептор ный уровень — вблизи верхнего края валентной зоны.
Из определения донорных и акцепторных уровней следует, что первые могут отдавать электроны, а вторые — их получать.
Рассмотрим, как же возникают донорные и акцепторные при месные уровни. В некоторых случаях донорные уровни могут воз никать за счет атомов металла, которые легко отдают электроны; например, в закиси меди (Си20) атомы меди, по предположению, являются донорами. Наоборот, акцепторами могут быть атомы
63
таких элементов, которые обладают окислительной способностью захватывать один или несколько электронов и образовывать замкнутую электронную оболочку. Сюда, например, можно отнести галогены (Cl, F и др.), которые стремятся захватить один электрон и образовать замкнутую оболочку. Приведенные доводы, вообще говоря, относятся к случаю расположения примесных ато мов в междоузлии.
Если же атом примеси заменяет в узле решетки атом исходного вещества, что характерно для решеток типа алмаза, в которых кристаллизуется германий и кремний, то этот атом примеси также должен образовать валентные связи с соседями, как и исходный
атом Ge |
или Si. |
Если, |
далее, учесть, |
что Ge и Si относятся |
к |
IV |
|||||
группе |
|
периодической |
системы (следовательно, |
четырехвалентны), |
|||||||
а) |
|
|
б) |
|
|
то атомы примеси, относя |
|||||
|
|
|
|
щиеся к V группе |
периодиче |
||||||
|
|
Избыточный |
|
|
ской |
системы, |
будут |
|
до |
||
|
|
злеэ ктрон |
|
|
|
|
|||||
е |
X |
G e |
G e |
|
G e |
норами, а относящиеся |
к III |
||||
G, e |
|
||||||||||
% |
х |
Ч |
' |
Недостает |
группе — акцепторами. |
Так, |
|||||
|
JA |
элект рона |
например, для Ge и Si пяти |
||||||||
G e |
|
G e |
/ р |
\ |
\ (д ы р к а ) |
валентная |
сурьма |
(Sb) |
будет |
||
|
|
|
G e |
|
Ge |
донором (см. рис. 16, |
а), |
||||
|
|
|
Р и с . |
16 |
|
а трехвалентный |
индий |
|
(In) |
||
|
|
|
|
|
|
(см. |
рис. |
16, |
б) |
будет |
акцептором. Действительно, у каждого атома сурьмы не занятым в связях остается один избыточный электрон, а у атома индия для заполнения валентной связи будет недоставать одного электрона.
Внормальном состоянии избыточные электроны не будут отры ваться от атомов сурьмы и валентные связи в случае атомов индия остаются незаполненными. Следовательно, примесные уровни, со ответствующие атомам сурьмы, будут донорными уровнями, а уровни, соответствующие атомам индия, будут акцепторными.
Однако, уже при обычных температурах вследствие теплового движения избыточные электроны сурьмы отрываются от атомов сурьмы и становятся свободными (переходят в зону проводимости).
Врезультате этого за счет примесей типа сурьмы возникает в гер мании преимущественно электронная проводимость.
Аналогично этому при обычных температурах электроны валент ных связей, участвуя в тепловом движении, будут заполнять не занятые связи у атомов индия, т. е. появится возможность движе ния дырок в валентной зоне. Поэтому за счет примесей типа индия возникает в германии преимущественно дырочная проводимость.
Из рассмотренного выше следует, что при замене атомом примеси атома исходного вещества в узле решетки неметаллы являются до норами, а металлы — акцепторами. В самом деле, на примере гер мания мы видели, что неметалл сурьма являлся донором, а металл индий — акцептором, т. е.
неметалл Sb в Ge есть донор, металл In в Ge есть акцептор.
64