Файл: Химмельблау Д. Анализ процессов статистическими методами.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 666

Скачиваний: 2

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Статистический

анализ и его применения

22'с

эти данные независимыми, как предполагалось заранее? Данные представляют собой число отсчетов за 10 мин.

Дата

 

Смена

с

 

А

В

21

64

37

90

22

191

320

330

23

154

240

250

24

105

220

180

25

94

72

66

2657 85 140

3.48.Каждый час получали данные оглюконате кальция для

того, чтобы с полным основанием ставить на этикетке «количество в 1,000 г». Подготовьте для контроля за процессом карты X и R. На обеих картах укажите верхний и нижний контрольные пределы. Сначала используйте выборки из 5 измерений и затем после взятия дополнительных проб уточняйте положение контрольных пределов.

Номер

Анализ

Номер

Анализ

Номер

Анализ

пробы

(X)

пробы

да

пробы

да

1

0,968

6

0,955

11

0,968

2

0,952

7

0,956

12

0,979

3

0,945

8

0,958

13

0,971

4

0,958

9

0,965

14

0,947

5

0,965

10

0,954

15

0,968

 

 

 

 

 

 

Сумма

14,409

3.49. Было выполнено 30 последовательных измерений

случай­

ной переменной X; результаты приведены в табл. 3.3.49. Подго­

товьте карту Шьюхарта для X, располагая

контрольные

пределы /

при X + За, a

также

карту накопленной

суммы для

X.

 

 

 

 

 

Таблица

3.3.49

 

Р я д

последовательных

измерений

 

 

 

Номер

Отдельный

Целевое или

Отклонение

Накопленное

результат

среднее зна­

от целевого

отклонение

измерения

X

 

чение h

значения D

XD

 

1

16

 

10

 

6

6

 

2

7

 

10 .

—3

3

 

3

6

 

10

—4

—1

 

4

14

 

10

 

4

3

 

5

1

 

10

—9

- 6

 

 

6

18

10

 

8

2

 

7

10

 

10

 

0

2

 

8

10

 

10

 

0

2

 

9

6

 

10

—4

—2

 

10

15

 

10

 

5

3

 

11

13

 

10

 

3

6

 

12

8

 

10

—2

4

 



222

 

Глава 3

 

 

 

 

 

Продолжение

табл. 3.3.49

Номер

Отдельный

Целевое или

Отклонение

Накопленное

результат

среднее зна­

от целевого

отклонение

измерения

X

чение h

значения D

ZD

13

20

10

10

14

14

12

10

2

16

15

9

10

—1

15

16

12

10

2

17

17

6

10

- 4

13

18

18

10

8

21

19

14

10

4

25

20

15

10

5

30

21

16

10

6

36

22

9

10

— 1

35

23

6

10

—4

31

24

12

10

2

33

25

10

10

0

33 .

26

17

10

7

40

27

13

10

3 •

43

28

9

10

—1

42

29

19

10*

9

51

30

12

10

2

53

Установите, когда первая из 30 точек (если это произойдет) выйдет за контрольные пределы. Укажите, какие из оставшихся точек выйдут из-под контроля. Оцените стандартное отклонение только по тем точкам, которые не переходят контрольные пределы; для начала можно использовать первые 12 точек. По тем же точкам

оцените X для карты Шьюхарта. Отбросьте любую точку, выходя­ щую за контрольные пределы, и пересчитайте параметры.

3.50. На аммиачном заводе имеются, в частности, установка для очистки газа, установка синтеза N H 3 и установка воздушного

Н2

N2

Очистка.

•СО,

с о

газа

 

 

 

с о ,

Н2

 

J

N2

 

Инертные

 

 

 

Рецикл

Синтез NH3

Инертные

газы

1

 

 

 

NH3

 

Окисление

 

в воздухе

Ф и г . 3.3.50.


Статистический анализ и его применения 223

окисления (фиг. 3.3.50). В пятницу вам дано задание

осуществить

статистический контроль

концентрации

потока

N 2

из

газового

очистителя.

Последние

60

анализов записаны в

табл.

3.3.50а.

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 3.3.50а

Номер

Процент N2

Номер

Процент N2

Номер

Процент N2

выборки

выборки

выборки

1

24,5

21

23,2

 

41

 

 

24,7

2

24,2

22

24,9

 

42 ..

 

25,6

3

28,3

23

25,2

 

43

 

26,5

4

29,8

24

24,4

 

44

24,6

5

26,4

25

24,1

 

45

 

 

22,0

6

29,0

26

24,0

 

46

 

 

22,7

7

27,0

27

26,6

 

47

 

 

22,0

8

27,0

28

22,1

 

48

 

 

21,0

9

22,4

29

23,2

 

49

 

 

20,7

10

25,3

30

23,1

 

50

 

 

19,6

11

30,9

31

28,3

 

51

 

 

20,6

12

28,6

32

27,3

 

52

 

 

20,0

13

28,0

33

25,8

 

53

 

 

21,2

14

28,2

34

26,0

 

54

 

 

21,4

15

26,4

35

27,5

 

55

 

 

29,6-

16

23,4

36

25,2

 

56

 

 

29,4

17

25,1

37

25,8

 

57

 

 

29,0

18

25,0

38

25,5

 

58

 

 

29,0

19

23,3

39

22,8

 

59

 

 

28,5.

20

23,0

40

21,7

 

60

 

 

28,7

Анализ проводился каждые четыре часа (дважды за смену). Утром в понедельник вы должны доложить, можно ли эффективно исполь­

зовать

контрольные карты

для

контроля

концентрации N 2 ,

и если

это

возможно,

рекомендовать подходящий

тип

карты.

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица

3.3.506:

День недели

Смена

Время

Процент

День недели

Смена

Время

Процент

Суббота

 

1

12

27,6

 

Воскресенье

1

12

31,7

Суббота

 

2

16

25,6

 

Воскресенье

2

16

29,6

Суббота

 

2

20

29,6

 

Воскресенье

2

20

30,6

Воскресенье

3

24

30,7

 

Понедельник

3

24

28,1

Воскресенье

3

4

30,0

'

Понедельник

3

4

26,5

Воскресенье

1

8

30,6

 

Понедельник

1

8

27,5

В табл. 3.3.506 приведены производственные данные за субботу,, воскресенье и понедельник. Находится ли поток N 2 под контролем!

Ѵ Т П П І Ѵ Г P I Т Т П Т Т Р Т Т Р . Т Т Т - W T J T ? ?


224

Глава 3

ЛИ Т Е Р А Т У Р А

1.Kendall M . G., Stuart A . , The Advanced Theory of Statistics, vol . 2, Charles Griffin, London, 1961.

2.

Fisher

R. A . ,

Proc.

Camb. Phil. Soc, 22, 700 (1925).

3.

Fisher

R. A . ,

Contributions to Mathematical

Statistics, W i l e y , N . Y . , 1950.

4. Johnson N . L . , Leone

F. C , Statistical and

Experimental Design, V o l . 1.

 

W i l e y ,

N . Y . ,

1964,

p.

188.

 

5.Ferris C. D . , Grubbs F. E . , Weaver С L . , Annals Math . Stat., 17, 2, 178— 197 (June 1946).

6.Bowker A . H . , Lieberman G. J., Engineering Statistics, Prentice-Hall, Englewood Cliffs, N . J . , 1959.

7.

Hai d

A . , Statistical Theory

w i t h Engineering

Applications, W i l e y ,

N . Y . ,

 

1952.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

8.

Natrella M . G., Experimental Staistics,

Nat.

Bur. of

Standards,

Hand­

 

book

91, U.S. Dept. of Commerce,

Washington,

D.C.

1963.

 

9.

Walsh

J. E . , R A N D Corp. Rept.

P-129, Aug . 8,

1950.

 

10.

Rose H . E . , English J. E . ,

Chem. Eng.,

p.

165 (Sept.

1966).

 

11. Savage I . R., Bibliography

of Nonparametric Statistics, Harvard.

Univ .

 

Press,

Cambridge, Mass., 1962.

 

 

 

 

 

 

 

12.

Dixon

W . J., Massey F. J.,

Introduction to

Statistical

Analysis, McGraw-

 

H i l l ,

N . Y . , 1951.

 

 

 

 

 

 

 

 

13.

Mann

H . В . , Whitney D . R., Ann.

Math.

Stat.,

18,

50 (1947).

 

14.Wilcoxon F . , Some Rapid Approximate Statistical Procedures, American Cyanamid Co., N . Y . , 1949.

15. Siegel S., Tukey J. W . , J . Amer. Stat. Assn., 55 , 429 (1960).

16.Ramachandran G., Ranganathan J., J. Madras Univ. Sect. B8, 23, 76 (1953).

17.

Mann H . В . ,

Econometrica,

13,

245

(1945).

 

 

 

 

18.

Kendall M . G.,

Rank

Correlation

Methods,

2nd

ed.,

Hafner,

N . Y . ,

 

1955.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

19.

Bendat J. S., Piersol

A . G., Measurements and

Analysis of Random

Data,

 

W i l e y , N . Y . ,

1966,

p. 222.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20.

Hodges J. L . ,

Lehmann E . L . , / . Stat.

Soc,

B16,

261

(1954).

 

21.

Connor W . S.,

Ind.

Eng.

Chem.,

52,

2, 74A (I960); 52, 4, 71A (1960).

22.

Massey F. J.,

J.

Amer.

Stat.

Assn.,

46,

68

(1951).

 

 

 

23.

Miller L . H . ,

/ .

Amer.

Stat.

Assn.,

51, 111

(1956).

 

 

24.

Rosenblatt

J.,

Ann.

Math.

Stat.,

33,

513

(1962).

 

 

 

25.

Gumbel E . J.,

Technometrics,

2,

165

(1960).

 

 

 

 

 

26.

Anscombe

F. J.,

Technometrics, 2, 123

(I960).

 

 

 

 

27.Shewhart W . A . , Economic Control of Quality of Manufactured Product, Van Nostrand, Princeton, N . J . , 1931.

28.

Burr I . W . ,

Ind. Qual.

Control,

23,

563

(1967).

 

 

 

29.

ASTM Manual on Quality'Control of

Materials, Philadelphia, Jan.

1951,

 

p. 115.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

30.

H i l l i e r

F. S.,

Stanford U n i v . Techn. Rept. 63 Sept. 4, 1962; Stanford

U n i v .

 

Techn. Rept. 83, Oct. 4 1965.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

.31.

Breunig H . L . , Ind.

Qual.

Control,

2 1 ,

2,

79

(1964).

 

 

32.

Freund

R. A . , Ind.

Qual. Control,

14,

13

(Oct.

1957).

 

33.

Roberts S. W . , Technometrics,

1,

239

(1959).

 

 

 

 

34.

Moore

G. P.,

Biometrica,

45, 89

(1958).

 

 

 

 

 

 

35.

Page E. S.,

Biometrica,

42,

243

(1955).

 

 

 

 

 

 

36.

Weiler H . , / . Amer.

Stat.

Assn.,

 

48, 816 (1953); 49, 298 (1954).

 

37.

Johnson N . L . , Leone F. C , Ind.

Qual.

Control,

18,

12,

15 (1962); 19,

1, 29

 

(1962); 19, 2, 22 (1962).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

38. Page E . S.,

Technometrics,

3, 1

(1961).

 

 

 

 

 

 

39.

Goldsmith P.

L . , W h i t f i e l d

H . ,

Technometrics,

3,

1

(1961).