Файл: Ротин В.А. Радиоионизационное детектирование в газовой хроматографии.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 03.07.2024

Просмотров: 142

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

2.3. ФЛЮКТУАЦИИ ИОНИЗАЦИОННОГО ТОКА В РЕЖИМЕ НАСЫЩЕНИЯ. ПОРОГ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ

Предельные возможности метода детектирования оп­ ределяются не только чувствительностью детектирования, но и флюктуациями начального сигнала. Поэтому не­ обходимо знать флюктуации фонового ионизационного тока и их связь с параметрами опыта. Причины флюк­ туаций тока могут быть самыми разнообразными. Из формулы (2.14) следует, что случайные флюктуации дав­ ления и температуры, активности источника излучения и среднего значения сечения ионизации обусловливают соответствующие флюктуации фонового тока.

Флюктуации давления и температуры в объеме де­ тектора связаны главным образом с неизолированностью детектора. В каждом конкретном опыте в зависимости от качества термостатирования детектора, регулирова­ ния скорости газа-носителя, а также от условий проте­ кания газа через детектор (наличие завихрений и т. д.) флюктуации давления и температуры могут достигать различных значений. Несмотря на это, флюктуации тем­ пературы и давления всегда незначительны по сравне­ нию с абсолютными значениями этих параметров. По­ этому флюктуации тока а(1)т и а(1)Р, связанные соот­ ветственно с флюктуациями температуры о(Т) и давле­ ния а(Р), равны

а(/)г =

а(Т)

= 1Ф т

 

 

(2.16)

о (/)р =

о(Р)

= /ф

 

Очевидно, относительные

флюктуации

фонового тока

а(/)//ф равны относительным флюктуациям температу­ ры и давления в камере детектора.

Принципиальный интерес представляет расчет флюк­ туаций тока, обусловленных случайным характером об­ разования зарядов в объеме камеры и сбора их на элект­ родах. Простейший расчет статистических флюктуаций тока строится на представлении о совершенно случай­ ном распределении во времени дискретных актов обра­ зования зарядов. Статистику таких процессов описывают законом Пуассона, а значение флюктуации случайной

47


величины N можно выразить простым соотношением

[32]

_

 

 

 

o(N) = ] /N

,

(2.17)

где N — среднее значение случайной

величины. Если

Ni — количество пар

ионов, образующихся в камере де­

тектора за время Д^, то наблюдаемая за это время флюк­ туация Nt равна

°(N i)= V "N i-

(2.17а)

Умножив обе части этого равенства на e/At, перей­ дем от флюктуаций числа пар ионов к флюктуациям тока в режиме насыщения:

= = ( 2. 18)

Формула (2.18) аналогична формуле дробового эффек­ та [19]. Она показывает, что флюктуации растут медлен­ нее тока и их значение увеличивается с уменьшением интервала времени, в течение которого флюктуация наблюдатся. Обычно минимальное значение At принимают равным постоянной времени т измерительной схемы де­ тектора.

Использование формулы (2.18) в расчетах не всегда позволяет получить правильные результаты, так как представление об образовании зарядов как об элемен­ тарном случайном процессе, описываемом уравнением Пуассона, является весьма приближенным. В действи­ тельности, возникновение тока — результат нескольких последовательно протекающих процессов. Кроме того, не всегда статистика отдельных элементарных процессов описывается уравнением Пуассона.

В режиме насыщения значение тока определяется ча­

стотой образования ионных пар и представляет собой результат двух последовательных процессов, каждый из которых является случайным. Первый процесс — испу­ скание р-частиц источником ионизирующего излучения, второй — ионизация газа р-частицами.

Флюктуации процесса сбора зарядов в режиме тока насыщения можно не учитывать, так как при работе ка­ меры в этом режиме все образующиеся заряды собира­ ются на электродах и время их сбора много меньше ре­ альных значений постоянной времени детектирования,

48


т. е. сбор зарядов можно рассматривать как мгновенный процесс.

Известно [32], что флюктуации случайной величины N, получающейся в результате п последовательных этапов (в «-каскадном процессе) и описываемой соотношением

N = W . . Л п,

(2-19)

могут быть рассчитаны по следующим формулам [32]:

о2(N) =

a2

~k% . .

. k l

+ k ^ i k j l l k l .

. Л 2п+ . . .

и

 

.

.

. +

\ k t

. .

.k n - i& ik j

 

(2.20)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

62(^) =

б»(А1) +

-1 б * (*а) + . . .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

«1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

+

kiki

 

kn—l V

(*„),

 

(2 .21)

 

 

 

 

 

 

 

 

где ku

k2 ... kn — параметры

процесса,

характеризую­

щие

вклад каждого этапа

(каскада)

в

значение

N\

б(N),

6(&)— относительные флюктуации

случайных

ве­

личин,

равные o(N )/N

и a(k)/k соответственно.

 

 

В нашем случае количество ионных пар, образующих­

ся за время At, равно

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

М, = щ м а,

 

 

 

(2.22)

где N р — количество

р-частиц, излученных

источником

за время А^; Nn — количество

ионных пар, образуемых

одной р-частицей. В соответствии с выражением

(2.20)

флюктуации N{ равны

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

=

V Nn °2(Wp) + Л^а2 (Nа)

.

(2.23)

Применив для e(N $) и o(Nn) соотношение (2.17), пе­ рейдем, как и ранее, от флюктуации числа пар ионов к флюктуациям тока:

...

го(ЛО)

| /

е ( Мп +

1) 7ф

- /

е (<7г+1)Ль

°<7) =

- Д Г - =

V

------- At---------

 

= V

------А?-------

(2.24)

где Nn обозначено через qn

4 Зак. 786

49



Формула (2.24) отличается от формулы (2.18) мно­ жителем (<7i+ l)V 2- Значение qu как правило, много больше единицы. Порядок qt можно оценить по формуле

qi = бв^/в^ ss вр/ф/в^/ф.Макс>

(2.25)

где б — доля энергии, теряемой излучением

в камере

детектора; ер — средняя энергия p-излучения; Si — ра­ бота ионизации; Уф — истинное значение фонового тока; Уф. макс — максимально возможное значение фонового тока, получаемое при полном поглощении р-излучения. Например, для детектора с плоскими электродами, рас­ положенными на расстоянии 0,1 см, при использовании

трития Уф^ОД

Уф. макс, ер = 6

кэв

и qi= 20.

 

Теперь можно оценить порог чувствительности де­

тектора по сечениям ионизации,

ограниченный стати­

стическими флюктуациями

фонового

тока.

Исходя из

формулы (2.15), определим чувствительность:

 

 

Л — / Ф *а~ 8э .

 

(2.26)

Тогда порог чувствительности на основании

выраже-

ний (1.22), (2.24) и (2.26)

равен

 

 

 

 

2а (У)

_

2%

/

e(gi+ 1)

(2.27)

 

A

sa —

у

ДУ/ф

 

 

С учетом того что Уф= е«р^

при q O

1, получим

 

Смин

 

 

2s3

 

(2.28)

 

(sa — s3) y n ^ t

 

 

 

Формулу вида

(2.28)

можно

получить, не

учитывая

флюктуации величины Nn (5]. Это связано с тем, что при всех значениях к больше единицы влияние каждо­ го последующего этапа в n-каскадном процессе меньше предыдущего [см. формулу (2.21)]. Таким образом, ста­ тистические флюктуации фонового тока обусловлены главным образом флюктуациями числа р-частиц, излу­ чаемых источником. Отсюда, в частности, следует, что значение порога чувствительности не зависит от темпе­ ратуры, давления, объема детектора и природы радио­ активного вещества. Оно зависит от активности источ­ ника излучения (СмИН~ п |г1/2). сечения ионизации газа-

носителя и постоянной времени измерительной систе­

50