Файл: Дорфман В.Ф. Газофазная микрометаллургия полупроводников [Текст] 1974. - 190 с.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 07.07.2024
Просмотров: 160
Скачиваний: 0
|
1 |
Т а б л и ц а 10 |
|
Получение неко ч>рых соединений методом кристаллизации |
|||
|
из газовой фазы |
Литературный источ |
|
Соединение |
Условия синтеза |
||
ник |
|
|
|
|
Тугоплавкие |
|
|
|
|
|
|
полупроводники |
|
|||
AIN |
|
|
типа А lu ß v |
|
в |
||
|
Транспортные |
реакции |
|||||
|
|
|
«неизотермической |
плаз |
|||
|
|
|
ме» (высокочастотный раз |
||||
ВР |
|
ряд), .в хлоридной системе |
|||||
|
Транспортные |
реакции |
в |
||||
ВР |
|
системе ВР—S, 1200°С |
|
||||
|
Реакция |
в системе |
ВВг3— |
||||
GaN |
|
P iC U -H 2, ,1000°іС |
GaCI— |
||||
|
Реакция |
в системе |
|||||
GaN |
|
NH3, ЮОО-і1ЙОО°С* |
|
в |
|||
|
Транспортные |
реакции |
|||||
LaN, ScN** |
потоке NH3l 920—)1010°ІС |
|
|||||
Реакция |
в системе 3 |
галоге |
|||||
|
|
|
ниды лантана — NiH |
|
|
||
|
|
|
Ферромагнитные |
|
|||
FeCr2S4 |
полупроводники |
в |
|||||
Транспортные |
.реакции |
||||||
2 |
S |
4 |
хлоридной системе |
|
в |
||
CaCr |
|
Транспортные |
реакции |
||||
|
|
|
бромидной системе |
|
|
||
GaB |
|
Халькогениды |
|
в |
|||
|
Транспортные |
реакции |
|||||
(B — S, Se, Те) |
іиодидной системе |
|
о |
||||
Eu2Si0 4 |
Транспортные |
реакции |
|||||
|
|
|
хлоридной, |
бромидной |
и |
||
|
|
|
иодидной системах, 1900“С |
|
* Подложки — оаіпфиір ін карбид кремния. *'* 'Получены также ндггрдгды РЗЭ.___________
[97, с. 23]
[97, с. 21]
[101, с. 123]
[97, с. 11,62], [101, с. 119,121]
[91; 101, с. 137]
[97, с. 50; 101, с. 119]
[97, с. 48]
[97, с. 48]
[97, с. 22]
[97, с. 44]
75
образования центров кристаллизации. Принципиально зародыши новой фазы 'могут образовываться по двум ме ханизмам: в результате 'присоединения адсорбированных атоімов к элементам микрорельефа подложки (или дру гим «готовым» центрам) н флуктуациотшо— за счет вза имных столкновений. Подложка имеет набор различных центров сорбции, различающихся по симметрии раеположѳніия и по энергетическим характеристикам.
Рис. 20. Схема образования зародышей метастабилышіі фазы на ориентирующей 'подложке. Глубина потенциальной ямы отвечает энергии связи адсорбированного атома с подложкой, толщина горизонтальных линий — энергии связи внутри за родыша
•Равновесное распределение адсорбированных атомоз по потенциальным ямам устанавливается очень быстро по сравнению с типичной скоростью ростовых процессов, и для образования метаетабильной фазы 'необходимо, чтобы ее структура соответствовала расположению цент ров сорбции, характеризующихся более прочной связью— .глубоким потенциальным яміам, как показано и а рис. 20.
Зародыш стабильной фазы (рис. '20, а) менее прочно связал с подложкой, чем зародыш метастабильной фазы (рис. 20, б). Видно также, что более выгодным для обра зования метастабильной фазы механизмом является при соединение адсорбированных атомов к ступени или из лому (рис. 20, в). Действительно, если адсорбированные атомы в результате столкновения образуют димер, то существует определенная вероятность диффузионного скачка димера как целого к соседней паре адсорбцион ных центров. Очевидно, что вероятность такого скачка меньше, если хотя бы один из пары іатомов адсорбирован у края ступени или в изломе, т. е. в более глубокой по тенциальной яме. С другой стороны, для того, чтобы подложка изменяла структуру кристаллизуемого вещест
75
ва, очевидно (Необходима «сильная» адсорбция. Но в этом случае второй и третий адсорбированные слои уже сла бо связаны с первым [Ю З]. (Поэтому зародышеобразование в этих слоях будет происходить флуктуационно и вероятность образования метастабилыной фазы невелика. Этим, возможно, объясняется тот факт, что метастабиль ные состояния на инородной подложке характерны преи мущественно для очень тонких пленок, причем, как пра вило, они представляют структурно-разупорядочѳнные фазы. Совершенно иной случай представляет автоэпитаксиальное наращивание метастабильной фазы, когда подложкой служит кристалл самой метастабильной фазы. Тогда может быть выбрано такое сочетание ми крорельефа подложки и условий кристаллизации, что бы рост устойчиво происходил путем присоединения атомов к готовым морфологическим .центрам. Микропзбирательность гетерогенных реакций создает в этом от ношении более благоприятные условия. Действительно, при достаточно высокой энергии активации реакции мож но подобрать режим, при котором она будет проис ходить избирательно только на элементах рельефа. В этом случае устойчивый рост метастабильной фазы мо жет продолжаться .неопределенно долгое время. Так, в работе Мак-'Карти и 'Карпентера [1104] .получена новая
.кристаллическая модификация бора при термическом разложении его трийодида. Но наиболее ярким приме
ром является авто-эпитаксия алмаза при давлении ~ |
.1 мм |
|||
рт. ст. и температуре |
1000°С путем пиролиза |
метана |
||
[28, с. '172]. Синтез метастабильной фазы |
осуществлен |
|||
в этом случае при давлениях на восемь порядков |
ниже, |
|||
чем в классических методах (как известно', обычно |
для |
|||
искусственного синтеза |
алмаза применяют давления |
|||
~'Ю0 кбар). |
|
|
|
|
Изучение механизма гетерогенных |
|
|
||
физико-химических процессов в системах |
газ — твердое |
С точки зрения химической кинетики кристаллизация из газовой фазы — это катализ на непрерывно самооб новляющейся поверхности. Поскольку катализатор (обычно монокристалл) формируется в свою очередь эти ми каталитическими реакциями, его рост является чувст вительным индикатором условий процесса. По-видимому, до развития газофазной микрометаллургии катализ на
77
іманокіріИсталлах никогда рашее так широко ті детально не исследовался. В процессах ГМ П проявляются наиболее тонкие механизмы действия катализатора — избиратель ность по отношению к элементам микрорельефа и ориен тации. Было обнаружено, что скорость реакции в зави симости от ориентации кристалла-подложки изменяется на порядок и более (ом. и аирнмар, овыіше, стр. 69). Эта чувствительность к ориентации весьма специфична и от
носительное изменение скорости |
различается |
иногда на |
|||||
несколько порядков даже для весьма |
'близких |
реакций |
|||||
(например, при |
легировании |
полупроводников |
типа |
||||
Л111 |
В ѵ |
в процессе |
роста из газовой |
фазы, см. |
ниже, |
||
|
стр. 162). Представляет также интерес влияние легиро вания и отклонения подложки-катализатора от стехио метрического состава на скорость реакций роста. В за висимости от условий процесса отношение эффективных скоростей реакции на гладкой поверхности и у ступеней и изломов изменяется очень сильно, что проявляется в смене наблюдаемых форм микрорельефа от почти атомнолладкой поверхности к макрофигурам роста.
Другой факт, впервые обнаруженный при исследова нии процессов ГМ 'П — локальная активация катализа тора при выделении на его поверхности капель жидкой фазы (скорость роста вискеров иногда на три-четыре по рядка превышает скорость роста свободной грани крис талла). Тонкие механизмы гетерогенных процессов про являются при воздействии 'внешних полей и излучений, а также при селективном росте на локально-пассивирован ной кристаллической грани. Размер активных участков составляет иногда 3—5 м'км, и такай высокая (в. геомет рическом отношении) избирательность может служить эффективным средством физико-химического исследова ния. Это направление приобретает особое значение, если размер «окон» в пассивной планке будет доведен до 0,1'—0,3 мим, поскольку подложка с таким тонким мас кирующим рисунком эквивалентна так называемому «микрогетерогенному» катализатору, который представ ляет наиболее трудно исследуемую обычными методами, но и наиболее эффективную форму катализатора.
Отметим также, что применение методов газофазной міикрометаллурпии позволило исследовать целый ряд но вых соединений, в частности некоторые низшие галоге ниды германия, сурьмы, полимеры типа (SiCl2)„H 2, где тг^ЛО [віі]. Многие из этих соединений, по-видимому,
78
являются неравновесными, и возможность их образова ния также связана с кинетикой и механизмом гетероген ных стадий.
Одной из особенностей процессов ГМ Л являются ано |
||
мально высокие или аномально низкие значения |
коэф |
|
фициентов распределения при кристаллизации |
твердыхI |
|
растворов и легировании1(Н0. [106],В частности, в системе |
Ge — I |
|
коэффициенты распределения некоторых примесей |
име |
ют величину ниже в системе Ga — Al — коэффициент очистки за одну стадию достигается ІО-5 [Ѳ2].
'С другой стороны, легирование растущих слоев гер мания золотом иодидным методом позволяет достичь зна чительно более высокой концентрации золота в герма
нии, чем при вытягивании монокристаллов из расплава
[107].
Приведенные в этом разделе примеры убедительно доказывают пергаактивность использования кристалли зации из газовой фазы как метода физико-химического исследования. Но работы в этой области носят пока слу чайный и разрозненный характер. Необходимо разрабо тать кинетическую теорию гетерогенных реакций на по верхности монокристалла, в которой учитывались бы также вопросы синтеза полупроводниковых соединений и параллельного протекания нескольких реакций (при вы ращивании твердых растворов и легировании). Но наи более важна с научной и прикладной точек зрения проб лема исследования механизма роста из газовой фазы совершенного кристалла.
МЕХАНИЗМ |
Г л а в а II |
|
РОСТА ИЗ ГАЗОВОЙ ФАЗЫ |
И СТРУКТУРА ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СЛОЕВ
ОСНОВНЫЕ ОСОБЕННОСТИ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ В СИСТЕМАХ ГАЗ—ТВЕРДОЕ
Процессы, лежащие в основе газофазной микромегаллургин полупроводников, имеют ряд принципиальных отличий от «классических» методов кристаллизации из расплава. Рассмотрим кратко важнейшие из них.
/. Скачок плотности на границе раздела фаз (газ —
7 9