Файл: Лурье, Г. Б. Основы технологии абразивной доводочно-притирочной обработки учебник.pdf

мод. 218, выпускаемый московским заводом «Калибр». Измерение отклонении от круглоетп производится .'путем непрерывного ощупывания детали по окружности за одни оборот шпинделя наконечником индуктивного дат­ чика, сигнал которого усиливается и передается на за­ писывающее устройство.

Опоры

Рис. 31. Схемы контроля отклонении формы ци­ линдрических деталей:

а — огранки, С — некруглости, а — профплограмма по­ перечного сечения, г — изогнутости, г'У—иецплппдричности

Общий вид прибора макропрофилографа представ­ лен на рис. 32. На литой чугунной станине / помещены горизонтальный стол 3 и панель управления 2. Па зад­ ней стенке станины имеются (вертикальные направ­ ляющие (формы ласточкина хвоста), по которым пе­ ремещается колонна 8, несущая шпиндельную головку 6 со шпинделем 5 и закрепленным на нем датчиком 4. На передней стенке шпиндельной головки располагается записывающий п.рибор 7.

С помощью электромеханического привода колонна

54

тродвигатель и коробка передач. Диск записывающего прибора вращается синхронно со шпинделем, выпол­ ненным в виде призматической кольцевой опоры каче­ ния и обеспечивающим круговое движение датчика с

время вращения шпинделя. • Запись результатов измерения производится в поляр­

55

положения. Так, например, прибор «Тэл.ироуид 200» предназначен для определения некруглостп, эксцентри­ ситета, неперпеидикулярности торцов оси, непараллельноети плоскостей и т. п. Прибор снабжен специальным электроконтактным датчиком и самозаписывающим уст­ ройством. Прибором можно .измерять детали с наруж­ ным и внутренним диаметром до 152 мм и высотой до 305 мм. При замере обеспечивается увеличение от Х50 до ХЮОО, точность замера от 0,075 до 0,2 мкм. Прибор определяет средний диаметр детали, максималь­ ные отклонения от 'базовой окружности, направленные

ность определяется как полуразность между наибольшим и наименьшим диаметрами поверхности, измеренными двухконтактным прибором не менее чем в двух крайних и среднем сечениях детали. Если имеются огранка с нечет­ ным числом граней и изогнутость, то для косвенного опре_> деления нецилиндричности они измеряются отдельно и суммируются с полуразиостыо наибольшего и наименьше­ го диаметров.

56

опоры

Рис. 34. Схемы измерения погрешности расположения поверхностей

количеству пятен на единицу площади). Измерение непрямолпиейностп и неплоскостности может производить­ ся также с помощью индикаторов п оптических при­ боров.

Н е п а р а л л е л ь и о с т ь п л о с к о с т е и. При кон­ троле детали устанавливают 'базовой поверхностью на

Непараллелы-юсть осей практически определяется как разность расстоянии между осями на заданной длине. Непараллельность и перекос осей могут быть определе­

Если базой является цилиндрическая поверхность, де­

проверяемой поверхности в данном случае вызовет по­ грешность [измерения.

Н е п е р п е н д и к у л я р и о с т ь . Деталь устанавли­ вают базовой поверхностью на поверочной плите. Опре­ деляют на заданной длине разность показаний индика­ тора, перемещающегося перпендикулярно к плоскости плиты (рис. 34,г).

Т о р ц о в о е б и е н и е . Деталь устанавливают ба­ зовой поверхностью и фиксируют в осевом направлении (рис. 34,(3). Определяют разность между наибольшим и наименьшим показателями индикатора, полученными при вращении детали.

Н е с о о с н о с т ь . Несоосность относительно базо­ вой поверхности определяют обычно измерением ради­ ального биения проверяемой поверхности в заданном

58

Является при вращении вала на двух призмах, находя­

деляется разность между наибольшим и наименьшим показаниями индикатора, полученными при повороте де­ тали на полный оборот.

разцов посредством невооруженного глаза пли с по­

руемую поверхность головкой прибора и шероховато­ стями.

К о н т р о л ь ш е р о х о в а т - о с т и в и з у а л ь н ы м м е т о д о м заключается в рассмотрении поверхности либо невооруженным глазом, либо с помощью лупы или

контроля относятся: наглядность, простота и быстрота проверки, а к недостаткам — субъективность оценки, потребность большого количества эталонов, быстрое из­ менение поверхности эталонов. При глазном контроле

казан на рис 35. От лампочки 1 лучи света падают в призму-кубик 2, где разделяются на два направления. Часть лучей проходит через кубик 2, диафрагму 6, сре­ зающую половину поля зрения, попадает на поверхность эталона 5, и, отразившись от'него, возвращается в приз-

59