Файл: Лурье, Г. Б. Основы технологии абразивной доводочно-притирочной обработки учебник.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 123

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

му 2. Отразившись от ее 'гипотенузы, лучи попадают в"объектив 4 и в половине поля зрения окуляра 3 дают изображение поверхности эталона 5. Другая часть лу­ чей направляется гипотенузой тризмы 2 вниз, проходит диафрагму 7 и, отразившись от контролируемой поверх­ ности детали 8, возвращается в призму 2, проходит че­ рез объектив 4 и дает во второй половине окуляра 3 изображение контролируемой поверхности детали, рас­ положенное рядом с изображением поверхности этало­ на. Микроскоп сравнения имеет увеличение 55х и поле зрения 2,8 мм. С помощью микроскопа можно надежно различать шероховатость до 9—10-го классов чистоты,

 

 

 

 

 

 

 

Объективная

оцегь

 

 

 

 

 

 

 

ка

высоты

шероховато­

 

 

 

 

 

 

 

сти с помощью

двойно­

 

 

 

 

 

 

 

го

микроскопа

м е т о ­

 

 

 

 

 

 

 

д о м с в е т о в о г о се­

 

 

 

 

 

 

 

ч е н и я заключается в

 

 

 

 

 

 

 

том, что

узкая

полоска

 

 

 

 

 

 

 

света,

падая

под углом

 

 

 

 

 

 

 

45° на

контролируемую

 

 

 

 

 

 

 

поверхность,

отражает­

 

 

 

 

 

 

 

ся от нее в виде полоски,

 

 

 

 

 

 

 

изогнутой

 

соответствен­

 

 

 

 

 

 

 

но гребешкам

и впади­

/

 

 

 

 

 

 

нам этой

поверхности

 

 

 

 

 

 

(рис. 36),

 

и

становится

 

 

 

 

 

 

 

видимой

через

окуляр.

 

 

 

 

 

 

 

При

помощи

окуляр­

 

 

 

 

 

 

 

ного

микрометрическо­

 

 

 

 

 

 

 

го

винта

 

производится

 

 

 

 

 

 

 

отсчет высоты

шерохо­

Рис. 35.

Оптическая схема микроско­ ватости.

Видимая вы­

 

па

сравнения

МС-48:

 

сота

 

шероховатости

/ — электролампа . 2

разделительная

 

призма,

3

окуляр,

4 — объектив, 5

будет

больше

действи­

эталон,

6,1

диафрагмы .

8 — контролиру­

тельной.

 

Действитель­

 

 

 

е м а я деталь

 

ная

высота

подсчиты-

 

 

 

 

 

 

 

вается

по

формуле

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/?„« = # •

cos 45°,

 

 

 

 

 

где И — высота

микронеровностей.

 

 

 

 

 

 

Замер

высоты

шероховатости

методом

 

световогосе­

чения производится на двойном микроскопе. При про­ верке поверхностей с различной высотой шероховато­ стей 'следует пользоваться различными объективами;

60


прилагаемыми .к прибору. При наличии в поле зрения микроскопа трех и более гребешков отсчет Rmax произ­ водится при установке нити винтового окулярного мик­ ро-метра по касательной не менее чем к двум гребеш­ кам. Двойной микроскоп позволяет измерять шерохо­ ватость в пределах 3—9-го 'классов чистоты.

Рис.

36. Схема двойного

микроскопа

(метод

 

светового сечения)

 

М е т о д

о щ у п ы в а н и я

и г л о й .

Оптико-меха­

нический метод ощупывания иглой заключается в том, что профиль шероховатости обрабатываемой поверхно­ сти воспроизводится на светочувствительной бумаге при достаточно больших его увеличениях. Для этой цели служат оптико-механические профилографы. Действие профилографа заключается в том, что по контролируе­ мой поверхности автоматически перемещается алмазная игла, которая ощупывает шероховатость, перемещаясь вдоль своей оси на высоту этих шероховатостей. Пере­ мещение иглы вдоль ее оси увеличивается в несколько тысяч раз с помощью оптической системы прибора и фиксируется на фотоматериале. Оптико-механические профилографы позволяют замерять шероховатость в пре­ делах 31.1-го- классов чистоты.

61

Электромеханический метод ощупывания иглой за­ ключается в том, что по измеряемой поверхности пере­ мещается специальный электродинамический датчик, со­ стоящий 'из подвижной катушки, скрепленной с иглой, двигающейся в магнитном поле с соприкасающейся по­ верхностью. Так кэповерхность деталей всегда имеет шероховатость, игла и вместе с ней электромагнитная катушка начинают колебаться, при этом в обмотке ка­ тушки возбуждается электродвижущая сила, которая проходит через усилитель. Эта усиленная электродвижу­ щая сила на приборе показывает среднее квадратичное отклонение шероховатостей. Основанные на этом прин­ ципе профилометры конструкции В. М. Киселева и В. С. Чамана позволяют промерять поверхности с шеро­ ховатостью 5—12-го классов чистоты.

Рис. 37. Датчик к профилометру В. М. Киселева

Типичным представителем электродинамических профилометров является прибор конструкции В. М. Ки­ селева мод. КВ-7, который состоит из усилите­ ля, помещенного в пластмассовый корпус, двух датчи-

62


ков типа Б ,и М и электропривода. Датчик типа Б слу­ жит для измерения шероховатости плоских и наружных

поверхностен, датчик

типа М

для измерения

шеро­

ховатости поверхности отверстий.

Механизм

датчика

типа

Б

(рис. 37) собран

на

основании

1 н

закрыт

крышкой 18. На основании /

(уголке)

укреплен

маг­

нит

17

и хвостовик

10,

своей

цилиндрической

частью

входящий в отверстие основания и образующий концен­ трический зазор, в котором помещается катушка 9. Ка­ тушка подвешена на плоских пружинах 5, позволяющих ей свободно перемещаться вверх и вниз. Магнит и хво­ стовик стягиваются винтом 2 и с передней стороны под­ держиваются стойкой И, укрепленной на основании /.

8 нижний конец катушки ввертывается игла 6 с алмаз­ ным острием. При измерении датчик ставится на смен­ ные шаровые опоры 7, укрепленные на мостике <5.

Мостик

крепится

к

скобе

13,

 

 

 

 

 

 

перемещаемой вверх и вниз мик­

 

 

 

 

 

 

рометрическим винтом 14 с лим­

 

 

 

 

 

 

бом

15,

вмонтированным

 

на

 

 

 

 

 

 

крышке

18.

 

Перемещение

опор

 

 

 

 

 

 

необходимо

для

регулирования

 

 

 

 

 

 

вылета

 

иглы 6 и натяга

пружины

 

 

 

 

 

 

5 при

измерении

цилиндрических

 

 

 

 

 

 

поверхностей

 

различных

радиу­

 

 

 

 

 

 

сов. Поворот лимба иа одно де

 

 

 

 

 

 

ление

относительно

риски,

нане­

 

 

 

 

 

 

сенной на штырьке 16, соответст­

 

 

 

 

 

 

вует

выдвижению

иглы

 

на

 

 

 

 

 

 

3,5 мкм. Обмотка подвижной ка­

 

 

 

 

 

 

тушки

 

9

соединена

последова­

 

 

 

 

 

 

тельно с компенсационной

катуш­

 

 

 

 

 

 

кой 12, концы которой подводят­

 

 

 

 

 

 

ся к гетинаксовой панели 4, и со­

Рис.

38.

Схема

ощупы­

единяются

со

 

штепсельным

разъ­

вающей

головки

профи-

емом 3, соединяющим' датчик со

лометра

Чамана:

шнуром

пли

ручкой. 'Катушка

12

/ —

датчик.

1;- —

катушка

компенсирует паразитную э. д. с,

вибратора, 3 — пружина виб­

ратора,

4

— игла, 5—мембра­

наводимую в подвижной

катушке

на, в

катушка

датчика.

9 переменным

магнитным

полем

7

постоянный

магнит

 

 

 

 

 

 

окружающего

пространства.

 

 

 

 

 

 

 

 

Магнитная цепь датчика 1 в

нрофилометре

конст-

рукции

В. С. Чамана

(рис.

38) состоит

из постоянного

магнита

7, хвостовика, на

котором

укреплена

неподвиж

63


пая катушка, подвижного якоря и основания. Эта маг­

нитная цепь включает в

себя два воздушных

зазора,

из которых зазор между

якорем и хвостовиком

меняет­

ся при движении иглы 4 по ощупываемой поверхности. При изменении воздушного зазора .меняется магнитное сопротивление цепи, и в- катушке индуцируется электро­ движущая сила, пропорциональная скорости изменения магнитного потока. Благодаря тому что катушка не­ подвижна, она может быть сделана с очень небольшим

количеством

витков, что позволяет

построить

компакт­

ную усилительную схему.

 

 

 

Профилограф-ирофилометр блочной

конструкции

мод. '201 выпускается

московским

заводом

 

«Калибр».

Вертикальное

увеличение прибора

1000—20 000х , гори­

зонтальное 2—4000х.

Измерительное усилие прибора

0,1 Г, что позволяет измерять в лабораторных

условиях

шероховатость без повреждения поверхности деталей с покрытиями, деталей из цветных металлов, пластмасс и других неметаллических материалов. Прибор позволя­ ет оценить шероховатость поверхности по У?а на базовых

Рис. 39. Схема профнлографа-профнлометра блоч­ ной конструкции завода «Калибр»

длинах от 0,08 до 2,5 мм в пределах 5—14-го классов, когда он используется как профилограф, и :в пределах 5—12-го классов, когда он (Используется в качестве лрофнлометра. Прибор состоит из унифицированных бло­ ков: стойки с кареткой, универсального столика, датчи­ ка, мотопривода, электронного блока с показывающим прибором и записывающего прибора. Действие прибо­ ра основано на принципе ощупывания исследуемой по­ верхности алмазной иглой с радиусом закругления 2—4 или 10—12 мкм и преобразования колебаний иглы в изменения напряжения индуктивным методом.

64