Файл: Немкевич, А. С. Конструирование и расчет печатающих механизмов-1.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 16.10.2024

Просмотров: 84

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

ментации зерен. При этом значительно проявляется рельеф гра­ ниц зерен, связанный с линейными смещениями и разориентировкой границ.

Неравномерность распределения деформационного микро­ рельефа й соответственно запасенной энтальпии деформации в раз­ ных точках вызывает значительную деформационную микроэлектрохимическую гетерогенность вмасштабах как одного зерна так и всей поверхности вследствие действия кристаллографиче­ ского фактора. На электрохимическую неоднородность, обусло­ вленную различиями в кристаллографической ориентации зерен, вышедших на поверхность металла, накладывается деформацион­ ная микроэлектрохимическая неоднородность, вызванная неравно­ мерным распределением деформации внутри зерен и между раз­ личными зернами, имеющими различную ориентацию относи­ тельно направления приложенного напряжения.

На рис. 61 приведена схема, иллюстрирующая рассмотренное положение. В зерне А произошли сдвиги в ограниченной системе

плоскостей скольжения, что привело к значительному уменьше­ нию стандартного электродного потенциала в области выхода на поверхность группы линий скольжения. В зерне В сдвиги

произошли в наиболее слабых местах, и локальный потенциал их также изменился в сторону отрицательных значений. Зерно Б

неблагоприятно ориентировано относительно оси образца (и на­ правления а), поэтому фактор ориентации cos0coscp слишком1

Рис. 61. Схема образования мнкроэлектрохимнческой гетерогенно­ сти деформируемого поликристаллического металла

1 Уместнее здесь было бы употребить термин «субмикроэлектрохимическая гетерогенность»,

173

мал и в зерне сдвигов совсем не было. Скачки потенциала при переходе от зерна к зерну обусловлены различной кристаллогра­ фической ориентацией поверхностей этих зерен. Таким образом, вследствие неравенства

cos 0Л cos срл > cos 0д cos фв > cos 0В cos ф5

возникла значительная микроэлектрохимическая гетерогенность деформированного поликристаллического металла (как в мас­ штабе одного зерна, так и в масштабе всей поверхности).

Для экспериментального выявления неоднородности, связан­ ной с различной ориентацией граней кристаллитов, был выбран химически однородный металл — армко-железо (электроннолу­ чевой выплавки и обычной выплавки), отожженное в вакууме (при 920° С) с целью получения зерен максимального размера. Перед измерениями рабочий шлиф подвергали слабому тра­ влению (2% H N 03 в этиловом спирте) для выявления границ зерен.

Измерения выполняли по микроэлектродной методике (размер

среза

микрокапилляра 0,5— 1,0

мкм), подробно описанной в ра­

боте

[123]. Для исследования

экспериментально был подобран

электролит состава 0,009-н. НС1 + 0,08% Н 20 2 +

0,0001 %К2Сг20 7.

Этот электролит оказался оптимальным для выявления микро-

электрохимической гетерогенности, обусловленной кристалло­

графической ориентацией: измеряемая разность потенциалов

между отдельными зернами максимально приближалась к началь­

ной разности потенциалов. Доказательством является отсутствие

зависимости измеряемой разности потенциалов

от расстояния

между исследуемыми зернами на поверхности шлифа (что ука­ зывает на отсутствие «макропар» в таком электролите) и наличие зависимости только от интенсивности растворения зерен, опре­ деляемой по внешнему виду в поле микроскопа. На рис. 62 пока­ зана поверхность шлифа, прокорродировавшего в разбавленном электролите; видны светлые (медленно растворявшиеся) и потем­ невшие (быстро растворявшиеся) зерна, образующие «микро­ пары».

На рис. 63 и 64 приведены результаты исследования микроэлектрохимической гетерогенности шлифа из отожженного армкожелеза электроннолучевого переплава. При измерениях микро­ электрод последовательно перемещали по прямой линии с шагом 0,05 мм. Сплошные кривые на обоих рисунках характеризуют распределение потенциалов, полученных усреднением в преде­ лах зерен, границы и потемнение которых обозначены на оси абс­ цисс. Максимальная величина Дф достигает 25 мВ и примерно в два раза превышает значение Дф, измеренное на образцах обыч­ ной выплавки (рис. 65). Следовательно, кристаллографическая ориентация граней зерен проявляется в микроэлектро/имической гетерогенности сильнее в случае более чистых материалов.


Локализация деформационного сдвига потенциала нулевого заряда и изменения работы выхода

Выше рассматривался потенциал деформации для одной дисло­ кации или одного дислокационного скопления из п дислокаций.

Вместе с тем на практике всегда измеряют заряд поверхности или работу выхода электрона для макроскопического куска металла. Поэтому важно установить соотношение между локальными и нелокальными процессами, доступными наблюдению.

Основные методы измерения поверхностного заряда твердого металла и работы выхода электрона — соответственно метод дифференциальной емкости и метод контактной разности потен­ циалов (КРП). Эти методы интегральные, т. е. с их помощью измеряют величину электрического тока со всей поверхности об­ разца: в случае метода дифференциальной емкости — тока реак­ тивной проводимости, а в случае КРП — тока термоионной эмис­ сии г.

Вследствие тождественности деформационного сдвига потен­ циала нулевого заряда и деформационного изменения работы, выхода электрона проанализируем нелокальные явления на при­ мере измерения КРП. Интенсивность потока термоионной эмиссии характеризуется формулой Ричардсона:

У = ЛГ2е х р ( - ^ ) ,

' (239)

где Т — абсолютная температура;

 

со„ — работа выхода электрона.

дислока­

Величина работы выхода электрона в окрестности

ции является функцией координат подобно величине потенциала деформации (см. гл.П):

-в**"— = АФ* (г) = Аф„ (г) =

zFn (|хб)2 (Рх+ 2м)

(240)

бея2/-2 (Г— v)2

Следовательно,

локальный ток эмиссии равен:

 

 

(

Д < \

 

 

J

{г) = J exp

=

 

 

=

/ех р [e*Fn (цй)2 (Pi + 2u)/6enV (l — v)2kT~],

(241)

где J — интенсивность эмиссии недеформированной поверхности.

Интегрируя ток эмиссии по всей поверхности образца, опреде­ ляя среднее изменение работы выхода для образца в целом из соотношения / 0бр = J exp (— Aae0cp/kT) и повторяя ход рас-1

1 При измерениях экзоэмиссии в связи с изучением работы выхода также имеют дело с интегральным значением тока.

176


Суждений гл. 'П *, находим

Для достаточно

большой

степени де­

формации и больших дислокационных скоплений:

 

Д«обР = /гД©м — kT In п +

kT In (ДSmN).

 

(242)

Здесь Асом — среднее изменение работы

выхода

в масштабе

одной дислокации, равное

 

 

 

-VO

(243)

Следовательно, с ростом степени деформации и числа дисло­ каций в скоплениях происходит локализация деформационного сдвига потенциала нулевого заряда и изменяется работа выхода электрона так, что деформационное влияние на измеряемые пара­ метры двойного электрохимического слоя и измеряемую работу выхода все более определяется поведением области одного дисло­ кационного скопления. В частности, измеряемая средняя работа выхода образца в целом приближается к локальной величине работы выхода в окрестности дислокационного скопления (не­ смотря на уменьшение числа «активируемых мест» на поверх­ ности) .

Для проверки этого положения измеряли [85 ] дифференциаль­ ную емкость двойного слоя на проволочных образцах стали Св-08, имеющих различную длину рабочей части, при значении потен­ циала —700 мВ (по 2-н. ртутно-сульфатному электроду) 1 в 0,1-н. растворе H 2SO,, (рис. 66). С увеличением степени деформации дифференциальная емкость возрастала.

Изменение потенциала Дер на всех ступенях деформации (кри­

вая 3, рис. 66) происходило в сторону отрицательных

значений

и составляло 70— 100 мВ.

до 10 мм

При увеличении длины рабочей части образцов с 2

(т. е. при увеличении площади ее поверхности в пять раз) общий характер зависимости дифференциальной емкости от степени де­ формации е сохраняется при уменьшении величины АС, однако характер и величина изменения потенциала резко меняются (кри­ вая 4, рис. 66), причем наблюдается большой разброс значений

Для разных образцов. Бесспорным является то, что с увеличением площади поверхности в пять раз абсолютная величина Дф резко уменьшилась.

Сопоставим кривые С = / (е) для образцов с длиной рабочей

части 2 и 10 мм, откладывая по оси ординат емкость, отнесенную

* После усреднения модели нелинейного расширения по азимутальной ко­ ординате в формуле (241) фигурирует лишь расстояние г от оси дислокации, что

в

геометрическом

отношении эквивалентно

осесимметричной модели (гл. II)

с

координатой х,

тождественной координате

г.

1 Анодная поляризация (в области активного растворения железа) подав­ ляла катодные процессы и исключала наводороживание металла.

12 Э. М. Гутман

' 177


С, МкФ

Рис. GG. Зависимость дифференциаль­ ной емкости С и изменения потен­ циала Дф от степени деформации е (в условиях анодной поляризации):

/, 2 — дифференциальная емкость при потенциале—700 мВ и приоста­ навливающемся после деформации значении потенциала соответственно; 3 , 4 — изменение потенциала образца при длине его рабочей части 2 и !0 мм

■Рис. 67. Зависимость диффе­ ренциальной емкости С, отне­ сенной ко всей рабочей по­ верхности образца, от дефор­ мации (в условиях анодной поляризации):

/ — потенциал—700 мВ, обра­ зец с длиной рабочей части 2 мм; 2 — то же, при длине рабочей части 10 мм; 3 — ус­ танавливающийся потенциал; образец с длиной рабочей ча­ сти 2 мм; 4 — то же, при дли­ не рабочей части 10 мм

ко всей рабочей поверхности (рис. 67). Кривые 1 и 3 рис. 67 соответствуют кривым I и 2 рис. 66, а кривые 2, 4 построены по

результатам опыта, в котором изменение Дер характеризуется кривой 4 рис. 66 (длина рабочей части образца 10 мм).

Изменение рабочей площади' недеформированных образцов не влияет на величину емкости, отнесенную к единице поверх­ ности. Разница в значениях полной дифференциальной емкости образцов до деформации соответствует разнице в площадях ра­ бочей поверхности (рис. 67). Однако с увеличением степени де­ формации различие в емкости исчезает (кривые сближаются), что указывает на электрохимическую гетерогенность поверхности.

С этой точки зрения двойной слой реальной поверхности ме­ талла в электролите следует рассматривать как систему парал­ лельно соединенных «конденсаторов», каждый из которых соот­ ветствует отдельному микроучастку поверхности с определенным поверхностным зарядом. Поскольку в целом поверхность образца можно считать эквипотенциальной, различие в ее локальных зарядах связано с различием в емкости «конденсаторов». Поэтому измеряемая макроскопическая дифференциальная емкость опре­ деляется как сумма параллельно соединенных локальных емко­ стей двойного слоя. Согласно теории электрических цепей

178

полная емкость цепи в этом случае определяется главным обра­ зом конденсатором с наиболее высокой емкостью.

Следовательно, сближение измеренных величин емкости с ро­ стом деформации при столь различных площадях поверхности образцов обусловлено деформационной активацией отдельных участков поверхности («конденсаторы» с максимальной емкостью), площадь которых много меньше рабочей поверхности, а число сокращается. В конечном счете (перед разрушением) измеряе­ мая емкость почти полностью определяется емкостью локального участка в зоне разрушения.

Электрохимическая гетерогенность поверхности определяет также величину измеряемого потенциала и его изменение Дер под влиянием деформации. Однако если полная дифференциаль­ ная емкость с увеличением степени деформации становится неза­ висящей от размера рабочей поверхности, то потенциал, а точ­ нее, его сдвиг Дер, существенно зависят от этой величины (кривые 3 и 4, рис. 66). Это связано с тем, что локализация активирован­

ных анодных процессов с ростом деформации увеличивает дей­ ствующую площадь катодов (или менее эффективных анодов), что ведет к уменьшению сдвига стационарного потенциала.

Аналогичная картина наблюдается и в условиях анодной по­ ляризации с той лишь разницей, что вместо катодных участков играют роль неактивируемые дефррмацией участки, которые поддерживают смешанный потенциал неизменным. Естественно, что для образцов с рабочей длиной 10 мм величина Дер на всех ступенях деформации значительно меньше, чем для образцов

сменьшей рабочей площадью, и имеет тенденцию к уменьшению

сростом степени деформации. Именно поэтому заметное (до 100 мВ) разблагораживание потенциала при деформации впервые удалось наблюдать при помощи микроэлектрохимического зонда в вер­ шине искусственного концентратора напряжения [124 ] ,- причем для получения измеримого эффекта неважно, активируется ли металл в вершине концентратора, или там происходит разрушение поверхностных пленок, или оба эти фактора действуют совместно.

2. МИКРОЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКАЯ ГЕТЕРОГЕННОСТЬ СТРУКТУРЫ ДЕФОРМИРОВАННОЙ СТАЛИ

Феррито-перлитная сталь

Материалом для исследования служила сталь 20, отожжен­ ная в вакууме при 1200° С, 10 ч. Распределение электродных потенциалов на поверхности шлифа изучали микроэлектродным методом, описанным в работе [123].

Оптимальным для выявления микроэлектрохимической гете­ рогенности феррито-перлитной структуры оказался электролит состава: 0,0092-н. H 2S 0 4 + 0,14% Н2О2 + 0,00005% К 2Сг20 7.

Микрокапилляр электрода сравнения (срез диаметром менее 1 мкм) заполняли 0,012-н. раствором серной кислоты.

13*

17?