Файл: Власов, А. Г. Методы расчета эмиссионных электронно-оптических систем.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 24.10.2024

Просмотров: 94

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Поскольку измеряемой . величиной является освещенность f (х), формулу (176) естественно рассматривать как интегральное уравнение с ядром типа свертки Q (х— s) относительно искомого сигнала <рх (s). Если ядро и правая часть этого уравнения заданы точно, то оно разрешимо единственным образом. При этом должны

выполняться определенные условия

 

[64].

 

 

 

 

Об алгоритме решения и его устойчивости будет сказано ниже.

Одну из возможных постановок прямой

задачи

электронной

оптики

можно свести к вычислению аппаратной функции Q (х).

 

 

Если учесть,

что аппаратная функ­

 

 

ция нормального прибора представ­

 

 

ляет собой узкий пик, полуширина

 

 

которого в тясычи раз меньше раз­

 

 

меров

поля

 

зрения, то за сигнал,

 

 

задающий

Q

), можно принять

 

 

конечный светлый штрих на катоде,

 

 

причем длина штриха много больше

 

 

ширины, но много меньше размеров

 

 

поля зрения.

Тогда можно вычислить

 

 

изменение функции Q (х) в зависи­

 

 

мости

 

от

положения

штриха

на

 

 

катоде,

т. е. вычислить функцию

Рис. 12.

К определению функ­

Qp, s (х),

где р и s— координаты центра

ции

рассеяния от точки

штриха

в плоскости катода. Если

 

 

при этом знать

зависимость х (р, s)

и у (р, s), то в осесимметричных

приборах этого достаточно,

чтобы

получить представление об изображении обычной штрихо­

вой миры. Пример изображения такой миры приведен на рис.

13.

Так, знание функции Qp, s

(*)

дает

 

ответ на вопрос о разреши­

мости

штрихового дублета

в

произвольной

точке экрана.

 

Часто об оптических свойствах электронно-оптических при­ боров судят по их частотно-контрастным характеристикам. Час­ тотно-контрастная характеристика Н (ѵ) представляет собой мо­

дуль амплитуды в Фурье-разложении аппаратной функции

 

Н (ѵ) = [ Q (х) е~2ліѵх dx

(177)

Поэтому знание аппаратной функции несет в себе, вообще го­ воря, более полную информацию о приборе и позволяет решать более общие задачи определения его возможностей, чем при ис­ пользовании частотно-контрастной характеристики. Это особенно верно по отношению к задачам об устойчивости свойств изобра­ жения, создаваемого прибором, по отношению к шумам сигнала, прибора и приемника. Подробнее значение аппаратной функции для проблем передачи и преобразования информации современ­ ными электронно-эмиссионными приборами рассмотрено в ра­ боте [5].

56


Самую полную информацию о свойствах изображения, созда­ ваемого прибором, дает функция, описывающая распределение освещенности в изображении точечного источника света. В эмис­ сионных системах она однозначно определяется функцией, опи­ сывающей на экране рассеяние электронов, испускаемых точеч­ ным эмиттером (функция рассеяния от точки).

Рис. 13. Пример изображения штриховой миры

Из сказанного с очевидностью вытекает, что с помощью функ­ ции рассеяния нетрудно вычислить и одномерную аппаратную функцию и, тем более, частотно-контрастную характеристику.

Функция рассеяния от точки [обозначим ее S (х, у) ] пред­ ставляет собой обобщение аппаратной функции для двумерного случая. С ее помощью для каждого положения точечного эмиттера, характеризуемого координатами р и s, можно написать двумер­ ный аналог уравнения (176)

00СО

00 — 00

Таким образом, главный этап решения прямой электронно­ оптической задачи в общей постановке может быть сведен к вычис­ лению функций рассеяния от точечных эмиттеров, равномерно распределенных на поверхности катода.

57

После того как функция рассеяния, т. е. двумерная или одно­ мерная (в зависимости от требований эксперимента) аппаратная функция, вычислена, можно с помощью уравнения (178) или (176) вычислить идеализированную освещенность от характерной миры. Эти же уравнения позволяют ставить и решать более общие за­ дачи — например, вопрос об общем восстановлении первоначаль­ ного оптического спектра в зависимости от экспериментальных возможностей измерения освещенности f (х).

Вычислить функцию рассеяния можно, проинтегрировав урав­ нения движения электронов, эмиттируемых из точек, и зная функции распределения начатьных скоростей по величине и направлению. Эти функции являются индивидуальной характе­ ристикой катода, зависят от многих параметров и об их опреде­ лении по экспериментально потученным оптическим характерис­ тикам катода будет сказано в § 10— 12.

Если известна, например, функция распределения электронов по величине начальной скорости [обозначим ее Р (и)], то вели­ чину начальной скорости для каждой траектории пучка, исходя­ щего из одной точки, можно выбрать следующим образом. Весь интервал изменения скорости (0, ѵт), где ѵт — максимальная скорость, разбивается на равные промежутки — величины hk. Пусть ѵк — координата центра k-vo промежутка. Тогда число частиц, имеющих начальную скорость vk, задано величиной N x = = Е [NP (vk) hv], где N — полное число траекторий, исходящих из данной точки; Р (vk) считается нормированной на единицу, а Е означает целую часть числа, стоящего в скобках. Аналогично, если О — угол между направлением начальной скорости элек­ трона и нормалью к катоду, а Т (О) — нормированная на единицу функция распределения по углам Ф, то число траекторий с задан­ ным начальным направлением ^ может быть определено по фор­ муле А 2 = Е [NXT (&k) hft). Здесь h$ = n / 2 N Наконец, так же определяется и число траекторий, имеющих заданное началь­ ное значение третьей сферической координаты — азимутального угла ф . Если обозначить его через N s, а функцию распределения по азимутальному углу через Н [ф і, то N 3 = Е [N2H (ф ) /іф ].

Вычисление всех траекторий пучка, исходящего из одной фик­ сированной точки, определяет координаты точек пересечения их с поверхностью экрана. Теория устойчивости уравнения (178) позволяет оценить погрешность, задаваемую аппаратной функ­ цией в зависимости от «шумов» приемника и требуемой точности восстановления сигнала.

Фигуру рассеяния можно разбить на ячейки, величина кото­ рых определяется оценкой погрешности аппаратной функции. Число траекторий, проходящих через каждую ячейку, при соот­ ветствующей нормировке совпадает с усредненным по ячейке зна­ чением аппаратной функции. Так можно вычислить, например, некоторую ступенчатую функцию, приближающую аппаратную функцию Ss, р (х — s, у — р).

58


Функцию рассеяния, приближенно вычисленную в точках методом расчета траекторий, можно приблизить и посредством

гладкой кривой, например полиномом [35],

хотя

это

отнюдь

не всегда увеличивает устойчивость решения

(178)

или

(176),

а даже может уменьшить ее, как это будет показано в § 9. Однако приближение аппаратной функции гладкой кривой целесообразно, если рассматривать, например, выражение (176) как равенство для вычисления освещенности в изображении миры. Это же заме­ чание справедливо для вычисления частотно-контрастной харак­ теристики.

Некоторые оптические параметры электронного изображения, создаваемого идеализированным прибором, можно определить, даже зная функцию рассеяния очень приблизительно. К таким параметрам относятся не только геометрические искажения изо­ бражения, но и число пар черно-белых штрихов, разрешаемых в поле зрения на единицу длины. Еще раз отметим, что под тер­ мином «идеализированный» мы, как и раньше, подразумеваем прибор, в котором не учитываются физические свойства эмиттера, усиливающих устройств и приемника, а также погрешности в измерении выходного сигнала.

Чтобы определить оптические параметры, для которых не тре­ буется очень точного вычисления аппаратной функции, достаточно найти всего несколько характерных траекторий пучка со спе­ циально выбранными начальными условиями (в § 10, 12 и 13 мы подробно остановимся на этом). Эти траектории, пересекая поверх­ ность экрана, намечают характерные точки фигуры рассеяния. В следующей главе мы покажем, как можно, исходя из других физических соображений, привлекая теорию аберраций, полу­ чить настолько полную информацию о функции рассеяния прибора, чтобы достаточно точно для вышеупомянутых целей восстановить ее по точкам, намеченным характерными траекто­ риями.

Метод вычисления оптических аберраций, как вытекает из сказанного, очень важен, но в обычной форме он был неприменим для катодных линз (см. введение). Однако в последнее время разработка специальной теории аберраций катодных линз про­ двинулась далеко вперед.

§7. Интегрирование уравнений движения частицы

вэмиссионных осесимметричных электронно-оптических системах

Интегрирование уравнений движения мы рассматриваем в осесимметричном случае, поскольку он не только представляет наибольший практический интерес, но и содержит все характерные трудности, встречающиеся при расчете эмиссионных систем [16]. Распространение полученных выводов на произвольный трехмер­ ный случай не встречает принципиальных методических препят­ ствий.

59



Запись уравнений в безразмерной форме. Уравнения движения в полях с осевой симметрией имеют вид [55 ]

т

■■

дО

т ■■

дО

т •

А

. С

(179)

г = -5г-\

— Г = ^ - \

— ф =

----- ----

е

 

dz

е

дг

е т

г

г2

 

где функция Q (z,

г) определяется равенством

 

 

 

<3 (z, r) =

V (z, г) ~

(г, г)---- £ -]2.

 

Здесь z, г и ер — координаты электрона в цилиндрической системе (за ось Oz выбрана ось симметрии), а е~и т — его заряд и масса;

V — скалярный

потенциал; А — азимутальная составляющая

вектора потенциала магнитного поля.

Постоянная

С определяется формулой

 

С =

б)Фо r<A(z0) rü),

где z0 и rQ— координаты; ф0 — угловая скорость электрона в на­ чальный момент времени.

При численных расчетах целесообразно в уравнениях (179)

перейти к безразмерным величинам. Положим

 

t

rj

2

/*

I

H

т = Т ~’

 

 

 

h==~H

 

a

г, V

 

, , on,

 

7ЦГ

U ~~V^’

 

( 80)

где H 0 — некая фиксированная (например, максимальная) вели­ чина напряженности магнитного поля; Ѵ0— разность потенциа­ лов между анодом и катодом; характерное время Т = 2шпІеН0— период вращения электрона в однородном магнитном поле напря­ женностью # 0; F — единица длины, определяемая по формуле

F = 2л2Ѵ0

(181)

I — расстояние от анода до катода.

Во введенных выше безразмерных единицах уравнения (179)

принимают вид

 

 

 

 

 

 

 

z ;t =

2L ~

 

+ 2я/?ф'Ад;

(182)

Ят

2L

дЦ

2яі?ф hz -f R (ф )2;

(183)

 

 

dR

 

 

 

 

Фт =

я (Z, К) +

~

Фо

-a(0, R0)

(184)

 

60