Файл: Власов, А. Г. Методы расчета эмиссионных электронно-оптических систем.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 24.10.2024
Просмотров: 97
Скачиваний: 0
Численный процесс интегрирования. Интегрирование уравне ний (182) обычно производят по одной из стандартных программ для такого рода задач, например методом Рунге—Кутта или ме тодом Штермера [33]. Шаг интегрирования выбирается автомати чески или задается вычислителем по заданной погрешности вы числения координат частицы. Так, на некотором отрезке траек тории вычисление ее производят два раза: с шагом бт и с шагом Ѵа бт. Если результаты совпали с требуемой точностью, то шаг бт принимают за шаг интегрирования на том участке изменения текущей переменной, на котором проводилось испытание. В про тивном случае выбирают меньший шаг, и процесс повторяют. Удобно строить программу таким образом, чтобы машина выдавала значения не только вычисляемых координат частицы, но и их производных. Совершенно необходимо в процессе интегрирования контролировать соблюдение закона сохранения энергии частицы. В безразмерной форме, где все физические величины определены согласно (180), этот закон принимает вид
R 2 ± z ' 2 + (Ry')2 = vl + U, |
(194) |
где абсолютная величина начальной скорости в безразмерных единицах вычисляется по формуле [16]
(195)
Здесь е — начальная энергия частицы, а остальные величины обозначены так же, как в выражениях (179)—(182). Выполнять условие (194) весьма важно. Поэтому для повышения точности вычисления траектории целесообразно прибегать к следующему приему: величину Z' определять на каждом шаге интегрирования из (194) и лишь после этого продолжать процесс интегрирования (182), используя на каждом следующем шаге его только что полу ченную величину.
§ 8. Приближенное вычисление функции распределения по углам и энергиям в катодных линзах
Для интегрирования уравнений движения необходимо задать начальные скорости частиц. А чтобы сделать это, нужно знать функции распределения их по направлениям и скоростям.
К хорошему совпадению с экспериментом [81, 84, 78] приво дит предположение о том, что н а п р а в л е н и я вылета частиц подчиняются закону Ламберта, т. е. что вероятность вылета час тицы в телесном угле da под углом О к нормали, опущенной на поверхность катода в точку вылета, пропорциональна cos 0 dco. В дальнейшем угол # будем называть углом вылета частицы. Если все направления вылета, лежащие в угловом интервале (б1, 'ö'-f-d'ö), заполняют конический слой, соответствующий телесному углу
66
2л sin # dd, то dN$ — полное число частиц, скорость которых направлена под углом & к катоду, — вычисляется по формуле
dNff = лС sin |
26' |
dft, |
(196) |
где С — постоянная, определяемая |
из |
условия нормировки |
пол |
ной функции распределения плотности катодного тока. |
|
Подробнее этот вопрос рассмотрен ниже в этом параграфе. Что же касается функции распределения по абсолютной вели чине с к о р о с т и , то она зависит в каждом конкретном случае от материала фотокатода, толщины фотослоя, спектрального состава падающего на катод света, а также от некоторых других факторов и является, таким образом, индивидуальной характе ристикой катода и оптической системы, проецирующей на него изображение предмета.
Поэтому при исследовании свойств электронно-оптического прибора функцию распределения приходится находить экспери ментально, используя тот же катод и ту же оптическую систему, что и в самом приборе. В литературе [41, 81, 84, 78] описаны спо собы определения функции распределения на специально постро енных лабораторных установках. Однако имеется возможность определить функцию распределения с помощью самого прибора или электронно-оптической скамьи, без конструирования спе циальной установки. Действительно, экспериментатор, работа ющий с электронными приборами, часто измеряет величины, кото рые математически могут быть связаны с функцией распределения фотоэлектронов по энергиям посредством интегрального уравне ния. Такими величинами являются, например, анодный ток и освещенность электронно-оптического изображения. Решение соответствующего интегрального уравнения и позволяет опре делить функцию распределения.
Предложен [17], например, метод получения и математичес кой обработки кривых распределения освещенности для вычисле ния функций распределения и максимальной энергии вылета фотоэлектронов. Ниже представлены результаты применения этого метода к частному случаю плоского конденсатора.
Определение функции распределения фотоэлектронов по энер гиям проводится с помощью электронно-оптической скамьи. Одно родное электростатическое поле создается плоским конденсато ром, к пластинам которого подводится высокое напряжение. Одна из пластин конденсатора представляет собой серебряно калиевый фотокатод, другая — металлизированный флюорес цирующий экран. На центральную часть фотокатода репродук ционным объективом проецируется равномерно освещенная щель. Электроны, вылетающие с фотокатода, попадают на экран и соз дают на нем неравномерно освещенную полосу, которая фотогра фируется. Фотометрирование пленки и построение характеристи ческой кривой позволяют найти распределение освещенности эк рана вдоль оси, проходящей через его центр и направленной
5* |
67 |
перпендикулярно к щели. Как известно, при малых плотностях тока возбуждения люминофора (порядка ІО-10 — 10~6 А/см2) свечение экрана пропорционально плотности тока. Таким обра зом, в пределах погрешности эксперимента мы можем найти рас пределение плотности фототока в плоскости экрана.
Обратимся к рис. 14, на котором совмещены плоскости катода и анода. Выделим на аноде площадку d S x на расстоянии л: от цен-
У |
тра |
щели, причем |
все |
расстоя |
|||
ния |
будем измерять в плоско |
||||||
|
сти |
чертежа. На эту площадку |
|||||
|
попадают |
электроны |
со |
всех |
|||
|
участков |
щели |
(ширина |
щели |
|||
|
2h), |
лежащих |
на |
расстоянии |
|||
|
г |
/-шах |
от dS ѵ |
Каждый эле |
|||
|
мент dS заштрихованного участ |
||||||
|
ка щели |
можно |
рассматривать |
||||
|
как точечный источник, посы |
||||||
|
лающий на dSi фототок. Плот |
||||||
|
ность тока, созданная этим |
||||||
|
элементом в точке х, выразится |
||||||
|
формулой |
dN$ |
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
||
уравнения |
|
|
І (r) — |
|
dr’ |
№ |
|
где г —• расстояние от элемента |
dS до элемента |
dSx; ft — угол |
вылета, т. е. угол между направлением начальной скорости элек трона и направлением нормали к катоду.
Плотность тока в точке х, создаваемую всеми электронами с фиксированной скоростью ѵ, получаем, проинтегрировав плот ность тока, создаваемую элементом dS по всей площади щели, посылающей электроны в точку х. Эту плотность, обозначенную через CS (и, х), выражаем формулой
|
р р |
dNQ |
|
CS (v, х) = |
J J |
- ^ r dS, |
(1981 |
|
5 |
|
|
где С взята из формулы (196), а область интегрирования S пока |
|||
зана на рисунке штриховкой. |
|
|
|
Полная плотность тока в точке х определится формулой |
|
||
ѵт |
|
|
|
J (х) — С [ |
S{v, |
x)P(v)do, |
(199) |
x—h |
|
|
|
~k~ |
|
|
|
где P (о) — нормированная функция распределения электронов по скоростям; ѵт— максимальная скорость вылета электронов
68
с катода; h — полуширина щели; k — постоянная; —^------
минимальная скорость, при которой электроны еще могут достиг нуть точки X при условии ■0 = я /2. При X < h нижний предел интегрирования равен нулю.
Полная плотность тока J (х) задана графически, и задача вы числения Р (V) сводится, очевидно, к решению интегрального уравнения (199). Методы решения последнего известны 1171.
§9. Восстановление оптического сигнала по электронному изображению
В§ б уже говорилось о том, что если мы вынуждены учитывать случайные погрешности, возникающие при передаче и приеме сигнала, то освещенность электронного изображения миры уже нельзя определить простым вычислением интеграла (176) и его приходится рассматривать как интегральное уравнение относи тельно искомого сигнала \
Знания параметров идеализированной электронной линзы уже недостаточно для того, чтобы с требуемой точностью восста новить первоначальный оптический сигнал. Электронный прибор в этом случае приходится использовать в едином комплексе с элек тронно-вычислительной машиной, запрограммированной на реше ние уравнения (176). Использование в таком комплексе значи тельно расширяет возможности электронных линз как прибора для преобразования н передачи информации. В частности, при дополнительной обработке электронного изображения значи тельно повышается число оптических линий, которое можно раз решить на фотокатоде эмиссионной системы.
Если рассматривать электронную линзу как звено единого комплекса, предназначенного для передачи и преобразования информации и включающего в себя ЭВМ (электронно-вычислитель ную машину), то следует по-иному подойти и к трактовке многих оптических характеристик самой линзы. Так, под разрешаемым расстоянием в этом случае надо понимать расстояние между лини ями дублета, причем подразумевается, что форма линий известна, а дублет можно разрешить на выходе из ЭВМ. Уровень и характер шумов всех устройств при этом заданы, известны также аппарат ная функция и алгоритм восстановления сигнала.
Алгоритм восстановления. Перейдем к математической поста новке задачи восстановления оптического сигнала. Для простоты рассмотрения остановимся пока на сигналах, помещенных в цен тральную часть катода, т. е. отвлечемся от зависимости аппарат ной функции o r положения сигнала на катоде и будем считать и ее, и сигнал симметричными относительно центра поля зрения.
1 В этом параграфе мы ограничиваемся для простоты рассмотрением одно мерных сигналов-спектров.
69