Файл: Власов, А. Г. Методы расчета эмиссионных электронно-оптических систем.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 24.10.2024

Просмотров: 87

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

В этой сравнительно малой области электрическое поле можно

считать однородным

и

имеющим потенциал Ѵ0 + Е 0 АZ,

где

Е 0 = Е (Z0). Тогда,

найдя

приращение Ат с помощью выраже­

ния (339) и подставив его в формулу (347), получим

 

d(Z) =

2а

AZ

(348)

 

 

V T

VVb + VV9 + Et bZ '

 

Если в формуле (339) k = m, то она дает величину отрезка времени, затраченного на пролет всей линзы электроном, вы­

летевшим из точки (О, R „).

Изменяя величину отношения Ѵ0/Н 2 =

= у2, нетрудно добиться,

чтобы при k

= пг соблюдалось условие

т = 1. В этом случае две траектории,

вышедшие с катода

в на­

правлении г и —г, сойдутся на экране. Тогда значение у

2, при

котором электроны фокусируются на экране в указанном выше смысле, определим по формуле

 

 

2

е

(349)

 

 

V

2л2т 12МІ,

 

_

 

т

 

М,

J _ ѵ т _____ 1

(350)

 

т Z j іЛ л -4-

 

 

 

VVi + VVi +i

 

а остальные обозначения имеют такой же смысл, что и в формулах (331) и (332). Параметр М 0 зависит только от распределения элек­ тростатического поля вдоль образующей цилиндра с радиусом R 0, поэтому назовем его ф а к т о р о м ф о р м ы п о л я Л4(-^о)> Таким образом, ускоряющий потенциал, который должен сфоку­ сировать на экране электроны, вылетевшие на расстоянии R 0 от оси в однородном магнитном поле напряженностью Н, опреде­ ляется из (349)

V°(R») = €

&

M °-

(351)

Электронам, вылетевшим на расстоянии R 1 ot о с и ,

потребуется

ускоряющее напряжение Ѵ1 =

Ѵ0 +

А У

 

Еі

еНЧ2

мі,

(352)

 

2л2т

 

 

 

где М X= М г (R1) = М 0 + AM.

Для полей, достаточно близких к однородным, величина AM остается малой по всему полю зрения, и тогда

AV(Ro)

2 AM ( R 0)

(353)

Т0

М0

 

Формула (353) определяет величину перефокусирующего по­ тенциала, с помощью которого на опыте можно найти кривизну изображения в таких приборах.

666

133


Если ускоряющее напряжение Ѵ0 (нами

принято

Ѵ0 = 1),

то Z* (R) = Z0 + AZ— координата пересечения траекторий, вы­

шедших на расстоянии R от оси, определится, как следует из

выражений (337), (338) и (350), соотношением

 

 

z*

= \ & \TL.M(R) +

 

 

Г

(354)

J 2 V l Y V ( Z )

Ѵ

Ѵ

2 V L

к

о

 

 

 

 

Учтя, что М 0 У"Ь = 1, получим

из

последней формулы

 

AZ + 2 / L M°~v^ W

=

2 УЬ

(355)

или

 

AZ = 2L AM.

(356)

у в

 

ГС учетом формулы (353)

A Z = / L - ^ - .

(357)

“ ГJ \

Рис. 39. Электростатическая си­ стема, моделирующая поля, близкие к однородным

Вариант

Потенциалы

на кольцах

 

а

0,272

0,545

0,726

0,909

б

0,040

0.280

0,520

0,760

ѳ

0.11 1

0,333

0,555

0,777

Последняя формула непосредст­ венно связывает кривизну изображе­ ния с перефокусирующим потен­ циалом, а предыдущая формула дает "критерий теоретического выбора си­ стемы с наименьшей кривизной изо­ бражения. Фактор формы поля

M{R)

надо вычислить в ряде

точек

R о,

R 1, R 2, ■•

Ядъ после

чего

можно составить

функцию

 

 

N

 

 

 

s = %

[AM (Я,)]2.

(358)

 

і—0

 

 

Легко показать, что в строго однородных полях М — 1. Отсюда

сочевидностью вытекает, что следует отбирать такие поля, в ко­ торых М близко к единице (критерий однородности поля), а из них наилучшим является поле, для которого функция S принимает наименьшее значение.

Как показывает сравнение теоретических данных с эксперимен­ тальными, приведенные выше рассуждения, остаются верными для величин М, отличающихся от единицы на 10— 15%.

Пример формы электродов электростатической системы, на которой могут быть смоделированы близкие к однородным электро­ статические поля, приведен на рис. 39. На этом же рисунке пока­ зана поверхность изображения в различных случаях, вычисленная

спомощью формулы (356) по полученным на электроинтеграторе

значениям потенциала и вычисленным значениям фактора формы поля. По формуле (358) найдена функция S для всех рассмотрен-

134


ных

вариантов.

Оказалось, что для вариантов

«а» и «б» ДМ с

{і =

1, 2, . . .)

имеют различные знаки, что

свидетельствует

о наличии разного знака кривизны изображения, а для варианта «в» функция S имеет наи-

меньшее значение, т. е.

 

 

 

 

 

 

Та б ли ца

согласно приведенной

вы­

 

К

определению кривизны

изображения

ше теории вариант

«в»

В ари ан т «а»

В ариан т «б»

В ариан т «в»

должен обладать наимень­

| 1

 

 

 

 

 

 

шей кривизной изображе­

к

 

 

 

 

 

 

Рассто

отоси

 

 

 

 

 

 

ния.

 

 

э

т

э

т

э

т

В таблице для сравне­

 

 

 

 

 

 

 

 

ния приведены теоретиче­

 

 

 

 

 

 

 

 

ские и экспериментальные

 

0

0

0

0

0

0

0

значения

относительных

 

5

0

0

0

0,01

0

0

перефокусирующих потен­

10

— 0 ,0 3

— 0,01

0,01

0 ,0 2

0

0

циалов (AVIV), взятые для

15 — 0 ,0 3 — 0 ,0 2 0 ,0 3 0 ,0 3

0

0

случая фокусировки

лу­

2 0

— 0 ,0 6

— 0 ,0 4

0 ,0 4

0 ,0 5

0,01

0,01

чей, лежащих в меридио­

 

 

 

 

 

 

 

 

нальной плоскости на эк­

25

— 0 ,0 7

— 0 ,0 6

0,0 7

0 ,0 8

0 ,0 2

0 ,0 2

ранах систем, соответст­

30

— 0 ,0 9

— 0 ,0 8

0 ,1 0

0 ,1 3

0 ,0 2

0 ,0 3

вующих

вариантам

«а»,

35

— 0 ,1 3

— 0 ,14

0 ,2 0

0 ,0 2

0 ,0 5

«б» и «в». Разрешающая

 

 

 

 

 

 

 

 

способность системы пока­

П р и м е ч а н и е : э—экспериментальные дан­

зана на рис. 40. Из рас­

ные;

т—теоретическая

величина.

 

 

смотрения

этих кривых

 

 

 

 

 

 

 

 

видно, что кривизна изображения является наиболее существенной аберрацией в подобных электронно-оптических системах.

Приведем в качестве примеров еще несколько магнитных си­ стем, поле которых приближается к однородному на участке,

N, ш т р ./мм

Рис. 40. Разрешающая способность в сагит­ тальной и меридио­ нальной плоскостях

составляющем значительную часть длины линзы. Эти системы рассчитаны тем же методом, что и система, приведенная на рис. 27, т. е. методом минимизации функционала (310). Магниты рассчи­ таны для фокусировки электронов совместно с ускоряющим элек­

135


тростатическим полем, близким к однородному в рассмотренном выше смысле.

На рис. 41 приведена система бронированных катушек, заклю­ ченных в общий кожух и рассчитанных так же, как и система, изображенная на рис. 33 и предназначения для реализации одно­ родного поля. График напряженности поля системы приведен на рис. 42. За единицу длины принят внутренний радиус магнитов.

Рис. 41. Система бронированных

Рис. 42. Напряженность магнит­

катушек, реализующая одно­

ного поля на оси

системы бро­

родное магнитное поле

нированных

катушек

Г 1

ш ш ш ж в

0

z

ш///тш;тумгшлл

Рис. 43. Сечение системы постоянных маг­

Рис. 44.

Напряженность маг­

нитов, реализующих на оси однородное поле

нитного

поля на оси системы

 

постоянных магнитов

На рис. 43 приведено сечение системы постоянных магнитов, предназначенных для той же цели. Варьируется лишь их на­ магниченность, которая также рассчитана минимизацией выра­ жения типа (310). На рис. 44 показана напряженность поля этой системы. За единицу длины, как и на рис. 42, принят внутренний радиус магнитов.

ГЛАВА VI

РАСЧЕТ ЭМИССИОННЫХ СИСТЕМ В СЛУЧАЕ СИЛЬНЫХ КАТОДНЫ Х ТОКОВ

§ 2 0 . О бщ ая х а р а к т ер и с т и к а м е т о д о в р а с ч ет а

Расчет эмиссионных систем включает в себя большой класс задач, решение которых требует учета пространственного заряда. Это — задачи расчета систем, использующих плотные потоки заряженных частиц.

Проблема использования плотных электронных потоков и управления ими возникает в первую очередь при использовании эмиссионных приборов в качестве звена многоканальной системы, предназначенной для передачи оптической информации. Много­ каскадные усилители и преобразователи света, будучи применены для этой цели, хотя и дают большую интенсивность светового потока с экрана, но при многократном усилении сигнала поро­ ждают дополнительные шумы, что заставляет решать чрезвы­ чайно сложную дополнительную задачу выделения первоначаль­ ной информации.

Сказанное диктует применение единого комплекса: эмиссионная система — ЭВМ. Методы расчета таких приборов уже упомина­ лись нами в § 6 и 9. Существует некоторое оптимальное число каскадов усиления, превышение которого лишь затрудняет выде­ ление полезного сигнала. Поэтому при использовании эмиссион­ ных электронно-оптических приборов в многоканальных системах передачи и преобразования информации требуется для передачи достаточного количества ее по каждому каналу использовать катодный ток большой плотности.

В этом случае при расчете параметров изображения электронно­ оптической эмиссионной линзы приходится учитывать взаимодей­ ствие электронов в пучке и перераспределение поверхностной плотности заряда на управляющих электродах под влиянием пространственного заряда. А это означает, что прямая задача электронной оптики должна ставиться как самосогласованная.

Если мы имеем дело с быстро меняющимся режимом управле­ ния пучком (характерное время изменения краевых условий сравнимо со временем пролета частиц), то задача становится еще и нестационарной. Такая постановка требуется, например, при расчете некоторых типов радиоламп.

137


В эмиссионных системах учитывать действие пространственного заряда особенно важно. В прикатодной области даже при сравни­ тельно небольшой плотности катодного тока может вследствие близкой к нулю начальной скорости частиц скопиться объемный заряд, который значительно искажает ход траекторий, а в неко­ торых случаях даже запирает систему. В этом еще раз проявляется основная характерная трудность расчета и конструирования эмиссионных систем — неустойчивость движения частиц в при­ катодной области.

Точное интегрирование уравнений движения физических за­ ряженных частиц с учетом их взаимодействия и статистического распределения начальных скоростей требует настолько большого объема вычислений, что представляет собой практически нераз­ решимую задачу. Поэтому для расчета эмиссионных систем, использующих плотные потоки частиц, применяют лишь алго­ ритмы, приближенно моделирующие физический процесс и учи­ тывающие главным образом только ту сторону явления, которая интересует расчетчика. Ни один из разработанных в настоящее время методов не позволяет учесть с равной полнотой и точностью все эффекты, создаваемые действием пространственного заряда.

В данной главе мы отметим лишь некоторые из тех направле­ ний математического моделирования процессов взаимодействия частиц в плотных заряженных потоках, которые применяются для практических расчетов эмиссионных систем.

Прежде всего следует остановиться на методах, рассматрива­ ющих заряженный поток как непрерывную среду, между элемен­ тами объема которой действуют электромагнитные силы. Это так называемые м е т о д ы м а г н и т н о й г и д р о д и н а м и к и .

При их использовании подразумевается, что скорость элемента объема среды — однозначная функция координаты. Эти методы и различные их уточненные модификации достаточно точны для определения общей формы потока частиц и для распределения средней по времени плотности заряда внутри потока. Но они, разумеется, полностью исключают возможность вычисления как оптических эффектов, т. е. оптических характеристик электрон­ ного изображения, так и информационных характеристик, свя­ занных с дискретностью процесса эмиссии.

Таким образом, эти методы могут оказаться достаточно точ­ ными для расчета электронных пушек или радиоламп; большое значение имеют они в качестве этапа некоего итерационного процесса и при расчете электронно-оптических систем со стацио­ нарными граничными условиями. Так, они позволяют вычислять приближенное распределение плотности пространственного за­ ряда, которое используется затем в точных уравнениях движения отдельной частицы. Подробнее этот этап будет описан в § 22.

Труднее учесть оптические характеристики при нестационар­ ных процессах, а также при больших плотностях частиц в отдель­ ных точках рабочего объема системы. Итерационные процессы

138