Файл: Григоришин, И. Л. Моделирование электроннооптических систем на сетках сопротивлений.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 31.10.2024

Просмотров: 51

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

вдоль линий сетки потенциал между двумя соседними узловыми точками изменяется линейно. Если на границе, например в точке 4 (рис. 1.8, а), задано значение потен­ циала U4, а граничным контуром стандартный шаг сетки делится в отношении С/D, то, чтобы обеспечить потен­ циал 1Ц в точке 4, необходимо задать в точке 4' потен­

циал Ш’ '■

uv = «4 + — («4— q>4»):

(1 •51)

Поскольку вначале значение потенциала ср4» во внутрен­ ней узловой точке неизвестно, значение потенциала щ> может быть найдено методом последовательных прибли­ жений, суть которого в данном случае заключается в том,

Рис. 1.8. Реализация граничного контура на сетке сопротивлений

а*

85

что сначала в точке 4' задается известный потенциал 1Ц,

а затем, после измерения потенциала ф4" , по (1.51) вы­ числяется значение потенциала ыц . Процесс повторяется до тех пор, пока в п и п + 1-м приближениях значения 1Ц>

не совпадут с заданной точностью.

Другой, практически более удобный метод предусмат­ ривает «смещение» внешних узловых точек 4' и 5' сет­ ки сопротивлений соответственно в точки 4 и 5, лежа­ щие на пересечении контура с линиями сетки. Очевид­

но, что для сохранения

расстояния между точками 4"

и 4

сопротивление между узлами

сетки 4" и 4' долж­

но быть установлено

С

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ri — Ro С -!

D

 

 

Это

достигается

шунтированием

стандартного

сопро-

тивлення сетки R0 сопротивлением

С

 

Rm = Ro — , как пока­

зано

на рпс. 1.8, б. Последний метод позволяет зада­

вать

на сетке

сопротивлений

любой криволинейный

контур

моделируемой

электроннооптической

системы

простыми техническими средствами.

 

При

моделировании

полей

электронных вакуумных

приборов граничными условиями могут быть:

 

1) заданное

распределение

потенциала на электро­

дах (контуре) электроннооптнческой системы (I краевая задача):

ф|Гр = ил (/> = 1 , 2 , 3 ............л);

2) заданное на контуре значение нормальной произ­ водной потенциала (II краевая задача):

дер

= ^ (Н ;

дп

3) заданная линейная комбинация потенциальной функции и ее нормальной производной (III краевая за­ дача) :

U p + ^2 (Г)

(П>

 

где F2(Г) и F s (Г) —

известные

функции.

При расчете

электроннооптнческнх

систем

чаще всего

решается I

36'


краевая задача, т. е. заданы потенциалы на электродах. Реализация граничных условий на сетке сопротивлений

•сводится в этом случае к заданию в узловые точки потен­ циала, пропорционального значениям потенциала в сход­ ственных точках электродов системы.

Граничные условия II и III рода возникают при реше­ нии задач синтеза электроннооптических систем [28, 61, 62] и, как известно [14], реализуются па сетке путем вве­ дения в узлы пропорциональных значений токов. Случаи граничных условий с нулевым значением нормальной про­ изводной встречаются при моделировании электроннооптических систем, обладающих помимо симметрии, кото­ рая позволяет рассматривать их как двумерные и выпол­ нять их моделирование на плоских сетках сопротивлений, еще н симметрией относительно средней плоскости или периодической симметрией. Поскольку моделируемая об­ ласть электроинооптической системы размещается на сетке сопротивлений произвольно, ее можно разместить

•гак, чтобы линия пересечения плоскости симметрии с пло­ скостью сетки совпадала с узловыми точками. На линии

симметрии выполняется условие дср/<3/г= 0.

Если прямая

0 0 ' (рис. 1.9, а) — линия симметрии, то

потенциалы

Vh, ш+1 и У/,,.m-i в равноудаленных от 0 0 ' точках равны,

следовательно', «разрезание»'сетки сопротивлений на две части по этой линии не вызовет каких-либо изменений в распределении потенциала в обеих частях сетки. Это по­ зволяет рассматривать линию разреза как границу обла­ сти с равным нулю значением нормальной производной потенциала.

В силу симметрии уравнение Кирхгофа для изобра­

женной на рис. 1.9,

а сетки записывается в виде

V,

V'„

^/i-1 ,m

 

h+ljTn

Is

 

2 R ) , + l

 

2Ru

 

Vft,m+1

Vft, m

' ft,m

 

~R~

 

 

 

m+1

 

 

Как видно из последнего

выражения, сопротивления на

оси симметрии удваиваются, а пропорциональные правой части уравнения Пуассона токи Iu, w, вводимые в узловые точки сетки на этой оси, уменьшаются вдвое (рис. 1.9, б).

Если в системе имеется периодическая симметрия, то на сетке может моделироваться ее полупериод. В этом

37


Рис. 1.9. Реализация условий симметрии на сетке сопротивлений

случае сопротивления удваиваются на каждой линии сим­ метрии. Использование свойств симметрии позволяет су­ щественно снизить трудоемкость моделирования элек­ троннооптических систем и повысить точность решения задачи за счет эффективного использования области сет­ ки сопротивлений. Что касается питания, то для сетки сопротивлений в одинаковой степени годится как постоян­ ный, так и переменный ток. Выбор чаще всего обусловли­ вается применяемым устройством измерения потенциала на сетке сопротивлений.

§ 4. ОСНОВНЫЕ ПРАВИЛА МОДЕЛИРОВАНИЯ

Поля в модели и в реальной электроннооптической си­ стеме имеют разную физическую природу, хотя описы­ ваются с математической точки зрения одинаковыми уравнениями. Получаемые на модели величины будут

38

иметь физические размерности, не совпадающие с размер­ ностями соответствующих величин реальной моделируе­ мой системы. На основе формальной аналогии между уравнениями, описывающими явления в модели и ориги­ нале, можно заключить, что искомое распределение по­ тенциала иа сетке сопротивлений будет получено при равенстве всех соответствующих величин в уравнениях для поля в диэлектрической среде (1.20) и для поля то­ ков в проводящей среде (1.27), а для того чтобы получен­ ным на модели величинам приписать должные физиче­ ские размерности, необходимо их взять с соответствую­ щими коэффициентами подобия:

Ум /СфСр,

0-52)

Rm = Кв В>

(1.53)

1м — K qq,

(1.54)

где величины с индексом М относятся к модели. Легко видеть, что коэффициенты подобия могут быть также и соответствующими масштабами. В самом деле, распреде­ ление потенциала внутри исследуемой области пропор­ ционально увеличится, если потенциалы на границе уве­ личены в /<Фраз; при увеличении линейных размеров области в Кь раз

Кь =

,

(1-55)

где L — линейный размер, сохраняется подобие картины поля и семейства траекторий нерелятивистских заряжен­ ных частиц. Распределение потенциала на сетке сопро­ тивлений не зависит также от изменения в произвольное число раз величин сопротивлений при соответствующем изменении токов Ih.m.n, моделирующих пространственный заряд. Следовательно, коэффициенты подобия Ktp, Кв и Кь могут быть выбраны произвольно, а на сетке сопро­ тивлений может быть задана область, геометрически по­ добная исследуемой.

Введение коэффициента подобия геометрии Кь для сетки сопротивлений в отличие от метода электролитиче­ ской ванны не имеет существенного значения, однако это представляется практически удобным в том случае, когда результаты решения интерпретируются на масштабном чертеже исследуемой системы.



Как следует из уравнения Пуассона (1.5), при моде­ лировании электроннооптических систем произвольно могут быть заданы лишь три коэффициента подобия: два электрических и одни линейный. Покажем на некоторых примерах, что если в качестве произвольных выбрать коэффициенты подобия Л'ф, Кв и Kl, т о все получаемые на

модели величины, характеризующие параметры электрониооптическоп системы, определяются дачными тремя коэффициентами.

Аналогично (1.52) — (1.55) введем зависимые коэф­ фициенты подобия.

1.Коэффициент подобия электронного тока

2.Коэффициент подобия плотности пространственног

заряда

д- _ Рм

3. Коэффициент подобия плотности электронного тока

ir _ 1м К] i

4. Коэффициент подобия электрических емкостей

Кс = — •

с с

5. Коэффициент подобия поверхностной плотности за ряда

Ко =

 

Диэффициен'Г’ uuKuOii’/r uyuAumi1 иудлплтю

К

-

А

< “

/ ■

7. Коэффициент подобия

скорости заряженной ча­

стицы

VM

V

40

Покажем, что через основные коэффициенты могут быть выражены все зависимые. Величина тока с катода в слу­ чае ограничения пространственным зарядом определяется по известному закону «степени трех вторых». Находя по этому закону токи в реальной системе и по результатам моделирования, а также используя (1.52), получим

т/3/2

к , = -^ 7 F = K f .

Аналогичным образом для коэффициентов подобия плот­ ности электронного тока и плотности пространственного заряда соответственно имеем:

к . =

К 3/2

К Р

K v

 

K i

Ki

 

 

Из (1.20) и (1.27)

найдем связь между коэффициентом Kq

и выбранными независимыми

коэффициентами подобия

К,?

К„

Кв '

Для остальных зависимых коэффициентов получим ана­ логичным образом

Kv = Kl'2, К, = - % . ка= K,fKL, Кс = Kl

Аф

Если на заряженную частицу кроме электрического действует и магнитное поле, то при формулировке задачи для модели необходимо учесть, что форма траектории не изменится при изменении напряженности электрического

и магнитного полей соответственно в й и fa раз; форма траектории не изменится также при увеличении в b раз напряженности электрического поля и геометрических размеров системы при неизменной магнитной индукции В [65]. Учитывая это, получим, что для сохранения подо­

бия траекторий должно выполняться условие К(р/В 2K l =

= const.

Таким образом, в качестве независимых коэффициен­ тов подобия могут быть выбраны только три, а осталь­ ные являются зависимыми и однозначно определяются данными тремя. Заметим, что в качестве независимых мо­

41