Файл: Мотт, Н. Электронные процессы в некристаллических веществах.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 15.10.2024
Просмотров: 203
Скачиваний: 0
244 |
|
Глава |
7 |
|
|
|
пекулярным. Оба процесса |
можно |
учесть |
в уравнении |
баланса |
||
для |
плотности избыточных |
носителей |
Ар [55]: |
|
||
|
• £ Ш . = _ Ь[(Др)*4 - 2n0Ap] |
+ G, |
(7.25) |
|||
где |
Ъ — рекомбинационная |
константа, |
G — скорость генерации |
в объеме образца [величина, стоящая в квадратных скобках правой
юе г
|
l-m |
1 |
|
1 |
I |
1 I |
|
|||
|
О |
4 |
|
6 |
В |
Ю |
1Z |
|
|
|
|
|
|
|
|
!03/Т, К"1 |
|
|
|
|
|
Ф п г. 7.25. |
Температурная |
зависимость |
фотопроводимости |
напыленных |
||||||
|
пленок |
A s 4 5 T e 3 o S i 1 1 G e 1 1 P 3 |
[166]. |
|
|
|||||
Значение Дст/сгв максимуме порядка 0,1 для потока фотонов |
2 - 1 0 1 4 |
с м - 2 - с - 1 |
при длине вол |
|||||||
ны 1,06 мкм. Заштрихованная площадь соответствует изменению |
Д о / о от образца к образ |
|||||||||
цу- |
Наклон |
падающего |
линейного |
участка |
|
порядка 0,2 э В . |
части (7.24)] и 7г0 — равновесная плотность носителей. В стацио нарных условиях
Др = (-^-) / 3
Q
А р = 2 й гсо
(кр^Щ) бимолекулярная рекомбинация,
(Ap<Cn o) мономолекулярная рекомбинация.
Используя обозначения фиг. 7.4 и предполагая, что плотность состояний изменяется линейно с энергией, получаем следующее выражение для равновесной плотности электронов:
оо
щ=\ А (Е — ЕА) ехр ( - 2 = E * ) d E = A (И 1 ) 2 ехр ( — ) .
Некристаллические полупроводники |
245 |
Таким образом, Ар зависит от температуры только в случае моно молекулярной рекомбинации.
Энергия избыточных носителей, дающих вклад в фототок,
меньше Ev. Можно показать, что если |
носители не вырождены, |
то их концентрация А р с в о 0 определяется формулой |
|
Др ~ 11 + кТ ) е х р \ |
кТ } • |
Следовательно, для бимолекулярной рекомбинации концентрация
имеет |
вид |
|
|
|
|
|
|
|
Л р « „ 8 _ ( 4 П 1 - Ь ^ ) е х р ( - ^ ) , |
(7.26, |
|||
а для |
мономолекулярной |
|
|
|
||
А |
|
G |
I . АЕу \ |
EA — EF |
I AEV \ |
_ „„ |
А р с в о б = |
2 Ь А к 2 т 2 |
[ 1 + - ^ ) е х р |
ш |
ехр( |
(/.27) |
Согласно выражениям (7.26) и (7.27), следует ожидать, что при низких температурах фототок будет пропорционален корню из интенсивности падающего света и будет иметь отрицательный температурный коэффициент
-JW) У'
При высоких температурах фотопроводимость должна быть про порциональна интенсивности падающего света и иметь положи тельный температурный коэффициент, так что
З д а ? - ~ < * д - Щ - А * .
Результаты, полученные Вайзером и др. на стекле 2As2 Te3 • •As2 Se3 приведены на фиг. 7.26. При низких температурах и высо ких интенсивностях света, когда фотопроводимость пропорцио нальна корню квадратному из интенсивности, наклон линейной зависимости I n AS от ИТ равен —0,18 эВ. При высоких темпе ратурах и низких интенсивностях света, когда зависимость от интенсивности линейна, наклон составляет 0,13 эВ. Величина AEV, равная 0,18 эВ, близка к тому значению, которое полу чается для этих материалов из измерений дрейфовой подвиж
ности. Величина энергии (ЕА — E F |
) оказывается равной 0,31 эВ. |
Если энергия Ферми лежит между |
ЕА и Ев, то (EF — E v ) = |
= 0,49 эВ. Это хорошо согласуется |
со значением 0,47 эВ, полу |
ченным по измерениям темновой проводимости (материал р-типа). Заметим, что Вайзер и др. [537] предлагают несколько отличную интерпретацию энергии AEV. Они считают, что она дает положе ние «рекомбинационного» края в модели Коэна — Фрицше — Овшинского [101].
Sfi 3,6 3,8
103/Г, К'1
Ф и г . 7.26. |
Фотопроводимость |
аморфного |
полупроводника |
2 A s 2 T e 3 |
- A s 2 S e 3 [537]. |
о— зависимость фотопроводимости
Д2 от интенсивности падающего пучка фотонов Не — N e лазера
(6328 к) |
при д в у х |
температурах: |
|||
63,5 |
"С (1) и — 2 7 , 1 °С (2). Видны |
||||
два участка с равной |
степенной за |
||||
висимостью: сначала |
-~ I , ( Д 2 , ) , а |
||||
|
затем |
~~ 1У2, |
( A 2 i / 2 ) - |
|
|
5 — зависимость |
фотопроводимости |
||||
на |
двух |
участках |
Л 2 , и Д 2 |
1 / 2 и |
|
темновой проводимости S у от обрат |
|||||
ной температуры. Поперечное |
сече |
||||
ние обравца 0,6 х |
200 мкм, р а с с т о |
яние между электродами 10 мкм.
//екристаллические |
полупроводники |
247 |
На материале, изученном Фагеном и Фрицше [166], также наблюдались процессы моио- и бимолекулярной рекомбинации при температурах выше и ниже температуры максимума фото проводимости. Анализ их результатов по способу, указанному выше, дает A£V ~ 0,2 эВ. Уменьшение энергии активации при низких температурах позволяет полагать, что фототок обусловлен носителями в локализованных состояниях, однако мы не делали попытки провести соответствующий анализ.
Изучение нестационарной фотопроводимости, проведенное на нескольких аморфных полупроводниках, показало, что фото отклик оказывается быстрым, с переходными временами порядка нескольких микросекунд при низких температурах и доли микро секунды — при высоких. В работе Тсу и др. [510] были проведены измерения на GeTe. Спад фотопроводимости после прекращения импульса света содержит быструю и медленную компоненты. Вайзер и др. [536] обнаружили на тонких пленках 2As2 Te3 -As2 Se3 в условиях бимолекулярной рекомбинации, что быстрая компо нента подчиняется логарифмической зависимости от времени, как и следует из теории. Медленная компонента связана с про цессами захвата на глубокие ловушки носителей, созданных
светом. |
Эти |
процессы |
аналогичны явлениям, |
наблюдавшимся |
|
в экспериментах |
по изучению термостимулированной проводи |
||||
мости |
(см. |
7.4.8). |
|
|
|
Эксперименты |
по |
фотопроводимости обычно |
производятся |
на образцах, у которых оба электрода нанесены на одну и ту же поверхность. Если используется образец типа «сандвича», как при изучении дрейфовой подвижности, то можно производить прямые измерения квантового выхода, т. е. числа электроннодырочных пар, создаваемых одним поглощенным фотоном. При этом используется импульсное освещение излучением, которое сильно поглощается в материале, и достаточно сильные электри ческие поля, чтобы по возможности избежать процессов захвата носителей, когда они проходят через пленку. Такие измерения были проведены в работе Табака и Бартера [490] и Паи и Инга [399] на аморфном селене, а также Ингом и Нейхартом на A s 2 S 3 (частное сообщение). В этих исследованиях были обнаружены новые интересные особенности; оказалось, что квантовый выход зависит от энергии фототока, температуры и электрического поля, приближаясь к единице лишь при достаточно больших значе ниях этих величин.
На фиг. 7.27 (из работы Хартке и Регенсбургера [231]) сопо ставлены квантовый выход и оптическое поглощение в аморфном селене при комнатной температуре. Квантовый выход прибли жается к единице лишь при энергиях фотона порядка 3 эВ. Опти ческое поглощение уже весьма велико при энергии 2,1 эВ, когда квантовый выход еще очень мал. Конечно, нельзя утверждать
24S |
Глава 7 |
с определенностью, что энергия 2,1 эВ является краем фундамен тального поглощения, поскольку это понятие не является строго определенным для аморфных полупроводников (см. 7.6).
Хартке и Регенсбургер [231] предлагают объяснение столь сильного различия между краем оптического поглощения и краем квантового выхода в аморфном селене. Они считают, что домини рующую роль вблизи края оптического поглощения играют переходы в экситонное состояние. Отсутствие экснтонных линий
8000 |
6000 |
5000 |
1/000 |
' |
I |
|
•о |
|
to |
|
'3 |
Iff-' |
§ |
/о-г^ |
|
ю-3 |
|
|
|
1,4 |
1.8 |
г,г |
г,е |
зр |
з,и |
з,8 |
|
|
|
|
|
|
|
Энергия |
|
фотона |
fico, зВ |
|
|
|
|||
Ф и г . |
7.27. Край оптического поглощения и квантовый выход аморфного- |
|||||||||||
|
|
селена при |
комнатной температуре. |
|
|
|
||||||
Экстраполированная |
линейная |
зависимость |
края |
описывается |
|
формулой |
а = |
|||||
= 7,35 • 1 0 й exptfiv/0,058) с м - 1 . Значение |
коэффициента |
поглощения |
при 5 эВ |
равно |
||||||||
6 • 10-5 |
с м - 1 . Данные по квантовому выходу собраны Х а р т к е и Регенсбургером [231] из работ |
|||||||||||
следующих авторов: |
1 — Веймер |
и К о у п |
(абсолютные |
измерения); |
2 |
— Гилье |
(отно |
|||||
сительные измерения); з — Кек (относительные |
измерения); |
4 — Фотланд |
(отпосительные- |
|||||||||
|
измерения); |
5 — Дреснер |
(относительные измерения). |
|
|
они объясняют уширением хаотическими полями в неупорядочен ной среде. Если из оптического поглощения вычесть слагаемое,, приводящее к фотопроводимости, то из кривой оптического погло щения можно выделить экситонный пик. Этот пик приписывается экситону с радиусом около 13 А и энергией связи порядка 0,08 эВ.
Чен [88] и Луковский [324] предложили другое объяснение, предполагая, что имеется оптическое поглощение, не приводящее
к фотопроводимости, за счет переходов в локализованное |
возбуж |
денное состояние в кольцах, составленных из молекул |
селена |
Некристаллические полу проводники 2А9
(известно, что в аморфной фазе присутствуют кольца Se8 ). Модель возбуждения молекулярных комплексов подтверждается также аналогичными явлениями, которые наблюдались в орторомбиче-
ской сере (см. |
[106]). |
В этой модели оптическое поглощение |
|
в аморфном |
селене, не |
сопровождающееся фотопроводимостью, |
|
связывается |
не |
столько |
с неупорядоченностью вещества, сколько |
с существованием молекулярных комплексов. Падение квантового выхода с энергией фотона, которое наблюдается в аморфном A s 2 S 3
н As2 Se3 |
(Фелти и Майерс, частное сообщение), нельзя |
объяснить, |
если не предположить существования дюлекулярных |
комплексов |
|
в этих |
материалах. |
|
Вероятность разделения электронно-дырочной пары, рождае мой светом, в аморфном полупроводнике меньше, чем в кристалли ческом, даже если отсутствуют молекулярные комплексы. Ввиду большой частоты столкновений носители быстро потеряют свою избыточную кинетическую энергию (Лсо — Е0), где Е0 — ширина запрещенной зоны. Термализация носителей произойдет за столь короткое время, что они все еще будут находиться поблизости друг от друга и между ними будет действовать сила кулоновского притяжения. На основе этой идеи Дэвис [120] и Мотт [122] объяс нили зависимость квантового выхода от длины волны. Квантовая эффективность образования пары свободных носителей не достиг нет единицы, пока носители не смогут удалиться друг от друга на расстояние R, такое, что ег /и/? будет порядка 2кТ. Расстоя ние R можно оценить как (Z)£)1 / 2 , где D — коэффициент диффузии, который по порядку величины равен Й/бт (см. 2.9), a t — время термализации. Если предположить, что частота излучения фонона по порядку величины равна самой фононной частоте v , ^ , то время
дается выражением |
|
t= h f ' E ° . |
(7.28) |
Таким образом, квантовый выход приближается к единице, когда
энергия фотона |
превосходит Ё0 |
на величину |
|
|||
Если |
считать, |
что и = |
6, пУф0В |
= 0,04 |
эВ (случай |
Se), то при |
комнатной температуре избыток энергии составляет |
около0,5эВ. |
|||||
В |
аморфном селене |
наблюдается |
зависимость |
квантового |
выхода от электрического поля (гл. 10), которую также можно объяснить на основе этих идей. При наличии внешнего электри ческого поля F носителям легче преодолеть силы кулоновского
притяжения, и эффективный |
барьер |
их разделения |
понижается |
на величину, пропорциональную F1^, |
аналогично тому, как это |
||
происходит в эффекте Френкеля — Пула (см. 7.8). |
Детальные |
||
расчеты имеются в работе |
Дэвиса |
[120]. |
|