Файл: Мотт, Н. Электронные процессы в некристаллических веществах.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 141

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

400 Глава 10

шение содержания колец Ses при сплавлении селена с другими элементами обсуждалось в разд. 10.1. Напомним, что сера сущест­ венно менее эффективно снижает содержание колец, чем As или Те, п соответственно в этом случае имеет место более слабое уменьше­ ние подвижности при комнатной температуре (фиг. 10.10) (при содержании серы, равном 1 2 % , что не показано на этом графике, подвижность уменьшается примерно в 3 раза). Остается неясным, участвуют ли в процессе переноса электронные состояния, связан­ ные с кольцами Ses непосредственно, как предполагают Шоттмиллер и др. [451], или разрушение колец приводит к увеличению беспорядка где-то в другом месте, например разрушаются связи Se — Se в цепях.

Постоянство ED при сплавлении селена с указанными выше элементами наводит на мысль, что интервал энергий, занятый локализованными состояниями, у края зоны проводимости остает­ ся неизменным. Интерпретация данных по дрейфовой подвижно­

сти

электронов с позиций соотношения (7.11),

а именно

при

0 = 10 с м 2 - В " 1 - с - 1 иЛ г с ,

эффективной

плотности состояний

на

краю зоны по подвижности,

равной 102 0

с м - 3 ,

приводит к зна­

чению плотности дискретных уровней прилипания Nt в чистом Se,

примерно

равному 10

1 8 с м - 3 . Уменьшение \iD при сплавлении Se

с другими

элементами

можно связывать с увеличением Nt. Исходя

из этой модели, удалось определить, что увеличение Nt при сплав­ лении Se с As приблизительно равно числу введенных атомов As.

Перенос дырок. Предполагается, что дрейфовая подвижность дырок, так же как и подвижность электронов, ограничивается ловушками. Однако вычисление плотности ловушек, согласно упо­ мянутому выше соотношению, дает для чистого Se величину Nt « « 2 - 1 0 1 9 с м _ 3 . Ввиду столь высокой плотности, по-видимому, сле­ дует считать, что ловушки в этом случае распределены в некотором интервале энергий у края валентной зоны. Цепочечная структура селена, вероятно, придает существенно одномерный характер переносу в нем и позволяет также считать, что плотность состоя­ ний вблизи краев зон возрастает очень быстро [122]. Таким обра­ зом, можно ожидать, что энергетический интервал, занятый локализованными состояниями, в аморфном селене очень мал. Если предполагать, что наблюдаемая энергия активации дыроч­

ной

подвижности

( ~ 0 , 1 5

эВ

для

подложек, поддерживаемых

при

комнатной температуре) равна

этому интервалу, то в соот­

ветствии с

выражением (7.13)

значение [х0 равно примерно 10—

20 с м 2 - В - 1

- с - 1 . При сплавлении Se с 1 % Те дрейфовая подвижность

снижается

более

чем на

порядок

величины, достигая значения

~ 9 - 1 0 - 3 с м 2 - В - 1 - с - 1 (см. фиг. 10.10). Одновременно энергия акти-


Селен,

теллур и их сплавы

401

вации увеличивается до ~

0,26 эВ. Если эти изменения связывать

с увеличением интервала локализованных состояний, создаваемых разупорядочением, то вычисленное значение 0 для этого сплава будет равно примерно 30 с м 2 - В - 1 - с - 1 .

Можно ожидать, что сплавы Se с S и As при высокой концен­ трации последних будут вести себя аналогично. К сожалению, при введении этих добавок время жизни дырок уменьшается так быст­ ро (см. ниже), что в этих сплавах нельзя определить время пере­ носа достаточно точно.

При низких температурах маловероятно, что дырки, однажды захваченные на ловушки, будут снова возбуждаться в зону нелокализоваиных состояний. В этом случае дрейфовая подвижность должна отражать перенос, осуществляемый перескоками между локализованными состояниями. Табак [488] сообщает, что в амор­ фном Se при температуре ниже 200 К времена переноса становятся трудно определяемыми, и, например, при 178 К после того, как первые инжектированные носители заряда достигают противо­ положного электрода, через образец продолжает протекать при­ близительно около 4 0 % общего инжектированного заряда. Кроме того, значения подвижностей, определяемые при таких условиях переноса, становятся зависящими от электрического поля. Исполь­ зуя для определения подвижностей самые малые времена переноса и экстраполируя данные к нулевым электрическим полям, Табак находит, что ниже 200 К энергия активации ED такая же, как при температурах выше 200 К, и приходит к заключению, что зависимость времен переноса от электрического поля обусловлена зависимостью от поля времен нахождения носителей на ловушках. В противоположность Табаку Оуэн (частное сообщение), исполь­ зуя аналогичную процедуру, находит, что при уменьшении темпе­ ратуры наклон прямой на графике зависимости In u.D от ИТ умень­ шается, что, по его мнению, свидетельствует об изменении механизма переноса. По-видимому, в любом случае при низких тем­ пературах основная часть носителей проходит через образец посред­ ством перескоков; в таком случае следует ожидать сильной зави­ симости переноса от электрического поля (см. 7.8).

10.2.3.' В Р Е М Е Н А Ж И З Н И И Д Л И Н Ы ПРОБЕГА НОСИТЕЛЕЙ

Длина пробега носителей, инжектированных в образец,— это расстояние, которое проходит носитель под действием единицы поля до того момента, пока он не захватитсяиа глубокую ловушку или не рекомбинирует. Она равна произведению дрейфовой под­ вижности на время жизни носителя т. Использование низких полей в описанных выше экспериментах по дрейфовой подвижности может приводить к тому, что времена переноса будут порядка т или меньше. В этом случае импульсы сигналов становятся экспо-

2 6 - 0 1 1 4 2


402

Глава 10

ненциальными, и из их анализа можно получать значения т. Используя этот метод, Табак и Бартер [490] определили следующие значения времен жизни для дырок и электронов при комнатной температуре:

т д = 10—45 мкс, т э = 40—50 мкс.

Эти значения т дают соответственно длины пробега при комнат­ ной температуре, равные

1,3 — 6,3-10"°

с м 2

- В - 1 для дырок

и

 

 

2,4—3,1-10"' с м 2

- В -

1 для электронов.

Следует отметить, что время жизни и длина пробега дырок, полу­ ченные этим методом, в 20—100 раз больше предыдущих оценок, сделанных Хартке [229]. По-видимому, он использовал непод­ ходящий метод Гехта при анализе зависимости амплитуды импуль­ сов от электрического поля.

Интересно рассмотреть вопрос о влиянии легирования на вре­ мена жизни носителей. Следует, по-видимому, подчеркнуть, что

Ф н г. 10.11. Изменение времени жизни электронов и дырок в аморфном селе­ не при сплавлении его с различными элементами.

Данные получены из экспериментов по переходной фотопроводимости.

времена жизни контролируются глубокими уровнями и поэтому могут не коррелировать с подвижностями, которые контролируют­ ся мелкими ловушками. На фиг. 10.11 показано, что добавление As даже в малых количествах очень сильно снижает времена жизни дырок и одновременно увеличивает времена жизни электронов.

Время жизни дырок уменьшается также при сплавлении

селена

с S и Т1, но при сплавлении с Те и С1 оно меняется незначительно.

Время жизни электронов снижается

при введении С1 и,

возмож­

но, Те, добавление же Т1 или S на

времена жизни существенно

не влияет.

\

 

 

)


Селен, теллур и их сплавы

403

При малых временах жизни носителей заряда измерение дрей­ фовой подвижности становится затруднительным вследствие потери значительной доли инжектированных носителей за счет прилипа­ ния их на глубоких ловушках. Например, в системе As — Se перенос дырок не может наблюдаться в сплавах, содержащих от 2 до 6% As. При содержании As выше 6% сигнал переноса вновь появляется. Однако теперь сигналы имеют другой вид [451]. Они и не экспоненциальные (что соответствовало бы ограниченному времени жизни) и не линейно нарастающие (что означало бы пере­ нос тонкого слоя заряда). После начального быстрого переходного

участка

форма

сигнала

ста­

 

 

 

новится

 

логарифмической,

 

 

 

свидетельствуя о том, что эф­

 

 

 

фективное время переноса но­

 

 

 

сителей

примерно

на

пять

 

 

 

порядков

величины

больше

 

 

 

того,

которое

наблюдается

 

 

 

в чистом

аморфном Se. Фак­

 

 

 

тически это перенос такого же

 

 

 

типа,

какой

наблюдается

в

 

 

 

Se при низких

температурах

 

 

 

и в аморфных

A s 2 S 3

и As2 Se3

 

 

 

(см.

гл.

9).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10.2.4. И З М Е Р Е Н И Е Т О К О В ,

 

 

 

 

 

О Г Р А Н И Ч Е Н Н Ы Х

 

 

 

 

 

ПРОСТРАНСТВЕННЫМ

 

 

 

 

 

 

 

ЗАРЯДОМ

 

 

 

 

 

 

Из

измерений

вольтам-

 

 

 

перных характеристик в ус­

 

 

 

ловиях

токов,

ограниченных

 

 

 

пространственным

зарядом,

 

 

 

в аморфном

Se

Ланьон

и

 

6,8

 

Спир [309] и Хартке

[229] по­

 

 

 

V, В

 

лучили

данные

о плотности

 

 

Ф н г .

10.12. Токи, ограниченные про­

распределения ловушек вбли­

зи равновесного

уровня Фер­

странственным зарядом, в аморфном се­

 

лене.

 

ми в

этом

материале.

 

 

 

 

 

 

К р у ж к и

— экспериментальные данные

[229];

Экспериментальные резуль­

сплошная линия — теоретическая кривая

(.307].

таты Хартке для трех образ­ цов (толщиной порядка 2 мкм), полученные при комнатной темпера­

туре, показаны на фиг. 10.12. Один электрод (стекло, покрытое слоем S n 0 2 ) блокировал электроны, другой (Те или Аи) инжекти­ ровал дырки. При напряжении выше примерно 1 В число инжек­ тируемых дырок становится выше нормальной равновесной плот-

26*