Файл: Паничкина, В. В. Методы контроля дисперсности и удельной поверхности металлических порошков.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 22.10.2024

Просмотров: 82

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

и ими можно пренебречь, тем более что величины удельных поверх­ ностей, установленные с помощью поромера, не отличаются более Чем на 10% от полученных по низкотемпературной адсорбции газов (табл, 14),

На основании данных, приведенных в табл, 14, можно сделать вывод, что метод измерения удельной поверхности поромером дос­ таточно точен и может быть использован во всех лабораториях. Од­ нако следует помнить об ограничениях данного метода. Он приме­ ним только к веществам с малой поверхностной энергией, так как в противном случае возможно смачивание поверхностей твердых тел ртутью и даже их амальгамирование,:

Для металлов, обладающих большой поверхностной энергией, характерно образование окисных плѳнок,Поверхностныѳ ркисные слои не. смачиваются ртутью, поэтому результаты,полученные автора­ ми /І0 3 / для порошков алюминия,, вольфрама, меди, цинка и железа, покрытых с поверхности окисными пленками, указывают на хорошее совпадение данных по вхождению ртути в пористые образцы и низ­ котемпературной адсорбции азота. Для .чистых поверхностей этих металлов, свободных от окисных пленок, ’по порометрии получены неправильные результаты. Следует также учитывать, 'что для опре­ деления удельной поверхности порошков принимают в расчет толь­ ко данные по вхождению ртути в поры твердого тела, так как пр экструзии получают величины, не совпадающие с низкотемператур­ ной адсорбцией азота.

 

Г л а в а

У

 

 

 

 

 

ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАЗМЕРА ЧАСТИЦ ДРУГИМИ

 

 

 

МЕТОДАМИ \

 

 

 

 

 

 

В этой главе будут рассмотрены методы определения размера

 

частиц как о помощью прямого их измерения

(микроскопический ана­

 

лиз), так и на основания косвенных показателей. Среди

послед­

 

них широко распространен ситовой анализ.

Электроимпульсный

и

 

кондуктометрический метод разработаны сравнительно недавно.Их

 

появление связано с требованиями знания дисперсности высокодис­

 

персных порошков,

^

 

 

 

 

 

Поскольку при расчетах в анализах иногда необходимы зна­

 

чения истинной плотности порошков, с учетом поверхностных пле­

 

нок и разного рода загрязнений, то описана методика определения

 

пикнометрической плотности.

И, наконец, насыпной вес

также

яв­

 

ляется качественной характерлетикой дисперсности порошка.

 

 

I. Микроскопический анализ

 

 

 

і

J3TOT анализ -

один из самых распространенных методов

ана­

'

 

лиза. Тщательно проведенный

анализ под микроскопом дает доста­

 

точно полные сведения о дисперсности анализіууемой пробы, и это

искупает длительность и трудоемкость метода, Кроме размера, в результате анализа получают сведения о форме частиц, хотя часто они выражены в описательной форме. Мы остановимся на методи­ ке проведения анализа, на методах приготовления препаратов лоро- і шков для просмотра под оптическим и электронным микроскопами, а также на количественной' обработке получаемых данных.

Приготовленный препарат порошка просматривают под микро­ скопом, используя при этом окуляр-микрометр. Цена деления шка­ лы его определяется для данного объектива с помощью объектмикрометра, даже в том случае, если в паспорте прибора указано значение цены деления окулярной шкалы. *

Определение размеров частиц производят путем отсчета чис­ ла делений окулярной шкалы, в которой укладывается частица и умножение этого числа на цену деления шкалы при данном увели­ чении, При резко выраженной неравноосности измеряют длину и . ширину частиц.

126


Для количественной оценки необходимо знать размеры и чис­ ло частиц, находящихся в поле зрения. Длину частиц обычно оце­ нивают целым числом делений шкалы. В действительности так бы­ вает редко. Следует пользоваться такими увеличениями, чтобы са­ мые маленькие частички укладывались в 2-3 деления шкалы окуля­ ра. Длины частиц, которые р'авны дробным числам делений, выра­ жают целыми числами, округляя до ближайших целы;: значений. Пос­ ле подсчета, перемещая шлиф, изменяют поле зрения и снова измеря­ ют все частицы (о необходимом количестве измерений см. ниже). Перемещение шлифа в новое положение должно быт% произвольным, Промерянные частицы группируют по крупности, задаваясь интерва­ лом размеров. Необходимо давать разбивку на шесть - восемь групп (табл. 15), Погрешность анализа быстро растет с уменьшением числа групп менее 6, поэтому пользоваться меньшим числом групп -

недопустимо.'

 

 

 

 

Если

пд - общее

число измерений частиц;

А П - число частиц

в интервале размеров

Aä=ä2 -Д? » то а ^

' 100% составит содержа­

ние данной фракции в порошке. Результаты

анализа можно предс-

. тавить графически (рис, 46, а, б).

На рис. 48,

а представлена

суммарная

(интегральная) кривая.

Точки на кривой выражают

суммарное

количество

частиц в процентах, меньших по размерам

Рис. 46. Кривые распределения частиц по размерам в порошке же­ леза: а - интегральная; б - дифференциальная,

соответствующей абсциссы данной точки. Например, точка А пока»- зывает, что в порошке 45,5% частиц размером более .30 мк и54,5% частиц размером менее 30 мк..

127


Т а б л и ц а

15

Распределение частиц по размерам порошка железа, определенное микроскопически

I

 

 

 

 

Пределы раз­

Число частиц Содержание

 

Содержание

меров частиц,

в интервале

фракции по

по

фракции по

мк

размеров

числу частиц,

весу, %

 

 

%

 

 

• 50-60

140

6,0

181

16,7

40-50

187

8,0

161

14,9

35-40

456

19,4

274

25,4

80-35

4ѲЗ

21,0

223

20,6

25-30

481

20,5

156

14,4

20-25

312

13,3

68

6,3

15-20

89

3,8

12

1,1

10-15

86

3,7

5

0,4

5-10

70

3,0

1,6

0,1

2-5

28

1,2

0,1

-

Всего

2342

99,9

1081

99,9

На рнс.46,6 представлена дифференциальная

кривая распреде­

ления частиц по размерам для того же порошка.

Каждая фракция

представлена в виде прямоугольника, в основании которого лежит определенный интервал размеров частиц,а его высота - процент­ ное содержание их в порошке. Если соединить середины верх­ них сторон прямоугольников плавной кривой, то получим дифферен­ циальную кривую распределения частиц по размерам.

Для практических целей удобнее пользоваться не кривой рас­ пределения по числу частиц, а весовым распределением. Для пе­ рестройки экспериментальной гистограммы распределения по чис­ лу частиц необходимо высоту каждой ступеньки гистограммы

1?Н


в

Рис. 47. Микрофотографии частиц по­ рошков в темном поле, Х200:

аникель электролитический: С —тантал;

в— вольфрам восстановленный.

а

6

Рис. 48. Электромиомнкроскоинческие снимки порошка вольфрама:

о — теневое изображение частиц,■X13 500; 5 — фотографии с угольных реплик частиц, Х5000.

' Т .

умножить на куб среднего радиуса частиц, отвечающего данному ин­ тервалу, Сумма полученных значений составит 100% по весу всех фракций. В табл. 15 даны результаты такого пересчета. Как вид­ но, максимум кривой распределения переместился в сторону более грубых фракций.

На основе микроскопических данных может быть вычислена величина удельной поверхности порошка по формуле

S = к £

(*1)

РІ я et?

где

S - удельная поверхность; р -

плотность частиц; п - число

частиц фракции^

г'-г

" ^rv?

)»’

- средний размер частиц фрак­

ции

( Яу = '— - 7 у

r ) j

к -

фактор формы. Дня обычных порошков,

имеющих сферическую или близкую к ней полигональную форму час­ тиц, * -6 ,,

Метод, основанный на формуле (У .І), является статистическим и требует большого числа измерений, особенно при большом разбро­ се размеров частиц. В /257 приведен пример определения поверх­ ности тошсоизмельченного кварца. Из 335 измеренных частиц толь­ ко. две имели диаметр, примерно в 30 раз больший наиболее веро­ ятного, Если при расчете S пренебречь этими двумя частицами, то величина удельной поверхности удвоится.

Значительная ошибка вносится в расчет, если частицы имеют развитую шероховатую поверхность. В этом случае возможна боль­ шая разница в значениях рассчитанной и истинной поверхности.

Достоверность микроскопического анализа в значительной ме­ ре зависит от качественного приготовления препарата порошка. Для просмотра под оптическим микроскопом необходимо распре­ делить тонким слоем порошок на подложке, разбивая при этом механические скопления частиц и не искажая их формы и разме­ ра. Желательно, чтобы в поле зрения под микроскопом попада­ ло максимально возможное число обособленных частиц.

Наиболее простым способом диспергирования порошка являет­ ся следующий. Небольшое его количество и несколько капель жид­ кости, хорошо смачивающей порошок (спирта, ацетона, четыреххлотристого углерода), стеклянной палочкой наносят на чистую стек­ лянную пластинку. Суспензию тщательно растирают между плас­ тинками, и сдвигая их между собой, растягивают ее цо поверхнос­ ти пластинки. Жидкости дают испариться и исследуют препарат под микроскопом. При этом лучше пользоваться биологическим или минералогическим микроскопами, рассматривая пробу на просвет. Если размеры частиц порошка более 20 - 30 мк, тр при таком способе приготовления препарата в поле зрения микроско­

129


па попадает значительное количество хорошо диспергированных частиц.

Иногда бывает удобно для лучшего рассмотрения формы и поверхности частиц применить просмотр в темном поле. Для это­ го в качестве подложки используют органическое стекло. Палоч­ кой растирают порошок возможно равномернее по поверхности пластинки. Затем наносят на пластинку одну-две капли дихлор- '' этана, дают ему растечься по пластинке и подсохнуть. Дихлор­ этан растворяет верхний слой пластинки, частицы утопают в раз­ мягченном слое, а после просушки оказываются закрепленными в подложке. Такую пластину помещают на микроскоп порошком к объективу. Так как частицы укреплены в подложке, то при рас­ смотрении в темном поле, хорошо видна объемная структура частиц.

На рис. 47 приведены микрофотографии частиц порошков.полученных при просмотре в темном поле. Хорошо видна дендритная форма порошинок электролитического никеля и строение частиц вольфрама.

Для просмотра на металл©графическом микроскопе из порош­ ка может быть приготовлен шлиф. Для этого порошок смешивают с какой-нибудь твердеющей связкой, дают смеси затвердеть и уюлируют ее,, как обычно. В качестве твердеющей связки применя­ ют этакрил (препарат АКР-7) - прозрачную жидкость, твердею­ щую при нагревании до 80°С с добавлением 2% перекиси нитробенаоила; можно применять полистирол, твердеющий при теплом прес­

совании и другие связки. При

этом связка

не должна взаимодей­

ствовать с веществом порошка

или окисла

на его поверхности.

Описанные методики дают хорошие результаты при исследова­ нии порошков с частицами крупнее 30-40 мк. В случае порошков с частицами мельче 30-40 мк и особенно для микронных и субмик­ ронных порошков приходится применять специальные методы дезаглрмерадии порошков, так как чем мельче порошок, тем легче .в нем образуются агломераты порошинок.' Помимо этого необходи­ мо прибегать к сильному увеличению с использованием иммерсион­ ной оптики или электронного микроскопа.

Для работы на биологическом микроскопе с применением им­ мерсионного объектива препарат приготовляют на стекле так же, как описано выше, только вместо'спирта капают несколько капель 1%-ноі'О раствора коллодия в амилацетате. После испарения ами­ лацетата порошок будет приклеен к стеклу тонкой пленкой колло­ дия, п порошинки не будут всплывать в иммерсионном масле при наводке объектива на резкость.