Файл: Мюллер Г. Специальные методы анализа стабильных изотопов.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 129

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

ни) требуется очень точное выделение отдельных линий из спектра и точное измерение фона [72].

К первой группе относятся фотоэлектрические методы одно­ временного измерения различных интенсивностей нескольких линий с помощью квантометров [72]. В приборах этого типа за выходными щелями полихроматора установлены фотоумно­ жители, анодный ток которых интегрируется за время экспози­ ции с помощью зарядных конденсаторов. По окончании экспо­

зиции измеряется напряжение на этих конденсаторах

и затем

с помощью специальных средств определяется

отношение на­

пряжений

для сравниваемых аналитических

линий.

Приборы

этого типа

обычно стоят довольно дорого;

они

применяются,

когда расстояния между соседними аналитическими линиями в фокальной плоскости настолько велики, что за выходными ще­ лями, выделяющими эти линии, может быть размещено не­ сколько фотоумножителей (по числу щелей).

В случае изотопного анализа расстояние между аналитиче­ скими линиями большей частью настолько мало, что интенсив­ ности отдельных изотопических компонент не могут быть изме­ рены разными фотоумножителями. Вместо этого близкое со­ седство аналитических линий дает другую возможность для измерения их относительной интенсивности, состоящую в том, что узкую спектральную область, в которой расположены изо­ топические компоненты, быстро просматривают путем разверт­ ки этого участка спектра относительно выходной щели спек­ трального прибора. При передвижении спектра относительно выходной щели свет, проходящий через нее, воздействует на один и тот же фотоумножитель. В этом случае при соответст­ вующем включении и применении многоканальных схем можно также непосредственно получать отношение интенсивностей максимумов аналитических линий. При этом влияние медлен­ ных колебаний яркости источника света на результаты измере­ ний исключается почти полностью.

Наиболее широко применяемые в настоящее время методы регистрации спектров в изотопном анализе относятся ко вто­ рой группе, где изображение входной щели в фокальной пло­ скости спектрального прибора передвигается относительно вы­ ходной щели и таким образом фотоэлектрически регистрируется определенный участок спектра [3, 35, 50, 62]. Одной из важней­ ших предпосылок для измерения отношения интенсивностей таким методом является постоянство во времени яркости ис­ точника света. Стохастические колебания интенсивности свече­ ния источника во времени можно учесть путем многократного повторения процесса регистрации спектра и определения отно­ шения интенсивностей как среднего результата из этих изме­ рений. Влияние же монотонного изменения полной интенсив­ ности источника света устраняется полностью благодаря тому, что все измеряемые единичные интенсивности относят (проще

133


всего — графически)

к одному и тому же

моменту

времени.

Для этого проводят

несколько единичных

записей

исследуе­

мого спектрального интервала.

Измерение спектров в определенном интервале на практике осуществляется либо передвижением выходной щели в фокаль­

ной

плоскости спектрального прибора (см., например, [73]),

либо

вращением диспергирующего элемента прибора (призмы

или решетки) при неподвижной выходной щели (см., например, [20]). В случае интерферометра Фабри — Перо для тех же це­ лей перемещают в радиальном направлении систему интерфе­ ренционных колец в плоскости их изображения путем термоме­ ханического [74], магнитострикционного [75, 76] или пьезоэлек­ трического [77—-79] изменения расстояния между пластинами интерферометра либо путем изменения давления газа и соот­ ветственно изменения показателя преломления среды между пластинами интерферометра [42, 43, 80—88]. При этом интер­ ференционные кольца последовательно проходят через центр системы колец, соответствующий нулевому порядку интерфе­ ренции. Так как этот процесс связан с изменением во времени яркости в центре колец, адекватным радиальному распределе­ нию интенсивности в кольцевой системе интерференции, а сле­ довательно, и распределению интенсивности внутри изучаемой спектральной линии, то, регистрируя эти изменения яркости, производим запись исследуемого участка спектра.

СП И С О К Л И Т Е Р А Т У Р Ы

1.Фриш С. Э. Оптические спектры атомов. М.—Л., Физматгиз, 1963.

2.Steudel А. Z. Phys. 1652, В. 133, S. 438.

3.Зайдель А. Н., Калитеевский Н. И., Липис Л. В., Чайка М. П. Эмис­

 

сионный спектральный анализ атомных материалов. Л.—М., ФизМат-

4.

гиз,

1960.

 

Hughes D., Eckart С. Phys. Rev., 1930, v. 36, p. 694.

т. 55, с. 315.

5.

Стриганов A. P., Донцов Ю. П. «Усп. физ. наук», 1955,

6.

Brix

Р., Kopfermann Н. Festschr. Gött. Akad., Math. — phys.

I\l., 1951, S. 17.

7.Kopfermann H. Naturwiss., 1931, B. 19, S. 400.

8.Schüler H., Keyston J. E. Naturwiss., 1931, B. 19, S. 320.

9.Pauli W„ Peierls R. Phys. Z„ 1931, B. 32, S. 670.

10.

Копферман

Г. Ядерные

моменты.

Пер.

с нем.

М.,

Изд-во иностр.

11.

лит.,

1960.

Arroe Н. Ann.

Rev. Nucl.

Sei.,

1956,

v. 6,

p. 117.

Mack

J. Е.,

12.Breit G. Rev. mod. Phys., 1958, v. 30, p. 507.

13.Brix P., Kopfermann H. ln: Zahlenwerte und Funktionen, Bd. I, Teil 5, 6.

Aufl. Springer — Verlag. Berlin— Göttingen — Heidelberg, 1952, S. 1.

14.Müller G. Diplomarbeit, Jena, 1959.

15.Герцберг Г. Колебательные и вращательные спектры многоатомных мо­ лекул. Пер. с англ. М., Изд-во иностр. лит., 1949.

16.Герцберг Г. Спектры и строение двухатомных молекул. Пер. с англ. М., Изд-во иностр. лит., 1949.

17.Rosen В. Longueurs d’onde caracteristiques des bandes d'emission et d’absorption des molécules diatomiques (Atlas), Paris, 1952.

18.Пирс P., Гейдон А. Отождествление молекулярных спектров. Пер. с англ.

М., Изд-во иностр. лит., 1949.

134


19.Rosen В. In: Handbuch der Physik, 1964, В. 27 S 221

20.Meier G„ Müller G. Isotopenpraxis, 1965’, B. 1,’s. 56.

21.Пеннер С. С. Количественная молекулярная спектроскопия и излучатеть-

22.

на я способность газов.

Пер. с англ. М„

Изд-во иностр. лит.,

1963.

Бейтс Д. Р. Атомные

и молекулярные

процессы

 

Пер

с

англ М

 

«Мир», 1964.

 

 

 

 

 

 

 

23.

Віопсіі М. А. Appl. Spectr., 1957, v. 11, р. 119.

 

 

 

 

 

24.

Моторненко А. П. «Оптика и спектроскопия»

1965

т

18

с

1074

25.

Doremus R. W. J. Phys. Chem., 1964, v. 68, p. 2212.

p

1416

 

26.

Wood R. W., Wise H. J. Chem. Phys. 1958, v

29

 

27.Rogers W. R„ Biondi M. Phys. Rev., 1964, v. 134, p. 1215.

28.Goodyler С. C., Engel A. Proc. Phys. Soc., 1962, v. 79, p. 732.

29. Джерпетов X. А., Патеюк Г. M. «Ж. эксперим

и теор сЬиз»

1955,

т. 28, с. 343.

ф

30.Taylor L. S. Phys. Fluids, 1963, v. 6, No. 4.

31.Haucke G. Dissertation, Jena, 1965.

32.Tiller H. J. Diplomarbeit, Jena, 1965.

33.Жиглинский А. Г., Кочемировский А. С. «Вести. ЛГУ Сер. физ хим»

1963, № 4, с. 47.

. Р '

34.Строганов А. Р. «Усп. физ. наук», 1956, т. 58, с. 365.

35.Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. М., «Наука» 1965

36.Ladenburg R., Reiche F. Ann. Phys., 1913, В. 42, S. 181.

37.Schnaidt H. Gerl. Beitr. Geophys., 1939, v. 54, p. 203.

38.

Elsässer W. M. Harvard Met. Studies, Milton. Mass., 1942, No. 6.

39.

Penner S. S. J. Chem. Phys., 1951, v. 19, p.

272.

v.

19, p.

1351.

40.

Penner S. S., Weber D. J. Chem. Phys.,

1951,

41.

Ананьев А. «Оптика и спектроскопия»,

1966,

т.

20, с.

168.

42.Gaiko J. Ceskosl. Casopis Fiz., 1964, v. A14, p. 105.

43.Koppelmann G., Krebs K- Optik., 1961, В. 18, S. 538.

44.Bradley L., Kuhn H. Nature, 1948, v. 162, p. 412.

45.Kuhn H. Rep. Progr. Phys., 1951, v. 14, p. 64.

46.

Blaise J., Chantrel H. J. phys. radium, 1957, v. 18, p. 193.

London, 1951.

47.

Candler C. Modern Interferometrs. Hilger

and Watts Ltd.,

48.

Толанский С. Спектроскопия высокой разрешающей силы.

Пер. с англ.

49.

М., Изд-во иностр. лит., 1955.

Практическая спектроскопия.

Гаррисон Дж., Лорд П., Луфбуров Дж.

 

Пер. с англ. М., Изд-во иностр. лит., 1950.

 

 

50.Нагибина И. М., Прокофьев В. К. Спектральные приборы и техника спектроскопии. М., Машгиз, 1963.

51.Королев Ф. А. Спектроскопия высокой разрешающей силы. М., Гостехиз-

дат, 1953.

52.Banwell С. N. Fundamentals of Molecular Spectroscopy, McGraw Hill,

London, 1966.

53. Бочкова О. П., Шрейдер Е. Я. Спектральный анализ газовых смесей. М.,

Физматгиз, 1963.

54. Seith W., Ruthart К. Chemische Spektralanalyse. Springer — Verlag, Ber­ lin — Göttingen — Heidelberg, 1958.

55.Scheller H. Einführung in die angewandte spektrochemische Analyse unter besonderer Berucksichtung der quantitativen leitprobenfreien Spektrenaus­

56.

wertung.

Verl. Technik. Berlin, 1958.

Hoch

M.,

Weisser H. Helv. Chim. Acta, 1950, v. 33, p. 2128.

57.

Zahn

H.

In: Optik aller Wellenlängen. Berlin, 1959, S. 58.

58.

Hurzeler

H., Hostetler H. Helv. Chim. Acta, 1955, v. 38, p. 1825.

59.Горбунов А. И., Загорец П. А. «Ж. физ. хим.», 1955, т. 29, с. 1422.

60.Faust Н. Z. anal. Cherni, 1960, В. 175, S. 9.

61.Sommer К., Kick Н. Z. anal. Chem., 1966, В. 220, S. 21.

62.Зайдель А. Н., Петров А. А., Устинов Б. В. «Заводская лаборатория»,

1961,

т. 27,

с. 904.

63. Cannon

С.

G. Electronics for Spectroscopists. Hilger and Watts. Lon­

don, 1960.

 

135


64. Covington A. К., Molneux L., Tait M. T. Spectrochim. Acta, 1956,

V.21, p. 351.

65.Lankien G. ln: Handbuch der Physik, В. 38/1, S. 201.

66.Мушелишвили Г. Н., Миниртумов В. Р. «Приборы и техника экспери­ мента», 1963, № 6, с. 116.

67.Frevert L. Nucl. Instrum. Meth., 1965, v. 34, p. 69.

68.Barna A. Nucl. Instrum. Meth., 1965, v. 34, p. 247.

69. Laffoli H. Proc. VIII Coloqu. Spectrosc. Intern., 1959, p. 76.

70.Pardies J. J. phys. radium, 1960, v. 21, p. 90.

71.Tiggelen A., Wijnen J. Bull. Soc. Chim. Belg., 1947, v. 56, p. 312.

72.Leys J. A. Analyt. Chem., 1966, v. 38, p. 1099.

73.Meier G. Kernenergie, 1960, B. 3, S. 903.

74.Roig J. J. phys. radium, 1958, v. 19, p. 284.

75. Weissman E., Pascalau M., Tintea H., Cngureanu C. Stud. Cere. Fiz., 1961,

V.4, p. 12.

76.Dupeyrat R. J. phys. radium, 1958, v. 19, p. 290.

77. Hesse G., Dietel W. Exper. Techn. Phys., 1966, B. 19, S. 174.

78.Hesse G. Feingerätetechn., 1965, B. 14, S. 535.

79.Gobert J.-J. phys. radium, 1958, v. 19, p. 278.

80.Kuhn H. G. Acta Phys. Polon., 1964, v. 26, p. 315.

81.

Bayer-Helms

F.

Z. angew.

Phys., 1963, В

15, SS. 416, 532; P. T. B.—Mit­

82.

teil., 1964, Nr. 3,

S. 201;

1964, Nr. 4, S. 312.

 

Акимов А. И., Кромский Г. И., Скоков И. В. «Приборы и техника экспе­

83.

римента»,

1964,

№ 5,

с.

172.

и техника эксперимента», 1964,

Каштан М.

С., Хлопина Т.

Н. «Приборы

2, с. 148.

84.Krause Н„ Krebs К. Optik, 1963, В. 20, S. 9.

85.Helton W. A. Amer. J. Phys., 1962, v. 30, р. 724.

86.Jacquinot Р., Dufour Ch. J. rech, centr. nat. res. sei., 1948, No. 6.

87.Chabbal R. J. rech. centr. nat. res. sei., 1953, No. 24.

88.Brochard J., Chabbal R., Chantrel H., Jacquinot P. J. phys. radium, 1952*

V. 13, p. 433.