Файл: Мюллер Г. Специальные методы анализа стабильных изотопов.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 168

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

В спектрах элементов средней части периодической системы

чисто изотопический эффект в атомных

спектрах

весьма мал.

Однако для изотопного анализа можно

использовать

различие

в сверхтонкой структуре линий изотопов. Особенно

благопри­

ятные возможности при этом создаются, если ядро

одного из

изотопов

имеет нулевой

магнитный момент, а

другой изотоп

обладает

отличным от

нуля ядерным

магнитным

моментом

(83Кг, 87Sr, 115Sn, n7Sn, U9Sn, 129Xe и др.). Но если даже оба изотопа обладают ненулевыми магнитными моментами, их раз­ личие приводит к отличающейся ширине сверхтонкой структуры линий и может быть использовано для изотопного анализа (на­ пример, 22Na—23Na, 85Rb—87Rb и т. д.). Кроме того, во многих

случаях задача изотопного анализа элементов среднего

атом­

ного веса может быть решена с

помощью

электронно-колеба­

тельных спектров.

 

 

 

для

Иногда спектральный метод может быть применен и

анализа соединений, 'содержащих

долгоживущие

радиоактив­

ные изотопы [Н—Т, 12С— 14С,*209Ві—208Ві

(210Ві),

209Ро_208РО)

22N a — 23N a , 2 3 5 ^ 2 3 8 ^ 230T h _ 2 3 2 T h

и д р ]_

 

 

 

Вопрос о возможностях оптической спектроскопии как обще­ го метода изотопного анализа впервые был рассмотрен в рабо­ тах автора [24, 115]. Позднее эта же проблема применительно к изотопному анализу элементов средней части периодической системы Менделеева была рассмотрена в работе [116]. Авторы этой работы использовали в основном такую же схему учета взаимного наложения изотопических компонент, о которой шла речь выше, однако задавались несколько иными параметрами.

Было принято,

что температура разряда

в полом

катоде со­

ставляет 300° К,

а допустимое значение коэффициента отраже­

ния зеркал интерферометра равно 94% •

оценками

значений

Несмотря на

расхождения с нашими

степени разрешения изотопических компонент, в работе [116] показано, что критерий Релея с запасом выполняется для ряда

линий

в спектрах

Ne,

Mg,

Ar,

Ca,

Ni,

Сц, Zn, Ga,

Rb,

Sr,

Cd) Sb,

Xe, Ce, Nd,

Sm,

Eu,

Gd,

Dy,

Er,

Yb, Lu, W,

Re,

Os,

Ir и Pt.

Оценки, сделанные выше, относятся к несколько упрощен­ ной схеме и не учитывают, например, зависимости предела раз­ решения линий от их интенсивности. Чем слабее спектральная линия, тем большие мощности разряда требуются для обеспе­ чения ее достаточной яркости. Это в свою очередь приводит к увеличению доплеровской ширины линий и соответственно к ухудшению разрешения изотопических компонент. Однако сле­ дует иметь в виду, что по мере увеличения атомной массы анализируемых элементов роль доплеровского уширения ли­ ний постепенно падает.

Помимо наиболее отчетливых средств борьбы с доплеров­ ским уширением спектральных линий, изложенных в разд. 12.1,

327


существуют еще два способа, позволяющие радикальным об­ разом решить эту проблему.

Первый из них состоит в применении источников света с атомным пучком, предложенных впервые Л. Н. Добрецовым и А. Н. Терениным а также Богросом [117, 118]. Основная идея возбуждения спектров в атомных пучках сводится к тому, что­ бы заставить двигаться излучающие атомы перпендикулярно направлению наблюдения спектра и тем самым уменьшить компоненту скорости атомов в этом направлении, что позволяет снизить эффективную кинетическую температуру газа в пучке до ~1,5°К - Теория источников света с атомным пучком под­ робно описана в монографиях [25, 26], а различные конструкции источников — в работах [119— 127]. Для аналитических целей представляют интерес только источники с повышенной ярко­ стью излучения. Конструкция такого источника для исследова­ ния спектров твердых веществ описана в работе [119], а для трудно конденсируемых газов — в работах'[126, 127].

В первой работе яркость источника увеличивали с помощью диафрагмы в виде длинной узкой щели, расположенной пер­ пендикулярно линии наблюдения спектров. Однако увеличение яркости источника в широких пределах простым удлинением щелей встречается со значительными техническими трудностя­ ми. Прежде всего, необходимо соответствующее увеличение скорости откачки атомных паров из коллиматора и камеры возбуждения спектров. Во-вторых, в той же степени возрастает расход вещества. И, наконец, трудно обеспечить высокую плот­ ность возбуждающего электронного потока на всем сечении атомного пучка.

Более радикально решена задача увеличения яркости источ­ ников с атомным пучком в работах Стенли и Ларсона [126, 127],

которые исходили из того, что

максимальная

плотность

паров

в испарителе, а следовательно,

и плотность

атомов в

пучке

ограничены требованием превышения длины свободного пробе­ га атомов над размерами отверстия. Уменьшая размеры диа­ фрагмы, можно соответственно увеличить плотность атомов в испарителе. Однако при этом резко снижается пропускание диафрагмы и плотность атомов в пучке. Чтобы сохранить про­ пускание диафрагмы высоким, в работах [126, 127] предложено разбить диафрагму испарителя на узкие каналы, чтобы общая площадь отверстий была по-прежнему равна площади прямо­ угольной диафрагмы. Тогда режим истечения атомов из испа­ рителя будет определяться размерами отдельного канала, а пропускание диафрагмы— суммарной площадью всех отверстий.

Эффективность этого приема легко оценить из следующего примера. Если система формирования атомного пучка состоит из двух прямоугольных диафрагм шириной 1 мм, то для аргона при коллимации пучка 0,05 число атомов, приходящихся на еди­ ницу площади сечения пучка, равно 3,3-ІО11 атом/см2. Для

328


сравнения можно указать, что в гейсслеровской трубке при давлении аргона 0,1 мм рт. ст. разряд характеризуется плот­ ностью порядка 3,5-ІО14 атом/см2, т. е. при прочих равных ус­ ловиях яркость такого атомного пучка в 1000 раз меньше. Если же щель испарителя разбить на узкие каналы с минимальным

размером — 0,018 мм, то при

пропускании

диафрагмы 50%

число

атомов

на

единицу

площади возрастает до 9Х

ХЮ 12

атом/см2,

т. е.

яркость

возрастает в 28

раз. Кроме того,

полная эффузия из испарителя в этом случае в 2 раза меньше, что снижает потери вещества.

Многоканальные коллиматоры готовят из фольги бериллиевой бронзы по методу фотолитографии [126, 127]. В отдельных опытах удавалось получать диафрагмы с диаметром каналов '-'0,006 мм. Более простая процедура изготовления многока­ нальных коллиматоров с несколько большими размерами кана­ лов описана в работе [128]. Спектральные исследования такого источника показали, что его яркость достаточна для регистра­ ции фотоэлектрическим способом тонкой структуры линии Hell 4686 Â при использовании сложного интерферометра Фабри — Перо с коэффициентом отражения пластин 94%. По визуаль­ ным оценкам свечение пучка тяжелых атомов (Ar, Xj'e) ярче,

чем легких.

В заключение следует отметить, что хотя источники света с атомным пучком обладают некоторыми уникальными возмож­ ностями, позволяющими исследовать исключительно тонкие де­ тали в оптических спектрах атомов, перспективы их применения для изотопного анализа довольно неопределенны, поскольку ни­ кем эти возможности пока еще не исследовались. Попутно заметим также, что способ возбуждения спектров в атомных пучках позволяет получать с заметной интенсивностью свечение ионизованных атомов, в спектрах которых изотопическое сме­ щение, как правило, больше.

Второй способ борьбы с доплеровским уширением линий легких элементов, а вернее, с малой величиной изотопического смещения в их спектрах состоит в продольном наблюдении све­ чения ионного пучка, ускоренного электрическим полем. Такой способ предложен Л. А. Тумерманом [129] и основан на разли­ чии в доплеровском смещении линий ионов изотопов, ускорен­ ных в сильном электрическом поле. Смещение линий опреде­ ляется соотношением [16]

6Х = 4 ■КМЯ, і/-Т Г 'Л Х “ + ЛЯиз.

(12.16)

\

м

м

 

где Е — напряженность поля;

М — масса иона;

А7ПЗ — ис­

тинное изотопическое смещение

для

наблюдаемой

линии (ß

длинах волн). В табл. 12.3 приведены оценочные значения та­ кого эффекта для линий ряда элементов верхней части перио­ дической системы.

329


 

 

 

 

Т а б л и ц а 12.3

Изотопическое и доплеровское смещения линий для некоторых пар

изотопов легких

элементов

( £ = 3 0

кв) [16]

 

 

 

 

Доплеровское

Изотопическое

 

Изотопы

О

смещение Дѵ^ ,

смещение Дѵиз,

Avö /Avиз

X, А

 

с м - 1

с м —1

 

 

 

 

3Не—4Не

5015,7

 

12,0

0,049

245

6Li—7Li

3888,6

 

15,5

0,404

38,4

6707,8

 

4,05

0,350

11,5

« В —ЧВ

5484,7

 

4,96

1,14

4,35

2497,7

 

5,06

0,168

30,1

 

3451,4

 

3,66

0,877

4,2

12С— 13С

2478,5

 

3,88

0,156

24,9

 

2836,7

 

3,40

0,612

5,55

14N—15N

9629,6

 

0,63

0,070

9,00

 

8242,5

 

0,75

0,060

12,5

160—180

8446,4

 

1,48

0,14

10,6

 

7157,4

 

1,75

0,11

15,9

S5C1—37C1

4233,3

 

2,95

0,47

6,3

4810,1

 

0,80

0,035

22,8

36ДГ_ 40 Д Г

7147,0

 

1,03

0,018

57,3

39K — J 1 K

4510,7

1

1,64

0,048

34,2

7699,0

0,42

0,008

52,5

Основная трудность практического применения данного спо­ соба— получение достаточно моноэнергетичного пучка ионов, дающего интенсивное свечение. В этой связи представляет ин­ терес метод возбуждения искровых спектров при столкновениях

.пучка быстрых ионов с углеродной фольгой [130— 132]. Данный метод оказался довольно эффективным применительно к изу­ чению спектров высокоионизованных атомов. При наблюдении спектров путем проектирования параксиального пучка фотонов

на входную щель спектрографа линии

в спектре

испытывают

значительный доплеровский сдвиг: по

данным работы

[133] —

до 43 А для ионов Ne, разогнанных в

ускорителе

до

2 Мэв.

При этом ширина линий не превышала

1,1 А, а

спектральная

установка хорошо разделяла линии, отстоящие

друг от друга

на 2 А. Для пары изотопов 20Ne—22Ne

разница в доплеровском

смещении в этих условиях должна составлять не менее 4—5 А, что больше чем достаточно для разделения изотопических ком­ понент линий.

12.6. Изотопический эффект в электронно-колебательных

спектрах двухатомных молекул.

Выбор молекул и полос для изотопного анализа

При изотопном анализе по электронно-колебательным спек­ трам, к сожалению, не представляется возможным наметить ка­ кую-либо типовую схему анализа, поскольку оптимальные усло­ вия возбуждения спектров в каждом конкретном случае весьма

330


специфичны. Если при анализе по атомным спектрам возможно­ сти измерений в основном определяются наличием для данного элемента достаточно интенсивных линий с хорошо разрешенной изотопической структурой, здесь необходимо учитывать сово­ купное действие нескольких факторов. Рассмотрим вначале не­ которые требования общего порядка.

Одним из важнейших факторов является устойчивость моле­

кул

при температуре

применяемого

источника возбуждения

спектров.

Для

реакции

диссоциации

двухатомной

молекулы

 

 

 

 

 

МеХ Me -+- X,

 

 

 

(12.17)

протекающей

в газовой

фазе

при постоянном

давлении,

пар­

циальное давление компонентов реакции в равновесных

усло­

виях подчиняется закону действующих масс

 

 

 

 

 

 

 

 

 

К'Р =

 

Р х / Р тР х ,

м

 

е

 

где

К р — константа

равновесия;

Рме, Р х

и Рмех — парциаль­

ные давления компонентов. Откуда

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ртх /Р ме = РхІКр.

 

 

 

(12.19)

При

этом

константа

равновесия

К'р

может

 

быть

вычислена

из уравнения

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

( 12. 20)

где

R — универсальная

газовая

постоянная

(R = 1,987

калХ

X молъ~1-град-1)-, АФ*— изменение

приведенного

термодина­

мического

потенциала;

А

■— тепловой

 

эффект

реакции

при 0° К.

 

 

 

принято

характеризовать

степенью

Процесс диссоциации

диссоциации а, которая

соответствует доле

 

диссоциированных

молекул от общего числа исходных молекул. Считая суммарное давление

РМе

РМеХ = Р

(12.21)

постоянным при изменении равновесия в

системе, можем за-

писать

 

 

РМе — СсР j

( 12. 22)

 

 

Р МеХ =

(1 — а ) Р ‘

 

Подставляя эти парциальные давления компонентов в урав­

нение (12.19) и решая его относительно а,

получаем

а = Крі(Кр + Рх).

(12.23)

Парциальное давление компонента X определяется побочными процессами, происходящими в источнике света, и в первую оче-

331