Файл: Мотт, Н. Электронные процессы в некристаллических веществах.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 15.10.2024
Просмотров: 200
Скачиваний: 0
|
Некристаллические |
полупроводники |
223 |
Следует ожидать, что время релаксации т весьма |
мало, поряд |
||
ка 1 0 - 1 5 с . |
Поэтому поглощение |
на свободных носителях, для |
|
которого |
о (со) ~ со- 2 , будет проявляться только |
при частотах |
выше 101 5 Гц. Это соответствует энергии фотона, которая превос ходит край фундаментального поглощения для тех аморфных материалов, которые мы здесь рассматриваем. Помимо этого, формула Друде применима, как мы видели в 2.10, лишь в случае гораздо меньших значений времени жизни т. Тем* не менее она хорошо описывает экспериментальные данные для большинства жидких металлов, за исключением жидкого теллура (см. 3.15). Даже если время жизни велико, следует ожидать отклонений
Ф и г. 7.13. Зависимость |
функции со [In |
(1/сот0 )]4 |
от со для различных значе |
ний т 0 , показывающая |
близость этой |
функции |
к со0 .8 , когда што <С1- |
от формулы Друде, если плотность состояний существенно изме няется на интервале энергии /г/т. Вклад в проводимость от свобод ных носителей (внутризонное поглощение) был рассчитан для аморфного полупроводника в 7.6.5. Здесь следует подчеркнуть, что в радиочастотном диапазоне (вплоть до 107 Гц) нет оснований ожидать частотной зависимости проводимости носителей, находя щихся в делокализованных состояниях.
б) Перенос тока носителями, возбуждаемыми в локализован ные состояния вблизи края зоны проводимости . или валентной зоны. Эти носители перемещаются перескоками, поэтому прово-
224 |
Глава 7 |
|
димость их, |
как показано в гл. 2 |
и 6, зависит от частоты как |
со [In (Уфоц/со)]4, т. е. приблизительно |
пропорционально со0 -8 , когда |
© <С v(i)ou (фиг- 7.13). Эта проводимость должна быть значительно больше, чем перескоковая проводимость на постоянном токе, поэтому для определения той частоты, начиная с которой становится справедливым закон «в0 , 8 , нужно сравнить проводимости на пере менном и на постоянном токе. Температурная зависимость перескоковой проводимости на переменном токе должна быть той же, что и для соответствующей части проводимости на постоянном токе. Так, например, для валентной зоны она должна быть про порциональна ехр { — ( E F — Е в)/кТ}.
в) Перескоковый перенос носителями с энергиями вблизи уровня Ферми [при условии, что плотность состояний на уровне Ферми N (Ер) конечна]. Частотная зависимость проводимости для этого случая должна быть той же, что и для случая «б». Однако теперь уже отсутствует экспоненциальная зависимость от тем пературы и проводимость должна быть пропорциональна тем пературе, если тепловая энергия много меньше ширины запол ненной части дефектной зоны. В противном случае проводимость не должна зависеть от температуры. В работе Дэвиса и Мотта [122] была использована формула, полученная Остином и Моттом 132] (см. также 2.10),
о(а)=^пе2кТ |
[N(Ер)]2а~ьа |
[ i n ( 7 . 1 5 ) |
В работе Поллака [419] обсуждаются предположения, необходи мые для вывода этой формулы; главное из них заключается в том, что в процессе перескока участвуют лишь два центра, участием большего числа центров можно пренебречь. В формуле, получен ной Поллаком, вместо множителя я/3 фигурирует величина л;3/96. Если принять во внимание поляронный эффект, то выражение для проводимости окажется более сложным.
Проводимость на переменном токе (7.15) следует сравнить с величиной перескоковой проводимости на постоянном токе, обусловленной электронами с энергиями вблизи уровня Ферми
(см. |
7.4.2) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
а(0) = |
ст2 ехр( — |
^ |
) |
, |
(7.16) |
|
где |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
а2 |
= e 2 |
E % 0 H i V (Ер) е-*°*. |
|
(7.17) |
||
Если |
считать N |
(EF) |
= (AW^R3)'1, |
то |
для |
отношения |
проводи- |
|
мостей получим |
следующую формулу: |
|
|
|
^ - T - l ^ T S r - n t ^ l ^ - ) ] ' ^ ^ ) - СМ
|
|
Некристаллические |
полупроводники |
|
|
225 |
Она позволит нам оценить. граничную частоту, |
при |
которой |
это |
|||
отношение равно |
единице. Если принять Т = 300 К, |
а - 1 =*8 Л, |
||||
R = |
60 А, Уфон = |
Ю 1 2 Гц и AW2 » |
0,1 эВ, то граничная частота |
|||
будет |
составлять |
примерно 3 кГц. |
Это значение |
зависит от |
ука |
занных параметров, причем наиболее сильно от произведения aR. На фиг. 7.14 схематически показаны частотные зависимости проводимости, которые следует ожидать для трех перечисленных
выше механизмов |
перено |
|
|
|||||
са. Процессы |
«б» |
|
и |
«в» |
|
|
||
при высоких частотах при |
|
|
||||||
водят к зависимости ст ~ |
|
|
||||||
—со0 -8 . В эксперименталь |
|
|
||||||
ных условиях |
будет |
доми |
|
|
||||
нировать тот механизм, ко |
|
|
||||||
торый |
при |
данной |
|
темпе |
|
|
||
ратуре обусловливает наи |
|
|
||||||
большую |
проводимость. |
|
|
|||||
Это означает, что прово |
|
|
||||||
димость, связанная |
с |
пе |
|
|
||||
рескоками |
электронов |
с |
|
|
||||
энергиями |
вблизи |
края |
|
in ш |
||||
зоны, |
не |
будет |
наблю |
Ф и г . 7.14. |
Схематический вид частотной |
|||
даться |
ни при |
каких |
ча |
зависимости |
электропроводности для трех |
|||
стотах, |
что |
относится |
к |
механизмов переноса. |
||||
кривой |
«б» |
на |
фиг. |
7.14. |
|
|
Если бы зависимость проводимости для случая «б» переходила в асимптотический предел со0 '8 при более низких частотах, чем прово димость для случая «в», то ни при каких частотах не проявлялся бы механизм «в». Экспериментально случаи «б» и «в» можно различить по температурной зависимости проводимости. Как было отмечено выше, механизм «б» описывается активационным законом с энер гией активации, приблизительно равной половине ширины запре щенной энергетической зоны.
Измерения проводимости на переменном токе в диапазоне частот от 102 до 105 Гц обычно проводятся на мостовой схеме с использованием чувствительного индикатора-нуля. Эксперимент усложняется при малом тангенсе угла диэлектрических потерь. Тогда форма образца выбирается такой, чтобы потери были по воз можности максимальными. Вплоть до частот порядка 107 Гц, соответствующих верхнему пределу для электронных цепей, может быть также использован куметр. При более высоких часто тах используется микроволновая техника: линии задержки до 101 0 Гц и волноводы до 101 2 Гц. Действительная и мнимая части проводимости обычно соответствуют эквивалентной схеме образца, представляющей собой параллельное включение сопро тивления и емкости. При этих измерениях можно определить
1 5 - 0 1 1 4 2
226 Глава 7
также диэлектрическую проницаемость, диэлектрические потери, показатель преломления и оптический коэффициент поглощения. Для установления механизма переноса весьма существенно знание
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
частотной |
зависимости |
|
этих |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
параметров. |
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
На фиг. 7.15 приведены ча |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
стотные |
зависимости |
проводи |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
мости для |
нескольких |
халько- |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
геиидов |
(в |
последних |
главах |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
будут приведены |
результаты и |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
для ряда других аморфных по |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
лупроводников). |
При |
частотах |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
выше 106 Гц проводимость соот- |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ветствз^ет |
закону |
со0 -8 . В работе |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ДэвисаиМотта [122] эти резуль |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
таты были объяснены |
на |
основе |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
гипотезы |
о |
перескоках |
между |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
локализованными |
состояниями |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
с энергией вблизи уровня Фер |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ми. В пользу такого механизма |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
свидетельствует |
слабая |
темпе |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ратурная |
зависимость |
проводи |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
мости, которая была обнаруже |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
на Оуэном |
[396], |
Оуэном и Ро- |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
бертсоном [398] и Ивкиным и |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Коломийцем [258] (см. гл. 9). |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Перенос путем перескоков |
меж |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ду локализованными |
состояни |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ями вблизи края зоны характе |
||||||
Ф и г. |
7.15. |
|
Частотная |
зависимость |
ризуется |
очень сильной |
темпе |
|||||||||||
проводимости |
некоторых |
халькоге- |
ратурной |
зависимостью, |
и |
поэ |
||||||||||||
S i u G e i i , ; |
нидных стекол. |
|
3 . |
К р и |
тому такой механизм не соответ |
|||||||||||||
4, — |
ASjSe 3 ; |
5 — |
A s 2 S |
ствует наблюдаемым' свойствам. |
||||||||||||||
1 — А Б 2 Т е 8 ; |
2 |
— |
T e 2 |
A s S i ; |
3 |
— |
|
Т е 4 А А 8 Э 0 |
|
|
|
|
|
|
|
|||
вые |
1—3 |
взяты |
из |
работы |
[ 4 3 6 ] , |
|
кривая |
Принятой модели |
соответствует |
|||||||||
4 — ив работы |
[258], кривая |
5 — |
из р а б о |
выражение |
(7.15) |
для |
проводи |
|||||||||||
|
|
|
|
ты |
[ 3 9 8 ] . |
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
мости; оно позволяет вычислить |
||||||
плотность состояний на уровне Ферми N (EF), |
когда эксперимен |
|||||||||||||||||
тально найдено значение проводимости. Если принять Т = |
300 К, |
|||||||||||||||||
v $ 0 H |
= Ю " Гц и со = 10в с-\ то |
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
[JV(£F )]2 = |
6,4 . 10 4 9 a(m)a B , |
|
|
|
(7.19) |
|||||||
где |
параметр |
а |
выражен |
в |
обратных ангстремах |
и N (EF |
) — |
|||||||||||
в с м ~ 3 - э В - 1 . Согласно этому соотношению, на фиг. 7.16 |
построено |
семейство прямых для различных значений радиуса локализован ного состояния а - 1 . В выборе этого параметра имеется некоторая неопределенность, причем кажется маловероятным, что различные
Некристаллические полупроводники |
227 |
материалы характеризуются одним и тем же значением а. Для
аморфных полупроводников, показанных |
на фиг. 7.15, значения |
|
N (EF) |
лежат в интервале от 101 8 до 102 1 |
с м ~ 3 - э В - 1 , если принять |
а"1 = |
8 А. |
|
Следует отметить интересную корреляцию между величиной плотности состояний N (EF), полученной таким способом, и шири ной запрещенной зоны этих материалов. На фиг. 7.17 по оси абсцисс отложена проводимость при со = 106 с , а по оси орди нат — проводимость на постоянном токе, все данные получены
Ф и г. 7.16. Теоретическая зависимость высокочастотной проводимости от плотности состояний на уровне Ферми, вычисленная при со = 1 0 6 с - 1 для различных значений радиальной протяженности локализованной волновой
функции а - 1 .
К р и в ые построены для |
Т = |
300 К |
и Г ф о н = |
1 0 1 2 |
Гц |
па основе уравнения (7.19). К р и в ы е |
||
|
|
1—4 |
соответствуют |
а - 1 = |
3, |
5, 8, 12 А . |
|
|
при |
Т — 300 К. |
Кроме |
того, внизу |
приведена |
плотность состоя |
|||
ний |
на уровне |
Ферми |
N (EF), |
а |
на |
правой |
шкале — энергия |
активации Е проводимости (т. е. примерно половина щели подвияшости). Если обратить внимание на то, что плотность состоя ний N (EF) возрастает при уменьшении щели Е, то, казалось бы, можно рассматривать это обстоятельство как подтверждение гипотезы Коэна — Фрицше — Овшинского, которые предло жили модель, показанную на фиг. 7.4, в. Согласно этой модели, плотность состояний на уровне Ферми обусловлена перекрытием «хвостов» зоны проводимости и валентной зоны. Однако получен ные значения TV (EF) дают очень большое полное число состояний
15*
228 |
Глава 7 |
в запрещенной зоне, которое, как нам представляется, совер шенно несовместимо с фактом хорошей прозрачности материала при энергиях фотона меньше края фундаментального поглощения.
|
|
|
|
|
- |
0,3 |
|
«г |
|
|
|
|
- |
0 4 |
|
|
|
|
|
|
|
||
I |
|
|
|
|
- |
0,5 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
70" |
|
|
|
|
-0,6 |
|
|
|
|
|
|
|
- |
0,7 |
|
|
|
|
|
|
- |
0,8 |
„ |
го'" |
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
ь |
|
|
|
|
- |
0,9 |
|
10'" |
|
|
|
|
- |
1,0 |
|
|
|
|
|
|
|
||
ю-'5 |
|
|
|
|
- |
1,1 |
|
|
|
|
|
|
|
||
_ 1 _ |
_ 1 |
_ |
|
|
-1,2 |
|
|
|
|
|
|
|
|||
/0 - '" |
10- |
10'' |
10'" 10" |
10* !0'J |
|
|
|
|
|
а(ш), |
Ом''-см'' |
приЗООК |
иЮвс-' |
|
|
|
10" |
1019 |
|
10 е |
|
|
|
|
|
N(EF), |
•зВ |
|
|
|
|
Ф и г . 7.17. Зависимость проводимости на постоянном токе а (0) от высоко |
|||||||
частотной проводимости а (со) при со = |
10° с - 1 для различных халькогоиид- |
||||||
ных стекол при комнатной температуре |
[122]. |
|
|||||
Т О Ч КИ 1—7 соответствуют стеклам: l — A 8 j S 3 |
; 2 — A s , S s ( A g ) ; з — As,Se 3 ; 4 — A s 3 S e 3 ( A g ) ; |
||||||
5 — T e 4 S A B 3 0 S i i s G e , 0 ; 6 — T e j A s S i ; 7 — А Б , Т С З - |
|
||||||
Показана также плотность СОСТОЯНИИ на уровне Ферми N (Ер) и эначения энергии акти |
вации проводимости на постоянном токе Е. Заметим, что величина Е приблизительно равна половине оптической щели или щели подвижности в этих материалах.
Если же, следуя Дэвису и Мотту [122, 373], допустить, что состоя ния вблизи уровня Ферми сосредоточены в сравнительно узкой полосе шириной порядка 0,1 эВ, то полная плотность состояний окажется гораздо меньше.
Если предположить, что дефектная зона образуется из един ственного вида точечных дефектов, то нижний предел ее ширины можно оценить следующим образом. Пусть R есть среднее рас стояние между центрами. Используя теорию проводимости по
примесям (см. 6.2), мы можем заметить, что ширина зоны / |
должна |
быть по крайней мере порядка егЫЯ. При этом плотность |
состоя |
ний, распределенных по этой зоне, приближенно определяется
из условия (4я/3) R3N (Ер) JI2 = 1, |
так что |
|
е з [jv ( а д ] 1 |
/ г |
(7.20) |
„3 /2 |
|
|
|
|